ZH
EN
ES

СЭМ СЭМ СЭМ

СЭМ СЭМ СЭМ, Всего: 344 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к СЭМ СЭМ СЭМ, являются: Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Образование, Аналитическая химия, Линейные и угловые измерения, Словари, Обработка поверхности и покрытие, Цветные металлы, Качество воздуха, Электронные устройства отображения, Защита от преступности, Термодинамика и измерения температуры, Краски и лаки, Испытание металлов, Текстильные волокна, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Строительные материалы, Физика. Химия, Изделия из железа и стали, Фотография, Керамика, Неразрушающий контроль, Механические испытания, Рыбалка и рыбоводство, Медицинские науки и учреждения здравоохранения в целом, Полупроводниковые приборы, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Медицинское оборудование, Кинематография, Ингредиенты краски, Продукция текстильной промышленности, Электротехника в целом, Сети передачи и распределения электроэнергии, Устройства хранения данных, Приложения для обработки изображений документов, Микропроцессорные системы, Радиосвязь.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), СЭМ СЭМ СЭМ

JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS R 1633:1998 Способ подготовки образцов тонкой керамики и мелкодисперсных керамических порошков для наблюдения на сканирующем электронном микроскопе
JIS K 0147-2:2017 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
JIS K 7542:1993 Размеры фотопленки для использования в электронном сканере
JIS T 1507:1989 Электронное линейно-сканирующее ультразвуковое диагностическое оборудование
JIS B 7208:1972 16-миллиметровые пленки для испытаний на однородность освещения со сканирующим лучом кинофильма
JIS B 7207:1972 35-мм кинопленки для проверки однородности освещения со сканирующим лучом, сервисный тип
JIS B 7206:1972 Пленки для проверки однородности освещения со сканирующим лучом кинофильма, 35 мм, лабораторного типа

International Organization for Standardization (ISO), СЭМ СЭМ СЭМ

ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO/WD TR 23683:2023 Химический анализ поверхности. сканирующая зондовая микроскопия. Руководство по экспериментальному количественному определению концентрации носителей заряда в полупроводниковых устройствах с использованием электрической сканирующей зондовой микроскопии.
ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM.
ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
ISO 14966:2019 Воздух окружающий. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
ISO 11039:2012 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Измерение скорости дрейфа.
ISO 18115-2:2021 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
ISO 28600:2011 Химический анализ поверхности - формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии
ISO 14966:2002 Воздух атмосферный. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения ближнепольного оптического микроскопа.
ISO 16067-2:2004 Фотография. Электронные сканеры фотографических изображений. Измерения пространственного разрешения. Часть 2. Пленочные сканеры.
ISO 11775:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.
ISO 14966:2002/cor 1:2007 Воздух атмосферный - Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц - Метод сканирующей электронной микроскопии; Техническое исправление 1
ISO 22493:2014 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
ISO 11312:1993 Фотография; размеры пленки; пленка для использования в электронном сканере
ISO 16067-1:2003 Фотография. Измерения пространственного разрешения электронных сканеров фотографических изображений. Часть 1. Сканеры для отражающих сред.
ISO 18115-2:2010 Анализ химического состава поверхностей — Словарь — Часть 2: Термины, используемые в микроскопии с помощью зонда и выметания (премьерное издание)
ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ. Калибровка измерительных систем.
ISO 11952:2014 Химический анализ поверхности - Сканирующая зондовая микроскопия - Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
ISO 18115-2:2013 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR.
ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
ISO/FDIS 17751-2 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
ISO 17751-2:2014 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
ISO 17751-2:2023 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
ISO 21550:2004 Фотография. Электронные сканеры фотографических изображений. Измерения динамического диапазона.
ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, СЭМ СЭМ СЭМ

JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)
JJF 1351-2012 Спецификация калибровки для сканирующих зондовых микроскопов

Professional Standard - Machinery, СЭМ СЭМ СЭМ

JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация
JB/T 7503-1994 Толщина поперечного сечения металлических покрытий Метод измерения сканирующим электронным микроскопом
JB/T 5478-1991 Ручной сканирующий фотоэлектрический спектрометр прямого считывания

