ZH
EN
ES

химическая масс-спектрометрия

химическая масс-спектрометрия, Всего: 24 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к химическая масс-спектрометрия, являются: Аналитическая химия, Атомная энергетика.

International Organization for Standardization (ISO), химическая масс-спектрометрия

• ISO 12406:2010 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования мышьяка в кремнии.
• ISO 13084:2011 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов.
• ISO 17560:2014 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования бора в кремнии.
• ISO/TS 15338:2009 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия тлеющего разряда (GD-MS). Введение в использование.
• ISO/TS 22933:2022 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод измерения массового разрешения в ВИМС.
• ISO 13084:2018 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов.

British Standards Institution (BSI), химическая масс-спектрометрия

• BS ISO 12406:2010 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования мышьяка в кремнии
• BS ISO 23812:2009 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод калибровки по глубине кремния с использованием эталонных материалов с несколькими дельта-слоями.
• BS DD ISO/TS 15338:2009 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия тлеющего разряда (GD-MS). Введение в использование.
• BS ISO 22048:2005 Химический анализ поверхности - информационный формат для статической масс-спектрометрии вторичных ионов

Association Francaise de Normalisation, химическая масс-спектрометрия

• NF X21-066*NF ISO 23812:2009 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод калибровки по глубине кремния с использованием эталонных материалов с несколькими дельта-слоями.

American Society for Testing and Materials (ASTM), химическая масс-спектрометрия

• ASTM C698-04 Стандартные методы химического, масс-спектрометрического и спектрохимического анализа смешанных оксидов ядерного качества ((U, Pu)O2)
• ASTM C698-98 Стандартные методы химического, масс-спектрометрического и спектрохимического анализа смешанных оксидов ядерного качества ((U, Pu)O2)
• ASTM C889-06 Стандартные методы испытаний химического и масс-спектрометрического анализа порошка оксида гадолиния (Gd2O3) ядерного качества
• ASTM C889-11 Стандартные методы испытаний химического и масс-спектрометрического анализа порошка оксида гадолиния (Gd2O3) ядерного качества
• ASTM C889-99 Стандартные методы испытаний химического и масс-спектрографического анализа порошка оксида гадолиния (Gd2O3) ядерного качества
• ASTM C698-16 Стандартные методы химического, масс-спектрометрического и спектрохимического анализа смешанных оксидов ядерного качества ((U, Pu)O2)

Professional Standard - Electron, химическая масс-спектрометрия

• SJ 2594-1985 Метод анализа бора и металлических примесей в чистом SiC14-Спектрохимический метод

IT-UNI, химическая масс-спектрометрия

• UNI 6714-1970

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, химическая масс-спектрометрия

• GB/T 33236-2016 Поликристаллический кремний. Определение микроэлементов. Метод масс-спектрометрии тлеющего разряда.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, химическая масс-спектрометрия

• GB/T 42518-2023 Химический анализ микроэлементов в кристаллах германата висмута (BGO) методом масс-спектрометрии тлеющего разряда

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), химическая масс-спектрометрия

• KS D ISO 22048:2005 Химический анализ поверхности - информационный формат для статической масс-спектрометрии вторичных ионов

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), химическая масс-спектрометрия

• JIS K 0168:2011 Химический анализ поверхности. Информационный формат для статической масс-спектрометрии вторичных ионов.

Standard Association of Australia （SAA）, химическая масс-спектрометрия

• AS ISO 17560:2006 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования бора в кремнии.

Другие:   масс-спектрометрия с химической ионизацией, Химикаты для масс-спектрометрии, масс-спектрометрия вторичных ионов, Метод профилирования по глубине для поверхностного химического анализа мышьяка в кремнии методом вторично-ионной масс-спектрометрии, химическая масс-спектрометрия, масс-спектрометрическая химическая ионизация, химический анализ масс-спектрометрия, масс-спектрометрическая химическая ионизация, тандемная масс-спектрометрия, Стандартный метод испытаний химического, масс-спектрометрического и спектрохимического анализа карбида бора ядерной чистоты, Химический состав Масс-спектрометрия, Тройная квадрупольная масс-спектрометрия, геохимия, химическая масс-спектрометрия, Масс-спектрометрия химического обнаружения, масс-спектрометрии, масс-спектрометрический матричный анализ, Масс-спектрометрия химического источника, Газовая хроматография-масс-спектрометрия, хроматография-масс-спектрометрия, Химический состав газа масс-спектрометрии.