ZH
EN
ES

хрустальный пик

хрустальный пик, Всего: 500 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к хрустальный пик, являются: Сельское и лесное хозяйство, Стандартизация. Основные правила, Медицинское оборудование, Пьезоэлектрические и диэлектрические устройства, Солнечная энергетика, Стекло, Пестициды и другие агрохимикаты, Электронные компоненты в целом, Полупроводниковые приборы, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, ИТ-терминал и другое периферийное оборудование, Неорганические химикаты, Аналитическая химия, Полупроводниковые материалы, Испытание металлов, Электрические фильтры, Атомная энергетика, Защита окружающей среды, Электрические и электронные испытания, Аудио, видео и аудиовизуальная техника, Электронные устройства отображения, Промышленные печи, Измерения радиации, Цветные металлы, Оптика и оптические измерения, Техническая документация продукта, Магнитные материалы, Гальванические элементы и батареи, Пластмассы, Органические химикаты, Нерудные полезные ископаемые, Керамика, Образование, Словари, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Сахар. Сахарные изделия. Крахмал, Условия и процедуры испытаний в целом, Системы дорожного транспорта, Выпрямители. Конвертеры. Стабилизированный источник питания, Кинематография, Компоненты для электрооборудования, Ювелирные изделия, Электричество. Магнетизм. Электрические и магнитные измерения, Режущие инструменты, Анализ размера частиц. просеивание, Продукция химической промышленности, Производство металлов, Электрооборудование для работы в особых условиях, Графические символы, Бесчиповое рабочее оборудование, Энергетика и теплопередача в целом.

Group Standards of the People's Republic of China, хрустальный пик

T/WFCYXH 001-2018 Стандарт группы черного чая Wufeng
T/XHS 001-2018 Групповой стандарт чая «Шифэн Лунцзин»
T/XHS 001-2022 Стандарт чайной группы Шифэн Лунцзин
T/CECA 48-2021 Кварцевый кристаллический элемент микровесов
T/QGCML 1655-2023 Тонкопленочный транзисторный ЖК-дисплей
T/CSTM 00316-2022 Оптоэлектрические монокристаллы - монокристаллы танталата лития для пироэлектрического инфракрасного обнаружения.
T/CAB 0180-2022 Метод измерения характерных параметров кристалла и кристаллической матрицы ГАГГ
T/GAAA 0008-2019 Меры управления консорциумами по андеррайтингу оценки произведений искусства на саммите
T/ZZB 0916-2018 Гиромагнитный поликристаллический феррит
T/ZZB 0514-2018 Оптическая отражающая пленка для TFT-LCD-панелей
T/CPIA 0037-2022 Технические характеристики фотоэлектрических кристаллических пластин
T/CECA 72-2022 Гиромагнитные поликристаллические ферритовые материалы
T/HEBQIA 135-2022 OC1409 Кварцевый генератор постоянной температуры
T/VSAC 001-2023 Оценка минерально-кристаллических поделочных камней
T/SZBX 061-2021 Фотоэлектрический модуль из кристаллического кремния с низкой деградацией
T/CSTM 00035-2020 Сцинтилляционный кристалл оксиортосиликата иттрия, легированный церием
T/ZZB 0091-2016 Наземные фотоэлектрические (PV) модули из кристаллического кремния
T/HEBQIA 073-2022 Сверхпроводящие магниты для монокристаллического кремния Чохральского
T/COEMA 002LCD-2022 Поляризационная пленка низкой влагопроницаемости для TFT-LCD
T/CSTM 00584-2022 Фотоэлектрическая черепица из кристаллического кремния в зданиях

American National Standards Institute （ANSI), хрустальный пик

ANSI Z80.13-2007 Факичные интраокулярные линзы
ANSI/EIA 417-A:1991 Кристаллические контуры
ANSI Z80.29-2015 Офтальмология – аккомодационные интраокулярные линзы

ES-UNE, хрустальный пик

UNE-EN 120003:1992 БДС: ФОТОТРАНЗИСТОРЫ, ФОТОКАРЛИНГТОННЫЕ ТРАНЗИСТОРЫ, ФОТОТРАНЗИСТОРНЫЕ МАССИВЫ. (Одобрено AENOR в сентябре 1996 г.)
UNE-EN ISO 11979-7:2018 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 7. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции афакии (ISO 11979-7:2018) (Одобрено Испанской ассоциацией нормализации в июне 2018 г.)
UNE-EN 168100:1993 SS: КВАРЦОВЫЕ КРИСТАЛЛЫ. (Одобрено AENOR в ноябре 1996 г.)
UNE-EN ISO 11979-10:2018 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции аметропии факичных глаз (ISO 11979-10:2018) (Одобрено Испанской ассоциацией нормализации в июне 2018 г.)
UNE-EN IEC 60122-4:2019 Кварцевые кристаллы проверенного качества. Часть 4. Кристаллические блоки с термисторами (одобрено Испанской ассоциацией по стандартизации в мае 2019 г.)

HU-MSZT, хрустальный пик

MSZ 4749-1970 Кристаллический асбест
MSZ 8531-1961 Кристаллическая промышленная взрывчатка
MSZ 9519-1958 Кристаллический ацетат натрия для анализа.
MNOSZ 24165-1952 химический кристаллический карбонат
MNOSZ 24141-1955 Прозрачный кристаллический кальций. Цель анализа
MSZ 9275-1982 Кристаллический сульфат натрия для анализа
MSZ 9274-1957 Сульфат кадмия кристаллической воды для анализа
MSZ 8533-1961 Промышленная взрывчатка в шестиугольных кристаллах

SE-SIS, хрустальный пик

SIS SS CECC 20003-1988 Пустая подробная спецификация: фототранзисторы, транзисторы фотодар/ингтон, матрицы фототранзисторов.
SIS SEN 43 60 01-1964 Кварцевые блоки для генераторов
SIS SS-CECC 68000-1991 Общая спецификация: кварцевые кристаллы

RO-ASRO, хрустальный пик

STAS 9675-1974 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ КРЕМНИЙ
STAS 11437-1980 УНИ-ИОННЫЕ ТРАНЗИСТОРЫ Методы испытаний
STAS 11418-1980 Полупроводниковые приборы ОДНОПЕРЕХОДНЫЕ ТРАНЗИСТОРЫ Терминология

Professional Standard - Medicine, хрустальный пик

YY 0290.10-2009 Интраокулярные линзы.Часть 10: Факичные интраокулярные линзы.
YY/T 0295.11-1997 Щипцы для капсулотомии
YY 0290.9-2010 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 9: Мультифокальные интраокулярные линзы.
YY 0290.1-1997 Внутриглазные исследования. Часть 1: Терминология

