ZH
EN
ES

Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп, Всего: 241 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп, являются: Оптика и оптические измерения, Метрология и измерения в целом, Аналитическая химия, Оптическое оборудование, Образование, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Испытание металлов, Технические рисунки, Обработка поверхности и покрытие, Материалы для армирования композитов, Физика. Химия, Качество воздуха, Словари, Защита от преступности, Сварка, пайка и пайка, Строительные материалы, Электронные устройства отображения, Электронные компоненты в сборе, Электронные компоненты в целом, Линейные и угловые измерения, Термодинамика и измерения температуры, Защита от опасных грузов, Краски и лаки, Сырье для резины и пластмасс, Медицинские науки и учреждения здравоохранения в целом, Бумага и картон.

Professional Standard - Machinery, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5383-1991 Технические характеристики просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5584-1991 Метод испытаний усиления просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5585-1991 Метод испытания разрешения просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5586-1991 Классификация и основные параметры просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5480-1991 Диафрагма электронного микроскопа
JB/T 5481-1991 Нить лампы электронного микроскопа
JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация

Group Standards of the People's Republic of China, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

T/CSTM 00162-2020 Методы калибровки просвечивающего электронного микроскопа
T/CSTM 00166.3-2020 Характеристика графеновых материалов. Часть 3. Просвечивающий электронный микроскоп
T/QGCML 1940-2023

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

JJG(地质) 1016-1990 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
JJG(教委) 12-1992 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа

Professional Standard - Education, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии
JY/T 0581-2020 Общие правила методов анализа просвечивающей электронной микроскопии
JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии

International Organization for Standardization (ISO), Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 19012-3:2015 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Часть 3. Спектральное пропускание
ISO 19214:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
ISO 21363:2020 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
ISO 13794:2019 Атмосферный воздух. Определение содержания асбестовых волокон. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом.
ISO 10312:2019 Окружающий воздух. Определение содержания асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии - реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии.
ISO 20263:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов.
ISO 15932:2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 29301:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.
ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM.
ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра потерь энергии электронов.
ISO 13794:1999 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
ISO 10312:1995 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GB/T 21637-2008 Способ морфологической идентификации коронавируса с помощью просвечивающей электронной микроскопии
GB 7667-1996 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
GB 7667-2003 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
GB/T 18873-2002 Общие характеристики просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ) — количественный микроанализ рентгеновского энергодисперсионного спектра (ЭДС) для тонких биологических образцов.
GB/T 18873-2008 Общее руководство по трансмиссионному электронному микроскопу (ТЕМ) – рентгеновской энергодисперсионной спектрометрии (ЭДС) для количественного микроанализа тонких биологических образцов
GB/T 28044-2011 Общее руководство по методу обнаружения биологического действия наноматериалов с помощью просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ)
GB/T 17507-2008 Общая спецификация тонких биологических стандартов для рентгеновского ЭДС-микроанализа в просвечивающем электронном микроскопе
GB/Z 21738-2008 Фундаментальные структуры одномерных наноматериалов. Характеристика просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения.
GB/T 17507-1998 Общая спецификация тонких биологических стандартов для рентгено-ЭДС-микроанализа в электронном микроскопе
GB/T 30543-2014 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
GB/T 31227-2014 Метод контроля шероховатости поверхности атомно-силовым микроскопом напыленных тонких пленок
GB/T 19267.6-2008 Физико-химическая экспертиза следов доказательств в судебной медицине. Часть 6: Сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергодисперсионная спектрометрия.
GB/T 17361-1998 Метод идентификации аутигенного глинистого минерала в осадочных породах с помощью SEM и XEDS.
GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа
GB/T 2679.11-2008 Бумага и картон. Качественный анализ минерального наполнителя и минерального покрытия. Метод SEM/EDAX.
GB/T 19267.6-2003 Физическое и химическое исследование следов доказательств в судебной медицине. Часть 6. Сканирующая электронная микроскопия.
GB/T 2679.11-1993 Бумага и картон. Качественный анализ минерального наполнителя и минерального покрытия. Метод СЭМ/EDAX

