ZH

EN

ES

кристалл

кристалл, Всего: 500 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к кристалл, являются: Медицинское оборудование, Пестициды и другие агрохимикаты, Электронные компоненты в целом, Полупроводниковые приборы, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Неорганические химикаты, Аналитическая химия, Электрические фильтры, Стандартизация. Основные правила, Атомная энергетика, Пьезоэлектрические и диэлектрические устройства, Электрические и электронные испытания, Аудио, видео и аудиовизуальная техника, Электронные устройства отображения, Промышленные печи, ИТ-терминал и другое периферийное оборудование, Полупроводниковые материалы, Солнечная энергетика, Гальванические элементы и батареи, Испытание металлов, Оптика и оптические измерения, Нерудные полезные ископаемые, Керамика, Образование, Словари, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Сахар. Сахарные изделия. Крахмал, Условия и процедуры испытаний в целом, Системы дорожного транспорта, Выпрямители. Конвертеры. Стабилизированный источник питания, Кинематография, Цветные металлы, Ювелирные изделия, Измерения радиации, Электричество. Магнетизм. Электрические и магнитные измерения, Режущие инструменты, Электрооборудование для работы в особых условиях, Графические символы, Бесчиповое рабочее оборудование, Энергетика и теплопередача в целом, Пластмассы, Стекло, Ручные инструменты, Органические химикаты, Черные металлы.


American National Standards Institute (ANSI), кристалл

  • ANSI Z80.13-2007 Факичные интраокулярные линзы
  • ANSI/EIA 417-A:1991 Кристаллические контуры
  • ANSI Z80.29-2015 Офтальмология – аккомодационные интраокулярные линзы

ES-UNE, кристалл

  • UNE-EN 120003:1992 БДС: ФОТОТРАНЗИСТОРЫ, ФОТОКАРЛИНГТОННЫЕ ТРАНЗИСТОРЫ, ФОТОТРАНЗИСТОРНЫЕ МАССИВЫ. (Одобрено AENOR в сентябре 1996 г.)
  • UNE-EN 168100:1993 SS: КВАРЦОВЫЕ КРИСТАЛЛЫ. (Одобрено AENOR в ноябре 1996 г.)
  • UNE-EN IEC 60122-4:2019 Кварцевые кристаллы проверенного качества. Часть 4. Кристаллические блоки с термисторами (одобрено Испанской ассоциацией по стандартизации в мае 2019 г.)
  • UNE-EN 168200/A1:1993 СС: АППАРАТЫ КВАРЦЕВЫЕ (УТВЕРЖДЕНИЕ КВАЛИФИКАЦИИ). (Одобрено AENOR в сентябре 1996 г.)
  • UNE-EN 168200:1993 СС: АППАРАТЫ КВАРЦЕВЫЕ (УТВЕРЖДЕНИЕ КВАЛИФИКАЦИИ). (Одобрено AENOR в сентябре 1996 г.)
  • UNE-EN 60444-8:2017 Измерение параметров кварцевых кристаллов. Часть 8: Испытательное приспособление для кварцевых кристаллов поверхностного монтажа (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в мае 2017 г.)

SE-SIS, кристалл

  • SIS SS CECC 20003-1988 Пустая подробная спецификация: фототранзисторы, транзисторы фотодар/ингтон, матрицы фототранзисторов.
  • SIS SEN 43 60 01-1964 Кварцевые блоки для генераторов
  • SIS SS-CECC 68000-1991 Общая спецификация: кварцевые кристаллы

RO-ASRO, кристалл

  • STAS 9675-1974 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ КРЕМНИЙ
  • STAS 11437-1980 УНИ-ИОННЫЕ ТРАНЗИСТОРЫ Методы испытаний

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, кристалл

  • GB 9558-2001 Кристалло-диметоат
  • GB/T 3352-1994 Кристалл синтетического кварца
  • GB/T 3351~353-1982 искусственный кристалл кварца
  • GB/T 8553-2023 Общие характеристики хрустальных коробок
  • GB/T 8553-1987 Держатели (корпуса) хрустальные, общая спецификация для
  • GB/T 8756-1988 Коллекция металлографий по дефектам кристаллического германия.
  • GB/T 6628-1996 Громоздкий синтетический кристалл кварца
  • GB/T 7895-1987 Синтетический кристалл кварца оптического класса
  • GB/T 7895-2008 Синтетический кристалл кварца оптического класса
  • GB/T 6430-1986 Правила обозначения типа кристаллодержателей (корпусов)
  • GB 6430-1986 Номенклатура моделей хрустальных коробок
  • GB/T 16863-1997 Метод определения показателя преломления кристаллов
  • GB/T 12633-1990 Условия измерения свойств пьезоэлектрических кристаллов
  • GB 12274-1990 Генераторы, управляемые кварцевым кристаллом. Общие характеристики для
  • GB/T 3353-1995 Руководство по использованию синтетического кристалла кварца
  • GB/T 31958-2015 Стеклянная подложка для жидкокристаллического дисплея на тонкопленочных транзисторах
  • GB/T 22319.7-2015 Измерение параметров кристаллических агрегатов кварца. Часть 7. Измерение провалов активности кристаллических агрегатов кварца.
  • GB/T 16468-1996 Серийные программы для статических индукционных транзисторов
  • GB/T 3351-1982 Обозначения синтетических кристаллов кварца
  • GB/T 13066-1991 Бланк спецификации на однопереходные транзисторы
  • GB/T 11295-1989 Правило обозначения стержней лазерных кристаллов
  • GB/T 42676-2023 Рентгенодифракционный метод проверки качества монокристалла полупроводника
  • GB 51136-2015 Спецификации заводской конструкции жидкокристаллического дисплея на тонкопленочных транзисторах
  • GB/T 31958-2023 Стеклянная подложка для жидкокристаллического дисплея тонкопленочного транзистора из аморфного кремния
  • GB/T 22319.8-2008 Измерение параметров кварцевых блоков. Часть 8. Испытательное приспособление для кварцевых блоков поверхностного монтажа.
  • GB/T 7896-1987 Метод тестирования оптического синтетического кварцевого кристалла
  • GB/T 12634-1990 Методы определения электроупругих постоянных пьезоэлектрических кристаллов
  • GB/T 7896-2008 Метод испытаний синтетического кристалла кварца оптического качества
  • GB/T 11297.12-2012 Метод испытания коэффициента гашения оптического кристалла

Professional Standard - Medicine, кристалл

  • YY/T 0295.11-1997 Щипцы для капсулотомии
  • YY 0290.10-2009 Интраокулярные линзы.Часть 10: Факичные интраокулярные линзы.
  • YY 0290.1-1997 Внутриглазные исследования. Часть 1: Терминология
  • YY 0290.8-1997 Интраокулярные линзы. Часть 8: Основные требования.