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), хрустальный пик

JIS C 8914:1998 Метод измерения выходной мощности кристаллических солнечных фотоэлектрических модулей
JIS C 8917:1998 Методы экологических и ресурсных испытаний кристаллических солнечных фотоэлектрических модулей
JIS C 6703:2008 Кристаллические фильтры
JIS C 6704:2017 Кристалл синтетического кварца
JIS C 6704:1997 Кристалл синтетического кварца
JIS C 6704:2005 Кристалл синтетического кварца
JIS C 6704:2009 Кристалл синтетического кварца
JIS C 5513:1970 Транзисторные мегафоны
JIS H 7151:1991 Метод определения температур кристаллизации аморфных металлов
JIS C 8918:2013 Кристаллические фотоэлектрические (PV) модули
JIS C 6701:1995 Кварцевые блоки для генераторов
JIS C 6703:1995 Общие правила кристаллических фильтров
JIS C 8918:1998 Кристаллические солнечные фотоэлектрические модули
JIS C 6705:1984 Кварцевые блоки для генераторов (от 200 до 1000 кГц)
JIS C 7030:1993 Методы измерения транзисторов
JIS C 7032:1993 Общие правила для транзисторов
JIS C 6703:2002 Общая спецификация кристаллических фильтров
JIS C 7311:1980 Гарантированная надежность TTL, положительные элементы NAND, интегральные схемы
JIS C 8939:1995 Аморфные солнечные фотоэлектрические модули
JIS H 7004:1990 Словарь терминов, используемых в аморфных металлах
JIS B 4131:1998 Изделия из алмаза/CBN. Шлифовальные круги с алмазом или CBN.
JIS H 7803:2005 Общие правила определения размера частиц и размера кристаллитов в металлических катализаторах
JIS B 4130:1998 Изделия из алмаза/CBN. Размеры зерен алмаза или кубического нитрида бора.
JIS B 4138:1998 Изделия из алмаза и CBN. Пилы с сегментами из алмаза или CBN.
JIS C 6702:1992 Печи для кварцевых агрегатов
JIS H 7805:2005 Метод определения размера кристаллитов металлических катализаторов методом рентгеновской дифрактометрии

Danish Standards Foundation, хрустальный пик

DS/EN ISO 11979-10:2006 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Факичные интраокулярные линзы.
DS/EN ISO 11979-9:2007 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 9. Мультифокальные интраокулярные линзы.
DS/IEC 458:1981 Транзисторные балласты для трубчатых люминесцентных ламп.
DS/EN 60444-9:2007 Измерение параметров кварцевого кристалла. Часть 9. Измерение побочных резонансов пьезоэлектрических кристаллов.
DS/EN 50513:2009 Солнечные пластины. Технический паспорт и информация о пластинах кристаллического кремния для производства солнечных элементов.

Association Francaise de Normalisation, хрустальный пик

NF B30-004:1974 СТЕКЛО.КРИСТАЛЛ,ХРУСТАЛЬНОЕ СТЕКЛО,КРИСТАЛЛИН.
NF C93-120-003*NF EN 120003:1992 Пустая подробная спецификация: фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов.
NF EN 120003:1992 Специальная спецификация структуры: фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов.
NF EN ISO 11979-7:2018 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 7. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции афакии.
NF S94-750-7*NF EN ISO 11979-7:2018 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 7. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции афакии.
NF EN ISO 11979-10:2018 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции факичной аметропии глаза.
NF S94-750-10*NF EN ISO 11979-10:2018 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции аметропии в факичных глазах.
NF C96-611/A1:1972 Полупроводники Переходные транзисторы. Особые стандарты.
NF S94-750-10:2006 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Факичные интраокулярные линзы.
NF S94-750-10/A1:2014 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Факичные интраокулярные линзы. Поправка 1.
NF C93-621-9*NF EN 60444-9:2014 Измерение параметров кварцевого кристалла. Часть 9. Измерение побочных резонансов пьезоэлектрических кристаллов.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, хрустальный пик

GB 9558-2001 Кристалло-диметоат
GB/T 1555-1997 Методы испытаний для определения ориентации монокристалла полупроводника
GB/T 1555-2023 Метод определения кристаллической ориентации монокристалла полупроводника
GB/T 1555-2009 Методы испытаний для определения ориентации монокристалла полупроводника
GB/T 31958-2023 Стеклянная подложка для жидкокристаллического дисплея тонкопленочного транзистора из аморфного кремния
GB/T 42676-2023 Рентгенодифракционный метод проверки качества монокристалла полупроводника
GB/T 3352-1994 Кристалл синтетического кварца
GB/T 3351~353-1982 искусственный кристалл кварца
GB/T 8553-2023 Общие характеристики хрустальных коробок
GB/T 8553-1987 Держатели (корпуса) хрустальные, общая спецификация для
GB/T 8756-1988 Коллекция металлографий по дефектам кристаллического германия.
GB/T 31958-2015 Стеклянная подложка для жидкокристаллического дисплея на тонкопленочных транзисторах
GB 51136-2015 Спецификации заводской конструкции жидкокристаллического дисплея на тонкопленочных транзисторах
GB/T 6628-1996 Громоздкий синтетический кристалл кварца
GB/T 7895-1987 Синтетический кристалл кварца оптического класса
GB/T 7895-2008 Синтетический кристалл кварца оптического класса
GB/T 6430-1986 Правила обозначения типа кристаллодержателей (корпусов)
GB/T 26762-2011 Кристаллическая фруктоза и твердая фруктоза-глюкоза.
GB 6430-1986 Номенклатура моделей хрустальных коробок
GB/T 16863-1997 Метод определения показателя преломления кристаллов
GB/T 12633-1990 Условия измерения свойств пьезоэлектрических кристаллов
GB 12274-1990 Генераторы, управляемые кварцевым кристаллом. Общие характеристики для
GB/T 3353-1995 Руководство по использованию синтетического кристалла кварца
GB/T 22319.7-2015 Измерение параметров кристаллических агрегатов кварца. Часть 7. Измерение провалов активности кристаллических агрегатов кварца.

Professional Standard - Machinery, хрустальный пик

JB/T 9495.1-1999 Оптические кристаллы
JB/T 10789-2007 Печи для выращивания кристаллов под высоким давлением. Печи для выращивания кристаллов под высоким давлением серии TDR-GY методом Чоктнальского с жидкой капсулой
JB/T 5482-2011 Аппарат рентгеновской ориентации
JB/T 8951.1-1999 Биполярный транзистор с изолированным затвором
JB/T 11375-2013 Ультра-микрокристаллический проекционный экран

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局, хрустальный пик

GB/T 9558-2001 Кристалло-диметоат

European Standard for Electrical and Electronic Components, хрустальный пик

EN 120003:1992 Бланковая детальная спецификация: фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов.