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

GB/T 35098-2018 Микролучевой анализ. Просвечивающая электронная микроскопия. Метод морфологической идентификации вирусов растений с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

British Standards Institution (BSI), Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
BS ISO 19012-3:2015 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Спектральное пропускание
BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
PD ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
15/30292710 DC BS ISO 19214. Руководство по определению направления роста проволочных кристаллов методом просвечивающей электронной микроскопии.
BS ISO 10312:2019 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии
BS ISO 13794:2019 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом
BS EN ISO 14880-1:2005 Оптика и фотоника - Микролинзовая решетка - Словарь
BS EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
BS ISO 21363:2020 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
PD ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии. Реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии
BS PD ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии. Реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии
18/30351714 DC BS ISO 21363. Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
BS EN ISO 14880-1:2016 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Словарный запас и общие свойства
BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
BS EN ISO 14880-4:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Методы испытаний геометрических свойств.
BS ISO 29301:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.
BS ISO 10312:1995 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии
BS ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CDSEM
BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
BS ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
BS ISO 24639:2022 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии энергетических потерь электронов
18/30344520 DC BS ISO 21466. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM
BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
BS ISO 13794:1999 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

DB31/T 315-2004 Метод калибровки увеличения просвечивающего электронного микроскопа
DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

KS D 2716-2008(2018) Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
KS D 2716-2008 Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие－Измерение толщины покрытия－Метод просвечивающей электронной микроскопии
KS I ISO 10312-2008(2018) Окружающий воздух－Определение асбестовых волокон－Метод прямой просвечивающей электронной микроскопии
KS I ISO 13794-2008(2018) Окружающий воздух－Определение асбестовых волокон－Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом
KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS D ISO TR 17270:2007 Микролучевой анализ－Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия－Технический отчет по определению экспериментальных параметров для спектроскопии потерь энергии электронов
KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS I ISO 10312:2008 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
KS I ISO 13794:2008 Окружающий воздух－Определение асбестовых волокон－Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом

KR-KS, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

KS D 2716-2023 Измерение диаметра наночастиц — Просвечивающий электронный микроскоп
KS C ISO 21363-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS D ISO TR 17270-2007 Микролучевой анализ－Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия－Технический отчет по определению экспериментальных параметров для спектроскопии потерь энергии электронов

工业和信息化部, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

YB/T 4676-2018 Анализ выделенных фаз в стали методом просвечивающей электронной микроскопии

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

JIS B 7158-3:2017 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопов. Часть 3. Спектральное пропускание.
JIS B 7144:1995 Микроскоп. Соединение конденсаторов проходящего света с муфтами для предметного столика.
JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
JIS K 3850-3:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 3. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом.
JIS K 3850-2:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 2. Метод просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом.
JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

