ZH
EN
ES
спектр массива
спектр массива, Всего: 118 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к спектр массива, являются: Топливо, Солнечная энергетика, Вращающиеся машины, Электрические аксессуары, Фотография, Оптоволоконная связь, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Лампы и сопутствующее оборудование, Медицинское оборудование, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Полупроводниковые приборы, Электронные лампы, Словари, Атомная энергетика.
American Society for Testing and Materials (ASTM), спектр массива
- ASTM D7861-14(2019) Стандартный метод определения метиловых эфиров жирных кислот (МЭЖК) в дизельном топливе с помощью матричной спектроскопии с линейным регулируемым фильтром (LVF) в среднем инфракрасном диапазоне
- ASTM D7861-14 Стандартный метод определения метиловых эфиров жирных кислот (МЭЖК) в дизельном топливе с помощью матричной спектроскопии с линейным регулируемым фильтром (LVF) в среднем инфракрасном диапазоне
- ASTM D7861-14e1 Стандартный метод определения метиловых эфиров жирных кислот (МЭЖК) в дизельном топливе с помощью матричной спектроскопии с линейным регулируемым фильтром (LVF) в среднем инфракрасном диапазоне
- ASTM C1307-21 Стандартный метод испытаний плутония с помощью диодной спектрофотометрии плутония (III)
- ASTM C1307-15 Стандартный метод испытаний плутония с помощью диодной спектрофотометрии плутония (III)
- ASTM E2047-99 Стандартный метод испытаний фотоэлектрических батарей на целостность мокрой изоляции
- ASTM E2047-05 Стандартный метод испытаний фотоэлектрических батарей на целостность мокрой изоляции
- ASTM E2047-10(2019) Стандартный метод испытаний фотоэлектрических батарей на целостность мокрой изоляции
- ASTM E2047-10(2015) Стандартный метод испытаний фотоэлектрических батарей на целостность мокрой изоляции
- ASTM E2047-10 Стандартный метод испытаний фотоэлектрических батарей на целостность мокрой изоляции
RU-GOST R, спектр массива
U.S. Military Regulations and Norms, спектр массива
Standard Association of Australia (SAA), спектр массива
International Electrotechnical Commission (IEC), спектр массива
- IEC 62548:2016 Фотоэлектрические (PV) массивы. Требования к проектированию
- IEC TS 62548:2013 Требования к проектированию фотоэлектрических (PV) батарей
- IEC 82/746/DTS:2012 IEC/TS 62548: Требования к проектированию фотоэлектрических (PV) батарей.
- IEC 61829:2015 Фотоэлектрическая (PV) батарея – измерение вольт-амперных характеристик на месте
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), спектр массива
KR-KS, спектр массива
British Standards Institution (BSI), спектр массива
工业和信息化部, спектр массива
- YD/T 3024-2016 Волоконный усилитель с массивом, легированным эрбием
- YD/T 3541-2019 Волоконно-оптическая решетка для планарных оптических волноводных устройств
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), спектр массива
Group Standards of the People's Republic of China, спектр массива
- T/JSSIA 0001-2017 Серия программ для пакета Grid Grid Flip Chip Ball
- T/CAIA YQ003-2016 Методы тестирования оптических/электрических характеристик устройства формирования изображения с линейной зарядовой связью для спектрометра
CZ-CSN, спектр массива
Association Francaise de Normalisation, спектр массива
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, спектр массива
- GB/T 33806-2017 Технические требования к микрочиповому сканеру флуоресцентной визуализации
IEC - International Electrotechnical Commission, спектр массива
- TS 62548-2013 Фотоэлектрические (PV) массивы. Требования к проектированию (редакция 1.0)
Xinjiang Provincial Standard of the People's Republic of China, спектр массива
Lithuanian Standards Office , спектр массива
- LST EN 60604-2002 Матрица фотовспышек Topflash/Flipflash (IEC 60604:1980)
- LST EN 120005-2001 Пустая подробная спецификация. Фотодиоды, фотодиодные матрицы (не предназначены для оптоволоконных применений)
- LST EN 120003-2001 Пустая подробная спецификация. Фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов
- LST EN 61829-2001 Фотоэлектрическая (PV) матрица из кристаллического кремния. Измерение ВАХ на месте (IEC 61829:1995)
- LST EN 120002-2001 Пустая подробная спецификация. Инфракрасные диоды, матрицы инфракрасных диодов
SE-SIS, спектр массива
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, спектр массива
- GB/T 41869.1-2022 Оптика и фотоника. Массив микролинз. Часть 1. Словарь.
