ZH
EN
ES
Измерение с помощью инструментального микроскопа
Измерение с помощью инструментального микроскопа, Всего: 201 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Измерение с помощью инструментального микроскопа, являются: Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Метрология и измерения в целом, Сварка, пайка и пайка, Атомная энергетика, Электрические провода и кабели, Жидкостные энергетические системы, Физика. Химия, Качество воздуха, Текстильные волокна, Аналитическая химия, Обработка поверхности и покрытие, Линейные и угловые измерения, Электрооборудование для работы в особых условиях, Микробиология, Механические испытания, Испытание металлов, Условия и процедуры испытаний в целом, Материалы для аэрокосмического строительства, Неразрушающий контроль, Угли, Технологические процессы древесины, Электронные устройства отображения.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Измерение с помощью инструментального микроскопа
- KS B 5602-1995 Микроскопы для инструментальных мастеров
- KS B 5602-1995(2021) Микроскопы для инструментальных мастеров
- KS B 5602-1995(2016) Микроскопы для инструментальных мастеров
- KS I ISO 4407:2012 Силовая гидравлическая жидкость. Загрязнение жидкости. Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа.
- KS D 2716-2008(2018) Измерение диаметра наночастиц-Просвечивающий электронный микроскоп
- KS D 2714-2006 Сканирующий зондовый микроскоп. Метод микроскопа боковой силы.
- KS D 2716-2008 Измерение диаметра наночастиц-Просвечивающий электронный микроскоп
- KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
- KS E 4005-2007(2012) Портативный поляризационный микроскоп для отбора проб и определения негорючих веществ в угольных и каменно-пылевых смесях.
- KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие-Измерение толщины покрытия-Метод просвечивающей электронной микроскопии
- KS E 4005-1981 Портативный поляризационный микроскоп для отбора проб и определения негорючих веществ в угольных и каменно-пылевых смесях.
- KS D 0204-2007 Сталь-Определение содержания неметаллических включений-Микрографический метод по стандартным диаграммам
- KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D 8519-2009(2015) Металлическое и оксидное покрытие-Измерение толщины покрытия-Микроскопический метод
- KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D 0204-1982 Сталь-Определение содержания неметаллических включений-Микрографический метод по стандартным диаграммам
- KS I ISO 13794-2008(2018) Окружающий воздух-Определение асбестовых волокон-Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом
Professional Standard - Machinery, Измерение с помощью инструментального микроскопа
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Измерение с помощью инструментального микроскопа
全国标准信息公共服务平台, Измерение с помощью инструментального микроскопа
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Измерение с помощью инструментального микроскопа
- JIS B 7153:1995 Измерительные микроскопы
- JIS B 7152:1991 Объективы и окуляры биологических микроскопов. Методы измерения характеристик
- JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
- JIS M 8816:1992 Топливо твердое минеральное. Методы микроскопического измерения мацералов и отражательной способности
- JIS A 1481-4:2016 Качество воздуха. Сыпучие материалы. Часть 4. Количественное определение асбеста гравиметрическими и микроскопическими методами.
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- JJG 56-2000 Регламент поверки универсальных измерительных микроскопов и микроскопов производителей
- JJG(航天) 50-1988 Правила калибровки инструментальных микроскопов
- JJG 571-2004 Читающий микроскоп и измерительный микроскоп
- JJG 571-1988 Регламент поверки измерительного микроскопа
RU-GOST R, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- GOST 8.003-1983 Государственная система обеспечения единства измерений. Инструментальные микроскопы. Методы и средства проверки
- GOST 8.003-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Инструментальные микроскопы. Процедура проверки
- GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы
- GOST 8.211-1984 Государственная система обеспечения единства измерений. Окуляр-винтовой микрометр. Методы и средства проверки
- GOST R 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы проверки
- GOST R ISO 27911-2015 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
- GOST R 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы калибровки
- GOST 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Метод проверки
- GOST R 8.630-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Методы проверки
- GOST ISO 4407-2006 Промышленная чистота. Определение загрязненности жидкости счетным методом с использованием оптического микроскопа
- GOST 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
- GOST R 8.635-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод калибровки
IN-BIS, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- IS 4329-1967 Технические характеристики измерительных (передвижных) микроскопов
International Organization for Standardization (ISO), Измерение с помощью инструментального микроскопа
- ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
- ISO 19056-3:2022 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Часть 3. Флуоресцентная микроскопия падающего света с источниками некогерентного света.
