ZH
EN
ES

Технология mems Метод измерения длины микроструктуры Mems в плоскости, основанный на оптической интерференции

Технология mems Метод измерения длины микроструктуры Mems в плоскости, основанный на оптической интерференции, Всего: 1 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Технология mems Метод измерения длины микроструктуры Mems в плоскости, основанный на оптической интерференции, являются: Интегральные схемы. Микроэлектроника.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Технология mems Метод измерения длины микроструктуры Mems в плоскости, основанный на оптической интерференции

• GB/T 34893-2017 Технология микроэлектромеханических систем. Метод измерения длины микроструктур MEMS в плоскости с использованием оптического интерферометра.

Другие:   Технология Mems — метод измерения длины микроструктуры в плоскости, основанный на оптической интерференции, Технология mems Метод измерения длины микроструктуры Mems в плоскости, основанный на оптической интерференции.