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회절분석분광분석

모두 500항목의 회절분석분광분석와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 회절분석분광분석와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 입자 크기 분석, 스크리닝, 비철금속, 분석 화학, 발전소 종합, 방사선방호, 세라믹, 금속 재료 테스트, 산업안전, 산업위생, 검은 금속, 페인트 및 바니시, 금속 광석, 철강 제품, 광학 및 광학 측정, 종합 전자 부품, 내화물, 건축 자재, 합금철, 비파괴 검사, 화학 제품, 어휘, 광섬유 통신, 비금속 광물, 비철금속 제품, 분말 야금, 보석류, 표준화의 일반 원칙, 페인트 성분, 표면 처리 및 도금, 공기질, 정보학, 출판, 기르다, 소방, 광학 장비, 무기화학, 원자력공학.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 회절분석분광분석

  • GB/T 19077.1-2003 입자 크기 분석 레이저 회절 방법
  • GB/T 19077-2016 입자 크기 분석 레이저 회절 방법
  • GB/T 42360-2023 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분광 분석
  • GB/T 19077.1-2008 입자 크기 분석 레이저 회절 방법 1부: 일반 원리
  • GB/T 19501-2013 마이크로빔 분석의 일반 원리 전자 후방 산란 회절 분석 방법
  • GB/T 16599-1996 몰리브덴의 방출 스펙트럼 분석 방법
  • GB/T 16600-1996 텅스텐 방출 스펙트럼 분석 방법
  • GB 16355-1996 X선 회절계 및 형광 분석기의 방사선 방호 표준
  • GB/T 21782.13-2009 분말 코팅 13부: 레이저 회절에 의한 입자 크기 분석
  • GB/T 30703-2014 마이크로빔 분석을 위한 지침 전자 후방 산란 회절 방향 분석 방법
  • GB/T 18907-2013 마이크로빔 분석, 분석전자현미경, 투과전자현미경, 선정된 전자회절분석법
  • GB/T 30704-2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
  • GB/T 19501-2004 전자 후방 산란 회절 분석 방법의 일반 원리
  • GB/T 14203-1993 철강 및 합금의 광전 방출 분광학 분석에 대한 일반 규칙
  • GB/T 26042-2010 아연 및 아연 합금 분석 방법 광전 방출 분광법
  • GB/T 19500-2004 X선 광전자 분광학 분석 방법의 일반 원리
  • GB/T 7999-2000 알루미늄 및 알루미늄 합금의 광전(측광) 방출 스펙트럼 분석 방법
  • GB/T 7999-2015 알루미늄 및 알루미늄 합금의 광전 직접 판독 방출 스펙트럼 분석 방법
  • GB/T 7999-2007 알루미늄 및 알루미늄 합금의 광전 직접 판독 방출 스펙트럼 분석 방법
  • GB/T 14203-2016 스파크 방전 원자 방출 분광법의 일반 원리
  • GB/T 29559-2013 표면 화학 분석 글로우 방전 원자 방출 분광법 아연 및/또는 알루미늄 기반 합금 코팅 분석
  • GB/T 16597-1996 야금제품 분석을 위한 X선 형광 분광법의 일반 원리
  • GB/T 19502-2004 표면 화학 분석 - 글로우 방전 방출 분광법의 일반 원리
  • GB/T 19502-2023 표면 화학 분석을 위한 글로우 방전 방출 분광법에 대한 일반 규칙
  • GB/T 18907-2002 투과전자현미경으로 선택된 전자회절 분석방법
  • GB/T 19627-2005 입자 크기 분석 광자 상관 분광법
  • GB/T 25481-2010 온라인 UV/가시광선 분광계
  • GB/Z 42520-2023 철광석 X선 형광 분광법 실험실 운영 가이드
  • GB/T 30904-2014 무기화학제품의 결정구조 분석을 위한 X선 회절법
  • GB/T 4470-1998 화염 방출, 원자 흡수 및 원자 형광 분광법 용어