- ISO 4912:1981 Текстиль; Хлопковые волокна; Оценка зрелости; Микроскопический метод
- ISO 19056-1:2015 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Часть 1. Яркость и однородность изображения в микроскопии светлого поля.
- ISO 19056-2:2019 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Часть 2. Свойства освещения, связанные с цветом, в микроскопии светлого поля.
- ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
- ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
- ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR.
- ISO/CD 22262-2:2011 Качество воздуха. Сыпучие материалы. Часть 2. Количественное определение асбеста гравиметрическими и микроскопическими методами.
- ISO/DIS 23124:2023 Химический анализ поверхности — измерение латерального и осевого разрешения рамановского микроскопа.
- ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ. Калибровка измерительных систем.
- ISO 11952:2014 Химический анализ поверхности - Сканирующая зондовая микроскопия - Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
- ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра потерь энергии электронов.
- ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 18337:2015 Химический анализ поверхности. Характеристика поверхности. Измерение латерального разрешения конфокального флуоресцентного микроскопа.
TH-TISI, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- TIS 1083-1992 Стандарт для измерения толщины покрытия микроскопическим методом
Association of German Mechanical Engineers, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- DVS 2804-1975 Сварка горячим инструментом (термокомпрессионная сварка) в микроскопии (обзор)
- VDI/VDE 2655 Blatt 1.1-2008 Оптические измерения и микротопография. Калибровка интерференционных микроскопов и эталонов глубины для измерения шероховатости.
- VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Определение геометрических величин с помощью сканирующих зондовых микроскопов - Калибровка измерительных систем
- VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Оптическое измерение микротопографии. Калибровка конфокальных микроскопов и эталонов глубины для измерения шероховатости.
- VDI 3492-2004 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- VDI 3492-2013 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- VDI 3861 Blatt 2-2008 Выбросы из стационарных источников. Измерение неорганических волокнистых частиц в выхлопных газах. Метод сканирующей электронной микроскопии.
Professional Standard - Nuclear Industry, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- EJ/T 20176-2018 Метод измерения остроты кромки алмазного инструмента с помощью атомно-силового микроскопа
American Society for Testing and Materials (ASTM), Измерение с помощью инструментального микроскопа
- ASTM F728-81(1997)e1 Стандартная практика подготовки оптического микроскопа к измерениям размеров
- ASTM F72-95(2001) Стандартные спецификации на золотую проволоку для соединения полупроводниковых выводов
- ASTM E3060-16 Стандартное руководство по измерению невидимых частиц в биофармацевтическом производстве с использованием динамической (проточной) визуализационной микроскопии
- ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
- ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
- ASTM E2859-11(2017) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
- ASTM E285-08(2015) Стандартный метод испытаний теплоизоляционных материалов ацетиленовой абляцией
- ASTM E1813-96e1 Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
- ASTM E1813-96(2002) Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
- ASTM E1813-96(2007) Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
- ASTM E2859-11 Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
- ASTM E2859-11(2023) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
- ASTM D5235-13 Стандартный метод испытаний для микроскопического измерения толщины сухой пленки покрытий на изделиях из древесины
- ASTM D5235-14 Стандартный метод испытаний для микроскопического измерения толщины сухой пленки покрытий на изделиях из древесины
- ASTM B748-90(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM D5235-18 Стандартный метод испытаний для микроскопического измерения толщины сухой пленки покрытий на изделиях из древесины
- ASTM D7201-06(2011) Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с возможностью просвечивающей электронной микроскопии)
- ASTM D5235-97 Стандартный метод испытаний для микроскопического измерения толщины сухой пленки покрытий на изделиях из древесины
- ASTM B748-90(2021) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(2016) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(2010) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
(U.S.) Ford Automotive Standards, Измерение с помощью инструментального микроскопа
HU-MSZT, Измерение с помощью инструментального микроскопа
Professional Standard - Petrochemical Industry, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- SH/T 0336-1994 Метод определения содержания примесей смазки (микроскопический метод)
British Standards Institution (BSI), Измерение с помощью инструментального микроскопа
- BS ISO 19056-3:2022 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Флуоресцентная микроскопия падающего света с источниками некогерентного света.
