ZH

EN

ES

Использование нескольких электронных микроскопов.

Использование нескольких электронных микроскопов., Всего: 62 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Использование нескольких электронных микроскопов., являются: Линейные и угловые измерения, Механические испытания, Аналитическая химия, Качество воды, Сырье для резины и пластмасс, Лампы и сопутствующее оборудование, Испытание металлов, Оптика и оптические измерения, Краски и лаки, Физика. Химия, Электрические аксессуары, Изоляционные материалы, Радиосвязь, Обработка поверхности и покрытие, Технология строительства, Оптическое оборудование, Смазочные материалы, индустриальные масла и сопутствующие товары, Электротехника в целом, Компоненты для электрооборудования, Качество воздуха, Телевидение и радиовещание.


Association of German Mechanical Engineers, Использование нескольких электронных микроскопов.

  • VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Определение геометрических величин с помощью сканирующих зондовых микроскопов - Калибровка измерительных систем

Association Francaise de Normalisation, Использование нескольких электронных микроскопов.

  • NF Q00-004:1970 Бумага. Способ выражения готовых размеров писчей бумаги и отдельных классов печатной продукции.
  • NF EN 61347-2-11/A1:2019 Аппаратура управления лампой. Часть 2-11: Особые требования к различным электронным схемам, используемым в светильниках
  • NF EN 61347-2-11:2002 Аппаратура управления лампой. Часть 2-11: Особые требования к различным электронным схемам, используемым в светильниках

TIA - Telecommunications Industry Association, Использование нескольких электронных микроскопов.

  • TIA/EIA-455-45-B-1992 Метод FOTP-45 для измерения геометрии оптического волокна с помощью лабораторного микроскопа (отозвано в мае 2003 г.)

British Standards Institution (BSI), Использование нескольких электронных микроскопов.

  • BS ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
  • BS EN ISO 15680:2003 Качество воды. Газохроматографическое определение ряда моноциклических ароматических углеводородов, нафталина и ряда хлорированных соединений методами продувки и улавливания и термической десорбции.
  • BS EN 61347-2-11:2002 Аппаратура управления лампами. Особые требования к различным электронным схемам, используемым в светильниках.
  • BS EN 61347-2-11:2001+A1:2019 Устройство управления лампой. Особые требования к различным электронным схемам, используемым в светильниках
  • PD ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии. Реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии
  • 19/30392326 DC БС ЕН 61347-2-11. Устройство управления лампой. Часть 2-11. Частные требования к различным электронным схемам, используемым в светильниках
  • 20/30424117 DC БС ЕН МЭК 61347-2-11. Аппаратура управления источниками электрического света. Часть 2-11. Особые требования к различным электронным схемам, используемым в светильниках
  • 22/30454698 DC БС ЕН МЭК 61347-2-11. Аппаратура управления источниками электрического света. Безопасность. Часть 2-11. Особые требования к различным электронным схемам, используемым в светильниках

Danish Standards Foundation, Использование нескольких электронных микроскопов.

  • DS/EN ISO 15680:2004 Качество воды. Газохроматографическое определение ряда моноциклических ароматических углеводородов, нафталина и ряда хлорсодержащих соединений методами продувки и улавливания и термической десорбции.
  • DS/ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии - реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии.

German Institute for Standardization, Использование нескольких электронных микроскопов.

  • DIN EN ISO 15680:2004-04 Качество воды. Газохроматографическое определение ряда моноциклических ароматических углеводородов, нафталина и некоторых хлорированных соединений с использованием продувки и улавливания и термической десорбции (ISO 15680:2003); Немецкая версия EN ISO 15680:2003.
  • DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)

Lithuanian Standards Office , Использование нескольких электронных микроскопов.

  • LST EN ISO 15680:2004 Качество воды. Газохроматографическое определение ряда моноциклических ароматических углеводородов, нафталина и некоторых хлорированных соединений с использованием продувки и улавливания и термической десорбции (ISO 15680:2003).

AENOR, Использование нескольких электронных микроскопов.