Professional Standard - Machinery, кристалл

  • JB/T 9495.1-1999 Оптические кристаллы
  • JB/T 10789-2007 Печи для выращивания кристаллов под высоким давлением. Печи для выращивания кристаллов под высоким давлением серии TDR-GY методом Чоктнальского с жидкой капсулой
  • JB/T 5482-2011 Аппарат рентгеновской ориентации
  • JB/T 8951.1-1999 Биполярный транзистор с изолированным затвором
  • JB/T 11375-2013 Ультра-микрокристаллический проекционный экран
  • JB/T 9395.3-1999 Метод измерения коэффициента пропускания оптического кристалла
  • JB/T 9495.3-1999 Метод измерения коэффициента пропускания оптического кристалла
  • JB/T 9495.2-1999 Метод измерения показателя преломления оптических кристаллов
  • JB/T 9495.7-1999 Метод измерения оптической однородности оптических кристаллов
  • JB/T 5482-2004 Технические условия рентгеновского прибора ориентации кристаллов
  • JB/T 9495.1-2015 Оптические кристаллы. Часть 1. Технические характеристики

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局, кристалл

European Standard for Electrical and Electronic Components, кристалл

  • EN 120003:1992 Бланковая детальная спецификация: фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов.
  • EN 169000:1992 Общая спецификация: генераторы, управляемые кварцевым кристаллом.

German Institute for Standardization, кристалл

  • DIN EN 120003:1996 Бланк ТУ - Фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов; Немецкая версия EN 120003:1992.
  • DIN EN 120003:1996-11 Бланк подробной спецификации - Фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов.
  • DIN 52341:1993 Тестирование стекла; химический анализ свинцового хрусталя и хрусталя
  • DIN EN IEC 60122-4:2019-10 Кварцевые блоки оцененного качества. Часть 4. Кристаллические блоки с термисторами (IEC 60122-4:2019); Немецкая версия EN IEC 60122-4:2019
  • DIN IEC 60679-2:1997 Генераторы, управляемые кварцевым кристаллом. Часть 2. Руководство по использованию генераторов, управляемых кварцевым кристаллом (IEC 60679-2:1981).
  • DIN EN 60444-9:2007 Измерение параметров кварцевых кристаллов. Часть 9. Измерение паразитных резонансов пьезоэлектрических кристаллов (IEC 60444-9:2007); Немецкая версия EN 60444-9:2007.
  • DIN EN ISO 11979-10:2006 Офтальмологические имплантаты. Линзы интраокулярные. Часть 10. Факичные интраокулярные линзы (ISO 11979-10:2006); Английская версия DIN EN ISO 11979-10:2006-11
  • DIN EN 60444-9:2007-12 Измерение параметров кварцевых кристаллов. Часть 9. Измерение паразитных резонансов пьезоэлектрических кристаллов (IEC 60444-9:2007); Немецкая версия EN 60444-9:2007.
  • DIN EN ISO 11979-7:2023-04 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 7. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции афакии (ISO/DIS 11979-7:2023)
  • DIN EN 60444-8:2017-11 Измерение параметров кварцевых блоков. Часть 8. Испытательное приспособление для кварцевых блоков поверхностного монтажа (IEC 60444-8:2016); Немецкая версия EN 60444-8:2017 / Примечание: DIN EN 60444-8 (2004-03) остается действительным наряду с этим стандартом до 19 января 2020 г.
  • DIN IEC 60679-2:1997-09 Генераторы, управляемые кварцевым кристаллом. Часть 2. Руководство по использованию генераторов, управляемых кварцевым кристаллом (IEC 60679-2:1981).
  • DIN 4000-19:1988-12 Табличные схемы характеристик изделий для транзисторов и тиристоров

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, кристалл

  • CNS 1996-1978 Хлорид олова, кристалл (кристаллы тетрахлорида олова)
  • CNS 12257-1988 Кристаллические фильтры
  • CNS 6808-1989 Общие правила для транзисторов
  • CNS 3997-1989 Метод испытания транзисторов
  • CNS 11763-1986 Транзисторные Мегафоны
  • CNS 3009-1994 Транзисторные радиоприемники простого типа
  • CNS 3010-1994 Транзисторные радиоприемники общего типа
  • CNS 12256-1988 Печи для кварцевых агрегатов
  • CNS 6809-1989 Методы рисования контуров транзисторов

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, кристалл

  • JEDEC JES2-1992 Транзистор, силовой полевой транзистор на основе арсенида галлия, общие характеристики
  • JEDEC JESD10-1976 Низкочастотные силовые транзисторы
  • JEDEC EIA-398-1972 Измерение малых значений емкости транзистора
  • JEDEC JESD6-1967 Измерение малых значений емкости транзистора

Lithuanian Standards Office , кристалл

  • LST EN 120003-2001 Пустая подробная спецификация. Фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов
  • LST EN ISO 11979-10:2007 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Факичные интраокулярные линзы (ISO 11979-10:2006)