German Institute for Standardization, хрустальный пик

DIN EN 120003:1996 Бланк ТУ - Фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов; Немецкая версия EN 120003:1992.
DIN EN 120003:1996-11 Бланк подробной спецификации - Фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов.
DIN EN ISO 11979-7:2018-08 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 7. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции афакии (ISO 11979-7:2018); Немецкая версия EN ISO 11979-7:2018
DIN 52341:1993 Тестирование стекла; химический анализ свинцового хрусталя и хрусталя
DIN EN ISO 11979-7:2023-04 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 7. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции афакии (ISO/DIS 11979-7:2023)
DIN EN ISO 11979-7:2018 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 7. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции афакии (ISO 11979-7:2018)
DIN EN ISO 11979-10:2018-08 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции аметропии факичных глаз (ISO 11979-10:2018); Немецкая версия EN ISO 11979-10:2018.
DIN 4000-19:1988-12 Табличные схемы характеристик изделий для транзисторов и тиристоров
DIN EN IEC 60122-4:2019-10 Кварцевые блоки оцененного качества. Часть 4. Кристаллические блоки с термисторами (IEC 60122-4:2019); Немецкая версия EN IEC 60122-4:2019
DIN EN ISO 11979-10:2018 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции аметропии в факичных глазах (ISO 11979-10:2018)
DIN IEC 60679-2:1997 Генераторы, управляемые кварцевым кристаллом. Часть 2. Руководство по использованию генераторов, управляемых кварцевым кристаллом (IEC 60679-2:1981).
DIN EN 60444-9:2007 Измерение параметров кварцевых кристаллов. Часть 9. Измерение паразитных резонансов пьезоэлектрических кристаллов (IEC 60444-9:2007); Немецкая версия EN 60444-9:2007.
DIN EN ISO 11979-10:2006 Офтальмологические имплантаты. Линзы интраокулярные. Часть 10. Факичные интраокулярные линзы (ISO 11979-10:2006); Английская версия DIN EN ISO 11979-10:2006-11
DIN EN 60444-9:2007-12 Измерение параметров кварцевых кристаллов. Часть 9. Измерение паразитных резонансов пьезоэлектрических кристаллов (IEC 60444-9:2007); Немецкая версия EN 60444-9:2007.

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, хрустальный пик

CNS 1996-1978 Хлорид олова, кристалл (кристаллы тетрахлорида олова)
CNS 12257-1988 Кристаллические фильтры
CNS 6808-1989 Общие правила для транзисторов
CNS 3997-1989 Метод испытания транзисторов
CNS 11763-1986 Транзисторные Мегафоны
CNS 3009-1994 Транзисторные радиоприемники простого типа
CNS 3010-1994 Транзисторные радиоприемники общего типа
CNS 12256-1988 Печи для кварцевых агрегатов
CNS 6809-1989 Методы рисования контуров транзисторов

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, хрустальный пик

JEDEC JES2-1992 Транзистор, силовой полевой транзистор на основе арсенида галлия, общие характеристики
JEDEC JESD10-1976 Низкочастотные силовые транзисторы
JEDEC EIA-398-1972 Измерение малых значений емкости транзистора
JEDEC JESD6-1967 Измерение малых значений емкости транзистора

Lithuanian Standards Office , хрустальный пик

LST EN 120003-2001 Пустая подробная спецификация. Фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов
LST EN ISO 11979-10:2007 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Факичные интраокулярные линзы (ISO 11979-10:2006)
LST EN ISO 11979-9:2007 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 9. Мультифокальные интраокулярные линзы (ISO 11979-9:2006)
LST EN 50513-2009 Солнечные пластины. Технический паспорт и информация о пластинах кристаллического кремния для производства солнечных элементов.

British Standards Institution (BSI), хрустальный пик

BS EN ISO 11979-7:2018 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции афакии
BS EN ISO 11979-10:2006 Офтальмологические имплантаты - Интраокулярные линзы - Факичные интраокулярные линзы
23/30453001 DC БС ЕН ИСО 11979-7. Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы - Часть 7. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции афакии
BS EN ISO 11979-10:2018 Отслеживаемые изменения. Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции аметропии факичных глаз
BS EN 120003:1986 Спецификация гармонизированной системы оценки качества электронных компонентов. Бланковая детальная спецификация. Фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов
BS EN 60444-9:2007 Измерение параметров кварцевых блоков - Измерение побочных резонансов пьезоэлектрических кристаллических блоков
BS EN IEC 60122-4:2019 Кварцевые блоки оцененного качества - Кристаллические блоки с терморезисторами
BS EN 120003:1993 Спецификация гармонизированной системы оценки качества электронных компонентов. Пустая подробная спецификация. Фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов
BS EN 50513:2009 Солнечные пластины. Технический паспорт и информация о пластинах кристаллического кремния для производства солнечных элементов.
BS EN 60444-8:2003 Измерение параметров кварцевых блоков. Испытательное приспособление для кварцевых блоков поверхностного монтажа.
BS EN 60444-8:2017 Измерение параметров кристаллической установки кварца. Испытательное приспособление для кварцевых блоков поверхностного монтажа
BS IEC 60747-7:2011 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Биполярные транзисторы
BS IEC 60747-7:2010 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Биполярные транзисторы
BS IEC 60747-7:2010+A1:2019 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства - Биполярные транзисторы
BS IEC 60747-8:2010 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Полевые транзисторы
BS IEC 60747-8:2010+A1:2021 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства - Полевые транзисторы
BS PD ISO/TS 23151:2021 Нанотехнологии. Распределение частиц по размерам нанокристаллов целлюлозы. Распределение частиц по размерам нанокристаллов целлюлозы
BS EN 60444-7:2004 Измерение параметров кристаллических агрегатов кварца - Измерение активности и провалов частоты кварцевых агрегатов
BS EN 60444-2:1997 Измерение параметров кристаллической установки кварца. Метод фазового сдвига для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов

CZ-CSN, хрустальный пик

CSN 68 5401-1981 Кристаллоформный сульфат натрия
CSN 68 5367-1974 Гидросульфат калия кристаллический
CSN 65 3127-1963 Сульфат натрия кристаллический технический
CSN 65 3460-1961 Сульфат цинка кристаллический. технический
CSN 35 8813-1979 Транайаторы КУ 611, КУ 612
CSN 35 8812-1979 Транзистор КУ 601, КУ 602
CSN 35 8936-1960 Держатели пьезоэлектрических кристаллических резонаторов
CSN 01 5111-1974 Отбор проб сыпучих и зернистых материалов
CSN 35 8738-1964 Транзистор. Измерение обратных напряжений
CSN 35 8750-1964 Транзистор. Измерение h-параметров
CSN 35 8821-1980 Транзистор БФ 257, БФ 258. БФ 250
CSN 35 8814-1979 Транзистор КД 501, КБ 502, КД 503
CSN 35 8930-1960 Держатели пьезоэлектрических кристаллических резонаторов
CSN 35 8756-1973 Полупроводниковые приборы. Транзисторы Измерение y-параметров
CSN 35 8740-1973 Полупроводниковые устройства. Транзистор. Измерение напряжения насыщения
CSN 35 8909-1962 Транзисторы. Измерение реактивного импеданса
CSN 35 8757 Cast.9-1986 Транзисторы. Методы измерения термического сопротивления
CSN 70 8311-1988 Хрустальное свинцовое стекло, обработанное огранкой.
CSN 35 8748-1964 Транзисторы. Измерение реактивного импеданса
CSN 35 8912-1962 Транзисторы. Измерение реактивного импеданса
CSN 35 8742-1973 Полупроводниковые приборы. Транзисторы. Измерение токов отключения