ASTM E3143-18a Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
ASTM E3143-18 Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
ASTM E3143-18b Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
ASTM E3143-18b(2023) Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
ASTM D7201-06(2020) Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с возможностью просвечивающей электронной микроскопии)
ASTM D7201-06(2011) Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с возможностью просвечивающей электронной микроскопии)
ASTM E986-04 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E986-04(2010) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM D5756-02 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и косвенного анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на массовую концентрацию асбеста
ASTM D5756-95 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и косвенного анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на массовую концентрацию асбеста
ASTM D6056-96(2011) Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте методом просвечивающей электронной микроскопии
ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM D5755-95 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на содержание структурных чисел асбеста
ASTM D5755-02 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на содержание структурных чисел асбеста
ASTM D5756-02(2008) Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии для массовой поверхностной нагрузки асбеста
ASTM D5755-03 Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на предмет поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста
ASTM D5755-09 Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на предмет поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста
ASTM D5755-09(2014)e1 Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на предмет поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста
ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM D6480-05(2010) Стандартный метод испытаний для отбора проб с поверхностей, непрямой подготовки и анализа концентрации структурного числа асбеста с помощью просвечивающей электронной микроскопии
ASTM E986-97 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E986-04(2017) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM D6281-06 Стандартный метод определения концентрации переносимого по воздуху асбеста в атмосфере окружающей среды и в помещениях, определяемой с помощью просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом (ПЭМ)
ASTM D6281-04 Стандартный метод определения концентрации переносимого по воздуху асбеста в атмосфере окружающей среды и в помещениях, определяемой с помощью просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом (ПЭМ)
ASTM D6281-09 Стандартный метод определения концентрации переносимого по воздуху асбеста в атмосфере окружающей среды и в помещениях, определяемой с помощью просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом (ПЭМ)
ASTM D6281-15 Стандартный метод определения концентрации переносимого по воздуху асбеста в атмосфере окружающей среды и в помещениях, определяемой с помощью просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом (ПЭМ)
ASTM E766-98(2008)e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2809-13 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/рентгеновской спектрометрии при судебно-медицинской экспертизе красок
ASTM D6281-98 Стандартный метод определения концентрации переносимого по воздуху асбеста в атмосфере окружающей среды и в помещениях, определяемой с помощью просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом (ПЭМ)
ASTM C1723-16(2022) Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
ASTM C1723-10 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
ASTM C1723-16 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
ASTM D3849-13 Стандартный метод определения технического углерода; Морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
ASTM D3849-14 Стандартный метод определения технического углерода; Морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
ASTM D6480-05 Стандартный метод испытаний для отбора проб с поверхностей, непрямой подготовки и анализа концентрации структурного числа асбеста с помощью просвечивающей электронной микроскопии
ASTM D8526-23 Стандартный метод испытаний аналитической процедуры с использованием просвечивающей электронной микроскопии для определения концентрации углеродных нанотрубок и частиц, содержащих углеродные нанотрубки, в окружающей среде
ASTM E1588-07e1 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1588-07 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM D3849-95a(2000) Стандартный метод определения технического углерода: размеры первичного агрегата по данным анализа изображений, полученных с помощью электронного микроскопа
ASTM D3849-07 Стандартный метод определения технического углерода: морфологическая характеристика технического углерода с использованием электронной микроскопии
ASTM E766-14(2019) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM D3849-22 Стандартный метод определения технического углерода — морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

GB/T 34331-2017 Метод исследования вируса зеленой крапчатой мозаики огурца методом просвечивающей электронной микроскопии
GB/T 34168-2017 Метод исследования биологического действия материалов наночастиц золота и серебра с помощью просвечивающего электронного микроскопа
GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.
GB/T 33839-2017 Методы просвечивающей электронной микроскопии для биологических образцов, содержащих углеродные наноматериалы, обладающие биологическим действием
GB/T 34002-2017 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.

German Institute for Standardization, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
DIN EN ISO 21363:2022-03 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)
DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.

PH-BPS, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

PNS ISO 21363:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

Danish Standards Foundation, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

DS/ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
DS/ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии - реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии.
DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.

Association Francaise de Normalisation, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

FD T16-209:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
NF T16-404:2020 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
NF ISO 13794:2020 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
NF ISO 10312:2020 Окружающий воздух. Количественное определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
NF X43-050:2021 Качество воздуха. Определение концентрации асбестового волокна методом просвечивающей электронной микроскопии. Косвенный метод.
NF EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Определение распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
NF ISO 15932:2014 Микролучевой анализ - Аналитическая электронная микроскопия - Словарь
NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.

European Committee for Standardization (CEN), Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)
prEN ISO 21363:2021 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)
EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)

AENOR, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

UNE 77236:1999 ОКРУЖАЮЩИЙ ВОЗДУХ. ОПРЕДЕЛЕНИЕ СОДЕРЖАНИЯ АСБЕСТОВЫХ ВОЛОКОН. МЕТОД ПРЯМОТРАНСФЕРНОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ.