Association Francaise de Normalisation, кристалл

  • NF C93-120-003*NF EN 120003:1992 Пустая подробная спецификация: фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов.
  • NF EN 120003:1992 Специальная спецификация структуры: фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов.
  • NF EN ISO 11979-7:2018 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 7. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции афакии.
  • NF S94-750-10:2006 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Факичные интраокулярные линзы.
  • NF C93-621-9*NF EN 60444-9:2014 Измерение параметров кварцевого кристалла. Часть 9. Измерение побочных резонансов пьезоэлектрических кристаллов.
  • NF C93-601/AM1:1976 КОМПОНЕНТЫ ДЛЯ ЭЛЕКТРОННОГО ОБОРУДОВАНИЯ. ПЬЕЗОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ УСТРОЙСТВА. КРИСТАЛЛ ДЕРЖАТЕЛИ.
  • NF C57-203*NF EN 50513:2009 Солнечные пластины — технический паспорт и информация о пластинах кристаллического кремния для производства солнечных элементов.
  • NF C93-621-8*NF EN 60444-8:2017 Измерение параметров кварцевых блоков. Часть 8. Испытательное приспособление для кварцевых блоков поверхностного монтажа.

HU-MSZT, кристалл

  • MSZ 4749-1970 Кристаллический асбест
  • MSZ 8531-1961 Кристаллическая промышленная взрывчатка
  • MSZ 9519-1958 Кристаллический ацетат натрия для анализа.
  • MNOSZ 24165-1952 химический кристаллический карбонат
  • MNOSZ 24141-1955 Прозрачный кристаллический кальций. Цель анализа
  • MSZ 9275-1982 Кристаллический сульфат натрия для анализа
  • MSZ 9274-1957 Сульфат кадмия кристаллической воды для анализа
  • MSZ 8533-1961 Промышленная взрывчатка в шестиугольных кристаллах
  • MSZ 8777-1965 Анализ никеля в кристаллической воде. Сульфат
  • MSZ 3799-1959 Кобальт для анализа. Хлоридная кристаллическая вода
  • MSZ 9280-1982 Медный купорос (двухвалентный) в кристаллической воде для анализа
  • MSZ 9515-1957 Аналитическое применение сульфоаминокислот, кристаллической воды

CZ-CSN, кристалл

  • CSN 68 5401-1981 Кристаллоформный сульфат натрия
  • CSN 68 5367-1974 Гидросульфат калия кристаллический
  • CSN 65 3127-1963 Сульфат натрия кристаллический технический
  • CSN 65 3460-1961 Сульфат цинка кристаллический. технический
  • CSN 35 8813-1979 Транайаторы КУ 611, КУ 612
  • CSN 35 8812-1979 Транзистор КУ 601, КУ 602
  • CSN 35 8936-1960 Держатели пьезоэлектрических кристаллических резонаторов
  • CSN 01 5111-1974 Отбор проб сыпучих и зернистых материалов
  • CSN 35 8738-1964 Транзистор. Измерение обратных напряжений
  • CSN 35 8750-1964 Транзистор. Измерение h-параметров
  • CSN 35 8821-1980 Транзистор БФ 257, БФ 258. БФ 250
  • CSN 35 8814-1979 Транзистор КД 501, КБ 502, КД 503
  • CSN 35 8930-1960 Держатели пьезоэлектрических кристаллических резонаторов
  • CSN 35 8909-1962 Транзисторы. Измерение реактивного импеданса
  • CSN 35 8757 Cast.9-1986 Транзисторы. Методы измерения термического сопротивления
  • CSN 70 8311-1988 Хрустальное свинцовое стекло, обработанное огранкой.
  • CSN 35 8748-1964 Транзисторы. Измерение реактивного импеданса
  • CSN 35 8912-1962 Транзисторы. Измерение реактивного импеданса
  • CSN 35 8757 Cast.3-1984 Транзистор. Метод измерения коэффициента шума
  • CSN 35 8740-1985 Транзисторы. Методы измерения напряжения насыщения
  • CSN 35 8757 Cast.11-1986 Транзисторы. Метод измерения времени переключения

Professional Standard - Light Industry, кристалл

  • QB/T 1173-2002 Монокристаллический каменный сахар
  • QB/T 1174-2002 Мультикристаллический каменный сахар
  • QB/T 1173-1991 Монокристаллический каменный сахар
  • QB/T 1174-1991 Мультикристаллический каменный сахар

Professional Standard - Building Materials, кристалл

  • JC/T 2017-2010 Кристалл фторида свинца
  • JC/T 2023-2010 Сцинтилляционные кристаллы вольфрамата Led
  • JC/T 2148-2012 Пьезоэлектрический кристалл лангасита
  • JC/T 2690-2022 Магнитооптические кристаллы тербий-галлиевого граната (ТГГ)
  • JC/T 817-2014 Синтетические кристаллы кубического циркония ювелирного качества.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), кристалл