Professional Standard - Light Industry, хрустальный пик

QB/T 1173-2002 Монокристаллический каменный сахар
QB/T 1174-2002 Мультикристаллический каменный сахар
QB/T 1173-1991 Монокристаллический каменный сахар
QB/T 1174-1991 Мультикристаллический каменный сахар

Professional Standard - Building Materials, хрустальный пик

JC/T 2017-2010 Кристалл фторида свинца
JC/T 2023-2010 Сцинтилляционные кристаллы вольфрамата Led
JC/T 2148-2012 Пьезоэлектрический кристалл лангасита
JC/T 2690-2022 Магнитооптические кристаллы тербий-галлиевого граната (ТГГ)

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), хрустальный пик

KS C 7021-1974(2001) ОБЩИЕ ПРАВИЛА ДЛЯ ТРАНЗИСТОРОВ
KS C 7021-1985 ОБЩИЕ ПРАВИЛА ДЛЯ ТРАНЗИСТОРОВ
KS C 6506-1983 Синтетический кварцевый кристалл1
KS M 1401-2017(2022) Сульфит натрия(кристалл)
KS C 6506-1983(2008) Синтетический кварцевый кристалл1
KS P ISO 11979-7:2021 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 7. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции афакии.
KS C 6503-1999 Кварцевые блоки для генераторов
KS C 6024-1995(2000) МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ТРАНЗИСТОРОВ
KS C 8531-2005 Модуль кристаллических солнечных батарей
KS C 6503-1984 Кварцевые блоки для генераторов
KS C 6024-1985 МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ТРАНЗИСТОРОВ
KS P ISO 11979-10:2019 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции аметропии в факичных глазах.
KS C 6504-1987(2017) Печи для кварцевых агрегатов
KS C IEC 60679-2:2018 Генераторы, управляемые кварцевым кристаллом. Часть 2. Руководство по использованию генераторов, управляемых кварцевым кристаллом.
KS C IEC 60679-2-2023 Кварцевые генераторы. Часть 2. Руководство по использованию кварцевых генераторов.
KS C 6509-1991 Общие правила кварцевых генераторов, управляемых кристаллом
KS C 6508-2013 Кварцевые блоки для генераторов (200–1000 кГц)
KS C 8531-1995 Модуль кристаллических солнечных батарей
KS C 6509-1991(2011) Общие правила кварцевых генераторов, управляемых кристаллом
KS C 6504-1987(2022) Печи для кварцевых агрегатов
KS C IEC 60122-4:2022 Кварцевые кристаллические блоки оцененного качества. Часть 4. Кристаллические блоки с термисторами.
KS C IEC 60444-8:2016 Измерение параметров кварцевых агрегатов. Часть 8. Испытательное приспособление для кварцевых агрегатов поверхностного монтажа.
KS C IEC 60747-7:2006 Полупроводниковые приборы－Дискретные устройства－Часть 7:Биполярные транзисторы
KS C IEC 60747-7:2017 Полупроводниковые приборы－Дискретные устройства－Часть 7:Биполярные транзисторы
KS C 6504-1987 Печи для кварцевых агрегатов
KS C 6508-1990 Кварцевые блоки для генераторов (200–1000 кГц)
KS B 3620-2012 Поликристаллические алмазные матрицы для волочения проволоки
KS C IEC 60444-9:2016 Измерение параметров кварцевых блоков ― Часть 9. Измерение паразитного резонанса пьезоэлектрических кристаллических блоков
KS C IEC 60444-9-2016(2021) Измерение параметров кварцевых блоков ― Часть 9. Измерение паразитного резонанса пьезоэлектрических кристаллических блоков
KS C IEC 60747-8:2002 Дискретные устройства. Часть 8. Полевые транзисторы.
KS C IEC 60444-8-2016(2021) Измерение параметров кварцевых агрегатов. Часть 8. Испытательное приспособление для кварцевых агрегатов поверхностного монтажа.
KS C IEC 61747-2:2002 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Часть 2. Модули жидкокристаллического дисплея. Спецификация в разрезе.

Guizhou Provincial Standard of the People's Republic of China, хрустальный пик

DB52/ 455-2004 кристаллы капсаицина

轻工业部, хрустальный пик

QB 1173-1991 Монокристаллический каменный сахар
QB 1174-1991 поликристаллический сахар

AENOR, хрустальный пик

UNE-EN ISO 11979-10:2007 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Факичные интраокулярные линзы (ISO 11979-10:2006)
UNE-EN ISO 11979-10:2007/A1:2014 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Факичные интраокулярные линзы (ISO 11979-10:2006/Поправка 1:2014)
UNE-EN ISO 11979-9:2007 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 9. Мультифокальные интраокулярные линзы (ISO 11979-9:2006)
UNE-EN 50513:2011 Солнечные пластины. Технический паспорт и информация о пластинах кристаллического кремния для производства солнечных элементов.