KR-KS, 회절분석분광분석

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 회절분석분광분석

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 회절분석분광분석

Danish Standards Foundation, 회절분석분광분석

British Standards Institution (BSI), 회절분석분광분석

  • BS ISO 13320:2020 입자 크기 분석 레이저 회절 방법
  • BS ISO 13320:2010 입자 크기 분석 레이저 회절 방법
  • BS ISO 13320:2009 입자 크기 분석 - 레이저 회절 방법
  • 19/30333249 DC BS ISO 13320 입자 크기 분석을 위한 레이저 회절 방법
  • BS ISO 13320-1:2000 입자 크기 분석 레이저 회절 방법 일반 규칙
  • BS ISO 13424:2013 표면 화학 분석.X선 분광학.박막 분석 보고서
  • BS EN ISO 8130-13:2010 분말 코팅 레이저 회절에 의한 입자 크기 분석
  • BS EN ISO 8130-13:2001 레이저 회절을 이용한 분말 코팅의 입자 크기 분석
  • BS ISO 10810:2019 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
  • BS EN 12019:1998 아연 및 아연 합금 - 광 방출 분광학 분석
  • BS EN ISO 8130-13:2019 레이저 회절을 이용한 코팅 분말의 입도 분석
  • BS EN 14726:2005 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 플래시 광 방출 분광법 분석 가이드
  • BS ISO 10810:2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 분석 가이드
  • BS DD ISO/TS 25138:2011 표면 화학 분석 글로우 방전 방출 분광법을 이용한 금속 산화막 분석
  • BS ISO 13067:2011 마이크로빔 분석 후방 산란 전자 회절 평균 입자 크기 측정
  • BS ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
  • PD ISO/TS 25138:2019 표면 화학 분석 금속 산화막의 글로우 방전 방출 분광 분석
  • PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에서의 전반사 X선 형광 분광학 응용
  • BS ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
  • BS EN 14242:2004 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 유도 결합 플라즈마 광 방사 분광학 분석
  • BS PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에 전반사 X선 형광 분광법 활용
  • BS ISO 11505:2012 표면 화학 분석, 글로우 방전 방출 분광학, 정량적 조성 깊이 분석을 위한 일반 절차
  • BS ISO 11938:2013 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 파장 분산 분광법을 사용한 원소 매핑을 위한 분석 방법.
  • BS ISO 16962:2017 표면 화학 분석 글로우 방전 광학 방출 분광법을 이용한 아연 및/또는 알루미늄 기반 금속 코팅 분석
  • 22/30444828 DC BS EN 14242 알루미늄 및 알루미늄 합금의 화학 분석 - 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광 분석
  • BS ISO 16258-2:2015 작업장 공기 X선 회절을 이용한 호흡성 석영 분석 간접 분석 방법
  • BS EN 62129:2006 스펙트럼 분석기 교정
  • BS ISO 20289:2018 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분석
  • BS ISO 14707:2015 표면 화학 분석, 글로우 방전 방출 분광법, 사용 소개
  • BS ISO 14707:2000 표면 화학 분석, 글로우 방전 방출 분광법, 사용 소개
  • BS EN 15079:2015 구리 및 구리 합금의 스파크 광학 방출 분광법(S-OES) 분석
  • BS ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
  • BS ISO 17470:2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 정성적 점 분석 안내
  • BS ISO 22489:2007 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
  • BS ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
  • BS EN 61290-5-1:2006 광섬유 증폭기 테스트 방법 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • BS 3900-J13:2001 코팅 시험 방법 코팅 분말 시험 레이저 회절법에 의한 입자 크기 분석
  • BS ISO 24417:2022 글로우 방전 방출 분광법을 이용한 철 기반 기판의 금속 나노층 표면 화학 분석
  • BS DD ENV 12908:1998 납 및 납 합금 스파크 유발 광학 방출 분광법을 통한 분석
  • BS EN ISO 3815-1:2005 아연 및 아연 합금 광학 방사선 분광법을 통한 고체 시료 분석
  • PD ISO/TS 15338:2020 표면화학분석 글로우방전 질량분석법 분석 운용과정

