ZH

EN

ES

спектр массива

спектр массива, Всего: 118 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к спектр массива, являются: Топливо, Солнечная энергетика, Вращающиеся машины, Электрические аксессуары, Фотография, Оптоволоконная связь, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Лампы и сопутствующее оборудование, Медицинское оборудование, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Полупроводниковые приборы, Электронные лампы, Словари, Атомная энергетика.


American Society for Testing and Materials (ASTM), спектр массива

  • ASTM D7861-14(2019) Стандартный метод определения метиловых эфиров жирных кислот (МЭЖК) в дизельном топливе с помощью матричной спектроскопии с линейным регулируемым фильтром (LVF) в среднем инфракрасном диапазоне
  • ASTM D7861-14 Стандартный метод определения метиловых эфиров жирных кислот (МЭЖК) в дизельном топливе с помощью матричной спектроскопии с линейным регулируемым фильтром (LVF) в среднем инфракрасном диапазоне
  • ASTM D7861-14e1 Стандартный метод определения метиловых эфиров жирных кислот (МЭЖК) в дизельном топливе с помощью матричной спектроскопии с линейным регулируемым фильтром (LVF) в среднем инфракрасном диапазоне
  • ASTM C1307-21 Стандартный метод испытаний плутония с помощью диодной спектрофотометрии плутония (III)
  • ASTM C1307-15 Стандартный метод испытаний плутония с помощью диодной спектрофотометрии плутония (III)
  • ASTM E2047-99 Стандартный метод испытаний фотоэлектрических батарей на целостность мокрой изоляции
  • ASTM E2047-05 Стандартный метод испытаний фотоэлектрических батарей на целостность мокрой изоляции
  • ASTM E2047-10(2019) Стандартный метод испытаний фотоэлектрических батарей на целостность мокрой изоляции
  • ASTM E2047-10(2015) Стандартный метод испытаний фотоэлектрических батарей на целостность мокрой изоляции
  • ASTM E2047-10 Стандартный метод испытаний фотоэлектрических батарей на целостность мокрой изоляции

RU-GOST R, спектр массива

  • GOST R 56978-2016 Фотоэлектрические батареи. Технические характеристики
  • GOST R 59743.1-2021 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 1. Термины и определения. Классификация

U.S. Military Regulations and Norms, спектр массива

Standard Association of Australia (SAA), спектр массива

  • AS/NZS 5033:2005 Установка фотоэлектрических (PV) батарей
  • AS/NZS 5033:2014
  • AS/NZS 5033:2021 Требования к установке и безопасности фотоэлектрических (PV) батарей
  • AS/NZS IEC 61829:2020 Фотоэлектрическая (PV) батарея. Измерение вольт-амперных характеристик на месте.

International Electrotechnical Commission (IEC), спектр массива

  • IEC 62548:2016 Фотоэлектрические (PV) массивы. Требования к проектированию
  • IEC TS 62548:2013 Требования к проектированию фотоэлектрических (PV) батарей
  • IEC 82/746/DTS:2012 IEC/TS 62548: Требования к проектированию фотоэлектрических (PV) батарей.
  • IEC 61829:2015 Фотоэлектрическая (PV) батарея – измерение вольт-амперных характеристик на месте

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), спектр массива

  • KS C IEC 62548-2014(2020) Фотоэлектрические (PV) массивы. Требования к проектированию
  • KS C IEC 62548:2022 Фотоэлектрические (PV) массивы. Требования к проектированию
  • KS C IEC 62548:2014 Фотоэлектрические (PV) массивы. Требования к проектированию
  • KS C 8534-1995 Измерения IV характеристик фотоэлектрической батареи на месте
  • KS C 8534-2002(2018) Измерения IV характеристик фотоэлектрической батареи на месте
  • KS B ISO 14880-1:2019 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 1. Словарь и общие свойства.
  • KS C IEC 61829-2016(2021) Фотоэлектрическая (PV) матрица из кристаллического кремния. Измерение ВАХ на месте.
  • KS B ISO 14880-2:2018 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.

KR-KS, спектр массива

  • KS C IEC 62548-2022 Фотоэлектрические (PV) массивы. Требования к проектированию
  • KS B ISO 14880-1-2019 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 1. Словарь и общие свойства.
  • KS C IEC 61829-2016 Фотоэлектрическая (PV) матрица из кристаллического кремния. Измерение ВАХ на месте.
  • KS B ISO 14880-2-2018 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.

