ZH
EN
ES

тем тем тем

тем тем тем, Всего: 30 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к тем тем тем, являются: Электромагнитная совместимость (ЭМС), Системы дорожного транспорта, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Транспорт, Полупроводниковые приборы.

Society of Automotive Engineers (SAE), тем тем тем

SAE J1752/3-1995 Измерение излучаемых излучений интегральных схем – метод ячеек Tem/Wideband Tem (Gtem); Tem Cell (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная Tem Cell (от 150 кГц до 8 ГГц)
SAE J1752/3-2003 Измерение излучений интегральных микросхем TEM/Wideband TEM (GTEM) Cell Method; Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)
SAE J1752/3-2011 Измерение излучаемых излучений от интегральных микросхем TEM/Wideband TEM (GTEM) Cell Method; Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)
SAE J1752/3-2017 Измерение излучаемого излучения интегральных схем — метод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)
SAE J1113/24-2006 Невосприимчивость к излучаемым электромагнитным полям; TEM-ячейка Crawford от 10 кГц до 200 МГц и широкополосная TEM-ячейка от 10 кГц до 5 ГГц
SAE J1113/24-2000 Невосприимчивость к излучаемым электромагнитным полям; TEM-ячейка Crawford от 10 кГц до 200 МГц и широкополосная TEM-ячейка от 10 кГц до 5 ГГц
SAE J1113/24-2010 Невосприимчивость к излучаемым электромагнитным полям; От 10 кГц до 200 МГц — ячейка Crawford TEM и от 10 кГц до 5 ГГц — широкополосная ячейка TEM

SAE - SAE International, тем тем тем

SAE J1752-3-2011 Измерение излучаемого излучения интегральных схем — метод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц) @ Широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)
SAE J1113-24-2010 Процедуры испытаний на электромагнитную восприимчивость компонентов транспортных средств (кроме самолетов)
SAE J1113-24-2000 Невосприимчивость к излучаемым электромагнитным полям; От 10 кГц до 200 МГц — ячейка Crawford TEM и от 10 кГц до 5 ГГц — широкополосная ячейка TEM
SAE J1113-24-2006 Невосприимчивость к излучаемым электромагнитным полям; Ячейка Crawford TEM от 10 кГц до 200 МГц и широкополосная ячейка TEM от 10 кГц до 5 ГГц

VDE - VDE Verlag GmbH@ Berlin@ Germany, тем тем тем

VDE 0847-22-2-2011 Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости. Часть 2. Измерение радиационной устойчивости. Методы TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки (IEC 62132-2:2010); Немецкая версия EN 62132-2:2011

British Standards Institution (BSI), тем тем тем

BS EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости. Измерение радиационной невосприимчивости. Ячейка TEM и метод широкополосной ячейки TEM
BS EN 61967-2:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.

International Telecommunication Union (ITU), тем тем тем

ITU-T A.7 SPANISH-2008 Фокус-группы: Методы и процедуры работы. Тематические группы: M閠odos y procedimientos de trabajo.

Association Francaise de Normalisation, тем тем тем

NF EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ячейки TEM и широкополосная ячейка TEM.
NF C96-260-2*NF EN 61967-2:2006 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2: измерение излучаемых излучений, метод TEM-ячейки и широкополосный метод TEM-ячейки.
NF EN 61967-2:2006 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод ячейки TEM и широкополосная ячейка TEM.
NF C96-261-2*NF EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.

ES-UNE, тем тем тем

UNE-EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ячейки TEM и широкополосной ячейки TEM (одобрено AENOR в июле 2011 г.).
UNE-EN 61967-2:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод ячейки TEM и широкополосной ячейки TEM (одобрено AENOR в январе 2006 г.)

Danish Standards Foundation, тем тем тем

DS/EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной ТЕМ-ячейки.
DS/EN 61967-2:2006 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, тем тем тем

EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной ТЕМ-ячейки.

International Electrotechnical Commission (IEC), тем тем тем

IEC 61967-2:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.

German Institute for Standardization, тем тем тем

DIN EN 61967-2:2006-03 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки (IEC 61967-2:2005)

IX-ICAO, тем тем тем

ICAO CIRCULAR 314-2008 Управление угрозами и ошибками (TEM) в управлении воздушным движением
ICAO 314-2008 Управление угрозами и ошибками (TEM) в управлении воздушным движением

Lithuanian Standards Office , тем тем тем

LST EN 62132-2-2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки (IEC 62132-2:2010)
LST EN 61967-2-2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод ячейки TEM и широкополосной ячейки TEM (IEC 61967-2:2005).