  • JIS C 6703:2008 Кристаллические фильтры
  • JIS C 6704:2017 Кристалл синтетического кварца
  • JIS C 6704:1997 Кристалл синтетического кварца
  • JIS C 6704:2005 Кристалл синтетического кварца
  • JIS C 6704:2009 Кристалл синтетического кварца
  • JIS C 5513:1970 Транзисторные мегафоны
  • JIS C 8918:2013 Кристаллические фотоэлектрические (PV) модули
  • JIS C 6701:1995 Кварцевые блоки для генераторов
  • JIS C 6703:1995 Общие правила кристаллических фильтров
  • JIS C 8918:1998 Кристаллические солнечные фотоэлектрические модули
  • JIS C 6705:1984 Кварцевые блоки для генераторов (от 200 до 1000 кГц)
  • JIS C 7030:1993 Методы измерения транзисторов
  • JIS C 7032:1993 Общие правила для транзисторов
  • JIS C 6703:2002 Общая спецификация кристаллических фильтров
  • JIS C 7311:1980 Гарантированная надежность TTL, положительные элементы NAND, интегральные схемы
  • JIS C 8939:1995 Аморфные солнечные фотоэлектрические модули
  • JIS H 7004:1990 Словарь терминов, используемых в аморфных металлах
  • JIS B 4131:1998 Изделия из алмаза/CBN. Шлифовальные круги с алмазом или CBN.
  • JIS B 4130:1998 Изделия из алмаза/CBN. Размеры зерен алмаза или кубического нитрида бора.
  • JIS B 4138:1998 Изделия из алмаза и CBN. Пилы с сегментами из алмаза или CBN.
  • JIS C 6702:1992 Печи для кварцевых агрегатов
  • JIS H 7151:1991 Метод определения температур кристаллизации аморфных металлов
  • JIS C 8931:1995 Вторичные эталонные аморфные солнечные элементы
  • JIS C 6710:1995 Общие правила кварцевых генераторов, управляемых кристаллом
  • JIS C 6701:1999 Общие характеристики кварцевых кристаллов
  • JIS C 6701:2007 Общие характеристики кварцевых кристаллов
  • JIS C 8932:1995 Вторичные эталонные аморфные солнечные субмодули
  • JIS C 8918 AMD 1:2005 Кристаллические солнечные фотоэлектрические модули (Поправка 1)
  • JIS C 6710:1999 Общие характеристики кварцевых генераторов
  • JIS C 6710:2007 Общие характеристики кварцевых генераторов

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), кристалл

  • KS C 7021-1974(2001) ОБЩИЕ ПРАВИЛА ДЛЯ ТРАНЗИСТОРОВ
  • KS C 7021-1985 ОБЩИЕ ПРАВИЛА ДЛЯ ТРАНЗИСТОРОВ
  • KS C 6506-1983 Синтетический кварцевый кристалл1
  • KS M 1401-2017(2022) Сульфит натрия(кристалл)
  • KS C 6506-1983(2008) Синтетический кварцевый кристалл1
  • KS C 6503-1999 Кварцевые блоки для генераторов
  • KS C 6024-1995(2000) МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ТРАНЗИСТОРОВ
  • KS C 8531-2005 Модуль кристаллических солнечных батарей
  • KS C 6503-1984 Кварцевые блоки для генераторов
  • KS C 6024-1985 МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ТРАНЗИСТОРОВ
  • KS C 6504-1987(2017) Печи для кварцевых агрегатов
  • KS C IEC 60679-2:2018 Генераторы, управляемые кварцевым кристаллом. Часть 2. Руководство по использованию генераторов, управляемых кварцевым кристаллом.
  • KS C IEC 60679-2-2023 Кварцевые генераторы. Часть 2. Руководство по использованию кварцевых генераторов.
  • KS C 6509-1991 Общие правила кварцевых генераторов, управляемых кристаллом
  • KS C 6508-2013 Кварцевые блоки для генераторов (200–1000 кГц)
  • KS C 8531-1995 Модуль кристаллических солнечных батарей
  • KS C 6509-1991(2011) Общие правила кварцевых генераторов, управляемых кристаллом
  • KS C 6504-1987(2022) Печи для кварцевых агрегатов
  • KS C IEC 60122-4:2022 Кварцевые кристаллические блоки оцененного качества. Часть 4. Кристаллические блоки с термисторами.
  • KS C IEC 60444-8:2016 Измерение параметров кварцевых агрегатов. Часть 8. Испытательное приспособление для кварцевых агрегатов поверхностного монтажа.
  • KS C 6504-1987 Печи для кварцевых агрегатов
  • KS C 6508-1990 Кварцевые блоки для генераторов (200–1000 кГц)
  • KS B 3620-2012 Поликристаллические алмазные матрицы для волочения проволоки
  • KS C IEC 60444-9:2016 Измерение параметров кварцевых блоков ― Часть 9. Измерение паразитного резонанса пьезоэлектрических кристаллических блоков
  • KS C IEC 60444-9-2016(2021) Измерение параметров кварцевых блоков ― Часть 9. Измерение паразитного резонанса пьезоэлектрических кристаллических блоков
  • KS C IEC 60444-8-2016(2021) Измерение параметров кварцевых агрегатов. Часть 8. Испытательное приспособление для кварцевых агрегатов поверхностного монтажа.
  • KS C 8537-2005 Вторичные эталонные кристаллические солнечные элементы
  • KS C 8537-1995 Вторичные эталонные кристаллические солнечные элементы
  • KS C 5202-1980(2000) ГАРАНТИРОВАННАЯ НАДЕЖНОСТЬ ПОЛЕВЫХ ТРАНЗИСТОРОВ
  • KS C 8537-2005(2010) Вторичные эталонные кристаллические солнечные элементы
  • KS C IEC 60444-7-2016(2021) Измерение параметров кварцевых агрегатов ― Часть 7. Измерение активности и провалов частоты кварцевых агрегатов
  • KS C 6503-1999(2009) КВАРЦЕВЫЕ МОДУЛИ ДЛЯ ГЕНЕРАТОРОВ

Guizhou Provincial Standard of the People's Republic of China, кристалл

轻工业部, кристалл

  • QB 1173-1991 Монокристаллический каменный сахар
  • QB 1174-1991 поликристаллический сахар