U.S. Military Regulations and Norms, хрустальный пик

ARMY MIL-PRF-55310/18 F-2009 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 0,01 Гц ДО 15,0 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, МЕЖДУНАРОДНЫЙ, КМОП
ARMY MIL-PRF-55310/28 C-2008 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 1,0 МГц ДО 85 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, МЕЖДУНАРОДНАЯ ВОЛНА, TTL
ARMY MIL-PRF-55310/8 J-2009 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 50 Гц ДО 50 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, ПРЯМОПОДАВНАЯ ВОЛНА, TTL
ARMY MIL-P-46320 C (4)-1972 БЛОК ПИТАНИЯ: 10516158 (ТРАНЗИСТОРИЗИРОВАННЫЙ)
ARMY MIL-P-46320 C-1963 БЛОК ПИТАНИЯ: 10516158 (ТРАНЗИСТОРИЗИРОВАННЫЙ)
ARMY QPL-46320-30-1992 БЛОК ПИТАНИЯ, 10516158 (ТРАНЗИСТОРИЗИРОВАННЫЙ)
ARMY MIL-PRF-3098/84 F-2013 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ, CR108/U
ARMY MIL-PRF-3098/95 E VALID NOTICE 2-2013 Кристаллический блок, кварц, CR119/U
ARMY MIL-PRF-55310/29 C-2011 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 0,2 МГЦ ДО 85 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ УПЛОТНЕНИЕ, МЕЖДУНАРОДНЫЙ ГЕНЕРАТОР, HCMOS
ARMY MIL-PRF-55310/34 C-2013 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), 500 КГЦ ДО 150 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, НИЗКОВОЛЬТНАЯ КМОП
ARMY MIL-PRF-55310/38 B-2013 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), 500 КГЦ ДО 150 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, НИЗКОВОЛЬТНАЯ КМОП
ARMY MIL-PRF-55310/28 C VALID NOTICE 1-2013 Генератор, кварцевый, тип 1 (кварцевый генератор (XO)), от 1,0 до 85 МГц, герметичный, прямоугольный, TTL
ARMY MIL-PRF-55310/30 D VALID NOTICE 1-2013 Генератор, кварцевый, тип 1 (кварцевый генератор (XO)), от 450 кГц до 100 МГц, герметичный, низковольтный КМОП
ARMY MIL-PRF-3098/16 H VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR36/U
ARMY MIL-PRF-3098/17 F VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR37/U
ARMY MIL-PRF-3098/21 G VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR42/U
ARMY MIL-PRF-3098/25 F VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR46/U
ARMY MIL-PRF-3098/26 G VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR47/U
ARMY MIL-PRF-3098/30 F VALID NOTICE 1-2008 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR52/U
ARMY MIL-PRF-3098/32 F VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR54/U
ARMY MIL-PRF-3098/33 J VALID NOTICE 1-2008 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR55/U
ARMY MIL-PRF-3098/36 E VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR58/U
ARMY MIL-PRF-3098/37 J VALID NOTICE 1-2008 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR59/U
ARMY MIL-PRF-3098/38 G VALID NOTICE 1-2008 КРИСТАЛЛ, КВАРЦ, CR60/U
ARMY MIL-PRF-3098/41 H VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR63/U
ARMY MIL-PRF-3098/45 J VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR67/U
ARMY MIL-PRF-3098/47 J VALID NOTICE 1-2008 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR69/U
ARMY MIL-PRF-3098/63 F VALID NOTICE 1-2008 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR79/U
ARMY MIL-PRF-3098/95 E VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR119/U
ARMY MIL-PRF-3098/103 E VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR101/U
ARMY MIL-PRF-3098/109 E VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR130/U
ARMY MIL-PRF-3098/146 C VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR165/U
ARMY MIL-PRF-3098/3 F VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR18/U
ARMY MIL-PRF-3098/4 F VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR19/U
ARMY MIL-PRF-3098/7 H VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR25/U
ARMY MIL-PRF-3098/8 F VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR26/U
ARMY MIL-PRF-3098/9 G VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR27/U
ARMY MIL-PRF-3098/10 G VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR28/U
ARMY MIL-PRF-3098/14 F VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR33/U
ARMY MIL-PRF-3098/15 G VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR35/U
ARMY QPL-55310-70-2008 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛ-УПРАВЛЯЕМЫЙ, ОБЩИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
ARMY MIL-PRF-3098/103 F-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR101/U
ARMY MIL-PRF-3098/109 F-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR130/U
ARMY MIL-PRF-3098/146 D-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR165/U
ARMY MIL-PRF-3098/62 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR78/U
ARMY MIL-PRF-3098/63 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR79/U
ARMY MIL-PRF-3098/68 G-2010 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ БЛОК, КВАРЦ, CR91/U
ARMY MIL-PRF-3098/72 F-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR97/U
ARMY MIL-PRF-3098/77 F-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR5/U
ARMY MIL-PRF-3098/78 F-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR6/U
ARMY MIL-PRF-3098/54 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR73/U
ARMY MIL-PRF-3098/56 H-2010 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ БЛОК, КВАРЦ, CR85/U
ARMY MIL-PRF-3098/58 J-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR81/U
ARMY MIL-PRF-3098/59 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR82/U
ARMY MIL-PRF-3098/60 H-2010 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ БЛОК, КВАРЦ, CR83/U
ARMY MIL-PRF-3098/67 F-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR89/U
ARMY MIL-PRF-3098/38 H-2010 КРИСТАЛЛ, КВАРЦ, CR60/U
ARMY MIL-PRF-3098/39 H-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR61/U
ARMY MIL-PRF-3098/40 G-2010 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ, CR62/U
ARMY MIL-PRF-3098/41 J-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR63/U
ARMY MIL-PRF-3098/42 K-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR64/U
ARMY MIL-PRF-3098/43 H-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR65/U
ARMY MIL-PRF-3098/45 K-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR67/U
ARMY MIL-PRF-3098/47 K-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR69/U
ARMY MIL-PRF-3098/50 E-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR72/U
ARMY MIL-PRF-3098/51 J-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR74/U
ARMY MIL-PRF-3098/52 H-2010 КРИСТАЛЛ, КВАРЦ, CR75/U
ARMY MIL-PRF-3098/53 M-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR76/U
ARMY MIL-PRF-3098/3 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR18/U
ARMY MIL-PRF-3098/4 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR19/U
ARMY MIL-PRF-3098/7 J-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR25/U
ARMY MIL-PRF-3098/8 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR26/U
ARMY MIL-PRF-3098/9 H-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR27/U
ARMY MIL-PRF-3098/10 H-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR28/U
ARMY MIL-PRF-3098/14 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR33/U
ARMY MIL-PRF-3098/15 H-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR35/U
ARMY MIL-PRF-3098/16 J-2010 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ БЛОК, КВАРЦ, CR36/U
ARMY MIL-PRF-3098/17 G-2010 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ БЛОК, КВАРЦ, CR37/U
ARMY MIL-PRF-3098/21 H-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR42/U
ARMY MIL-PRF-3098/24 F-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR45/U
ARMY MIL-PRF-3098/25 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR46/U
ARMY MIL-PRF-3098/26 H-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR47/U
ARMY MIL-PRF-3098/30 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR52/U
ARMY MIL-PRF-3098/32 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR54/U
ARMY MIL-PRF-3098/33 K-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR55/U
ARMY MIL-PRF-3098/34 J-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR56/U
ARMY MIL-PRF-3098/36 F-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR58/U
ARMY MIL-PRF-3098/37 K-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR59/U
ARMY QPL-55310-71-2010 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛ-УПРАВЛЯЕМЫЙ, ОБЩИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
ARMY QPL-55310-74-2010 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛ-УПРАВЛЯЕМЫЙ, ОБЩИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
ARMY MIL-PRF-3098 K-2010 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ ДЛЯ
ARMY MIL-PRF-3098 K (1)-2011 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ ДЛЯ
ARMY MIL-PRF-3098 K (1) SUPP 1-2013 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ ДЛЯ
ARMY MIL-PRF-55310/36 B-2013 ГЕНЕРАТОР С КРИСТАЛЛИЧЕСКИМ УПРАВЛЕНИЕМ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO), 1 ДО 100 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, НИЗКОВОЛЬТНОЕ 1,8 В КМОП
ARMY MIL-PRF-55310/27 C-2008 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛ-УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), 1,0 МГЦ ДО 85 МГЦ, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, МЕЖДУНАРОДНЫЙ, ВЫСОКОСКОРОСТНОЙ КМОП
ARMY MIL-PRF-55310/40 B-2013 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛ-УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), 1 ДО 100 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, НИЗКОВОЛЬТНОЕ 1,8 В КМОП
ARMY MIL-PRF-55310/27 D VALID NOTICE 1-2013 Генератор, кварцевый, тип 1 (кварцевый генератор (XO)), от 1,0 до 85 МГц, герметичный, прямоугольный, высокоскоростной КМОП