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, СЭМ СЭМ СЭМ

JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа

Professional Standard - Commodity Inspection, СЭМ СЭМ СЭМ

SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.
SN/T 3009-2011 Идентификация коррозии морской водой на металлической поверхности с помощью СЭМ
SN/T 2649.1-2010 Определение асбеста в косметике для импорта и экспорта. Часть 1: Метод рентгеновской дифракции и сканирующей электронной микроскопии.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), СЭМ СЭМ СЭМ

KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS D 2714-2016(2021) Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
KS D 2714-2016 Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS D 2714-2006 Сканирующий зондовый микроскоп. Метод микроскопа боковой силы.
KS D 2713-2016 Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
KS D 2713-2016(2021) Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
KS A ISO 16067-2-2005(2020) Фотография－Электронные сканеры для фотографических изображений－Измерение пространственного разрешения－Часть 2:Сканеры для пленок
KS A ISO 16067-2:2005 Фотография-Электронные сканеры для фотографических изображений-Измерение пространственного разрешения-Часть 2: Пленочные сканеры
KS A ISO 16067-1:2005 Фотография. Измерение пространственного разрешения электронных сканеров фотографических изображений. Часть 1. Сканеры для отражающих сред.
KS A ISO 16067-1-2005(2020) Фотография. Измерение пространственного разрешения электронных сканеров фотографических изображений. Часть 1. Сканеры для отражающих сред.
KS K ISO 17751-2:2019 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
KS X ISO/IEC 15780:2013 Информационные технологии－Картридж с магнитной лентой шириной 8 мм－Запись со спиральной разверткой－AIT－формат 1
KS A ISO 21550:2005 Фотография－Электронные сканеры для фотографических изображений－Измерения динамического диапазона
KS A ISO 21550-2005(2020) Фотография－Электронные сканеры для фотографических изображений－Измерения динамического диапазона

KR-KS, СЭМ СЭМ СЭМ

KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS C ISO 19749-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
KS K ISO 17751-2-2019 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.

Professional Standard - Education, СЭМ СЭМ СЭМ

JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии
JY/T 0582-2020 Общие правила проведения аналитических методов сканирующей зондовой микроскопии
JY/T 0586-2020 Общие правила аналитических методов лазерной сканирующей конфокальной микроскопии

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, СЭМ СЭМ СЭМ

GJB 2666-1996 Спецификация для сканирования отражающих бериллиевых зеркал
GJB 2666A-2018 Спецификация для сканирования отражающих бериллиевых зеркал
GJB 737.11-1993 Методы испытаний пиротехнических химикатов. Определение размера частиц. Сканирующая электронная микроскопия.
GJB 8288-2014 Регламент проверки сверхскоростной системы полосовой камеры с вращающимся зеркалом

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, СЭМ СЭМ СЭМ

GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.
GB/T 36052-2018 Химический анализ поверхности — формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии.
GB/T 33838-2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.

British Standards Institution (BSI), СЭМ СЭМ СЭМ

18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
BS ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CDSEM
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
BS ISO 19749:2021 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
BS ISO 18115-2:2013 Химический анализ поверхности. Словарный запас. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
BS EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
BS ISO 14966:2019 Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
18/30344520 DC BS ISO 21466. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM
BS ISO 28600:2011 Химический анализ поверхности. Формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии
BS ISO 18115-2:2021 Химический анализ поверхности. Словарь - Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
BS ISO 16067-2:2004 Фотография. Электронные сканеры фотографических изображений. Измерения пространственного разрешения. Пленочные сканеры
18/30351679 DC BS ISO 19749. Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
BS ISO 14966:2002 Воздух атмосферный. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
18/30375050 DC BS ISO 14966. Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
BS ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
BS CECC 00013:1985 Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: базовая спецификация: проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.
BS ISO 16067-1:2003 Фотография. Измерения пространственного разрешения электронных сканеров фотографических изображений. Сканеры для светоотражающих носителей
BS ISO 18115-2:2010 Химический анализ поверхности - Словарь - Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
BS ISO 11775:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера
BS ISO 22493:2014 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
BS EN ISO 17751-2:2023 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей - метод сканирующей электронной микроскопии
DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
BS EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Метод сканирующей электронной микроскопии
BS ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
12/30228339 DC БС ИСО 16000-27. Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
12/30265696 DC БС ИСО 18115-2 АМД1. Химический анализ поверхности. Словарный запас. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
BS ISO 21550:2004 Фотография. Электронные сканеры фотографических изображений. Измерения динамического диапазона.
19/30351707 DC BS ISO 21222. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
BS ISO 12653-1:2000 Электронная обработка изображений. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Характеристики.
BS ISO 12653-1:2001 Электронная визуализация. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Характеристики
BS DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
PD IEC/TS 61967-3:2014 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Измерение излучаемых выбросов. Метод сканирования поверхности