German Institute for Standardization, 회절분석분광분석

  • DIN ISO 13320:2022-12 입자 크기 분석 레이저 회절 방법
  • DIN ISO 13320:2022 입자 크기 분석 레이저 회절 방법(ISO 13320:2020)
  • DIN EN ISO 8130-13:2019-08 코팅 분말 파트 13: 레이저 회절 입자 크기 분석
  • DIN EN 14242:2004 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광 분석
  • DIN EN 14726:2005 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 플래시 발광 분광 분석에 대한 지침 독일어 버전 EN 14726-2005
  • DIN ISO 13067:2015 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 측정(ISO 13067-2011)
  • DIN EN 14242:2023-04 알루미늄 및 알루미늄 합금-화학 분석-유도 결합 플라즈마 방출 분광학 분석
  • DIN EN 14242:2023 알루미늄 및 알루미늄 합금. 화학 분석. 유도 결합 플라즈마 방출 분광학 분석
  • DIN EN ISO 8130-13:2019 코팅 분말 파트 13: 레이저 회절에 의한 입자 크기 분석(ISO 8130-13:2019)
  • DIN EN 15079:2015-07 구리 및 구리 합금 - 스파크 광학 방출 분광법(S-OES) 분석
  • DIN ISO 11505:2018-02 표면 화학 분석을 위한 일반 절차 글로우 방전 방출 분광법을 통한 정량적 조성 깊이 분석
  • DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 X-선 회절 분석을 이용한 비파괴 시험 잔류 응력 분석 시험 방법
  • DIN 51418-2:2015 X선 분광 분석 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 2부: 측정, 교정 및 평가의 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-2:1996 X선 분광 분석 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 2부: 측정, 교정 및 평가의 정의 및 기본 원리
  • DIN ISO 13321:2004 입자 크기 분석 상관 광자 분광법
  • DIN ISO 16962:2018 글로우 방전 광학 방출 분광법을 이용한 아연 기반 및/또는 알루미늄 기반 금속 코팅의 표면 화학 분석(ISO 16962:2017)
  • DIN ISO 24173:2013 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 사용한 방향 측정 지침(ISO 24713-2009)
  • DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
  • DIN ISO 13067:2021-08 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 측정
  • DIN EN 15305:2009-01 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
  • DIN 51418-1:1996 X선 분광법 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 1부: 정의 및 기본 원리

International Organization for Standardization (ISO), 회절분석분광분석

  • ISO 13320:2020 입자 크기 분석 - 레이저 회절 방법
  • ISO 13320:2009 입자 미세도 분석 레이저 회절 방법
  • ISO 13320-1:1999 입자 크기 분석을 위한 레이저 회절 방법 1부: 일반 원리
  • ISO 10810:2019 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 분석 가이드
  • ISO 10810:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
  • ISO 13067:2011 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 측정
  • ISO 8130-13:2001 분체 코팅 13부: 레이저 회절을 이용한 입자 크기 분석
  • ISO 8130-13:2019 코팅된 분말 - 13부: 레이저 회절을 통한 입자 크기 분석
  • ISO 17470:2004 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 질량점 분석 안내
  • ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
  • ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
  • ISO 22309:2006 미세전자빔 분석 에너지 분산 분광계(EDS)를 이용한 정량 분석
  • ISO/CD 25498:2023 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
  • ISO/TS 25138:2019 표면 화학 분석 - 글로우 방전 방출 분광법을 통한 금속 산화물 필름 분석
  • ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에 전반사 X선 형광 분광법 활용
  • ISO/CD 23699 마이크로빔 분석 - 전자 후방 산란 전자 회절 - 어휘
  • ISO 24173:2009 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 사용한 방향 측정 가이드
  • ISO 13424:2013 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법, 박막 분석 결과 보고
  • ISO 11938:2012 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 파장 분산 분광법을 사용한 원소 매핑을 위한 분석 방법.
  • ISO 16962:2017 표면 화학 분석 글로우 방전 광학 방출 분광법을 이용한 아연 및/또는 알루미늄 기반 금속 코팅 분석
  • ISO/TS 25138:2010 표면 화학 분석 글로우 방전 방출 분광법을 이용한 금속 산화막 분석
  • ISO 22489:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
  • ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
  • ISO 16962:2005 표면 화학 분석 글로우 방전 광학 방출 분광법을 이용한 아연 및/또는 알루미늄 기반 금속 코팅 분석
  • ISO 20289:2018 표면 화학 분석 - 물의 전반사 X선 형광 분석
  • ISO 17470:2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 정성적 점 분석 안내
  • ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
  • ISO 24417:2022 표면 화학 분석 글로우 방전 광방출 분광법을 이용한 철 기반 기판의 금속 나노층 분석
  • ISO 3815:1976 아연 및 아연 합금의 스펙트럼 분석
  • ISO 13321:1996 입자 크기 분석 상관 광자 분광학