Heilongjiang Provincial Standard of the People's Republic of China, хрустальный пик

DB23/T 3600-2023 Рекомендации по подготовке стандартной системы углеродно-нейтрального пика углерода

International Organization for Standardization (ISO), хрустальный пик

ISO/DIS 11979-7 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 7. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции афакии.
ISO/FDIS 11979-7:2011 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 7. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции афакии.
ISO 11979-10:2006 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Факичные интраокулярные линзы.
ISO 11979-10:2018 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции аметропии в факичных глазах.
ISO 11979-1:2018 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции аметропии в факичных глазах.
ISO 11979-9:2006 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 9. Мультифокальные интраокулярные линзы.
ISO 11979-10:2006/Amd 1:2014 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Факичные интраокулярные линзы; Поправка 1
ISO 11979-9:2006/Amd 1:2014 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 9. Мультифокальные интраокулярные линзы; Поправка 1

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., хрустальный пик

IEEE 176-1949 СТАНДАРТЫ НА ПЬЕЗОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ КРИСТАЛЛЫ
IEEE 180-1962 СТАНДАРТЫ НА Пьезоэлектрические и сегнетоэлектрические кристаллы: определения терминов для сегнетоэлектрических кристаллов 1962 г. (62 IRE 14.S1)
IEEE 218-1956 СТАНДАРТНЫЕ МЕТОДЫ ПРОВЕРКИ ТРАНЗИСТОРОВ

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, хрустальный пик

ECA 417-A-1991 Кристаллические контуры

Professional Standard - Education, хрустальный пик

JY 200-1985 Транзисторный милливольтметр
JY/T 0006-2011 Измеритель характеристик транзистора

KR-KS, хрустальный пик

KS P ISO 11979-7-2021 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 7. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции афакии.
KS P ISO 11979-10-2019 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции аметропии в факичных глазах.
KS C IEC 60679-2-2018 Генераторы, управляемые кварцевым кристаллом. Часть 2. Руководство по использованию генераторов, управляемых кварцевым кристаллом.
KS C IEC 60679-2-2018(2023) Генераторы, управляемые кварцевым кристаллом. Часть 2. Руководство по использованию генераторов, управляемых кварцевым кристаллом.
KS C IEC 60122-4-2022 Кварцевые кристаллические блоки оцененного качества. Часть 4. Кристаллические блоки с термисторами.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, хрустальный пик

GB/T 39865-2021 Метод измерения показателя преломления одноосных оптических кристаллов
GB/T 37398-2019 Сцинтилляционный кристалл фторида бария
GB/T 8756-2018 Коллекция металлографий дефектов кристалла германия.
GB/T 39131-2020 Термины и определения синтетических кристаллических материалов.
GB/T 36648-2018 Спецификация мономеров жидкокристаллических TFT
GB/T 36647-2018 Спецификация на жидкокристаллические мономеры
GB/T 37051-2018 Метод испытаний для определения плотности кристаллических дефектов в слитках и пластинах фотоэлектрического кремния
GB/T 41325-2022 Монокристаллические кремниевые пластины низкой плотности с полировкой кристаллов для интегральных схем

YU-JUS, хрустальный пик

JUS N.R9.071-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Контур держателя двух кристаллов mre, тип 18
JUS N.R9.070-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кристаллы Уарца. Двухштырьковый держатель кристалла, outlfne, type09
JUS N.R9.073-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кристалл кварца не используется. Двухпроволочный контур держателя кристалла, тип 17
JUS N.R9.069-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Контур держателя для двух кристаллов Пири, тип 07
JUS N.R9.064-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кристаллические агрегаты Ктуарца. Контур двухпроволочного держателя кристалла. Типы 11, 14 и 15
JUS N.R1.373-1980 Полупроводниковые иоды. Основные характеристики и характеристики. Сигнальные диоды малой мощности
JUS N.R1.390-1979 Биполярное расстройство. Основные номиналы и характеристики: сигнальные транзисторы bw-power
JUS N.R1.450-1981 Биполярные транзисторы. Методы измерения
JUS N.R1.352-1979 Буквенный символ для полупроводниковых устройств. Тиристоры.
JUS N.R9.074-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кристаллы Уарца. Двухпроволочный контур держателя кристалла, тип 19
JUS N.R9.072-1986 Пьезо/электрические вибраторы. Кристаллические агрегаты Ктуарца. Контур держателя для двух кристаллов, тип 16
JUS N.R9.077-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Двухпроволочный контур держателя кристалла, тип 20
JUS N.R9.076-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Двухконтактный кристаллический нагреватель Outllne, type08
JUS N.R9.075-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Двухштырьковый держатель кристалла, тип 10
JUS N.R9.078-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Контур держателя кристаллов из проволоки Turo, тип 21
JUS N.R1.471-1985 Биполярные транзисторы. Эталонные методы измерения

AR-IRAM, хрустальный пик

IRAM 17 724-1963 Кристаллы борной кислоты для фотографии

TR-TSE, хрустальный пик

TS 2319-1976 Кварцевые блоки для генераторов

Professional Standard - Electron, хрустальный пик

SJ/T 11199-1999 Пьезоэлектрические кристаллические заготовки кварца
SJ/Z 9155.2-1987 Кварцевый генератор. Часть 2. Руководство по использованию кварцевого генератора.
SJ/T 10639-1995 Условия единицы кристалла кварца
SJ 1852-1981 Термины для кварцевых генераторов, управляемых кристаллом
SJ/T 10333-1993 Методы измерения однопереходных транзисторов
SJ/T 2217-2014 Техническая спецификация фототранзистора кремния

PL-PKN, хрустальный пик

PN T01504 ArkusZ30-1975 Измерение hnb транзисторов
PN T01504 ArkusZ23-1974 Параметры транзисторов [y] измерения
PN T01208-03-1992 Полупроводниковые приборы Биполярные транзисторы Методы измерения
PN T01210-01-1992 Полупроводниковые приборы Дискретные устройства Биполярные транзисторы Бланк спецификации на корпусные биполярные транзисторы для усиления низкой частоты

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, хрустальный пик

DB13/T 1288-2010 Солнечные элементы из кристаллического кремния
DB13/T 2255-2015 Кристаллический кремниевый солнечный модуль из цельного стекла