ES-UNE, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

UNE-EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в феврале 2022 г.)
UNE-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)

AT-ON, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

OENORM EN ISO 21363:2021 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)

未注明发布机构, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

DIN EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии – измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

Professional Standard - Judicatory, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

SF/T 0139-2023

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)

Association of German Mechanical Engineers, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

DVS 2803-1974 Электронно-лучевая сварка в микроскопии (обзор)

GOSTR, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

PNST 507-2020 Нанотехнологии. Одностенные углеродные нанотрубки. Характеристика с помощью просвечивающей электронной микроскопии и энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии.

Professional Standard - Public Safety Standards, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

GA/T 1939-2021 Судмедэкспертиза Текущая точечная экспертиза Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1522-2018 Судмедэкспертиза Осмотр остатков стрельбы Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1938-2021 Судмедэкспертиза Проверка металлов Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1937-2021 Судебная медицина Проверка резины Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 909-2010 Метод сбора и упаковки следов огнестрельных улик (исследование SEM/EDS)
GA/T 1521-2018 Судебная медицина Исследование элементного состава пластмасс Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1519-2018 Судмедэкспертиза Проверка элементного состава тонера Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1520-2018 Судебно-медицинская экспертиза черного пороха, проверка элементного состава пиротехнического порошка, сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергетическая спектрометрия
GA/T 823.3-2018 Методы исследования красочных доказательств в судебной медицине. Часть 3: Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия

IX-IX-IEC, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

IEC TS 62607-6-17:2023 Нанопроизводство. Ключевые контрольные характеристики. Часть 6-17. Материал на основе графена. Параметр порядка: рентгеновская дифракция и просвечивающая электронная микроскопия.

ZA-SANS, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

SANS 6154:2006 Стеклосодержание гранулированного металлургического шлака (метод микроскопии в проходящем свете)

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

IPC J-STD-035-1999 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов
IPC TM-650 2.6.22-1995 Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах
IPC/JEDEC J-STD-035-1999 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов [Заменено: IPC TM-650 2.6.22]

RU-GOST R, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

GOST 21006-1975 Электронные микроскопы. Термины, определения и буквенные обозначения
GOST R 8.697-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межпенарные расстояния в кристаллах. Метод измерения с помощью просвечивающего электронного микроскопа
GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы

Professional Standard - Petroleum, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

JEDEC J-STD-035-1999 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов в капсулах

International Electrotechnical Commission (IEC), Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

IEC PAS 62191:2000 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов
IEC TS 62607-6-2:2023 Нанопроизводство. Ключевые характеристики контроля. Часть 6-2. Графен. Количество слоев: атомно-силовая микроскопия, оптическое пропускание, рамановская спектроскопия.

国家能源局, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

VN-TCVN, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

TCVN 6502-1999 Атмосферный воздух.Определение асбестовых частиц.Метод прямотрансферной просвечивающей электронной микроскопии.

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

DB32/T 3459-2018 Сканирующая электронная микроскопия для измерения микроплощади покрытия графеновых пленок

Professional Standard - Commodity Inspection, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

SN/T 2649.1-2010 Определение асбеста в косметике для импорта и экспорта. Часть 1: Метод рентгеновской дифракции и сканирующей электронной микроскопии.

SE-SIS, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
SIS SS CECC 00013-1985 Базовая спецификация: проверка полупроводниковых кубиков с помощью сканирующего электронного микроскопа.

IT-UNI, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

UNI 7604-1976 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для микрофрактографического исследования.
UNI 7329-1974 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для исследования микроструктуры.

American National Standards Institute （ANSI), Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп

ASTM D6281-23 Стандартный метод определения концентрации переносимого по воздуху асбеста в атмосфере окружающей среды и в помещениях, определяемой с помощью просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом (ПЭМ) (стандартный + Redline PDF-пакет)