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探针片 碳
本专题涉及探针片 碳的标准有29条。
国际标准分类中，探针片 碳涉及到绝缘流体、半导体材料、复合增强材料、电学、磁学、电和磁的测量、有色金属、光学和光学测量、辐射测量、金属材料试验、石油和天然气工业设备、分析化学。
在中国标准分类中，探针片 碳涉及到金属物理性能试验方法、半金属与半导体材料综合、、氧化物、单质、电工材料和通用零件综合、元素半导体材料、电子光学与其他物理光学仪器、医用射线设备、基础标准与通用方法、钢铁与铁合金分析方法。
国家质检总局，关于探针片 碳的标准
- GB/T 6617-1995 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
- GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
- GB/T 15247-1994 碳钢和低合金钢中碳的电子探针的定量分析方法 灵敏度曲线法(检量线法)
- GB/T 15247-2008 微束分析.电子探针显微分析.测定钢中碳含量的校正曲线法
中国团体标准，关于探针片 碳的标准
- T/CSTM 00252-2020 碳纤维体积电阻率试验方法 四探针法
- T/IAWBS 003-2017 碳化硅外延层载流子浓度测定_汞探针电容-电压法
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于探针片 碳的标准
- GB/T 39978-2021 纳米技术 碳纳米管粉体电阻率 四探针法
韩国科技标准局，关于探针片 碳的标准
- KS D 0260-1999 四点探针法测试单晶硅片电阻率的方法
- KS C 0256-2002(2022) 硅晶体和硅片电阻率的四点探针测试方法
- KS D 0260-1989(1994) 具有四点探针的单晶硅片的电阻率测试方法
- KS C 0256-2002 硅单结晶及硅片的4探针法的抵抗率测定方法
- KS C 0256-2002(2017) 具有四点探针的硅晶体和硅晶片的电阻率测试方法
- KS D ISO 16592:2011 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢碳含量的指南
- KS D ISO 16592-2011(2016) 微束分析－电子探针显微分析－用校准曲线法测定钢中碳含量的指南
- KS D ISO 16592-2011(2021) 微束分析－电子探针微量分析－用校准曲线法测定钢中碳含量的指南
德国标准化学会，关于探针片 碳的标准
- DIN 6800-4:2000-12 光子和电子辐射探针型探测器剂量测定程序 第4部分：胶片剂量测定
- DIN 50435:1988 半导体材料试验:采用四探针/直流法测量硅片和锗片电阻率的径向变化
- DIN 6800-4:2000 光子辐射和电子辐射用探针型探测器的剂量测定程序.第4部分:胶片剂量测定法
- DIN ISO 16592:2015 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢的碳含量的指南(ISO 16592-2012)
日本工业标准调查会，关于探针片 碳的标准
- JIS H 0602:1995 用四点探针法对硅晶体和硅片电阻率的测试方法
美国材料与试验协会，关于探针片 碳的标准
- ASTM F390-98 具有共线四探针阵列的金属薄膜的片电阻的标准试验方法
- ASTM F1392-00 用带汞探针的容量-电压测量法测定硅晶片中净载流子密度分布的标准试验方法
KR-KS，关于探针片 碳的标准
- KS M ISO 7278-2-2003(2023) 液体碳氢化合物-动态测量体积计的验证系统-第2部分:管道探针
英国标准学会，关于探针片 碳的标准
- BS ISO 16592:2012 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢碳含量的指南
国际标准化组织，关于探针片 碳的标准
- ISO 16592:2006 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢的碳含量的指南
- ISO 16592:2012 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢的碳含量的指南
法国标准化协会，关于探针片 碳的标准
- NF X21-007:2008 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢中碳含量的指南
美国保险商实验所，关于探针片 碳的标准
- UL RP 3002-2017 用于确定接触台锯旋转刀片的测试探针上的切割深度的安全 UL 标准（第一版）
河北省标准，关于探针片 碳的标准
- DB13/T 5026.3-2019 石墨烯导电浆料物理性质的测定方法 第3部分：浆料极片电阻率的测定 四探针法