American Society for Testing and Materials (ASTM), СЭМ СЭМ СЭМ

ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2382-04(2020) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E986-04 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E986-04(2010) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2382-04 Руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E2382-04(2012) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E986-97 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E986-04(2017) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98(2008)e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM C1723-16(2022) Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
ASTM C1723-10 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
ASTM C1723-16 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
ASTM E766-14(2019) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-14e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2142-08(2015) Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2142-08 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
ASTM E1813-96e1 Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
ASTM E1813-96(2002) Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
ASTM E1813-96(2007) Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
ASTM B748-90(2010) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2809-13 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/рентгеновской спектрометрии при судебно-медицинской экспертизе красок
ASTM B748-90(2021) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM E1588-95(2001) Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
ASTM E1588-08 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1588-10 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E2142-01 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
ASTM E1588-95 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
ASTM B748-90(2016) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM F1372-93(1999) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM E1588-20 Стандартная практика анализа остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM F1372-93(2020) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM D605-82(1996)e1 Стандартные спецификации для силикатного магниевого пигмента (талька)
ASTM D6059-96(2011) Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте методом сканирующей электронной микроскопии
ASTM F1372-93(2005) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM E280-98(2004)e1 Стандартные эталонные рентгенограммы толстостенных (от 4 &189; до 12 дюймов [от 114 до 305 мм]) стальных отливок
ASTM E1588-07e1 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1588-07 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E280-21 Стандартные эталонные рентгенограммы стальных отливок с толстыми стенками (от 412 до 12 дюймов (от 114 до 305 мм))
ASTM E2809-22 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (СЭМ/ЭДС) при судебно-медицинской экспертизе полимеров
ASTM F1372-93(2012) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM E2603-15 Стандартная практика калибровки дифференциальных сканирующих калориметров с фиксированной ячейкой
ASTM F1438-93(1999) Стандартный метод испытаний для определения шероховатости поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии компонентов газораспределительной системы
ASTM F1438-93(2020) Стандартный метод испытаний для определения шероховатости поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии компонентов газораспределительной системы
ASTM F1438-93(2012) Стандартный метод испытаний для определения шероховатости поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии компонентов газораспределительной системы
ASTM E3309-21 Стандартное руководство по составлению отчетов о судебно-медицинском анализе остатков огнестрельного оружия (pGSR) с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии (SEM/EDS)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, СЭМ СЭМ СЭМ