PT-IPQ, 회절분석분광분석

Professional Standard - Electricity, 회절분석분광분석

  • DL/T 1151.22-2012 화력 발전소의 스케일 및 부식 생성물 분석 방법 22부: X선 형광 분광법 및 X선 회절 분석

RO-ASRO, 회절분석분광분석

American National Standards Institute （ANSI), 회절분석분광분석

Standard Association of Australia （SAA）, 회절분석분광분석

  • AS 4863.1:2000 입자 크기 분석. 레이저 회절 방법. 일반 원칙
  • AS ISO 19319:2006 표면 화학 분석. Augur 전자 분광학 및 X선 광전자 분광학. 분석가의 측면 해상도 육안 검사, 분석 영역 및 샘플 영역
  • AS 4549.1:1999 입자 크기 분석. 광자 상관 분광학
  • AS 4392.1:1996 무거운 미네랄 모래. 파장 분산형 X선 형광 분광법 분석. 티타늄 광석

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 회절분석분광분석

European Committee for Standardization (CEN), 회절분석분광분석

  • EN 14726:2005 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 플래시 발광 분광 분석 안내
  • PREN 14726-2003 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 플래시 발광 분광 분석 안내
  • EN ISO 8130-13:2010 분말 코팅 레이저 회절에 의한 입자 크기 분석
  • CEN EN 14726-2005 알루미늄 및 알루미늄 합금 "화학 분석" 불꽃 방출 분광법 분석 가이드
  • EN 12019:1997 아연 및 아연 합금의 방출 스펙트럼 분석
  • EN 14242:2004 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광 분석
  • CEN EN 62129-2006 스펙트럼 분석기 교정
  • CEN EN 62129-2006_ 스펙트럼 분석기 교정
  • CEN/TR 10354:2011 철금속 재료의 화학적 분석 규소철 분석 X선 형광 분광법 규소 및 알루미늄 측정
  • PD CEN/TR 10354:2011 철 재료의 화학적 분석 페로실리콘 분석 X선 형광 분광법을 통한 실리콘 및 알루미늄 측정
  • DD ENV 12908-1997 납 및 납 합금 스파크 여기를 이용한 광학 방출 분광법(OES) 분석

CEN - European Committee for Standardization, 회절분석분광분석

  • EN 14726:2019 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 플래시 발광 분광 분석 안내
  • EN ISO 8130-13:2019 분말 코팅 레이저 회절에 의한 입자 크기 분석

Association Francaise de Normalisation, 회절분석분광분석

  • NF T30-499-13*NF EN ISO 8130-13:2019 코팅 분말 파트 13: 레이저 회절 입자 크기 분석
  • NF A07-510X2:1975 비합금 알루미늄의 방출 스펙트럼 분석
  • NF A06-590:2005 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 플래시 광 방출 분광 분석 안내
  • NF EN ISO 8130-13:2019 코팅용 분말 - 파트 13: 레이저 회절 입자 크기 분석
  • NF A07-510:1971 비합금 알루미늄의 방출 스펙트럼 분석
  • NF A07-515:1971 알루미늄-구리 합금의 방출 스펙트럼 분석
  • NF A06-840:1998 아연 및 아연 합금 광학 방출 분광 분석
  • NF A07-500:1979 알루미늄 및 그 합금의 방출 스펙트럼 분석
  • NF T30-499-13:2011 분말 코팅 파트 13: 레이저 회절에 의한 입자 크기 분석.
  • NF X21-071:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
  • NF X21-003:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세분석 파장 분포 X선 분광법의 정량 분석 가이드
  • NF X21-011*NF ISO 24173:2009 마이크로빔 분석을 위한 전자 후방 산란 회절 방향 측정 가이드
  • NF C93-845:2006 스펙트럼 분석기 교정
  • NF X21-013*NF ISO 11938:2012 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 파장 분산 분광법을 이용한 원소 매핑 분석 방법
  • NF A06-012*NF EN 14242:2005 알루미늄 및 알루미늄 합금의 화학 분석 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광법
  • NF A07-520:1971 알루미늄-실리콘 및 알루미늄-실리콘-구리 합금의 방출 스펙트럼 분석
  • NF A07-830:1973 전기도금용 아연 방출 분광법 분석을 위한 기술 사양
  • NF X11-666:1984 입자 크기 결정 분말의 입자 크기 분석 회절 방법
  • NF EN 15079:2015 구리 및 구리 합금의 스파크 광학 방출 분광법(SEO-E) 분석
  • NF ISO 24173:2009 마이크로빔 분석 후방산란 전자 회절 방향 측정 가이드
  • NF A08-700*NF EN 15079:2015 구리 및 구리 합금의 스파크 최적화 분광법(S-OES) 분석
  • NF ISO 14707:2006 표면 화학 분석을 위한 글로우 방전 방출 분광법 사용 소개
  • A08-652:1994 티타늄 및 티타늄 합금의 화학적 분석과 플라즈마 방출 분광법 분석을 위해 따라야 할 규칙
  • NF X21-014:2012 마이크로빔 분석, 전자 후방 산란 회절, 평균 입자 크기 측정
  • NF X21-006:2007 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
  • NF ISO 11938:2012 마이크로빔 분석 전자마이크로프로브 분석(캐스트 마이크로프로브) 파장분산분광법을 이용한 원소 매핑 분석법
  • NF T25-111-6:1991 탄소 섬유 - 질감 및 구조 - 6부: 선택 영역 회절 분석
  • NF A11-103:1977 페로니오븀 합금의 화학적 분석 X선 형광 분광법을 통한 니오븀 측정
  • NF EN 15305:2009 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
  • NF X11-672:1996 입자 크기 분석 상관 광학 양자 분광법

