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프로브 시트 탄소

모두 36항목의 프로브 시트 탄소와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 프로브 시트 탄소와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 절연유체, 반도체 소재, 복합강화재료, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 비철금속, 광학 및 광학 측정, 광학 장비, 방사선 측정, 금속 재료 테스트, 석유 및 가스 산업 장비, 분석 화학.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 프로브 시트 탄소

  • GB/T 6617-1995 확장된 저항 프로브 방법을 이용한 실리콘 웨이퍼 저항률 측정
  • GB/T 6617-2009 확장된 저항 프로브 방법을 이용한 실리콘 웨이퍼 저항률 측정
  • GB/T 15247-1994 탄소강 및 저합금강의 탄소에 대한 전자탐침 정량분석법 민감도곡선법(검량선법)
  • GB/T 15247-2008 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 강철의 탄소 함량 측정을 위한 교정 곡선 방법.
  • GB/T 43749-2024 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석 무수탄산광물 정량분석 방법

Group Standards of the People's Republic of China, 프로브 시트 탄소

  • T/CSTM 00252-2020 탄소섬유 체적저항률 시험법 4탐침법
  • T/IAWBS 003-2017 탄화규소 에피층의 캐리어 농도 측정_수은 프로브 커패시턴스-전압 방법

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 프로브 시트 탄소

  • GB/T 39978-2021 나노기술 탄소 나노튜브 분말 저항성 4탐침 방법

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 프로브 시트 탄소

  • KS D 0260-1999 단결정 실리콘 웨이퍼의 저항률을 테스트하기 위한 4점 프로브 방법
  • KS C 0256-2022 4점 프로브를 이용한 실리콘 결정 및 실리콘 웨이퍼의 저항률 테스트 방법
  • KS C 0256-2002(2022) 실리콘 결정 및 실리콘 웨이퍼 저항률에 대한 4점 프로브 테스트 방법
  • KS D 0260-1989(1994) 4점 프로브를 이용한 단결정 실리콘 웨이퍼의 비저항 테스트 방법
  • KS C 0256-2002 4-프로브법을 이용한 실리콘 단결정 및 실리콘 웨이퍼의 비저항 측정 방법
  • KS C 0256-2002(2017) 4점 프로브를 이용한 실리콘 결정 및 실리콘 웨이퍼의 비저항 테스트 방법
  • KS D ISO 16592:2011 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 검량선 방법을 통한 강철의 탄소 함량 결정에 대한 안내입니다.
  • KS D ISO 16592-2011(2016) 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석 - 강철의 탄소 함량 측정을 위한 검량선 방법 안내
  • KS D ISO 16592-2011(2021) 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석 - 강철의 탄소 함량 측정을 위한 검량선 방법 안내
  • KS D ISO 16592-2021 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석 - 검량선 방법을 사용한 강의 탄소 함량 결정을 위한 지침

German Institute for Standardization, 프로브 시트 탄소

  • DIN 6800-4:2000-12 광자 및 전자 방사선 프로브형 검출기 선량 측정 절차 4부: 필름 선량 측정
  • DIN 50435:1988 반도체 재료 테스트: 4-프로브/DC 방법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 및 게르마늄 웨이퍼의 저항률의 방사형 변화 측정
  • DIN 6800-4:2000 광자 및 전자 방사선에 대한 탐침형 검출기의 선량 측정 절차 4부: 필름 선량 측정
  • DIN ISO 16592:2015 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 검량선 방법에 의한 강철의 탄소 함량 결정 가이드(ISO 16592-2012)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 프로브 시트 탄소

  • JIS H 0602:1995 4점 탐침법을 이용한 실리콘 결정 및 실리콘 웨이퍼 저항률 테스트 방법

American Society for Testing and Materials (ASTM), 프로브 시트 탄소

  • ASTM F390-98 동일 선상에 있는 4개 프로브 배열을 사용한 금속 박막의 면저항에 대한 표준 테스트 방법
  • ASTM F1392-00 수은 프로브를 사용한 정전 용량-전압 측정을 통해 실리콘 웨이퍼의 순 캐리어 밀도 분포를 결정하기 위한 표준 테스트 방법

KR-KS, 프로브 시트 탄소

  • KS M ISO 7278-2-2003(2023) 액체 탄화수소 - 동적 측정 용적계의 검증 시스템 - 파트 2: 파이프라인 프로브

British Standards Institution (BSI), 프로브 시트 탄소

  • BS ISO 16592:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 검량선 방법을 통한 강철의 탄소 함량 결정에 대한 안내입니다.

GSO, 프로브 시트 탄소

  • GSO ISO 16592:2015 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석 - 검량선 방법을 사용하여 강의 탄소 함량을 결정하기 위한 지침
  • OS GSO ISO 16592:2015 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석 - 검량선 방법을 사용하여 강의 탄소 함량을 결정하기 위한 지침
  • BH GSO ISO 16592:2017 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석 - 검량선 방법을 사용하여 강의 탄소 함량을 결정하기 위한 지침

International Organization for Standardization (ISO), 프로브 시트 탄소

  • ISO 16592:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 검량선 방법에 의한 강철의 탄소 함량 결정에 대한 안내입니다.
  • ISO 16592:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 검량선 방법에 의한 강철의 탄소 함량 결정에 대한 안내입니다.

Association Francaise de Normalisation, 프로브 시트 탄소

  • NF X21-007:2008 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 검량선 방법을 통한 강철의 탄소 함량 결정에 대한 안내입니다.

Underwriters Laboratories (UL), 프로브 시트 탄소

  • UL RP 3002-2017 테이블 톱 회전 블레이드와 접촉하는 테스트 프로브의 절단 깊이를 결정하기 위한 안전 UL 표준(초판)

SCC, 프로브 시트 탄소

  • DIN ISO 16592 E:2015 초안 문서 - 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석 - 교정 곡선 방법을 사용하여 강철의 탄소 함량을 결정하기 위한 지침(ISO 16592:2012) 독일어와 영어로 된 텍스트

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, 프로브 시트 탄소

  • DB13/T 5026.3-2019 그래핀 전도성 슬러리의 물성 측정 방법 3부: 슬러리 극편 저항률 측정 4탐침 방법




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