British Standards Institution (BSI), спектр массива

  • BS PD IEC/TS 62548:2013 Фотоэлектрические (PV) батареи. Требования к дизайну
  • BS EN 60604:1993 Ламповая фотовспышка Topflash/Flipflash
  • PD ISO/TR 14880-5:2010 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Руководство по тестированию
  • 20/30387044 DC BS IEC 62548. Фотоэлектрические (PV) батареи. Требования к дизайну
  • BS IEC 62548:2016 Отслеживаемые изменения. Фотоэлектрические (PV) батареи. Требования к дизайну
  • BS EN ISO 14880-1:2019 Отслеживаемые изменения. Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Словарный запас
  • BS EN ISO 14880-2:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Методы испытаний на аберрации волнового фронта
  • BS EN 61829:2016 Отслеживаемые изменения. Фотоэлектрическая (PV) батарея. Измерение вольт-амперных характеристик на месте

工业和信息化部, спектр массива

  • YD/T 3024-2016 Волоконный усилитель с массивом, легированным эрбием
  • YD/T 3541-2019 Волоконно-оптическая решетка для планарных оптических волноводных устройств

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), спектр массива

  • JIS C 62548:2023 Фотоэлектрические (PV) батареи. Требования к проектированию
  • JIS C 8951:1996 Общие правила для фотоэлектрических батарей
  • JIS C 8952:1996 Индикация производительности фотоэлектрической батареи
  • JIS C 8951:2011 Общие правила для фотоэлектрических батарей
  • JIS C 8952:2011 Индикация производительности фотоэлектрической батареи
  • JIS C 8954:2006 Руководство по проектированию электрических схем фотоэлектрических батарей
  • JIS C 8953:1993 Измерения IV характеристик фотоэлектрической батареи на месте
  • JIS C 8953:2006 Измерения IV характеристик кристаллической фотоэлектрической батареи на месте

Group Standards of the People's Republic of China, спектр массива

  • T/JSSIA 0001-2017 Серия программ для пакета Grid Grid Flip Chip Ball
  • T/CAIA YQ003-2016 Методы тестирования оптических/электрических характеристик устройства формирования изображения с линейной зарядовой связью для спектрометра

CZ-CSN, спектр массива

Association Francaise de Normalisation, спектр массива

  • NF C72-310*NF EN 60604:1993 Матрица фотовспышек Topflash/flipflash.
  • NF S10-132-1*NF EN ISO 14880-1:2019 Оптика и фотоника - Массивы микролинз - Часть 1: словарь
  • NF EN ISO 14880-1:2019 Оптика и фотоника - Массивы микролинз - Часть 1: словарь
  • NF C57-108*NF EN 61829:2016 Фотоэлектрическая (PV) батарея – измерение вольт-амперных характеристик на месте
  • NF C57-108:2000 Фотоэлектрическая (ФЭ) матрица из кристаллического кремния. Измерение ВАХ на месте.
  • NF EN 120005:1992 Пустая спецификация: фотодиоды, фотодиодные матрицы (не предназначены для оптоволоконных применений).
  • NF EN ISO 14880-2:2007 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
  • NF C93-120-005*NF EN 120005:1992 Пустая подробная спецификация: фотодиоды, фотодиодные матрицы (не предназначены для оптоволоконных применений)
  • NF C93-120-003*NF EN 120003:1992 Пустая подробная спецификация: фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов.
  • NF EN 120003:1992 Специальная спецификация структуры: фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, спектр массива

  • GB/T 33806-2017 Технические требования к микрочиповому сканеру флуоресцентной визуализации

IEC - International Electrotechnical Commission, спектр массива

  • TS 62548-2013 Фотоэлектрические (PV) массивы. Требования к проектированию (редакция 1.0)

Xinjiang Provincial Standard of the People's Republic of China, спектр массива

  • DB65/T 3462-2013 Технические характеристики блока фотоэлектрических батарей

Lithuanian Standards Office , спектр массива

  • LST EN 60604-2002 Матрица фотовспышек Topflash/Flipflash (IEC 60604:1980)
  • LST EN 120005-2001 Пустая подробная спецификация. Фотодиоды, фотодиодные матрицы (не предназначены для оптоволоконных применений)
  • LST EN 120003-2001 Пустая подробная спецификация. Фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов
  • LST EN 61829-2001 Фотоэлектрическая (PV) матрица из кристаллического кремния. Измерение ВАХ на месте (IEC 61829:1995)
  • LST EN 120002-2001 Пустая подробная спецификация. Инфракрасные диоды, матрицы инфракрасных диодов

SE-SIS, спектр массива

  • SIS SS IEC 604:1984 Лампы — ?Topflash/Flipflash? массив фотографических вспышек
  • SIS SS CECC 20002-1984 Пустая подробная спецификация: инфракрасные диоды, матрицы инфракрасных диодов.
  • SIS SS CECC 20005-1988 Бланковая детальная спецификация: Фотодиоды, фотодиодные матрицы (не предназначены для оптоволоконных сетей)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, спектр массива

  • GB/T 41869.1-2022 Оптика и фотоника. Массив микролинз. Часть 1. Словарь.
  • GB/T 5295-2012 Характеристический ряд спектрального отклика фотокатодов
  • GB 5295-1985 Характеристический ряд спектрального отклика фотокатодов
  • GB/T 5295-1985 Характеристический ряд спектрального отклика фотокатодов
  • GB/T 4931-2000 Серия и типовой спектр гелий-неоновых лазеров
  • GB/T 41869.2-2022 Оптика и фотоника. Массив микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.