ES-UNE, 회절분석분광분석

  • UNE-EN ISO 8130-13:2020 코팅 분말 파트 13: 레이저 회절 입자 크기 분석
  • UNE-EN 14242:2023 알루미늄 및 알루미늄 합금의 화학적 분석 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광법
  • UNE-EN 15079:2015 구리 및 구리 합금의 스파크 광학 방출 분광법(S-OES) 분석

RU-GOST R, 회절분석분광분석

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 회절분석분광분석

  • YS/T 558-2009 몰리브덴의 방출 스펙트럼 분석 방법
  • YS/T 559-2009 텅스텐 방출 스펙트럼 분석 방법
  • YS/T 558-2006 몰리브덴의 방출 스펙트럼 분석 방법
  • YS/T 559-2006 텅스텐 방출 스펙트럼 분석 방법
  • YS/T 631-2007 아연 분석 방법 광전자 방출 분광법
  • YS/T 482-2005 구리 및 구리 합금 분석 방법 광전 방출 분광법
  • YS/T 361-2006 순수 백금의 불순물 원소의 방출 스펙트럼 분석
  • YS/T 362-2006 순수 팔라듐의 불순물 원소에 대한 방출 스펙트럼 분석
  • YS/T 363-2006 순수 로듐의 불순물 원소에 대한 방출 스펙트럼 분석
  • YS/T 364-2006 순수 이리듐의 불순물 원소의 방출 스펙트럼 분석
  • YS/T 361-1994 순수 백금의 불순물 원소의 방출 스펙트럼 분석
  • YS/T 362-1994 순수 팔라듐의 불순물 원소에 대한 방출 스펙트럼 분석
  • YS/T 363-1994 순수 로듐의 불순물 원소에 대한 방출 스펙트럼 분석
  • YS/T 364-1994 순수 이리듐의 불순물 원소의 방출 스펙트럼 분석
  • YS/T 1036-2015 마그네슘 희토류 합금의 광전 직접 판독 방출 스펙트럼 분석 방법
  • YS/T 365-2006 고순도 백금의 불순물 원소의 방출 스펙트럼 분석
  • YS/T 365-1994 고순도 백금의 불순물 원소의 방출 스펙트럼 분석
  • YS/T 82-2006 분광 분석용 백금 매트릭스
  • YS/T 83-2006 분광 분석을 위한 팔라듐 매트릭스
  • YS/T 84-2006 분광 분석용 이리듐 매트릭스
  • YS/T 85-2006 분광 분석용 로듐 매트릭스
  • YS/T 82-1994 분광 분석용 백금 매트릭스
  • YS/T 83-1994 분광 분석을 위한 팔라듐 매트릭스
  • YS/T 84-1994 분광 분석용 이리듐 매트릭스
  • YS/T 85-1994 분광 분석용 로듐 매트릭스