- BS ISO 19056-2:2019 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Свойства освещения, связанные с цветом, в микроскопии светлого поля.
- BS ISO 19056-1:2015 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещенности. Яркость и однородность изображения в микроскопии светлого поля
- BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- 18/30339980 DC БС ИСО 19056-2. Микроскопы. Определение и измерение свойств освещенности. Часть 2. Свойства освещения, связанные с цветом, в светлопольной микроскопии
- 21/30395346 DC БС ИСО 19056-3. Микроскопы. Определение и измерение свойств освещенности. Часть 3. Флуоресцентная микроскопия падающего света с источниками некогерентного света.
- BS IEC 63145-21-20:2022 Дисплей в очках — специальные методы измерения качества изображения VR. Эффект сетчатой двери
- BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
- 19/30351707 DC BS ISO 21222. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
- 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
- BS ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
- BS ISO 19749:2021 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
- 20/30395419 DC BS EN ISO 1463. Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод
- BS ISO 22262-2:2014 Качество воздуха. Объемные материалы. Количественное определение асбеста гравиметрическими и микроскопическими методами.
- BS EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
- BS EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- BS ISO 21363:2020 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
- 20/30380369 DC BS ISO 23420. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
- BS ISO 18337:2015 Химический анализ поверхности. Характеристика поверхности. Измерение латерального разрешения конфокального флуоресцентного микроскопа
- 23/30420097 DC BS ISO 23124 Химический анализ поверхности. Измерение латерального и осевого разрешения рамановского микроскопа
- BS ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
- BS ISO 8672:2014 Качество воздуха. Определение количественной концентрации аэрозольных неорганических волокон методом фазово-контрастной оптической микроскопии. Метод мембранного фильтра
Group Standards of the People's Republic of China, Измерение с помощью инструментального микроскопа
CZ-CSN, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- CSN 65 6337-1974 Определение содержания механических примесей с помощью микроскопа
- CSN ISO 1463:1993 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- GB/T 29190-2012 Методы измерения скорости дрейфа сканирующего зондового микроскопа
- GB/T 6462-2005 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
- GB/T 42659-2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Калибровка измерительной системы.
- GB/T 31227-2014 Метод контроля шероховатости поверхности атомно-силовым микроскопом напыленных тонких пленок
- GB/T 32282-2015 Измерение плотности дислокаций в монокристалле нитрида галлия методом катодолюминесцентной микроскопии
- GB/T 6462-1986 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
VN-TCVN, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- TCVN 6035-1995 Текстиль.Хлопковое волокно.Оценка зрелости.Микроскопический метод.
PT-IPQ, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- NP 3160-1986 текстиль. Измерение диаметра волокна. Метод проекции микроскопа
- NP 3563-1988 Текстиль Хлопковое волокно. Оценка зрелости. Микроскопический метод
Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Измерение с помощью инструментального микроскопа
KR-KS, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- KS D 2716-2023 Измерение диаметра наночастиц — Просвечивающий электронный микроскоп
- KS C ISO 19749-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- KS C ISO 21363-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
FI-SFS, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- SFS 3458-1989 пластик. Микроскопическое определение содержания черной сажи в полиэтилене
Association Francaise de Normalisation, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- NF G06-008*NF EN ISO 20705:2020 Текстиль. Количественный микроскопический анализ. Общие принципы тестирования.
- NF EN ISO 20705:2020 Текстиль. Количественный анализ с помощью микроскопа. Общие принципы тестирования.
- NF A91-110:2004 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
- NF A91-110*NF EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
- NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF T16-404:2020 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- NF X43-050:2021 Качество воздуха. Определение концентрации асбестового волокна методом просвечивающей электронной микроскопии. Косвенный метод.
- NF X43-050:1996 Качество воздуха. Определение концентрации асбестовых волокон методом просвечивающей электронной микроскопии. Косвенный метод.
SE-SIS, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- SIS SS-ISO 1463:1983 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
- SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- SIS SS 11 11 15-1985 Сталь. Метод оценки содержания шлаковых включений. Микроскопические методы. Ручной подсчет частиц и расчет распределения по размерам.
- SIS SMS 2953-1971 Измерение толщины металлических и оксидных покрытий путем микроскопического исследования поперечных сечений.