- GB/T 5295-2012 Характеристический ряд спектрального отклика фотокатодов
- GB 5295-1985 Характеристический ряд спектрального отклика фотокатодов
- GB/T 5295-1985 Характеристический ряд спектрального отклика фотокатодов
- GB/T 4931-2000 Серия и типовой спектр гелий-неоновых лазеров
- GB/T 41869.2-2022 Оптика и фотоника. Массив микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
International Organization for Standardization (ISO), спектр массива
- ISO 14880-1:2019 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 1. Словарь.
- ISO/TR 14880-5:2010 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 5. Руководство по испытаниям.
- ISO/DIS 14880-2 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
- ISO/DIS 14880-4 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 4. Методы испытаний геометрических свойств.
ES-UNE, спектр массива
- UNE-EN ISO 14880-1:2019 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 1. Словарь (ISO 14880-1:2019) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в августе 2019 г.)
- UNE-EN 120005:1992 BDS: ФОТОДИОДЫ, ФОТОДИОДНЫЕ МАССИВЫ (НЕ ПРЕДНАЗНАЧЕНЫ ДЛЯ ВОЛОКОННО-ОПТИЧЕСКИХ ПРИМЕНЕНИЙ).
- UNE-EN 120003:1992 БДС: ФОТОТРАНЗИСТОРЫ, ФОТОКАРЛИНГТОННЫЕ ТРАНЗИСТОРЫ, ФОТОТРАНЗИСТОРНЫЕ МАССИВЫ. (Одобрено AENOR в сентябре 1996 г.)
- UNE-EN 61829:2016 Фотоэлектрическая (PV) батарея – измерение вольт-амперных характеристик на месте
GOSTR, спектр массива
- GOST R 58649-2019 Фотоэлектрическая батарея. Измерение вольт-амперных характеристик на месте
American National Standards Institute (ANSI), спектр массива
Professional Standard - Electron, спектр массива
- SJ 2354.10-1983 Метод измерения коэффициента перекрестной освещенности матрицы PIN и лавинных фотодиодов
- SJ 20957-2006 Общие спецификации для массива полупроводниковых лазерных диодов большой мощности
- SJ 20478-1995 Серийные программы для военных источников света
- SJ/Z 731-1973 Предпочтительные серии и типы фотоумножителей
- SJ 2354.11-1983 Метод измерения ширины слепой зоны ПИН и матрицы лавинного фотодиода
IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components, спектр массива
- PQC 105-1992 Пустая подробная спецификация для светоизлучающих диодов @ светоизлучающих диодных матриц
German Institute for Standardization, спектр массива
- DIN EN 120005:1996 Бланковая подробная спецификация - Фотодиоды, фотодиодные матрицы (не предназначены для оптоволоконных применений); Немецкая версия EN 120005:1992.
- DIN EN ISO 14880-1:2019 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 1. Словарь (ISO 14880-1:2019)
- DIN EN ISO 14880-1:2019-10 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 1. Словарь (ISO 14880-1:2019)
- DIN EN 120003:1996 Бланк ТУ - Фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов; Немецкая версия EN 120003:1992.
- DIN EN ISO 14880-4:2006-08 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 4. Методы испытаний геометрических свойств (ISO 14880-4:2006); Немецкая версия EN ISO 14880-4:2006.
- DIN EN ISO 14880-2:2007-03 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта (ISO 14880-2:2006); Немецкая версия EN ISO 14880-2:2006.
- DIN EN 120003:1996-11 Бланк подробной спецификации - Фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов.
- DIN EN 120005:1996-11 Пустая подробная спецификация - Фотодиоды, фотодиодные матрицы (не предназначены для оптоволоконных применений)
Danish Standards Foundation, спектр массива
- DS/EN 61829:1999 Фотоэлектрическая (ФЭ) матрица из кристаллического кремния. Измерение ВАХ на месте.
- DS/EN ISO 14880-2:2007 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
- DS/EN ISO 14880-4:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 4. Методы испытаний геометрических свойств.
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, спектр массива
European Standard for Electrical and Electronic Components, спектр массива
- EN 120005:1992 Пустая подробная спецификация: фотодиоды, фотодиодные матрицы (не предназначены для оптоволоконных применений)
- EN 120003:1992 Бланковая детальная спецификация: фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов.
AENOR, спектр массива
- UNE-EN 61829:2000 Кристаллическая кремниевая фотоэлектрическая (PV) матрица. Измерение IV характеристик на месте.
International Telecommunication Union (ITU), спектр массива
Illuminating Engineering Society of North America, спектр массива
- IESNA LM-80-2015 Измерение светового потока и поддержание цвета светодиодных пакетов, массивов и модулей
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), спектр массива
- IEEE Std 1562-2007 Руководство IEEE по выбору массивов и батарей в автономных фотоэлектрических (PV) системах