工业和信息化部, хрустальный пик

SJ/T 11199-2016 Пьезоэлектрический кварцевый кристаллический лист
JC/T 2613-2021 Ti: сапфировый лазерный кристалл
JC/T 2416-2017 Релаксорные сегнетоэлектрические кристаллические материалы
XB/T 516-2021 Материал для переработки кристаллов силиката иттрия-лютеция

Defense Logistics Agency, хрустальный пик

DLA MIL-S-19500/529 VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, кремниевый тип 2N3904
DLA MIL-S-19500/244 B VALID NOTICE 3-2011 Транзистор PNP германиевый тип 2N2273
DLA MIL-S-19500/216 A VALID NOTICE 3-2004 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР ТРАНЗИСТОР NPN КРЕМНИЕВОГО ТИПА 2N1051
DLA MIL-S-19500/273 A VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковый прибор транзисторного типа 2N744
DLA MIL-S-19500/303 VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы типов 2N2631 и 2N2876
DLA MIL-S-19500/248 A VALID NOTICE 4-2011 Транзистор, NPN, кремниевый тип 2N2015, 2N2016
DLA MIL-M-38510/114 B VALID NOTICE 1-2008 МИКРОСХЕМЫ, ЛИНЕЙНЫЕ, BI-FET ОПЕРАЦИОННЫЕ УСИЛИТЕЛИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA MIL-PRF-19500/139 B NOTICE 2-1999 ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ УСТРОЙСТВО ТРАНЗИСТОР PNP КРЕМНИЕВОГО ТИПА JAN-2N1119
DLA MIL-S-19500/288 (2)-1966 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР ТРАНЗИСТОР PNP КРЕМНИЕВОГО ТИПА 2N2377
DLA MIL-S-19500/288 VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, кремниевый тип 2N2377
DLA MIL-S-19500/170 A VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германиевый тип 2N1499A
DLA MIL-S-19500/179 A VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, кремниевый тип 2N1234
DLA MIL-S-19500/216 A VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, NPN, кремниевый тип 2N1051
DLA MIL-S-19500/40 B VALID NOTICE 3-2011 Полупроводник, транзистор, NPN, германий, тип питания 2N326
DLA SMD-5962-90798-1992 МИКРОСХЕМЫ, ЦИФРОВЫЕ, БЫСТРЫЕ, КМОП, ДВОЙНОЙ ГЕНЕРАТОР/ШАШКИ НЕЧЕТНОЙ ЧЕТНОСТИ, TTL-СОВМЕСТИМЫЕ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-85508 REV C-2005 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, МАЛОГО МОЩНОГО ШОТТКИ, ТТЛ, МУЛЬТИПЛЕКСОР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-86708 REV A-2007 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, МАЛАЯ МОЩНОСТЬ ШОТТКИ ТТЛ, ВЫСОКОСКОРОСТНОЙ РЕГИСТР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA MIL-PRF-55310/21 F-2008 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛ-УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 1,0 МГЦ ДО 60,0 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ, МЕЖДУНАРОДНАЯ ВОЛНА, ТТЛ
DLA MIL-PRF-55310/21 G-2008 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛ-УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 1,0 МГЦ ДО 60,0 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ, МЕЖДУНАРОДНАЯ ВОЛНА, ТТЛ
DLA MIL-PRF-19500/210 B NOTICE 1-1999 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР, ТРАНЗИСТОР, NPN, КРЕМНИЙ, ФОТО ТИПА 2N986
DLA MIL-S-19500/72 C VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы, PNP, германиевые типы 2N499 и 2N499A
DLA MIL-S-19500/49 C VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, типы 2N464, 2N465, 2N467
DLA MIL-S-19500/173 A VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы типов 2N389 и 2N424 (ВМФ)
DLA MIL-S-19500/215 VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор типов 2N1173 и 2N1174 (ВМФ)
DLA QPL-3098-91-2006 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ, ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ
DLA QPL-3098-92-2008 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ, ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ
DLA QPL-3098-93-2010 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ, ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ
DLA QPL-3098-95-2010 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ, ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ
DLA QPL-3098-97-2013 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ, ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ
DLA QPL-3098-98-2013 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ, ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ
DLA QPL-3098-99-2013 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ, ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ
DLA DSCC-DWG-04029-2005 ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ УСТРОЙСТВО, ТРАНЗИСТОР, NPN, КРЕМНИЙ, ВЫСОКОЙ МОЩНОСТИ ТИПА 2N5927
DLA DSCC-DWG-04030-2005 ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ УСТРОЙСТВО, ТРАНЗИСТОР, NPN, КРЕМНИЙ, ВЫСОКОЙ МОЩНОСТИ ТИПА 2N5926
DLA MIL-PRF-19500/25 B NOTICE 2-1999 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР ТРАНЗИСТОР ПНП ГЕРМАНИЯ МАЛОГО МОЩНОГО ТИПА 2Н240
DLA MIL-PRF-19500/27 E NOTICE 2-1999 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР ТРАНЗИСТОР PNP, ГЕРМАНИЯ, ВЫСОКОЧАСТОТНОГО ТИПА 2Н384
DLA MIL-S-19500/68 A VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, тип переключения 2N1120
DLA MIL-S-19500/80 E VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, NPN, кремниевый, маломощный тип 3N35
DLA MIL-S-19500/13 B VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, высокой мощности, тип 2N174A
DLA MIL-S-19500/25 B VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, маломощный тип 2N240
DLA MIL-S-19500/36 C VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, высокомощный тип 2N297A
DLA MIL-S-19500/44 D VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, маломощный тип 2N428
DLA MIL-S-19500/51 E VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, маломощный тип 2N466
DLA MIL-S-19500/58 D VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, высокомощный тип 2N665
DLA MIL-S-19500/330 A VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковые приборы, транзистор PNP, германиевые типы от 2N1557A до 2N1560A
DLA MIL-S-19500/338 VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, германиевый PNP, тип переключения 2N3449
DLA MIL-S-19500/425 VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PN, кремний, однопереходный JAN2N5431 и JANTX2N5431
DLA SMD-5962-86075 REV C-2007 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, РАСШИРЕННАЯ ШОТТКИ ТТЛ, ШИФТЕР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-90889 REV C-2008 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ КМОП, ЧЕТЫРЕХРУСТНОЙ ШИННЫЙ БУФЕР, TTL-СОВМЕСТИМАЯ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-95584 REV C-2008 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, ТТЛ, СИНХРОННЫЕ 4-БИТНЫЕ СЧЕТЧИКИ РЕВЕРСИВНОГО/ОБРАТИТЕЛЬНОГО РАБОТЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ

International Electrotechnical Commission (IEC), хрустальный пик

IEC 60679-2:1981 Генераторы, управляемые кварцевым кристаллом. Часть 2. Руководство по использованию генераторов, управляемых кварцевым кристаллом.
IEC 60444-9:2007 Измерение параметров кварцевого кристалла. Часть 9. Измерение побочных резонансов пьезоэлектрических кристаллов.
IEC 62416:2010 Полупроводниковые приборы. Испытание горячих носителей МОП-транзисторов
IEC 60122-4:2019 Кварцевые кристаллические блоки оцененного качества. Часть 4. Кристаллические блоки с терморезисторами.
IEC 60747-7:2000 Полупроводниковые приборы. Часть 7. Биполярные транзисторы.
IEC 60747-8:2000 Полупроводниковые приборы. Часть 8. Полевые транзисторы.