GB/T 16594-1996 Измерение длины в микронах с помощью SEM
GB/T 31563-2015 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
GB/T 17722-1999 Измерение толщины позолоченного покрытия с помощью SEM
GB/T 16594-2008 Общие правила измерения длины в микронном масштабе с помощью СЭМ
GB/T 20307-2006 Общие правила измерения длины в нанометровом масштабе с помощью SEM
GB/T 17362-2008 Метод рентгеноэнергетического спектрального анализа золотых изделий на сканирующем электронном микроскопе
GB/T 27788-2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
GB/T 17362-1998 Неразрушающий метод рентгеновского ЭДС анализа с помощью СЭМ для золотых ювелирных изделий
GB/T 17359-1998 Общие характеристики количественного анализа рентгеновской ЭДС для EPMA и SEM
GB/T 30834-2014 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали. Сканирующий электронный микроскоп.
GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа
GB/T 36422-2018 Искусственное волокно. Метод испытания микроморфологии и диаметра. Метод сканирующего электронного микроскопа.
GB/T 30834-2022 Рейтинг и классификация включений в стали — метод растрового электронного микроскопа.
GB/T 29190-2012 Методы измерения скорости дрейфа сканирующего зондового микроскопа
GB/T 25189-2010 Микролучевой анализ. Метод определения параметров количественного анализа SEM-EDS.
GB/T 14593-2008 Метод количественного анализа кашемира, шерсти и их смесей. Метод сканирующего электронного микроскопа.
GB/T 42659-2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Калибровка измерительной системы.
GB/T 19267.6-2003 Физическое и химическое исследование следов доказательств в судебной медицине. Часть 6. Сканирующая электронная микроскопия.
GB/T 28873-2012 Общее руководство по сканирующей электронной микроскопии окружающей среды для определения биологических эффектов на топографию, вызванных наночастицами
GB/T 17361-1998 Метод идентификации аутигенного глинистого минерала в осадочных породах с помощью SEM и XEDS.
GB/T 17361-2013 Микролучевой анализ. Идентификация аутигенного глинистого минерала в осадочных породах методом сканирующего электронного микроскопа и энергодисперсионного спектрометра.
GB/T 19267.6-2008 Физико-химическая экспертиза следов доказательств в судебной медицине. Часть 6: Сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергодисперсионная спектрометрия.
GB/T 23414-2009 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
GB/T 40905.2-2022 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
GB/Z 26083-2010 Определение содержания медь(Ⅱ)октаакоксизамещенного фталоцианина на поверхности графита (сканирующий туннельный микроскоп)

Group Standards of the People's Republic of China, СЭМ СЭМ СЭМ

T/CSTM 00795-2022 Материалы экспериментальных данных. Требования к изображениям сканирующего электронного микроскопа.
T/QGCML 1940-2023
T/CSTM 00229-2020 Идентификация графеновых материалов в материалах покрытий методом сканирующего электронного микроскопа-энергодисперсионного спектрометра
T/NLIA 004-2021 Метод испытания на растяжение SEM на месте для алюминиевого сплава, полученного аддитивным способом
T/CSTM 00346-2021 Автоматическая классификация и статистика включений в стали — метод энергодисперсионного спектра сканирующего электронного микроскопа.
T/GAIA 017-2022 Определение содержания фтора в поверхностном покрытии алюминия и алюминиевых сплавов методом растрового электронного микроскопа и энергодисперсионного спектрометра.
T/CEC 616-2022 Технические характеристики летающих роботов лазерного сканирования для линий электропередачи
T/SAS 0003-2018 Сцинтилляционные кристаллы германата висмута для позитронно-эмиссионной томографии.
T/CEC 448-2021 Технический регламент эксплуатации беспилотных летательных аппаратов лазерного сканирования воздушных линий электропередачи

Professional Standard - Petroleum, СЭМ СЭМ СЭМ

SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, СЭМ СЭМ СЭМ

DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа

Association of German Mechanical Engineers, СЭМ СЭМ СЭМ

VDI 3866 Blatt 5-2004 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии
VDI 3866 Blatt 5-2017 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии
VDI 3861 Blatt 2-2008 Выбросы из стационарных источников. Измерение неорганических волокнистых частиц в выхлопных газах. Метод сканирующей электронной микроскопии.
VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Определение геометрических величин с помощью сканирующих зондовых микроскопов - Калибровка измерительных систем
VDI 3492-2004 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
VDI 3492-2013 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.

国家能源局, СЭМ СЭМ СЭМ

SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
NB/T 35109-2018 Процедуры измерения трехмерного лазерного сканирования для гидроэнергетических проектов

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, СЭМ СЭМ СЭМ

DB44/T 1527-2015 Микролучевой анализ Метод оценки четкости изображения сканирующего электронного микроскопа

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, СЭМ СЭМ СЭМ

DB32/T 4546-2023 Технические условия на автоматизированный просмотр изображений диатомей с использованием сканирующих электронных микроскопов
DB32/T 3459-2018 Сканирующая электронная микроскопия для измерения микроплощади покрытия графеновых пленок

Professional Standard - Judicatory, СЭМ СЭМ СЭМ

SF/T 0139-2023

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, СЭМ СЭМ СЭМ

GB/T 27788-2020 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
GB/T 38783-2020 Способ определения толщины покрытия композитов благородных металлов с помощью сканирующего электронного микроскопа
GB/T 35099-2018 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия с энергодисперсионной рентгеновской спектрометрией. Морфология и элементный анализ одиночных мелких частиц в окружающем воздухе.
GB/T 35097-2018 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия с энергодисперсионной рентгеновской спектрометрией. Определение количественной концентрации неорганических волокнистых частиц в окружающем воздухе.
GB/T 39867-2021 Сцинтилляционный кристалл германата висмута для позитронно-эмиссионной томографии.

