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x射线 表面 分析
本专题涉及x射线 表面 分析的标准有85条。
国际标准分类中，x射线 表面 分析涉及到分析化学、光学和光学测量、长度和角度测量。
在中国标准分类中，x射线 表面 分析涉及到基础标准与通用方法、实验室基础设备、电子光学与其他物理光学仪器、化学、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置。
英国标准学会，关于x射线 表面 分析的标准
- BS ISO 13424:2013 表面化学分析.X射线光谱.薄膜分析报表
- BS ISO 10810:2019 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
- BS ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析指南
- BS ISO 15472:2010 表面化学分析.X射线光电子分光计.能量等级的校准
- BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 氧化硅厚度的测量
- BS ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量
- BS ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 X 射线光电子能谱仪日常性能评估程序
- BS ISO 21270:2005 表面化学分析.X射线光电子和俄歇电子光谱仪.强度标的线性度
- BS ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
- BS ISO 15470:2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- BS ISO 15470:2017 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- BS ISO 24237:2005 表面化学分析.X射线光电子光谱学.强度标的可重复性和稳定性
- BS ISO 19318:2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.电荷控制和电荷校正方法的报告
- BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度尺度的线性
- BS ISO 19668:2017 表面化学分析 X射线光电子能谱 均质材料中元素检测限的估计和报告
- BS ISO 19318:2021 表面化学分析 X射线光电子能谱 报告用于电荷控制和电荷校正的方法
- BS ISO 20289:2018 表面化学分析 水的全反射X射线荧光分析
- 20/30423741 DC BS ISO 19318 表面化学分析 X射线光电子能谱 报告用于电荷控制和电荷校正的方法
国际标准化组织，关于x射线 表面 分析的标准
- ISO 10810:2019 表面化学分析 - X射线光电子能谱分析指南
- ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱学.分析导则
- ISO 15472:2010 表面化学分析.X射线光电谱仪.能量刻度表校准
- ISO 15472:2001 表面化学分析 X射线光电谱仪 能量刻度表校准
- ISO 13424:2013 表面化学分析——X射线光电子能谱；薄膜分析结果的报告
- ISO/TR 18392:2005 表面化学分析.X射线光电子光谱学.背景测定程序
- ISO/CD TR 18392:2023 表面化学分析 X 射线光电子能谱 确定背景的程序
- ISO 14701:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
- ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱.二氧化硅厚度的测量
- ISO 15470:2017 表面化学分析. X射线光电子能谱. 选择仪器性能参数说明
- ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- ISO 16129:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法
- ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
- ISO 15470:2004 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- ISO 24237:2005 表面化学分析.X射线光电子光谱法.强度的可重复性和稳定性
- ISO 21270:2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
- ISO 19318:2004 表面化学分析.X射线光电光谱法.电荷控制和电荷校正方法的报告
- ISO 19318:2021 表面化学分析. X射线光电光谱法. 电荷控制和电荷校正方法的报告
- ISO/CD 5861 表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色Al Ka XPS仪器强度校准方法
- ISO/DIS 5861:2023 表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色 Al Kα XPS 仪器强度校准方法
- ISO 19668:2017 表面化学分析.X射线光电子能谱学.均匀材料中元素检测极限的估算和报告
- ISO 20289:2018 表面化学分析.水的全反射X射线荧光分析
- ISO 22581:2021 表面化学分析X射线光电子能谱测量扫描的近实时信息含碳化合物表面污染的识别和校正规则
国家质检总局，关于x射线 表面 分析的标准
- GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
- GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序
- GB/T 22571-2008 表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准
- GB/T 28892-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.选择仪器性能参数的表述
- GB/T 28633-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.强度标的重复性和一致性
- GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
- GB/T 25185-2010 表面化学分析.X射线光电子能谱.荷电控制和荷电校正方法的报告
- GB/T 42360-2023 表面化学分析 水的全反射X射线荧光光谱分析
法国标准化协会，关于x射线 表面 分析的标准
- NF X21-071:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析用导则
- NF X21-055:2006 表面化学分析.X射线光电谱仪.能量刻度表校准
- NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 射线光电子能谱(XPS)中的数据记录和报告
韩国科技标准局，关于x射线 表面 分析的标准
- KS D ISO 14706-2003(2018) 表面化学分析-全反射X-射线荧光分析仪测定硅片表面元素杂质
- KS D ISO 15472-2003(2018) 表面化学分析-X射线光电子分光器-能量刻度矫正
- KS D ISO 15472:2003 表面化学分析.X射线光电光谱仪.能量刻度的校正
- KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪部分性能参数说明
- KS D ISO 15470:2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- KS D ISO 19318-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱电荷控制和电荷校正方法报告
- KS D ISO 21270:2005 表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
- KS D ISO 19318:2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.电荷控制和电荷校正方法的报告
- KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标度的线性
- KS D ISO 14706:2003 表面化学分析.用全反射X射线荧光光谱法测定硅圆片表面主要污物
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于x射线 表面 分析的标准
- GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告
- GB/T 40110-2021 表面化学分析 全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定硅片表面元素污染
KR-KS，关于x射线 表面 分析的标准
- KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化学分析-全反射X射线荧光分析仪测定硅晶片表面元素杂质
- KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析-X射线光电子能谱仪-能量刻度的校准
日本工业标准调查会，关于x射线 表面 分析的标准
- JIS K 0145:2002 表面化学分析.X射线光电子分光计.能量刻度的校准
- JIS K 0152:2014 表面化学分析. X射线光电子能谱分析. 强度标的重复性和一致性
- JIS K 0162:2010 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- JIS K 0181:2021 表面化学分析 水的全反射X射线荧光分析
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于x射线 表面 分析的标准
- GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
- GB/T 33502-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）数据记录与报告的规范要求
澳大利亚标准协会，关于x射线 表面 分析的标准
- AS ISO 15472:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱法．能量标度的校准
- AS ISO 15470:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱法．选定仪器性能参数的描述
- AS ISO 24237:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱学．强度标的可重复性和恒定性
- AS ISO 19318:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱学．电荷控制和电荷调整用报告法
德国标准化学会，关于x射线 表面 分析的标准
- DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 射线光电子能谱仪 - 能量标度校准 (ISO 15472:2010)
- DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X射线光电子能谱 X射线光电子能谱仪日常性能评估程序
- DIN ISO 15472:2020 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪 能标校准（ISO 15472:2010）；英文文本
- DIN ISO 16129:2020 表面化学分析. X射线光电子能谱-评估X射线光电子能谱仪的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本
未注明发布机构，关于x射线 表面 分析的标准
- BS ISO 21270:2004(2010) 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标度线性度
RU-GOST R，关于x射线 表面 分析的标准
- GOST R ISO 16243-2016 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. X射线光电子能谱 (XPS) 的记录和报告数据
PT-IPQ，关于x射线 表面 分析的标准
- E E 14-1971 X射线衍射分析
