ZH
EN
ES

рентгеновский анализ поверхности

рентгеновский анализ поверхности, Всего: 85 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к рентгеновский анализ поверхности, являются: Аналитическая химия, Оптика и оптические измерения, Линейные и угловые измерения.

British Standards Institution (BSI), рентгеновский анализ поверхности

BS ISO 13424:2013 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о результатах тонкопленочного анализа
BS ISO 10810:2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Рекомендации по анализу
BS ISO 10810:2019 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Рекомендации по анализу
BS ISO 15472:2010 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал
BS ISO 14701:2011 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния
BS ISO 16243:2011 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
BS ISO 21270:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
BS ISO 16129:2012 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра
BS ISO 15470:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
BS ISO 15470:2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора
BS ISO 14701:2018 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния
BS ISO 24237:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
BS ISO 16129:2018 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра
BS ISO 19318:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
BS ISO 21270:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности
BS ISO 19668:2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Оценка и отчетность по пределам обнаружения элементов в однородных материалах
BS ISO 20289:2018 Химический анализ поверхности. Рентгенофлуоресцентный анализ воды с полным отражением
20/30423741 DC BS ISO 19318. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчетность о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда
BS ISO 19318:2021 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчетность о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда

International Organization for Standardization (ISO), рентгеновский анализ поверхности

ISO 10810:2019 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу.
ISO 10810:2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу
ISO 15472:2010 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал
ISO 15472:2001 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал
ISO 13424:2013 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о результатах тонкопленочного анализа.
ISO/TR 18392:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы определения фона.
ISO/CD TR 18392:2023 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы определения фона.
ISO 14701:2018 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния.
ISO 14701:2011 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния.
ISO 15470:2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
ISO 16243:2011 Химический анализ поверхности - запись и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
ISO 16129:2018 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
ISO 16129:2012 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
ISO 15470:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
ISO 24237:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
ISO 21270:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
ISO 19318:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
ISO 19318:2021 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
ISO/CD 5861 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Метод калибровки интенсивности для монохроматированных кварцевых приборов Al Kα XPS.
ISO/DIS 5861:2023 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Метод калибровки интенсивности для монохроматированных кварцевых приборов Al Kα XPS.
ISO 19668:2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Оценка и отчетность о пределах обнаружения элементов в однородных материалах.
ISO 20289:2018 Химический анализ поверхности - Рентгенофлуоресцентный анализ воды с полным отражением
ISO 22581:2021 Химический анализ поверхности. Информация, полученная в режиме, близком к реальному времени, при сканировании рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Правила идентификации и коррекции загрязнения поверхности углеродосодержащими веществами.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, рентгеновский анализ поверхности

GB/T 30704-2014 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Рекомендации по проведению анализа.
GB/Z 32490-2016 Методика определения фона методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для химического анализа поверхности
GB/T 22571-2008 Химический анализ поверхности.Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры.Калибровка энергетических шкал.
GB/T 28892-2012 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
GB/T 28633-2012 Химический анализ поверхности.Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
GB/T 21006-2007 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
GB/T 25185-2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах контроля и коррекции заряда.
GB/T 42360-2023 Рентгенофлуоресцентный спектроскопический анализ воды с полным отражением для химического анализа поверхности

Association Francaise de Normalisation, рентгеновский анализ поверхности

NF X21-071:2011 Химический анализ поверхности - Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по анализу.
NF X21-055:2006 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал.
NF X21-073*NF ISO 16243:2012 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).
NF ISO 16243:2012 Химический анализ поверхностей - регистрация и отчетность данных рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), рентгеновский анализ поверхности

KS D ISO 14706-2003(2018) Химический анализ поверхности - определение элементарных примесей на поверхности кремниевой пластины с помощью рентгенофлуоресцентного анализатора полного отражения
KS D ISO 15472-2003(2018) Химический анализ поверхности — рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия — коррекция калибровки по энергии
KS D ISO 15472:2003 Химический анализ поверхности-Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры-Калибровка энергетических шкал
KS D ISO 15470-2005(2020) Химический анализ поверхности－Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия－Описание выбранных параметров работы прибора
KS D ISO 15470:2005 Химический анализ поверхности－Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия－Описание выбранных параметров работы прибора
KS D ISO 19318-2005(2020) Химический анализ поверхности – рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
KS D ISO 21270:2005 Химический анализ поверхности－Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры－Линейность шкалы интенсивности
KS D ISO 19318:2005 Химический анализ поверхности – рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
KS D ISO 21270-2005(2020) Химический анализ поверхности－Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры－Линейность шкалы интенсивности
KS D ISO 14706:2003 Химический анализ поверхности – определение поверхностного элементарного загрязнения кремниевых пластин методом рентгеновской флуоресцентной спектроскопии полного отражения (TXRF).

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, рентгеновский анализ поверхности

GB/T 36401-2018 Химический анализ поверхности — рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия — отчет о результатах анализа тонких пленок.
GB/T 40110-2021 Химический анализ поверхности. Определение поверхностного элементарного загрязнения кремниевых пластин методом рентгеновской флуоресцентной спектроскопии полного отражения (TXRF).

KR-KS, рентгеновский анализ поверхности

KS D ISO 14706-2003(2023) Химический анализ поверхности - определение элементарных примесей на поверхности кремниевой пластины с помощью рентгенофлуоресцентного анализатора полного отражения
KS D ISO 15472-2003(2023) Химический анализ поверхности. Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр. Калибровка энергетической шкалы.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), рентгеновский анализ поверхности

JIS K 0145:2002 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал.
JIS K 0152:2014 Химический анализ поверхности.Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
JIS K 0162:2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
JIS K 0181:2021 Химический анализ поверхности. Рентгенофлуоресцентный анализ воды с полным отражением.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, рентгеновский анализ поверхности

GB/T 22571-2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал.
GB/T 33502-2017 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).

Standard Association of Australia （SAA）, рентгеновский анализ поверхности

AS ISO 15472:2006 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал
AS ISO 15470:2006 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
AS ISO 24237:2006 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
AS ISO 19318:2006 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.

German Institute for Standardization, рентгеновский анализ поверхности

DIN ISO 15472:2020-05 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал (ISO 15472:2010)
DIN ISO 16129:2020-11 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методики оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра (ISO 16129:2018); Текст на английском языке
DIN ISO 15472:2020 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал (ISO 15472:2010); Текст на английском языке
DIN ISO 16129:2020 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методики оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра (ISO 16129:2018); Текст на английском языке

未注明发布机构, рентгеновский анализ поверхности

BS ISO 21270:2004(2010) Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.

RU-GOST R, рентгеновский анализ поверхности

GOST R ISO 16243-2016 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)

PT-IPQ, рентгеновский анализ поверхности

E E 14-1971 Рентгеноструктурный анализ