SE-SIS, СЭМ СЭМ СЭМ

SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
SIS SS CECC 00013-1985 Базовая спецификация: проверка полупроводниковых кубиков с помощью сканирующего электронного микроскопа.

European Committee for Standardization (CEN), СЭМ СЭМ СЭМ

EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220: 1988).
EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
prEN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)

Association Francaise de Normalisation, СЭМ СЭМ СЭМ

NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
NF T25-111-4:1991 Углеродные волокна. Текстура и структура. Часть 4. Фрактография с помощью сканирующего электронного микроскопа.
NF EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии - Определение распределения частиц по размерам и форме методом сканирующей электронной микроскопии
NF X21-069-2:2010 Химический анализ поверхности - Словарь - Часть 2: термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
NF X21-010:2009 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь.
NF Z42-010-1:1992 Электронное отображение изображений. Сканирование офисных документов. Часть 1: Субподряд на сканирование. Руководство по подробным техническим инструкциям для бюро.
NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение волокнистой пыли, осажденной на поверхностях, методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
FD T16-203:2011 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
NF G07-142-2*NF EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2: метод сканирующей электронной микроскопии.

RU-GOST R, СЭМ СЭМ СЭМ

GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы
GOST R 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы калибровки
GOST 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Метод проверки
GOST R 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы проверки
GOST 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
GOST R 8.630-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Методы проверки
GOST R 8.635-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод калибровки
GOST R 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
GOST ISO 16000-27-2017 Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
GOST R 56109-2014 Медицинское электрооборудование. Позитронно-эмиссионные томографы в сочетании с рентгеновским оборудованием для компьютерной томографии. Технические требования для государственных закупок
GOST R ISO 27911-2015 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля

Danish Standards Foundation, СЭМ СЭМ СЭМ

DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
DS/ISO 19749:2021 Нанотехнологии – Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
DS/ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.

German Institute for Standardization, СЭМ СЭМ СЭМ

DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.
DIN EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021); Немецкая и английская версия prEN ISO 9220:2021.
DIN EN ISO 19749:2023-07 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
DIN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988); Немецкая версия EN ISO 9220:1994.
DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
DIN ISO 16000-27:2014-11 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующая электронная микроскопия) (прямой метод) (ISO 16000-27:2014)
DIN EN ISO 17751-2:2016-11 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO 17751-2:2016); Немецкая версия EN ISO 17751-2:2016 / Примечание. Заменяется стандартом DIN EN ISO 17751-2 (2022-09).
DIN EN ISO 17751-2:2022-09 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO/DIS 17751-2:2022); Немецкая и английская версия prEN ISO 17751-2:2022 / Примечание: Дата выпуска 19.08.2022*I...
DIN ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующая электронная микроскопия) (прямой метод) (ISO 16000-27:2014)

ES-UNE, СЭМ СЭМ СЭМ

UNE-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
UNE-EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в мае 2023 г.)
UNE-EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO 17751-2:2016)

工业和信息化部, СЭМ СЭМ СЭМ

YS/T 1491-2021 Способ определения сферичности порошка жаропрочных сплавов на основе никеля методом сканирующей электронной микроскопии
SJ/T 11759-2020 Измерение соотношения сторон линии электродной сетки фотоэлектрического элемента Лазерная сканирующая конфокальная микроскопия