RO-ASRO, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- STAS 10552-1976 ОПРЕДЕЛЕНИЕ СОДЕРЖАНИЯ ДЕЛЬТА-ФЕРРИТА В НАПЛАВЛЕННОМ МЕТАЛЛЕ ПРИ СВАРКЕ АУСТЕНИТНЫХ СТАЛЕЙ Микроскопический метод
- STAS 9070-1981 ШЕРСТЬ. Определение диаметра волокон и содержания сердцевинных волокон с помощью проекционного микроскопа.
ZA-SANS, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- SANS 144:1982 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
- SANS 5949:2005 Инструментальные и подшипниковые стали. Микрографический метод оценки распределения карбидов с использованием эталонных микрофотографий.
German Institute for Standardization, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- DIN 58959-4:1997 Менеджмент качества в медицинской микробиологии. Часть 4. Требования к исследованиям с использованием световых микроскопов
- DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.
- DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
- DIN EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021); Немецкая и английская версия prEN ISO 9220:2021.
European Committee for Standardization (CEN), Измерение с помощью инструментального микроскопа
- EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
- EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220: 1988).
- EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
- prEN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)
- prEN ISO 21363:2021 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)
Danish Standards Foundation, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- DS/EN ISO 1463:1994 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
- DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- DS/ISO 19749:2021 Нанотехнологии – Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- DS/EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021).
PL-PKN, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- PN C05551-1987 Вода и сточные воды. Определение численности фитопланктона с помощью инвертированного микроскопа.
ES-UNE, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- UNE-EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)
- UNE-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
- UNE-EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в феврале 2022 г.)
- UNE-EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в мае 2023 г.)
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- GB/T 40066-2021 Нанотехнологии — Измерение толщины оксида графена — Атомно-силовая микроскопия (АСМ).
Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- GJB 5891.5-2006 Метод испытания загрузки материала для инициирования взрывного устройства. Часть 5. Измерение размера зерна. Микроскопия.
PH-BPS, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- PNS ISO 21363:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
Professional Standard - Commodity Inspection, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- SN/T 3231-2012 Определение асбеста в тальке. Поляризационный микроскоп и рентгеноструктурный метод.
AENOR, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- UNE-EN ISO 9220:1996 МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ. ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ. МЕТОД РАССИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ. (ИСО 9220:1988).
- UNE-EN ISO 1463:2005 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2003).
Lithuanian Standards Office , Измерение с помощью инструментального микроскопа
- LST EN ISO 9220:2001 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)
- LST EN ISO 1463:2004 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2003).
- LST EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)
AT-ON, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- OENORM EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)
- OENORM EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)
- OENORM EN ISO 21363:2021 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)
CH-SNV, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- SN EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)
IT-UNI, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- UNI 6859-1971 Измерительные инструменты. Манометры для микрометров с сотнями разрядов
NO-SN, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- NS 1181-1979 Металлическое и оксидное покрытие. Измерение толщины путем микроскопического исследования поперечного сечения.
CU-NC, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- NC 90-01-50-1987 Метрологическое обеспечение. Инструментальные микроскопы. Методы и средства проверки.
Professional Standard - Aviation, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- HB 5931.8-1989 Испытание на загрязнение гидросистемы самолета - определение степени загрязнения рабочей жидкости твердыми частицами контрастным методом микроскопа
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- GJB 380.8-1998 Испытание на загрязнение гидросистемы самолета методом микроскопического сравнения для определения степени загрязнения рабочей жидкости твердыми частицами.
International Electrotechnical Commission (IEC), Измерение с помощью инструментального микроскопа
- IEC 63145-21-20:2022 Дисплей в очках. Часть 21–20. Специальные методы измерения качества изображения VR. Эффект экранной двери
工业和信息化部, Измерение с помощью инструментального микроскопа
- SJ/T 11759-2020 Измерение соотношения сторон линии электродной сетки фотоэлектрического элемента Лазерная сканирующая конфокальная микроскопия
American National Standards Institute (ANSI), Измерение с помощью инструментального микроскопа
- ANSI/ASTM D6057:2001 Метод испытаний для определения концентрации аэрозольных монокристаллических керамических усов в рабочей среде методом фазово-контрастной микроскопии