ZH

EN

KR

JP

ES

DE

СЭМ

СЭМ, Всего: 55 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к СЭМ, являются: Линейные и угловые измерения, Аналитическая химия, Обработка поверхности и покрытие, Оптическое оборудование, Качество воздуха, Краски и лаки, Испытание металлов, Текстильные волокна, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Цветные металлы, Рыбалка и рыбоводство, Физика. Химия, Продукция текстильной промышленности, Оптика и оптические измерения, Образование.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, СЭМ

  • GB/T 16594-1996 Измерение длины в микронах с помощью SEM
  • GB/T 31563-2015 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
  • GB/T 17722-1999 Измерение толщины позолоченного покрытия с помощью SEM
  • GB/T 16594-2008 Общие правила измерения длины в микронном масштабе с помощью СЭМ
  • GB/T 20307-2006 Общие правила измерения длины в нанометровом масштабе с помощью SEM
  • GB/T 17362-2008 Метод рентгеноэнергетического спектрального анализа золотых изделий на сканирующем электронном микроскопе
  • GB/T 27788-2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
  • GB/T 17362-1998 Неразрушающий метод рентгеновского ЭДС анализа с помощью СЭМ для золотых ювелирных изделий
  • GB/T 30834-2014 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали. Сканирующий электронный микроскоп.
  • GB/T 36422-2018 Искусственное волокно. Метод испытания микроморфологии и диаметра. Метод сканирующего электронного микроскопа.
  • GB/T 30834-2022 Рейтинг и классификация включений в стали — метод растрового электронного микроскопа.
  • GB/T 17359-1998 Общие характеристики количественного анализа рентгеновской ЭДС для EPMA и SEM
  • GB/T 25189-2010 Микролучевой анализ. Метод определения параметров количественного анализа SEM-EDS.
  • GB/T 14593-2008 Метод количественного анализа кашемира, шерсти и их смесей. Метод сканирующего электронного микроскопа.
  • GB/T 40905.2-2022 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.

Group Standards of the People's Republic of China, СЭМ

  • T/CSTM 00795-2022 Материалы экспериментальных данных. Требования к изображениям сканирующего электронного микроскопа.
  • T/CSTM 00229-2020 Идентификация графеновых материалов в материалах покрытий методом сканирующего электронного микроскопа-энергодисперсионного спектрометра
  • T/NLIA 004-2021 Метод испытания на растяжение SEM на месте для алюминиевого сплава, полученного аддитивным способом
  • T/CSTM 00346-2021 Автоматическая классификация и статистика включений в стали — метод энергодисперсионного спектра сканирующего электронного микроскопа.
  • T/GAIA 017-2022 Определение содержания фтора в поверхностном покрытии алюминия и алюминиевых сплавов методом растрового электронного микроскопа и энергодисперсионного спектрометра.

Professional Standard - Commodity Inspection, СЭМ

  • SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.
  • SN/T 3009-2011 Идентификация коррозии морской водой на металлической поверхности с помощью СЭМ

Association of German Mechanical Engineers, СЭМ

  • VDI 3866 Blatt 5-2004 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии
  • VDI 3866 Blatt 5-2017 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, СЭМ

  • DB44/T 1527-2015 Микролучевой анализ Метод оценки четкости изображения сканирующего электронного микроскопа

Professional Standard - Machinery, СЭМ

  • JB/T 7503-1994 Толщина поперечного сечения металлических покрытий Метод измерения сканирующим электронным микроскопом
  • JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
  • JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, СЭМ

  • GB/T 27788-2020 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
  • GB/T 38783-2020 Способ определения толщины покрытия композитов благородных металлов с помощью сканирующего электронного микроскопа
  • GB/T 35099-2018 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия с энергодисперсионной рентгеновской спектрометрией. Морфология и элементный анализ одиночных мелких частиц в окружающем воздухе.
  • GB/T 35097-2018 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия с энергодисперсионной рентгеновской спектрометрией. Определение количественной концентрации неорганических волокнистых частиц в окружающем воздухе.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, СЭМ

  • GJB 737.11-1993 Методы испытаний пиротехнических химикатов. Определение размера частиц. Сканирующая электронная микроскопия.

工业和信息化部, СЭМ

  • YS/T 1491-2021 Способ определения сферичности порошка жаропрочных сплавов на основе никеля методом сканирующей электронной микроскопии

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, СЭМ

  • GJB 5891.6-2006 Метод испытания загрузки материала для инициирования взрывного устройства Часть 6. Измерение размера зерна Сканирующая электронная микроскопия

Professional Standard - Public Safety Standards, СЭМ

  • GA/T 1418-2017 Исследование элементного состава судебно-медицинской экспертизы стеклянных доказательств, сканирующая электронная микроскопия/энергетическая спектроскопия

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, СЭМ

  • DB35/T 110-2000 Электронный зонд и сканирующий электронный микроскоп. Метод рентгеновского энергетического спектрального анализа для обнаружения красочных вещественных доказательств.

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, СЭМ

  • DB37/T 420.2-2004 Протокол диагностики болезни скорпионовых пальцев у марикультурных рыб, часть 2: Метод диагностики с помощью сканирующей электронной микроскопии

International Organization for Standardization (ISO), СЭМ

  • ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
  • ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
  • ISO/FDIS 17751-2 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.

Professional Standard - Aviation, СЭМ

  • HB 20094.4-2012 Метод испытаний определения металлов износа в рабочей жидкости для авиации. Часть 4. Сканирующая электронная микроскопия и энергодисперсионная спектрометрия.

Professional Standard - Nuclear Industry, СЭМ

  • EJ/T 20150.23-2018 После освещения топливной сборки со стержневыми реакторами PWR. Часть 23: СЭМ-анализ труб оболочек твэлов

British Standards Institution (BSI), СЭМ

  • 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), СЭМ

  • JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, СЭМ

  • JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, СЭМ

  • JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
  • JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), СЭМ

  • KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
  • KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
  • KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
  • KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Словарь
  • KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.

KR-KS, СЭМ

  • KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.

Professional Standard - Education, СЭМ

  • JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии




©2007-2023 ANTPEDIA, Все права защищены.