未注明发布机构, хрустальный пик

BS EN ISO 11979-9:2006+A1:2014 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 9. Мультифокальные интраокулярные линзы.
DIN IEC 679-2:1997 Генераторы, управляемые кварцевым кристаллом; Часть 2; Руководство по использованию кварцевых генераторов, управляемых кристаллом

Professional Standard - Chemical Industry, хрустальный пик

HG/T 4357-2012 Поляризатор для тонкопленочного транзисторно-жидкокристаллического дисплея (TFT-LCD)

RU-GOST R, хрустальный пик

GOST 18986.13-1974 Полупроводниковые туннельные диоды. Методы измерения пикового тока, тока в минимальной точке, напряжения в пиковой точке, напряжения в минимальной точке, прогнозируемого пикового напряжения.
GOST 18604.8-1974 Транзисторы. Метод измерения выходной проводимости

United States Navy, хрустальный пик

NAVY A-A-51445-1986 НАБОР ОДНОРАЗОВЫЙ ДЛЯ ЛЕНЗЭКТОМИИ

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, хрустальный пик

JJG 181-2005 Кварцевые стандарты частоты

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, хрустальный пик

GJB 1648-1993 Общие характеристики кварцевых генераторов
GJB 1787-1993 Технические характеристики искусственных кристаллов кварца
GJB 1648-2-2011 Общие характеристики кварцевых генераторов
GJB 1648A-2011 Общие характеристики кварцевых генераторов
GJB 1508A-2021 Общие характеристики кристаллических фильтров
GJB 2138-1994 Общие характеристики компонентов из кварцевого кристалла
GJB 2138A-2015 Общие характеристики компонентов из кварцевого кристалла
GJB 1508-1992 Общие характеристики кварцевых фильтров

European Committee for Standardization (CEN), хрустальный пик

prEN ISO 11979-7 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 7. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции афакии (ISO/DIS 11979-7:2023)
EN ISO 11979-10:2018 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции аметропии в факичных глазах.
HD 302 S1-1977 Транзисторный балласт для люминесцентных ламп.
EN ISO 11979-10:2006 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Факичные интраокулярные линзы (ISO 11979-10:2006)

Indonesia Standards, хрустальный пик

SNI 3140.1-2008 Кристаллический сахар - Часть 1: сахар-сырец

ES-AENOR, хрустальный пик

UNE 53-631-1989 Определение эффекта кристаллизации эластомера

ANSI - American National Standards Institute, хрустальный пик

Z80.13-2007 Офтальмология – Факичные интраокулярные линзы (VC)
Z80.7-2002 Для офтальмологической оптики – интраокулярные линзы (ВК)
Z80.30-2018 Офтальмология – Торические интраокулярные линзы
Z80.7-2013 Офтальмологическая оптика – Интраокулярные линзы (ВК)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, хрустальный пик

GB/T 35316-2017 Коллекция металлографий дефектов сапфирового стекла.
GB/T 34612-2017 Метод измерения кривой качания рентгеновской двойной дифракции кристаллов сапфира
GB/T 22319.9-2018 Измерение параметров кварцевого кристалла. Часть 9. Измерение побочных резонансов пьезоэлектрических кристаллов.

Professional Standard - Agriculture, хрустальный пик

GB 9558-1988 Порошок диметоата и кристаллический диметоат

Aerospace Industries Association, хрустальный пик

AIA NAS 4117-1996 Теплоотвод-изолятор, пластинчатого типа

AIA/NAS - Aerospace Industries Association of America Inc., хрустальный пик

NAS4117-1996 Теплоотвод-изолятор @ Тип пластины

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), хрустальный пик

IEEE Std 176-1949*ANSI C83.3-1951 Стандарты IEEE на пьезоэлектрические кристаллы, 1949 г.
IEEE Std 218-1956(R1980)*56 IRE 28.S2 Стандартные методы IEEE тестирования транзисторов

CEN - European Committee for Standardization, хрустальный пик

EN IEC 60122-4:2019 Кварцевые кристаллические блоки оцененного качества. Часть 4. Кристаллические блоки с терморезисторами.

Professional Standard - Commodity Inspection, хрустальный пик

SN/T 1175-2003 Методы проверки тонкопленочных транзисторных цветных жидкокристаллических устройств отображения при импорте и экспорте

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, хрустальный пик

EN 60444-9:2007 Измерение параметров кварцевого кристалла. Часть 9. Измерение побочных резонансов пьезоэлектрических кристаллов.
HD 302-1975 Транзисторный балласт для люминесцентных ламп
EN 62416:2010 Полупроводниковые приборы. Испытание горячих носителей МОП-транзисторов

IN-BIS, хрустальный пик

IS 4570 Pt.11-1989 Спецификация держателей кристаллов. Часть 11. Металлические сварные двухштырьковые держатели кристаллов типа DQ.
IS 4570 Pt.8-1985 Спецификация кронштейнов для кристаллического блока. Часть 8. Металлический сварной трехпроволочный кронштейн для кристаллического блока типа DK.
IS 10184-1982 Спецификация на синтетические кристаллы кварца для дерева
IS 8899-1978 Руководство пользователя кристалла синтетического кварца
IS 4570 Pt.13/Sec.5-1993 Держатели кристаллических блоков. Технические характеристики. Часть 13. Автоматическое обращение с кварцевыми держателями кристаллических блоков. Обзор. Раздел 5. Металлический, герметичный, двухштырьковый держатель кристаллических блоков типа CU 05.
IS 4570 Pt.13/Sec.4-1993 Держатели кристаллических блоков — спецификация, часть 13. Обзор автоматического обращения с кварцевыми держателями блоков. Раздел 4. Металлические герметичные двухигольные держатели кристаллических блоков типа CU 04.
IS 4570 Pt.6-1984 Технические характеристики держателя кристаллического блока. Часть 6. Металлический, запаянный под пайку, двухконтактный держатель кристаллического блока, тип CX.

Aerospace Industries Association/ANSI Aerospace Standards, хрустальный пик

AIA/NAS NAS 4117-1996 Теплоотвод-изолятор, пластинчатого типа

BE-NBN, хрустальный пик

NBN A 14-101-1974 Металлургическая продукция. Микроскопическое определение размера ферритного зерна или размера аустенитного зерна в стали.

TH-TISI, хрустальный пик

TIS 1864-2009 Полупроводниковые приборы.часть 7: биполярные транзисторы

Professional Standard - Aviation, хрустальный пик

HB 6742-1993 Определение кристаллической ориентации монокристаллических лезвий методом рентгеновской обратной фотографии Лауэ