ZH
EN
ES
СЗМ-сканирующий микроскоп
СЗМ-сканирующий микроскоп, Всего: 44 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к СЗМ-сканирующий микроскоп, являются: Аналитическая химия, Цветные металлы, Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Линейные и угловые измерения, Словари, Образование, Качество воздуха, Защита от преступности, Термодинамика и измерения температуры.
International Organization for Standardization (ISO), СЗМ-сканирующий микроскоп
- ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ. Калибровка измерительных систем.
- ISO 11952:2014 Химический анализ поверхности - Сканирующая зондовая микроскопия - Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
- ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
- ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
British Standards Institution (BSI), СЗМ-сканирующий микроскоп
- BS ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), СЗМ-сканирующий микроскоп
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), СЗМ-сканирующий микроскоп
- JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, СЗМ-сканирующий микроскоп
- JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)
- JJF 1351-2012 Спецификация калибровки для сканирующих зондовых микроскопов
Professional Standard - Machinery, СЗМ-сканирующий микроскоп
- JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
- JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, СЗМ-сканирующий микроскоп
- JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
- JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа
KR-KS, СЗМ-сканирующий микроскоп
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, СЗМ-сканирующий микроскоп
- GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.
American Society for Testing and Materials (ASTM), СЗМ-сканирующий микроскоп
- ASTM E2382-04(2020) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
- ASTM E2382-04 Руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
- ASTM E2382-04(2012) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
- ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
Professional Standard - Commodity Inspection, СЗМ-сканирующий микроскоп
- SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.
Professional Standard - Education, СЗМ-сканирующий микроскоп
- JY/T 0582-2020 Общие правила проведения аналитических методов сканирующей зондовой микроскопии
- JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
- JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии
- JY/T 0586-2020 Общие правила аналитических методов лазерной сканирующей конфокальной микроскопии
Professional Standard - Petroleum, СЗМ-сканирующий микроскоп
- SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
- SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
- SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, СЗМ-сканирующий микроскоп
- DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, СЗМ-сканирующий микроскоп
- GB/T 29190-2012 Методы измерения скорости дрейфа сканирующего зондового микроскопа
- GB/T 42659-2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Калибровка измерительной системы.
国家能源局, СЗМ-сканирующий микроскоп
- SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
Professional Standard - Judicatory, СЗМ-сканирующий микроскоп
Group Standards of the People's Republic of China, СЗМ-сканирующий микроскоп