Group Standards of the People's Republic of China, кристалл

  • T/CSTM 00316-2022 Оптоэлектрические монокристаллы - монокристаллы танталата лития для пироэлектрического инфракрасного обнаружения.
  • T/CECA 48-2021 Кварцевый кристаллический элемент микровесов
  • T/QGCML 1655-2023 Тонкопленочный транзисторный ЖК-дисплей
  • T/CPIA 0037-2022 Технические характеристики фотоэлектрических кристаллических пластин
  • T/HEBQIA 135-2022 OC1409 Кварцевый генератор постоянной температуры
  • T/VSAC 001-2023 Оценка минерально-кристаллических поделочных камней
  • T/CAB 0180-2022 Метод измерения характерных параметров кристалла и кристаллической матрицы ГАГГ
  • T/SZBX 061-2021 Фотоэлектрический модуль из кристаллического кремния с низкой деградацией
  • T/CSTM 00035-2020 Сцинтилляционный кристалл оксиортосиликата иттрия, легированный церием
  • T/ZZB 0091-2016 Наземные фотоэлектрические (PV) модули из кристаллического кремния
  • T/ZZB 0514-2018 Оптическая отражающая пленка для TFT-LCD-панелей
  • T/CSTM 00584-2022 Фотоэлектрическая черепица из кристаллического кремния в зданиях
  • T/CSTM 00036-2020 Сцинтилляционный кристалл гадолиниево-алюминиево-галлиевого граната, легированного церием
  • T/CPIA 0043-2022 Рекомендации по утилизации фотоэлектрических модулей из кристаллического кремния
  • T/ZPP 020-2022 Технические характеристики камертонного кристаллического резонатора
  • T/CPIA 0048.1-2022 Руководство по производству стандартных фотоэлектрических элементов из кристаллического кремния для производственных линий. Часть 1. Фотоэлектрические элементы из гомогенного кристаллического кремния.
  • T/ZJCX 0021-2022 Кварцевый резонатор для автомобильной электроники
  • T/SCS 000021-2023 Компоненты кристаллов фторида кальция класса i-line для литографии
  • T/CPIA 0046-2022 Позиционирующая лента для фотоэлектрических модулей из кристаллического кремния

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., кристалл

  • IEEE 176-1949 СТАНДАРТЫ НА ПЬЕЗОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ КРИСТАЛЛЫ
  • IEEE 180-1962 СТАНДАРТЫ НА Пьезоэлектрические и сегнетоэлектрические кристаллы: определения терминов для сегнетоэлектрических кристаллов 1962 г. (62 IRE 14.S1)
  • IEEE 218-1956 СТАНДАРТНЫЕ МЕТОДЫ ПРОВЕРКИ ТРАНЗИСТОРОВ

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, кристалл

  • ECA 417-A-1991 Кристаллические контуры
  • ECA TEP105-12-1987 Метод испытания отражательной способности поверхности трубы

U.S. Military Regulations and Norms, кристалл

Professional Standard - Education, кристалл

  • JY 200-1985 Транзисторный милливольтметр
  • JY/T 0006-2011 Измеритель характеристик транзистора
  • JY/T 0587-2020 Общие принципы методов рентгеновской дифракции поликристаллов

British Standards Institution (BSI), кристалл

  • BS EN ISO 11979-10:2006 Офтальмологические имплантаты - Интраокулярные линзы - Факичные интраокулярные линзы
  • BS EN ISO 11979-7:2018 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции афакии
  • BS EN 60444-9:2007 Измерение параметров кварцевых блоков - Измерение побочных резонансов пьезоэлектрических кристаллических блоков
  • BS EN IEC 60122-4:2019 Кварцевые блоки оцененного качества - Кристаллические блоки с терморезисторами
  • BS EN 120003:1986 Спецификация гармонизированной системы оценки качества электронных компонентов. Бланковая детальная спецификация. Фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов
  • BS EN 120003:1993 Спецификация гармонизированной системы оценки качества электронных компонентов. Пустая подробная спецификация. Фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов
  • BS EN 60444-8:2003 Измерение параметров кварцевых блоков. Испытательное приспособление для кварцевых блоков поверхностного монтажа.
  • BS EN 60444-8:2017 Измерение параметров кристаллической установки кварца. Испытательное приспособление для кварцевых блоков поверхностного монтажа
  • BS PD ISO/TS 23151:2021 Нанотехнологии. Распределение частиц по размерам нанокристаллов целлюлозы. Распределение частиц по размерам нанокристаллов целлюлозы
  • BS EN 60444-7:2004 Измерение параметров кристаллических агрегатов кварца - Измерение активности и провалов частоты кварцевых агрегатов
  • BS EN 60444-2:1997 Измерение параметров кристаллической установки кварца. Метод фазового сдвига для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов
  • 23/30453001 DC БС ЕН ИСО 11979-7. Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы - Часть 7. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции афакии

YU-JUS, кристалл

  • JUS N.R9.071-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Контур держателя двух кристаллов mre, тип 18
  • JUS N.R9.070-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кристаллы Уарца. Двухштырьковый держатель кристалла, outlfne, type09
  • JUS N.R9.073-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кристалл кварца не используется. Двухпроволочный контур держателя кристалла, тип 17
  • JUS N.R9.069-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Контур держателя для двух кристаллов Пири, тип 07
  • JUS N.R9.064-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кристаллические агрегаты Ктуарца. Контур двухпроволочного держателя кристалла. Типы 11, 14 и 15
  • JUS N.R1.373-1980 Полупроводниковые иоды. Основные характеристики и характеристики. Сигнальные диоды малой мощности
  • JUS N.R1.390-1979 Биполярное расстройство. Основные номиналы и характеристики: сигнальные транзисторы bw-power
  • JUS N.R1.450-1981 Биполярные транзисторы. Методы измерения
  • JUS N.R1.471-1985 Биполярные транзисторы. Эталонные методы измерения
  • JUS A.A4.303-1990 Табличные схемы характеристик изделий для транзисторов и тиристоров