International Organization for Standardization (ISO), спектр массива

  • ISO 14880-1:2019 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 1. Словарь.
  • ISO/TR 14880-5:2010 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 5. Руководство по испытаниям.
  • ISO/DIS 14880-2 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
  • ISO/DIS 14880-4 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 4. Методы испытаний геометрических свойств.

ES-UNE, спектр массива

  • UNE-EN ISO 14880-1:2019 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 1. Словарь (ISO 14880-1:2019) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в августе 2019 г.)
  • UNE-EN 120005:1992 BDS: ФОТОДИОДЫ, ФОТОДИОДНЫЕ МАССИВЫ (НЕ ПРЕДНАЗНАЧЕНЫ ДЛЯ ВОЛОКОННО-ОПТИЧЕСКИХ ПРИМЕНЕНИЙ).
  • UNE-EN 120003:1992 БДС: ФОТОТРАНЗИСТОРЫ, ФОТОКАРЛИНГТОННЫЕ ТРАНЗИСТОРЫ, ФОТОТРАНЗИСТОРНЫЕ МАССИВЫ. (Одобрено AENOR в сентябре 1996 г.)
  • UNE-EN 61829:2016 Фотоэлектрическая (PV) батарея – измерение вольт-амперных характеристик на месте

GOSTR, спектр массива

  • GOST R 58649-2019 Фотоэлектрическая батарея. Измерение вольт-амперных характеристик на месте

American National Standards Institute (ANSI), спектр массива

  • ANSI/ASTM E2047:1999 Метод испытаний фотоэлектрических батарей на целостность мокрой изоляции

Professional Standard - Electron, спектр массива

  • SJ 2354.10-1983 Метод измерения коэффициента перекрестной освещенности матрицы PIN и лавинных фотодиодов
  • SJ 20957-2006 Общие спецификации для массива полупроводниковых лазерных диодов большой мощности
  • SJ 20478-1995 Серийные программы для военных источников света
  • SJ/Z 731-1973 Предпочтительные серии и типы фотоумножителей
  • SJ 2354.11-1983 Метод измерения ширины слепой зоны ПИН и матрицы лавинного фотодиода

IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components, спектр массива

  • PQC 105-1992 Пустая подробная спецификация для светоизлучающих диодов @ светоизлучающих диодных матриц

German Institute for Standardization, спектр массива

  • DIN EN 120005:1996 Бланковая подробная спецификация - Фотодиоды, фотодиодные матрицы (не предназначены для оптоволоконных применений); Немецкая версия EN 120005:1992.
  • DIN EN ISO 14880-1:2019 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 1. Словарь (ISO 14880-1:2019)
  • DIN EN ISO 14880-1:2019-10 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 1. Словарь (ISO 14880-1:2019)
  • DIN EN 120003:1996 Бланк ТУ - Фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов; Немецкая версия EN 120003:1992.
  • DIN EN ISO 14880-4:2006-08 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 4. Методы испытаний геометрических свойств (ISO 14880-4:2006); Немецкая версия EN ISO 14880-4:2006.
  • DIN EN ISO 14880-2:2007-03 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта (ISO 14880-2:2006); Немецкая версия EN ISO 14880-2:2006.
  • DIN EN 120003:1996-11 Бланк подробной спецификации - Фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов.
  • DIN EN 120005:1996-11 Пустая подробная спецификация - Фотодиоды, фотодиодные матрицы (не предназначены для оптоволоконных применений)

Danish Standards Foundation, спектр массива

  • DS/EN 61829:1999 Фотоэлектрическая (ФЭ) матрица из кристаллического кремния. Измерение ВАХ на месте.
  • DS/EN ISO 14880-2:2007 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
  • DS/EN ISO 14880-4:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 4. Методы испытаний геометрических свойств.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, спектр массива

  • GJB 9207-2017 Общие характеристики подсистемы оптической передачи цифровой РЛС
  • GJB/Z 48.1-1993 Оптическое волокно серии военного оптического волокна
  • GJB/Z 49.1-1993 Оптический кабель серии военного оптического кабеля

European Standard for Electrical and Electronic Components, спектр массива

  • EN 120005:1992 Пустая подробная спецификация: фотодиоды, фотодиодные матрицы (не предназначены для оптоволоконных применений)
  • EN 120003:1992 Бланковая детальная спецификация: фототранзисторы, транзисторы фотодарлингтона, матрицы фототранзисторов.

AENOR, спектр массива

  • UNE-EN 61829:2000 Кристаллическая кремниевая фотоэлектрическая (PV) матрица. Измерение IV характеристик на месте.

International Telecommunication Union (ITU), спектр массива

Illuminating Engineering Society of North America, спектр массива

  • IESNA LM-80-2015 Измерение светового потока и поддержание цвета светодиодных пакетов, массивов и модулей

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), спектр массива

  • IEEE Std 1562-2007 Руководство IEEE по выбору массивов и батарей в автономных фотоэлектрических (PV) системах




©2007-2023 ANTPEDIA, Все права защищены.