Professional Standard - Public Safety Standards, СЭМ СЭМ СЭМ

GA/T 1939-2021 Судмедэкспертиза Текущая точечная экспертиза Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1938-2021 Судмедэкспертиза Проверка металлов Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1937-2021 Судебная медицина Проверка резины Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1418-2017 Исследование элементного состава судебно-медицинской экспертизы стеклянных доказательств, сканирующая электронная микроскопия/энергетическая спектроскопия
GA/T 1522-2018 Судмедэкспертиза Осмотр остатков стрельбы Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1521-2018 Судебная медицина Исследование элементного состава пластмасс Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1519-2018 Судмедэкспертиза Проверка элементного состава тонера Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 909-2010 Метод сбора и упаковки следов огнестрельных улик (исследование SEM/EDS)
GA/T 1520-2018 Судебно-медицинская экспертиза черного пороха, проверка элементного состава пиротехнического порошка, сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергетическая спектрометрия
GA/T 823.3-2018 Методы исследования красочных доказательств в судебной медицине. Часть 3: Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, СЭМ СЭМ СЭМ

DB35/T 110-2000 Электронный зонд и сканирующий электронный микроскоп. Метод рентгеновского энергетического спектрального анализа для обнаружения красочных вещественных доказательств.

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, СЭМ СЭМ СЭМ

GJB 5891.6-2006 Метод испытания загрузки материала для инициирования взрывного устройства Часть 6. Измерение размера зерна Сканирующая электронная микроскопия

AENOR, СЭМ СЭМ СЭМ

UNE-EN ISO 9220:1996 МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ. ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ. МЕТОД РАССИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ. (ИСО 9220:1988).

Lithuanian Standards Office , СЭМ СЭМ СЭМ

LST EN ISO 9220:2001 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)

AT-ON, СЭМ СЭМ СЭМ

OENORM EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)

IN-BIS, СЭМ СЭМ СЭМ

IS 9782-1981 Спецификация генераторов телевизионной развертки

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), СЭМ СЭМ СЭМ

SMPTE 293M-2003 Телевидение — активная строка 720 x 483 с частотой 59,94 Гц, построчная развертка — цифровое представление
SMPTE 294M-2001 Телевидение 720 X 483 Active Line с частотой 59,94 Гц. Производство с прогрессивной разверткой — последовательные битовые интерфейсы.
SMPTE EG 25-2003 Телекиносканирование для передачи фильма на телевидение
SMPTE 96M-2004 Телевидение – кинопленка 35 и 16 мм – область отсканированного изображения
SMPTE 96M-1999 Телевидение – кинопленка 35 и 16 мм – область отсканированного изображения
SMPTE ST 96M-2004 Телевидение – кинопленка 35 и 16 мм – область отсканированного изображения
SMPTE 16M-1998 Аналоговая телевизионная запись — спиральная развертка, 1 дюйм, тип B — пластинки
SMPTE ST 16M-1998 Аналоговая телевизионная запись — спиральная развертка, 1 дюйм, тип B — пластинки

BE-NBN, СЭМ СЭМ СЭМ

NBN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988).

Professional Standard - Chemical Industry, СЭМ СЭМ СЭМ

HG/T 3640-1999 Фотография.Размер пленки.Пленка для использования в электронном сканере.

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, СЭМ СЭМ СЭМ

DB37/T 420.2-2004 Протокол диагностики болезни скорпионовых пальцев у марикультурных рыб, часть 2: Метод диагностики с помощью сканирующей электронной микроскопии

American National Standards Institute （ANSI), СЭМ СЭМ СЭМ

ANSI/ASTM D6059:2001 Метод испытаний для определения концентрации аэрозольных монокристаллических керамических усов в рабочей среде методом сканирующей электронной микроскопии

未注明发布机构, СЭМ СЭМ СЭМ

BS CECC 13:1985(1999) Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: Базовая спецификация: Проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.
JIS K 0182:2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.

Professional Standard - Aviation, СЭМ СЭМ СЭМ

HB 20094.4-2012 Метод испытаний определения металлов износа в рабочей жидкости для авиации. Часть 4. Сканирующая электронная микроскопия и энергодисперсионная спектрометрия.

未注明发布机构, СЭМ СЭМ СЭМ

BS CECC 13:1985(1999) Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: Базовая спецификация: Проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.
JIS K 0182:2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.