AR-IRAM, кристалл

  • IRAM 17 724-1963 Кристаллы борной кислоты для фотографии

TR-TSE, кристалл

  • TS 2319-1976 Кварцевые блоки для генераторов

Professional Standard - Electron, кристалл

  • SJ/T 11199-1999 Пьезоэлектрические кристаллические заготовки кварца
  • SJ/Z 9155.2-1987 Кварцевый генератор. Часть 2. Руководство по использованию кварцевого генератора.
  • SJ/T 10639-1995 Условия единицы кристалла кварца
  • SJ 1852-1981 Термины для кварцевых генераторов, управляемых кристаллом
  • SJ/T 10333-1993 Методы измерения однопереходных транзисторов
  • SJ/T 2217-2014 Техническая спецификация фототранзистора кремния
  • SJ 51648/5-1997 Тип ZC 503, генераторы, кристалл, подробная спецификация для
  • SJ/T 10638-1995 Методы измерения кварцевых генераторов
  • SJ 51648.4-1995 Генератор, кварцевый, тип ZC505E, подробная спецификация для
  • SJ 2816.1-1987 Подробная спецификация (припаянных) держателей кристаллов (корпусов) для типа J1
  • SJ 2816.3-1987 Подробная спецификация (припаянных) держателей кристаллов (корпусов) для типа J3
  • SJ 51648/1-1994 Генератор, кварцевый, тип ZF507, подробная спецификация для
  • SJ 51648/2-1994 Генератор, тип кристалла ZD509, подробная спецификация для
  • SJ/T 11516-2015 Спецификация маски тонкопленочного транзистора (TFT)
  • SJ/T 11550-2015 Лента для пайки на основе олова, используемая для фотоэлектрических (PV) модулей из кристаллического кремния.
  • SJ 2592-1985 Кварцевые монолитные фильтры для типа LSP10.7MA(~E)
  • SJ 2816.2-1987 Подробная спецификация держателей (корпусов) кристаллов (сварных контактной сваркой) для типа J1A
  • SJ 2816.4-1987 Подробная спецификация держателей (корпусов) кристаллов (сварных контактной сваркой) для типа J3A
  • SJ 2816.5-1987 Подробная спецификация держателей (корпусов) кристаллов (холодной сварки) для типа J3B
  • SJ 52138.1-1995 Кристаллический элемент, кварц, тип JA 538, подробная спецификация для
  • SJ/Z 9570.1-1995 Стандарт качества компонентов кварцевого кристалла

PL-PKN, кристалл

  • PN T01504 ArkusZ30-1975 Измерение hnb транзисторов
  • PN T01504 ArkusZ23-1974 Параметры транзисторов [y] измерения
  • PN T01029-1985 Терминология генераторов, управляемых кварцевым кристаллом
  • PN T01504-04-1987 Транзисторы Методы измерения Напряжения пробоя U(BR) CBO и U(BR) ebo

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, кристалл

  • GB/T 37398-2019 Сцинтилляционный кристалл фторида бария
  • GB/T 8756-2018 Коллекция металлографий дефектов кристалла германия.
  • GB/T 39131-2020 Термины и определения синтетических кристаллических материалов.
  • GB/T 37896-2019 Легкое многослойное фотоэлектрическое (PV) стекло из кристаллического кремния

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, кристалл

  • DB13/T 1288-2010 Солнечные элементы из кристаллического кремния
  • DB13/T 2255-2015 Кристаллический кремниевый солнечный модуль из цельного стекла
  • DB13/T 1289-2010 Модули солнечных батарей из кристаллического кремния для наземного использования

工业和信息化部, кристалл

  • SJ/T 11199-2016 Пьезоэлектрический кварцевый кристаллический лист
  • JC/T 2613-2021 Ti: сапфировый лазерный кристалл
  • JC/T 2416-2017 Релаксорные сегнетоэлектрические кристаллические материалы
  • XB/T 516-2021 Материал для переработки кристаллов силиката иттрия-лютеция

International Electrotechnical Commission (IEC), кристалл

  • IEC 60679-2:1981 Генераторы, управляемые кварцевым кристаллом. Часть 2. Руководство по использованию генераторов, управляемых кварцевым кристаллом.
  • IEC 60444-9:2007 Измерение параметров кварцевого кристалла. Часть 9. Измерение побочных резонансов пьезоэлектрических кристаллов.
  • IEC 60122-4:2019 Кварцевые кристаллические блоки оцененного качества. Часть 4. Кристаллические блоки с терморезисторами.
  • IEC 60444-8:2003 Измерение параметров кварцевых блоков. Часть 8. Испытательное приспособление для кварцевых блоков поверхностного монтажа.
  • IEC 60444-8:2016 Измерение параметров кварцевых блоков. Часть 8. Испытательное приспособление для кварцевых блоков поверхностного монтажа.
  • IEC 60293:1968 Напряжения питания для транзисторных ядерных приборов

