ZH
EN
ES

тем тем

тем тем, Всего: 10 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к тем тем, являются: Электромагнитная совместимость (ЭМС), Системы дорожного транспорта, Интегральные схемы. Микроэлектроника.

Society of Automotive Engineers (SAE), тем тем

• SAE J1752/3-1995 Измерение излучаемых излучений интегральных схем – метод ячеек Tem/Wideband Tem (Gtem); Tem Cell (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная Tem Cell (от 150 кГц до 8 ГГц)
• SAE J1752/3-2003 Измерение излучений интегральных микросхем TEM/Wideband TEM (GTEM) Cell Method; Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)
• SAE J1752/3-2011 Измерение излучаемых излучений от интегральных микросхем TEM/Wideband TEM (GTEM) Cell Method; Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)
• SAE J1752/3-2017 Измерение излучаемого излучения интегральных схем — метод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)
• SAE J1113/24-2006 Невосприимчивость к излучаемым электромагнитным полям; TEM-ячейка Crawford от 10 кГц до 200 МГц и широкополосная TEM-ячейка от 10 кГц до 5 ГГц

SAE - SAE International, тем тем

• SAE J1752-3-2011 Измерение излучаемого излучения интегральных схем — метод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц) @ Широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)

VDE - VDE Verlag GmbH@ Berlin@ Germany, тем тем

• VDE 0847-22-2-2011 Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости. Часть 2. Измерение радиационной устойчивости. Методы TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки (IEC 62132-2:2010); Немецкая версия EN 62132-2:2011

ES-UNE, тем тем

• UNE-EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ячейки TEM и широкополосной ячейки TEM (одобрено AENOR в июле 2011 г.).
• UNE-EN 61967-2:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод ячейки TEM и широкополосной ячейки TEM (одобрено AENOR в январе 2006 г.)

British Standards Institution (BSI), тем тем

• BS EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости. Измерение радиационной невосприимчивости. Ячейка TEM и метод широкополосной ячейки TEM

Другие:   Тема, TEM切片, тема, тем, Тем батарея, батарея, концентрация тем, высокая мощность, тем тем, временная единица, мне нравится, электронная тема, температура колеса, Темное устройство, /тем, тем тем тем, ?????????тема, ТЭМ, тем, тем?????.