ZH
EN
ES

СЗМ-сканирующий зондовый микроскоп

СЗМ-сканирующий зондовый микроскоп, Всего: 18 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к СЗМ-сканирующий зондовый микроскоп, являются: Аналитическая химия, Цветные металлы, Образование, Оптика и оптические измерения, Оптическое оборудование, Словари, Линейные и угловые измерения, Механические испытания.

International Organization for Standardization (ISO), СЗМ-сканирующий зондовый микроскоп

ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ. Калибровка измерительных систем.
ISO 11952:2014 Химический анализ поверхности - Сканирующая зондовая микроскопия - Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
ISO/WD TR 23683:2023 Химический анализ поверхности. сканирующая зондовая микроскопия. Руководство по экспериментальному количественному определению концентрации носителей заряда в полупроводниковых устройствах с использованием электрической сканирующей зондовой микроскопии.
ISO 11039:2012 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Измерение скорости дрейфа.
ISO 18115-2:2021 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.

British Standards Institution (BSI), СЗМ-сканирующий зондовый микроскоп

BS ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
BS ISO 18115-2:2013 Химический анализ поверхности. Словарный запас. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
BS ISO 28600:2011 Химический анализ поверхности. Формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии
BS ISO 18115-2:2021 Химический анализ поверхности. Словарь - Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), СЗМ-сканирующий зондовый микроскоп

KS D 2714-2016(2021) Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
KS D 2714-2016 Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
KS D 2714-2006 Сканирующий зондовый микроскоп. Метод микроскопа боковой силы.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, СЗМ-сканирующий зондовый микроскоп

JJF 1351-2012 Спецификация калибровки для сканирующих зондовых микроскопов

Professional Standard - Education, СЗМ-сканирующий зондовый микроскоп

JY/T 0582-2020 Общие правила проведения аналитических методов сканирующей зондовой микроскопии

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, СЗМ-сканирующий зондовый микроскоп

GB/T 29190-2012 Методы измерения скорости дрейфа сканирующего зондового микроскопа
GB/T 42659-2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Калибровка измерительной системы.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, СЗМ-сканирующий зондовый микроскоп

GB/T 36052-2018 Химический анализ поверхности — формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии.

Association of German Mechanical Engineers, СЗМ-сканирующий зондовый микроскоп

VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Определение геометрических величин с помощью сканирующих зондовых микроскопов - Калибровка измерительных систем