United States Navy, кристалл

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, кристалл

  • JJG 181-2005 Кварцевые стандарты частоты

Defense Logistics Agency, кристалл

  • DLA MIL-S-19500/244 B VALID NOTICE 3-2011 Транзистор PNP германиевый тип 2N2273
  • DLA MIL-S-19500/248 A VALID NOTICE 4-2011 Транзистор, NPN, кремниевый тип 2N2015, 2N2016
  • DLA MIL-M-38510/114 B VALID NOTICE 1-2008 МИКРОСХЕМЫ, ЛИНЕЙНЫЕ, BI-FET ОПЕРАЦИОННЫЕ УСИЛИТЕЛИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-90798-1992 МИКРОСХЕМЫ, ЦИФРОВЫЕ, БЫСТРЫЕ, КМОП, ДВОЙНОЙ ГЕНЕРАТОР/ШАШКИ НЕЧЕТНОЙ ЧЕТНОСТИ, TTL-СОВМЕСТИМЫЕ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-85508 REV C-2005 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, МАЛОГО МОЩНОГО ШОТТКИ, ТТЛ, МУЛЬТИПЛЕКСОР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-86708 REV A-2007 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, МАЛАЯ МОЩНОСТЬ ШОТТКИ ТТЛ, ВЫСОКОСКОРОСТНОЙ РЕГИСТР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA MIL-PRF-55310/21 F-2008 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛ-УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 1,0 МГЦ ДО 60,0 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ, МЕЖДУНАРОДНАЯ ВОЛНА, ТТЛ
  • DLA MIL-PRF-55310/21 G-2008 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛ-УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 1,0 МГЦ ДО 60,0 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ, МЕЖДУНАРОДНАЯ ВОЛНА, ТТЛ
  • DLA QPL-3098-91-2006 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ, ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ
  • DLA QPL-3098-92-2008 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ, ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ
  • DLA QPL-3098-93-2010 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ, ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ
  • DLA QPL-3098-95-2010 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ, ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ
  • DLA QPL-3098-97-2013 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ, ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ
  • DLA QPL-3098-98-2013 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ, ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ
  • DLA QPL-3098-99-2013 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ, ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ
  • DLA MIL-S-19500/529 VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, кремниевый тип 2N3904
  • DLA SMD-5962-86075 REV C-2007 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, РАСШИРЕННАЯ ШОТТКИ ТТЛ, ШИФТЕР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-90889 REV C-2008 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ КМОП, ЧЕТЫРЕХРУСТНОЙ ШИННЫЙ БУФЕР, TTL-СОВМЕСТИМАЯ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-95584 REV C-2008 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, ТТЛ, СИНХРОННЫЕ 4-БИТНЫЕ СЧЕТЧИКИ РЕВЕРСИВНОГО/ОБРАТИТЕЛЬНОГО РАБОТЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA MIL-S-19500/216 A VALID NOTICE 3-2004 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР ТРАНЗИСТОР NPN КРЕМНИЕВОГО ТИПА 2N1051
  • DLA MIL-S-19500/273 A VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковый прибор транзисторного типа 2N744
  • DLA MIL-S-19500/303 VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы типов 2N2631 и 2N2876
  • DLA SMD-5962-87595 REV B-2001 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТТКИ, ШИННЫЙ ТРАНСИВЕР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-87711 REV A-2001 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, ТТЛ, ДВОЙНОЙ МОНОСТАБИЛЬНЫЙ МУЛЬТИВИБРАТОР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-86069-1986 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТКИ, КОМПАРАТОР ВЕЛИЧИНЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-86710 REV B-2006 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, РАСШИРЕННАЯ, ТТЛ ШОТКИ, АРИФМЕТИКО-ЛОГИЧЕСКИЙ БЛОК, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-90781 REV B-2006 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ШОТТКИ, ТТЛ, БУФЕРНАЯ, ТРЕХСОСТОЯННАЯ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-86872 REV B-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТКИ, БУФЕР NAND, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-87517 REV B-2001 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, МАЛОГО МОЩНОСТИ ШОТТКИ ТТЛ, ДВОИЧНЫЙ СЧЕТЧИК, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-85126 REV C-2005 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, МАЛОГО МОЩНОГО ТТЛ ШОТТКИ, БУФЕРЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-87560 REV F-2006 МИКРОсхема, цифровая, транслятор TTL-ECL, монолитный кремний
  • DLA SMD-5962-87508 REV E-2006 МИКРОСХЕМА ЦИФРОВАЯ ПЕРЕВОДЧИК ECL-TO-TTL, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA DSCC-DWG-94023 REV B-2007 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ БЛОК, КВАРЦ, МИНИАТЮРНЫЙ, ПОВЕРХНОСТНЫЙ МОНТАЖ

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, кристалл

  • GJB 1648-1993 Общие характеристики кварцевых генераторов
  • GJB 1787-1993 Технические характеристики искусственных кристаллов кварца
  • GJB 1648-2-2011 Общие характеристики кварцевых генераторов
  • GJB 1648A-2011 Общие характеристики кварцевых генераторов
  • GJB 1508A-2021 Общие характеристики кристаллических фильтров
  • GJB 2138-1994 Общие характеристики компонентов из кварцевого кристалла
  • GJB 2138A-2015 Общие характеристики компонентов из кварцевого кристалла
  • GJB 1508-1992 Общие характеристики кварцевых фильтров
  • GJB 2138/4-2011 Подробная спецификация кварцевого блока типа JA500

KR-KS, кристалл

  • KS C IEC 60679-2-2018 Генераторы, управляемые кварцевым кристаллом. Часть 2. Руководство по использованию генераторов, управляемых кварцевым кристаллом.
  • KS C IEC 60679-2-2018(2023) Генераторы, управляемые кварцевым кристаллом. Часть 2. Руководство по использованию генераторов, управляемых кварцевым кристаллом.
  • KS C IEC 60122-4-2022 Кварцевые кристаллические блоки оцененного качества. Часть 4. Кристаллические блоки с термисторами.
  • KS C IEC 60444-9-2016 Измерение параметров кварцевых блоков ― Часть 9. Измерение паразитного резонанса пьезоэлектрических кристаллических блоков
  • KS C IEC 60444-8-2016 Измерение параметров кварцевых агрегатов. Часть 8. Испытательное приспособление для кварцевых агрегатов поверхностного монтажа.

Danish Standards Foundation, кристалл

  • DS/EN ISO 11979-10:2006 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Факичные интраокулярные линзы.
  • DS/IEC 458:1981 Транзисторные балласты для трубчатых люминесцентных ламп.
  • DS/EN 60444-9:2007 Измерение параметров кварцевого кристалла. Часть 9. Измерение побочных резонансов пьезоэлектрических кристаллов.
  • DS/EN 60444-8:2003 Измерение параметров кварцевых блоков. Часть 8. Испытательное приспособление для кварцевых блоков поверхностного монтажа.

European Committee for Standardization (CEN), кристалл

  • EN ISO 11979-10:2018 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции аметропии в факичных глазах.
  • HD 302 S1-1977 Транзисторный балласт для люминесцентных ламп.
  • EN ISO 11979-10:2006 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Факичные интраокулярные линзы (ISO 11979-10:2006)
  • EN ISO 11979-10:2006/A1:2014 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Факичные интраокулярные линзы (ISO 11979-10:2006/Поправка 1:2014)

Indonesia Standards, кристалл

  • SNI 3140.1-2008 Кристаллический сахар - Часть 1: сахар-сырец

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, кристалл

  • GB/T 35316-2017 Коллекция металлографий дефектов сапфирового стекла.
  • GB/T 22319.9-2018 Измерение параметров кварцевого кристалла. Часть 9. Измерение побочных резонансов пьезоэлектрических кристаллов.