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, 회절분석분광분석

  • GBZ 115-2002 X선 회절 및 형광 분석기의 위생 보호 표준

AENOR, 회절분석분광분석

  • UNE-EN 14726:2006 알루미늄 및 알루미늄 합금의 화학 분석 가이드 스파크 광학 방출 분광법
  • UNE-EN ISO 8130-13:2011 분말 코팅 파트 13: 레이저 회절에 의한 입자 크기 분석(ISO 8130-13:2001)

American Society for Testing and Materials (ASTM), 회절분석분광분석

  • ASTM E1621-21 X선 방출 분광학 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E996-94(1999) Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 데이터 보고를 위한 표준 관행
  • ASTM E1621-05 X선 발산 분광학 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1097-97 DC 전류 플라즈마 방출 분광 분석 방법
  • ASTM E10-08 DC 전류 플라즈마 방출 분광 분석 방법
  • ASTM E10-15 DC 전류 플라즈마 방출 분광 분석 방법
  • ASTM D5381-93(2003) 안료 및 필러의 X선 형광(XRF) 분광 분석
  • ASTM D5381-93(1998) 안료 및 필러의 X선 형광(XRF) 분광 분석
  • ASTM E1085-95(2004) 금속의 X선 방사선 분광법을 위한 분석 시험 방법
  • ASTM E1085-95(2000) 금속의 X선 방사선 분광법을 위한 분석 시험 방법
  • ASTM E1085-95(2004)e1 금속의 X선 방사선 분광법을 위한 분석 시험 방법
  • ASTM E3340-22 분말 재료의 레이저 회절 입자 크기 분석 방법 개발을 위한 표준 가이드
  • ASTM E572-94(2000) 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E572-02a(2006)e1 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E572-02a(2006) 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E572-02a 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E1361-90(1999) X선 분광 분석의 입사 효과 보정을 위한 표준 가이드
  • ASTM E572-94(2000)e1 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E1361-02(2021) X선 분광 분석의 입사 효과 보정을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1097-03 직류 플라즈마 방출 분광법 분석 방법에 대한 표준 가이드
  • ASTM C791-83(2000) 핵 등급 탄화붕소의 화학 분석, 질량 분석 및 분광 화학적 분석을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E322-96e1 저합금강 및 주철의 X선 방출분광분석법

BE-NBN, 회절분석분광분석

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 회절분석분광분석

  • YB/T 4177-2008 슬래그 X선 형광분광법 분석방법
  • YB/T 172-2000 실리카 벽돌의 정량상 분석.X선 회절법
  • YB/T 5320-2006 금속재료의 정량상 분석을 위한 X선 회절 K 값 방법

工业和信息化部, 회절분석분광분석

  • YS/T 1178-2017 알루미늄 슬래그 상 분석 X선 회절법
  • YS/T 1344.3-2020 주석 도핑된 산화인듐 분말의 화학적 분석 방법 제3부: 상 분석 X선 회절 분석 방법
  • YB/T 172-2020 X-선 회절법을 이용한 실리카 벽돌의 정량적 상 분석
  • YS/T 82-2020 분광 분석용 백금 매트릭스
  • YS/T 83-2020 분광 분석을 위한 팔라듐 매트릭스
  • YS/T 85-2020 분광 분석용 로듐 매트릭스
  • YS/T 84-2020 분광 분석용 이리듐 매트릭스

Lithuanian Standards Office , 회절분석분광분석

  • LST EN 14726-2005 알루미늄 및 알루미늄 합금의 화학 분석을 위한 스파크 광학 방출 분광법 가이드
  • LST EN 14242-2005 알루미늄 및 알루미늄 합금의 화학 분석 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광학 분석
  • LST EN ISO 8130-13:2011 분말 코팅 파트 13: 레이저 회절에 의한 입자 크기 분석(ISO 8130-13:2001)
  • LST EN 15079-2007 구리 및 구리 합금의 스파크 소스 광학 방출 분광법(S-OES) 분석
  • LST L ENV 12908-2000 납 및 납 합금의 스파크 유발 광학 방출 분광법(OES) 분석

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 회절분석분광분석

U.S. Air Force, 회절분석분광분석

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 회절분석분광분석

  • GB/T 41076-2021 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 통한 강철 내 오스테나이트 정량 분석
  • GB/T 36923-2018 진주분말 식별법 X선 회절분석
  • GB/T 36401-2018 표면화학분석 X선 광전자분광법 박막분석 결과 보고
  • GB/T 16597-2019 야금제품 분석을 위한 X선 형광 분광법의 일반 원리
  • GB/T 40407-2021 포틀랜드 시멘트 클링커의 광물상의 X선 회절분석법
  • GB/T 41072-2021 표면 화학 분석 전자 분광학 UV 광전자 분광학 안내서

