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반도체 켈빈 테스트 원리

모두 50항목의 반도체 켈빈 테스트 원리와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 반도체 켈빈 테스트 원리와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 집적 회로, 마이크로 전자공학, 전기공학종합.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 반도체 켈빈 테스트 원리

GB/T 14028-1992 반도체 집적회로 아날로그 스위치 테스트 방법의 기본 원리
GB 14028-2018 반도체 집적회로 아날로그 스위치 테스트 방법의 기본 원리
GB/T 14030-1992 반도체 집적 회로 시간 기반 회로 테스트 방법의 기본 원리
GB 14030-1992 반도체 집적 회로 시간 기반 회로 테스트 방법의 기본 원리
GB/T 6798-1996 반도체 집적 회로 전압 비교기 테스트 방법의 기본 원리
GB/T 4377-1996 반도체 집적 회로 전압 조정기 테스트 방법의 기본 원리
GB/T 14031-1992 반도체 집적 회로 아날로그 위상 고정 루프 테스트 방법의 기본 원리
GB/T 14032-1992 반도체 집적 회로의 디지털 위상 고정 루프 테스트 방법의 기본 원리
GB/T 14029-1992 반도체 집적 회로 아날로그 곱셈기 테스트 방법의 기본 원리
GB 14029-1992 반도체 집적 회로 아날로그 곱셈기 테스트 방법의 기본 원리
GB 14031-1992 반도체 집적 회로 아날로그 위상 고정 루프 테스트 방법의 기본 원리
GB 14032-1992 반도체 집적 회로의 디지털 위상 고정 루프 테스트 방법의 기본 원리
GB/T 15136-1994 반도체 집적 회로 석영 시계 회로 테스트 방법의 기본 원리
GB/T 14115-1993 반도체 집적 회로 샘플/홀드 증폭기 테스트 방법의 기본 원리
GB 3442-1986 반도체 집적 회로 작동(전압) 증폭기 테스트 방법의 기본 원리
GB/T 12843-1991 반도체 집적회로 마이크로프로세서 및 주변 인터페이스 회로에 대한 전기적 매개변수 테스트 방법의 기본 원리
GB 12843-1991 반도체 집적회로 마이크로프로세서 및 주변 인터페이스 회로에 대한 전기적 매개변수 테스트 방법의 기본 원리
GB/T 14114-1993 반도체 집적회로 전압/주파수 및 주파수/전압 변환기 테스트 방법의 기본 원리

Professional Standard - Electron, 반도체 켈빈 테스트 원리

SJ/T 10735-1996 반도체 집적 회로 TTL 회로 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10736-1996 반도체 집적회로의 HTL 회로 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10737-1996 반도체 집적 회로 ECL 회로 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10741-2000 반도체 집적 회로 CMOS 회로 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10741-1996 반도체 집적 회로 CMOS 회로 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10804-2000 반도체 집적 회로 레벨 변환기 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10805-2000 반도체 집적 회로, 전압 비교기 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10882-1996 반도체 집적 회로 선형 증폭기 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10803-1996 반도체 집적 인터페이스 회로 라인의 회로 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10880-1996 반도체 집적 오디오 회로 스테레오 디코더 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10739-1996 반도체 집적 회로 MOS 랜덤 액세스 메모리 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10738-1996 반도체 집적 회로 작동(전압) 증폭기 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10800-1996 반도체 통합 인터페이스 회로 감지 증폭기 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10802-1996 반도체 집적 인터페이스 회로의 주변 드라이버 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10805-1996 반도체 통합 인터페이스 회로 전압 비교기 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10804-1996 반도체 통합 인터페이스 회로 레벨 컨버터 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10806-1996 반도체 통합 인터페이스 회로 디스플레이 드라이버 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 11005-1996 반도체 텔레비전 집적 회로 사운드 채널 회로 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 11006-1996 반도체 TV 집적회로 라인 및 필드 스캐닝 회로 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10401-1993 반도체 통합 오디오 회로 모터 속도 안정화 회로 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10740-1996 반도체 집적 회로 바이폴라 랜덤 액세스 메모리 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10402-1993 반도체 집적 오디오 회로 자동 선곡 회로 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10400-1993 반도체 집적 오디오 회로 그래픽 이퀄라이제이션 회로 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 11004-1996 반도체 텔레비전 집적 회로 이미지 채널 회로 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10879-1996 반도체 통합 오디오 회로에 대한 오디오 프리앰프 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10427.1-1993 반도체 집적 회로 오디오 회로 FM 변환기 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10427.2-1993 반도체 집적 회로 오디오 회로 중간 주파수 증폭기 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10881-1996 드라이버 테스트 방법을 나타내는 반도체 집적 오디오 회로 레벨의 기본 원리
SJ/T 10801-1996 반도체 통합 인터페이스 회로 코어 메모리 드라이버 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 11007-1996 반도체 텔레비전 집적 회로 비디오 신호 및 컬러 신호 처리 회로 테스트 방법의 기본 원리
SJ/T 10818-1996 반도체 집적 비선형 회로 디지털/아날로그 변환기의 기본 원리와 아날로그/디지털 변환기 테스트 방법

AT-OVE/ON, 반도체 켈빈 테스트 원리

OVE EN IEC 63284:2021 반도체 장치 - 질화 갈륨 트랜지스터에 대한 유도 부하 스위치 신뢰성 테스트 방법(IEC 47/2681/CDV)(영어 버전)