Professional Standard - Agriculture, кристалл

  • GB 9558-1988 Порошок диметоата и кристаллический диметоат

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), кристалл

CEN - European Committee for Standardization, кристалл

  • EN IEC 60122-4:2019 Кварцевые кристаллические блоки оцененного качества. Часть 4. Кристаллические блоки с терморезисторами.

International Organization for Standardization (ISO), кристалл

  • ISO/FDIS 11979-7:2011 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 7. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции афакии.
  • ISO/DIS 11979-7 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 7. Клинические исследования интраокулярных линз для коррекции афакии.

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), кристалл

  • EN 60444-9:2007 Измерение параметров кварцевого кристалла. Часть 9. Измерение побочных резонансов пьезоэлектрических кристаллов.
  • HD 302-1975 Транзисторный балласт для люминесцентных ламп

IN-BIS, кристалл

  • IS 4570 Pt.11-1989 Спецификация держателей кристаллов. Часть 11. Металлические сварные двухштырьковые держатели кристаллов типа DQ.
  • IS 4570 Pt.8-1985 Спецификация кронштейнов для кристаллического блока. Часть 8. Металлический сварной трехпроволочный кронштейн для кристаллического блока типа DK.
  • IS 10184-1982 Спецификация на синтетические кристаллы кварца для дерева
  • IS 8899-1978 Руководство пользователя кристалла синтетического кварца
  • IS 4570 Pt.13/Sec.5-1993 Держатели кристаллических блоков. Технические характеристики. Часть 13. Автоматическое обращение с кварцевыми держателями кристаллических блоков. Обзор. Раздел 5. Металлический, герметичный, двухштырьковый держатель кристаллических блоков типа CU 05.
  • IS 4570 Pt.13/Sec.4-1993 Держатели кристаллических блоков — спецификация, часть 13. Обзор автоматического обращения с кварцевыми держателями блоков. Раздел 4. Металлические герметичные двухигольные держатели кристаллических блоков типа CU 04.
  • IS 4570 Pt.6-1984 Технические характеристики держателя кристаллического блока. Часть 6. Металлический, запаянный под пайку, двухконтактный держатель кристаллического блока, тип CX.
  • IS 4570 Pt.13/Sec.3-1993 Держатели кристаллических блоков — спецификация, часть 13. Обзор автоматически обработанных держателей кварцевых блоков. Раздел 3. Металлические герметичные двухигольные держатели кристаллических блоков типа CU 03.
  • IS 4570 Pt.13/Sec.2-1993 Держатели кристаллических блоков — спецификация, часть 13. Обзор автоматически обрабатываемых держателей кварцевых блоков. Раздел 2. Металлические герметичные двухигольные держатели кристаллических блоков типа CU 02.
  • IS 4570 Pt.13/Sec.1-1993 Держатели кристаллических блоков. Технические характеристики. Часть 13. Обзор кварцевых держателей блоков для автоматического перемещения. Раздел 1. Металлический, герметичный, двухштифтовый держатель кристаллических блоков типа CU 01.
  • IS 4570 Pt.7-1985 Спецификация поддержки кварцевого блока, часть 7. Микро, металлический, запаянный, двухпроводной, поддержка кварцевого блока, тип DJ
  • IS 4570 Pt.12-1989 Спецификация опор кристаллического модуля. Часть 12. Микрометаллические двухпроволочные опоры кристаллического модуля холодной сварки типа EB.
  • IS 4570 Pt.3-1984 Технические характеристики держателей хрусталя. Часть 3. Трубчатые держатели хрусталя (стекла) типов AP, AR, AS, AT и AU.
  • IS 7027-1984 Спецификация на транзисторные балласты для люминесцентных ламп

未注明发布机构, кристалл

  • DIN IEC 679-2:1997 Генераторы, управляемые кварцевым кристаллом; Часть 2; Руководство по использованию кварцевых генераторов, управляемых кристаллом

AENOR, кристалл

  • UNE-EN ISO 11979-10:2007 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Факичные интраокулярные линзы (ISO 11979-10:2006)
  • UNE-EN ISO 11979-10:2007/A1:2014 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 10. Факичные интраокулярные линзы (ISO 11979-10:2006/Поправка 1:2014)

RU-GOST R, кристалл

  • GOST 18604.8-1974 Транзисторы. Метод измерения выходной проводимости
  • GOST 5279-1974 Кристаллический графит для литейных целей. Технические характеристики
  • GOST 5639-1982 Сталь и сплавы. Методы обнаружения и определения размера зерна

General Motors Corporation (GM), кристалл

  • GM 9984415-1994 Кристаллорафинер, система фосфата цинка, версия A

Association of German Mechanical Engineers, кристалл

  • VDI/VDE 5575 Blatt 8-2013 Рентгенооптические системы - Кристаллы-монохроматоры

Professional Standard - Chemical Industry, кристалл

  • HG/T 4357-2012 Поляризатор для тонкопленочного транзисторно-жидкокристаллического дисплея (TFT-LCD)

IT-UNI, кристалл

  • UNI 6239-1968 Копия диаграммы. Кристаллический экран для реплик

Electronic Industrial Alliance (U.S.), кристалл

  • EIA CB6-A-1987 Руководство по использованию кварцевых блоков для управления частотой

ECIA - Electronic Components Industry Association, кристалл

  • CB6-A-1987 Руководство по использованию кварцевых блоков для контроля частоты

Professional Standard - Aerospace, кристалл

  • QJ 2979-1997 Подробная спецификация для кварцевых компонентов типа XJ33
  • QJ 2980-1997 Подробные характеристики кварцевых элементов XJ36
  • QJ 2981-1997 Подробные характеристики кварцевых элементов XJ39
  • QJ 2978-1997 Подробные характеристики кварцевых элементов XJ17

Professional Standard - Aviation, кристалл

  • HBm 66.33-1989 Реле мигалки транзистора минивэна




©2007-2023 ANTPEDIA, Все права защищены.