Professional Standard - Electron, 회절분석분광분석

  • SJ/Z 3206.10-1989 방출 스펙트럼의 정성 분석을 위한 일반 원칙
  • SJ/Z 3206.11-1989 방출 스펙트럼의 정량적 분석을 위한 일반 원칙
  • SJ/Z 3206.1-1989 방출 분광학 실험실에 대한 일반 요구 사항
  • SJ/Z 3206.3-1989 방출 스펙트럼 분석용 기기 및 성능 요구 사항
  • SJ/Z 3206.8-1989 방출 분광학 분석을 위한 샘플링 및 준비 방법에 대한 일반 원칙
  • SJ/Z 3206.12-1989 전기진공 물질 방출 분광법 분석 방법에 대한 일반 규칙
  • SJ/Z 3206.13-1989 반도체 재료의 방출 스펙트럼 분석 방법에 대한 일반 원리
  • SJ 2656-1986 텅스텐의 스펙트럼 분석 방법
  • SJ 2657-1986 몰리브덴의 스펙트럼 분석 방법
  • SJ/Z 3206.2-1989 방출 스펙트럼 분석을 위한 여기 소스 및 성능 요구 사항
  • SJ/Z 3206.6-1989 방출분광 분석을 위한 흑연 전극의 모양과 크기

Professional Standard - Commodity Inspection, 회절분석분광분석

  • SN/T 2785-2011 아연 및 아연 합금 광전 방출 분광법 분석 방법
  • SN/T 2786-2011 마그네슘 및 마그네슘 합금의 광전방출분광법 분석방법
  • SN/T 2083-2008 황동 분석 방법 스파크 원자 방출 분광법
  • SN/T 2079-2008 스테인레스강 및 합금강 X선 형광 분광법 분석 방법

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 회절분석분광분석

  • GB/T 32996-2016 표면 화학 분석 금속 산화막의 글로우 방전 방출 분광 분석
  • GB/T 34172-2017 금속 및 합금의 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 위상 분석 방법
  • GB/T 32997-2016 표면 화학 분석을 위한 일반 절차, 글로우 방전 방출 스펙트럼의 정량적 조성 깊이 프로파일링

ZA-SANS, 회절분석분광분석

BR-ABNT, 회절분석분광분석

未注明发布机构, 회절분석분광분석

  • BS EN 14242:2023 알루미늄 및 알루미늄 합금의 화학적 분석 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광 분석

AT-ON, 회절분석분광분석

  • ONORM M 6603-2-1997 수질 분석. 불꽃 방출 분광법을 통한 칼륨 및 나트륨 측정

International Electrotechnical Commission (IEC), 회절분석분광분석

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 회절분석분광분석

IN-BIS, 회절분석분광분석

  • IS 7658-1975 알루미늄의 스펙트럼 분석 방법
  • IS 12803-1989 X선 형광분광기를 이용한 수경시멘트 분석방법

Professional Standard - Education, 회절분석분광분석

  • JY/T 0571-2020 형광 분광학 분석 방법에 대한 일반 규칙
  • JY/T 0566-2020 원자 형광 분광학 분석 방법에 대한 일반 규칙
  • JY/T 0573-2020 레이저 라만 분광학 분석 방법의 일반 원리
  • JY/T 002-1996 레이저 라만 분광학 분석 방법의 일반 원리

工业和信息化部/国家能源局, 회절분석분광분석

  • JB/T 12962.2-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광계 파트 2: 원소 분석기

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 회절분석분광분석

  • JJF 1133-2005 X선 형광 분광법 금 함량 분석기의 교정 사양

PL-PKN, 회절분석분광분석

  • PN C97086-1987 석탄 파생물. 가스 크로마토그래피 분석을 통한 안트라센 측정

(U.S.) Ford Automotive Standards, 회절분석분광분석

CZ-CSN, 회절분석분광분석

Group Standards of the People's Republic of China, 회절분석분광분석

  • T/CSTM 01102-2023-2023 마이크로빔 X선 형광 분광법을 이용한 용접 조인트 부품의 현장 통계 분포 분석

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