Professional Standard - Nuclear Industry, СЭМ СЭМ СЭМ

EJ/T 20150.23-2018 После освещения топливной сборки со стержневыми реакторами PWR. Часть 23: СЭМ-анализ труб оболочек твэлов

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, СЭМ СЭМ СЭМ

CNS 14197-1998 Электрическое линейное сканирующее ультразвуковое диагностическое оборудование

GOSTR, СЭМ СЭМ СЭМ

PNST 508-2020 Нанотехнологии. Одностенные углеродные нанотрубки. Характеристика методами сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии.

NEMA - National Electrical Manufacturers Association, СЭМ СЭМ СЭМ

NEMA NU 2-2012 Измерения производительности позитронно-эмиссионных томографов
NEMA NU 2-2018 Измерения производительности позитронно-эмиссионных томографов (ПЭТ)

International Telecommunication Union (ITU), СЭМ СЭМ СЭМ

ITU-R SM.1839 SPANISH-2007 Процедура испытания для измерения скорости сканирования приемников радиомониторинга Procedimiento de prueba para medir la velocidad de exploracié de los receptores de comprobación ténica radioelertrica
ITU-R BR.1441 FRENCH-2000 КОМПРОМИССНЫЕ РАЗМЕРЫ ОБЛАСТИ СКАНИРОВАНИЯ ДЛЯ ТЕЛЕВИДЕНИЯ ИЗ ШИРОКОЭКРАННЫХ ПЛЕНОК 35 ММ
ITU-R BR.1441 SPANISH-2000 КОМПРОМИССНЫЕ РАЗМЕРЫ ОБЛАСТИ СКАНИРОВАНИЯ ДЛЯ ТЕЛЕВИДЕНИЯ ИЗ ШИРОКОЭКРАННЫХ ПЛЕНОК 35 ММ
ITU-R BR.1374-1-2001 Размеры области сканирования кинопленки толщиной 16 мм и 35 мм, используемой на телевидении
ITU-R BT.1358-1-2007 Студийные параметры систем прогрессивного телевидения на 625 и 525 строк.
ITU-R SM.1839-1 FRENCH-2011 Методика испытаний измерения скорости сканирования приемников радиомониторинга
ITU-R SM.1839-1-2011 Методика испытаний измерения скорости сканирования приемников радиомониторинга
ITU-R SM.1839-1 SPANISH-2011 Методика испытаний измерения скорости сканирования приемников радиомониторинга
ITU-R SM.1839-2007 Методика испытаний измерения скорости сканирования приемников радиомониторинга
ITU-R SM.1839 FRENCH-2007 Процедура испытаний для измерения скорости сканирования приемников радиомониторинга. Процедура проведения измерений для проведения испытаний механизмов контроля излучений.
ITU-R SM.1839-2011 Методика испытаний измерения скорости сканирования приемников радиомониторинга

Professional Standard - Electricity, СЭМ СЭМ СЭМ

DL/T 1346-2014 Рабочий код вертолетного лазерного сканирования ЛЭП
DL/T 1346-2021 Технический регламент эксплуатации вертолетного лазерного сканирования воздушных линий электропередачи

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, СЭМ СЭМ СЭМ

ITU-R BT.1358-1998 Студийные параметры 625- и 525-строчных телевизионных систем с прогрессивной разверткой

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), СЭМ СЭМ СЭМ

SMPTE EG 25:2003 EG 25:2003 – Инженерное руководство SMPTE – Телекиносканирование для передачи пленки на телевидение
SMPTE ST 295:1997 ST 295:1997. Стандарт SMPTE. Для телевидения. 1920 × 1080, 50 Гц. Сканирование и интерфейсы.

BELST, СЭМ СЭМ СЭМ

STB 2210-2011 Наноразмерные углеродные и неуглеродные материалы и композиты на их основе. Метод определения параметров с использованием измерений сканирующей электронной микроскопии

Professional Standard - Military and Civilian Products, СЭМ СЭМ СЭМ

WJ 2299-1995 Правила поверки спектрометра последовательного сканирования с индуктивно-связанной плазмой

Professional Standard - Energy, СЭМ СЭМ СЭМ

DL/T 2333-2021 Технический регламент наземных трехмерных лазерных сканирующих измерений проектов передачи и преобразования электроэнергии