  • UNE-EN ISO 15680:2004 Качество воды. Газохроматографическое определение ряда моноциклических ароматических углеводородов, нафталина и некоторых хлорированных соединений с использованием продувки и улавливания и термической десорбции (ISO 15680:2003).
  • UNE-EN 61347-2-11:2003 Аппаратура управления лампой. Часть 2-11. Частные требования к различным электронным схемам, используемым в светильниках

American Society for Testing and Materials (ASTM), Использование нескольких электронных микроскопов.

  • ASTM D3849-14a Стандартный метод определения технического углерода — морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
  • ASTM E2809-13 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/рентгеновской спектрометрии при судебно-медицинской экспертизе красок
  • ASTM D5288-10 Стандартный метод испытаний для определения индекса отслеживания электроизоляционных материалов с использованием различных материалов электродов (кроме платины)
  • ASTM D5288-14 Стандартный метод испытаний для определения индекса отслеживания электроизоляционных материалов с использованием различных материалов электродов (кроме платины)
  • ASTM D5288-21 Стандартный метод испытаний для определения индекса отслеживания электроизоляционных материалов с использованием различных материалов электродов (кроме платины)
  • ASTM B651-83(2019) Стандартный метод испытаний для измерения мест коррозии на гальванических поверхностях никель плюс хром или медь плюс никель плюс хром с помощью двухлучевого интерференционного микроскопа
  • ASTM E280-98(2004)e1 Стандартные эталонные рентгенограммы толстостенных (от 4 &189; до 12 дюймов [от 114 до 305 мм]) стальных отливок
  • ASTM E280-21 Стандартные эталонные рентгенограммы стальных отливок с толстыми стенками (от 412 до 12 дюймов (от 114 до 305 мм))
  • ASTM E2809-22 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (СЭМ/ЭДС) при судебно-медицинской экспертизе полимеров
  • ASTM D7416-08 Стандартная практика анализа смазочных материалов, находящихся в эксплуатации, с использованием конкретной пятичастной (диэлектрическая проницаемость, диэлектрическая проницаемость с временным разрешением и переключающимися магнитными полями, лазерный счетчик частиц)
  • ASTM E2090-06 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
  • ASTM E2090-12(2020) Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
  • ASTM D8526-23 Стандартный метод испытаний аналитической процедуры с использованием просвечивающей электронной микроскопии для определения концентрации углеродных нанотрубок и частиц, содержащих углеродные нанотрубки, в окружающей среде
  • ASTM D7416-09 Стандартная практика анализа смазочных материалов, находящихся в эксплуатации, с использованием конкретных пятикомпонентных показателей (диэлектрическая проницаемость, диэлектрическая проницаемость с временным разрешением и переключающимися магнитными полями, лазерный счетчик частиц, микроскопический анализ мусора и орбитальная вязкость).

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Использование нескольких электронных микроскопов.

  • KS I ISO 15680:2022 Качество воды. Газохроматографическое определение ряда моноциклических ароматических углеводородов, нафталина и некоторых хлорированных соединений с использованием продувки и улавливания и термической десорбции.
  • KS C IEC 61347-2-11-2002(2017) Аппаратура управления лампой? Часть 2-11. Особые требования к различным электронным схемам, используемым в светильниках.
  • KS C IEC 61020-3-2002(2008) Электромеханические переключатели для использования в электронном оборудовании. Часть 3: Секционные характеристики встроенных переключателей.

KR-KS, Использование нескольких электронных микроскопов.

  • KS I ISO 15680-2022 Качество воды. Газохроматографическое определение ряда моноциклических ароматических углеводородов, нафталина и некоторых хлорированных соединений с использованием продувки и улавливания и термической десорбции.

BE-NBN, Использование нескольких электронных микроскопов.

  • NBN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988).

IT-UNI, Использование нескольких электронных микроскопов.

  • UNI 7329-1974 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для исследования микроструктуры.

International Organization for Standardization (ISO), Использование нескольких электронных микроскопов.

  • ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
  • ISO/WD TR 23683:2023 Химический анализ поверхности. сканирующая зондовая микроскопия. Руководство по экспериментальному количественному определению концентрации носителей заряда в полупроводниковых устройствах с использованием электрической сканирующей зондовой микроскопии.
  • ISO 8322-10:1995 Строительство зданий. Измерительные приборы. Процедуры определения точности при использовании. Часть 10. Разница между нестеклянными отражателями и электронными призмами для измерения расстояния (традиционными стеклянными призмами).
  • ISO/FDIS 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
  • ISO 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.

ES-UNE, Использование нескольких электронных микроскопов.

  • UNE-EN 61347-2-11:2003/A1:2019 Аппаратура управления лампой. Часть 2-11. Частные требования к различным электронным схемам, используемым в светильниках.

ZA-SANS, Использование нескольких электронных микроскопов.

  • SANS 61347-2-11:2018 Аппаратура управления лампой. Часть 2-11. Особые требования к различным электронным схемам, используемым в светильниках.

IN-BIS, Использование нескольких электронных микроскопов.

  • IS 2032 Pt.2-1962 Графические обозначения, используемые в электротехнике Часть II Виды и способы подключения систем распределения тока

American National Standards Institute (ANSI), Использование нескольких электронных микроскопов.

  • ANSI/ASTM D5288:2010 Метод испытаний для определения индекса отслеживания электроизоляционных материалов с использованием различных электродных материалов (кроме платины)

International Telecommunication Union (ITU), Использование нескольких электронных микроскопов.

  • ITU-T F.30-1993 Использование различных последовательностей комбинаций для специальных целей – операции и качество обслуживания; Телеграфные службы (Исследовательская группа I) 5 стр.
  • ITU-T F.30 FRENCH-1993 Использование различных последовательностей комбинаций для специальных целей – операции и качество обслуживания; Телеграфные службы (Исследовательская группа I) 5 стр.
  • ITU-T F.30 SPANISH-1993 Использование различных последовательностей комбинаций для специальных целей – операции и качество обслуживания; Телеграфные службы (Исследовательская группа I) 5 стр.
  • ITU-R BT.1845-2008 Рекомендации по показателям, которые следует использовать при адаптации телевизионных программ к приложениям вещания с различными уровнями качества и размерами изображения
  • ITU-R BT.1845 ARABIC-2008 Рекомендации по показателям, которые следует использовать при адаптации телевизионных программ к приложениям вещания с различными уровнями качества и размерами изображения
  • ITU-R BT.1845 CHINESE-2008 Рекомендации по показателям, которые следует использовать при адаптации телевизионных программ к приложениям вещания с различными уровнями качества и размерами изображения
  • ITU-R BT.1845 RUSSIAN-2008 Рекомендации по показателям, которые следует использовать при адаптации телевизионных программ к приложениям вещания с различными уровнями качества и размерами изображения ???????????? ????????? ?? ??????????, ??????? ??????? ???????????? ??? ????????? ????????????? ????????? ? ??????
  • ITU-R BT.1845 SPANISH-2008 Рекомендации по показателям, которые следует использовать при адаптации телевизионных программ к приложениям вещания с различными уровнями качества изображения и размерами.
  • ITU-R BT.1845-2010 Рекомендации по показателям, которые следует использовать при адаптации телевизионных программ к приложениям вещания с различными уровнями качества изображения, размерами дисплеев и соотношениями сторон.

Standard Association of Australia (SAA), Использование нескольких электронных микроскопов.

  • AS/NZS 61347-2-11:2003 Аппаратура управления лампой. Часть 2.11. Особые требования к различным электронным схемам, используемым в светильниках (IEC 61347-2-11:2001 MOD).

RU-GOST R, Использование нескольких электронных микроскопов.

  • GOST 15543-1970 Электротехнические статьи. Применение для разных климатических регионов. Общие технические требования по влиянию климатических аспектов окружающей среды

BELST, Использование нескольких электронных микроскопов.

  • STB 2210-2011 Наноразмерные углеродные и неуглеродные материалы и композиты на их основе. Метод определения параметров с использованием измерений сканирующей электронной микроскопии
  • STB 2209-2011 Наноразмерные углеродные и неуглеродные материалы и композиты на их основе. Методика определения элементного состава с помощью измерений сканирующей электронной микроскопии.




©2007-2023 ANTPEDIA, Все права защищены.