ZH
EN
ES
Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы, Всего: 312 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы, являются: Оптическое оборудование, Цветные металлы, Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия, Словари, Линейные и угловые измерения, Образование, Качество воздуха, Защита от преступности, Термодинамика и измерения температуры, Электронные устройства отображения, Обработка поверхности и покрытие, Строительные материалы, Метрология и измерения в целом, Сварка, пайка и пайка, Изделия из железа и стали, Керамика, Неразрушающий контроль, Механические испытания, Электронные компоненты в сборе, Краски и лаки, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Электронные компоненты в целом, Медицинские науки и учреждения здравоохранения в целом, Полупроводниковые приборы, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Испытание металлов, Технические рисунки, Ингредиенты краски, Физика. Химия, Текстильные волокна, Материалы для армирования композитов, Сырье для резины и пластмасс.
International Organization for Standardization (ISO), Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
- ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
- ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения ближнепольного оптического микроскопа.
- ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
- ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
- ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM.
- ISO/WD TR 23683:2023 Химический анализ поверхности. сканирующая зондовая микроскопия. Руководство по экспериментальному количественному определению концентрации носителей заряда в полупроводниковых устройствах с использованием электрической сканирующей зондовой микроскопии.
- ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- ISO 22493:2014 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
- ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR.
- ISO 15932:2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
- ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- ISO 14966:2019 Воздух окружающий. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 11039:2012 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Измерение скорости дрейфа.
- ISO 18115-2:2021 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
- ISO 28600:2011 Химический анализ поверхности - формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии
- ISO 14966:2002 Воздух атмосферный. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 19214:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- ISO 14966:2002/cor 1:2007 Воздух атмосферный - Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц - Метод сканирующей электронной микроскопии; Техническое исправление 1
- ISO 11775:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.
- ISO/TR 14880-5:2010 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 5. Руководство по испытаниям.
- ISO 18115-2:2010 Анализ химического состава поверхностей — Словарь — Часть 2: Термины, используемые в микроскопии с помощью зонда и выметания (премьерное издание)
- ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ. Калибровка измерительных систем.
- ISO 11952:2014 Химический анализ поверхности - Сканирующая зондовая микроскопия - Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
- ISO 18115-2:2013 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
- ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- ISO 13794:1999 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
- ISO 10312:1995 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
- ISO 17751-2:2014 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 17751-2:2023 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 21363:2020 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра потерь энергии электронов.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
- JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
- JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- JIS R 1633:1998 Способ подготовки образцов тонкой керамики и мелкодисперсных керамических порошков для наблюдения на сканирующем электронном микроскопе
- JIS K 0147-2:2017 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- KS D 2714-2016(2021) Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
- KS D 2714-2016 Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
- KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Словарь
- KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Словарь
- KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
- KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Руководство по калибровке увеличения изображения
- KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Руководство по калибровке увеличения изображения
- KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D 2714-2006 Сканирующий зондовый микроскоп. Метод микроскопа боковой силы.
- KS D 2713-2016 Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
- KS D 2713-2016(2021) Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
- KS D 2716-2008(2018) Измерение диаметра наночастиц-Просвечивающий электронный микроскоп
- KS D 2716-2008 Измерение диаметра наночастиц-Просвечивающий электронный микроскоп
- KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
- KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие-Измерение толщины покрытия-Метод просвечивающей электронной микроскопии
- KS I ISO 10312:2008 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
- KS I ISO 13794:2008 Окружающий воздух-Определение асбестовых волокон-Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом
- KS I ISO 10312-2008(2018) Окружающий воздух-Определение асбестовых волокон-Метод прямой просвечивающей электронной микроскопии
- KS K ISO 17751-2:2019 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
KR-KS, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- KS C ISO 19749-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- KS D 2716-2023 Измерение диаметра наночастиц — Просвечивающий электронный микроскоп
- KS K ISO 17751-2-2019 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)
- JJF 1351-2012 Спецификация калибровки для сканирующих зондовых микроскопов
Professional Standard - Machinery, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
- JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация
- JB/T 5480-1991 Диафрагма электронного микроскопа
- JB/T 5481-1991 Нить лампы электронного микроскопа
- JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
- JB/T 5383-1991 Технические характеристики просвечивающего электронного микроскопа
- JB/T 5584-1991 Метод испытаний усиления просвечивающего электронного микроскопа
- JB/T 5585-1991 Метод испытания разрешения просвечивающего электронного микроскопа
- JB/T 5586-1991 Классификация и основные параметры просвечивающего электронного микроскопа
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.
- GB/T 36052-2018 Химический анализ поверхности — формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии.
- GB/T 33838-2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
- GB/T 34331-2017 Метод исследования вируса зеленой крапчатой мозаики огурца методом просвечивающей электронной микроскопии
British Standards Institution (BSI), Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
- BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- BS ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CDSEM
- BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
- 18/30344520 DC BS ISO 21466. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM
- BS ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
- 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
- BS ISO 22493:2014 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
- BS ISO 19749:2021 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
- BS ISO 18115-2:2013 Химический анализ поверхности. Словарный запас. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
- BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
- BS EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
- BS ISO 14966:2019 Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
- 19/30351707 DC BS ISO 21222. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
- BS ISO 28600:2011 Химический анализ поверхности. Формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии
- BS ISO 18115-2:2021 Химический анализ поверхности. Словарь - Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
- 18/30351679 DC BS ISO 19749. Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- BS ISO 14966:2002 Воздух атмосферный. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- 18/30375050 DC BS ISO 14966. Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
- BS CECC 00013:1985 Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: базовая спецификация: проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.
- BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- BS ISO 18115-2:2010 Химический анализ поверхности - Словарь - Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
- BS ISO 11775:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера
- BS EN ISO 17751-2:2023 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей - метод сканирующей электронной микроскопии
- DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
- BS DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
- BS EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Метод сканирующей электронной микроскопии
- BS ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
- 12/30228339 DC БС ИСО 16000-27. Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- BS ISO 13794:1999 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
- PD ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
- 12/30265696 DC БС ИСО 18115-2 АМД1. Химический анализ поверхности. Словарный запас. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
- BS ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
- BS ISO 24639:2022 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии энергетических потерь электронов
American Society for Testing and Materials (ASTM), Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- ASTM E2382-04 Руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
- ASTM E2382-04(2012) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
- ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2382-04(2020) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
- ASTM E986-97 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-04(2017) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-04 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-04(2010) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-98(2008)e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM C1723-16(2022) Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
- ASTM C1723-10 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
- ASTM C1723-16 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
- ASTM E766-14(2019) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
- ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
- ASTM E766-14e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2142-08(2015) Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2142-08 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
- ASTM E1813-96e1 Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
- ASTM E1813-96(2002) Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
- ASTM E1813-96(2007) Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
- ASTM B748-90(2010) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2809-13 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/рентгеновской спектрометрии при судебно-медицинской экспертизе красок
- ASTM B748-90(2021) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E1588-95(2001) Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
- ASTM E1588-08 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E1588-10 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E2142-01 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E1588-95 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
- ASTM B748-90(2016) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM F1372-93(1999) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM E1588-20 Стандартная практика анализа остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM F1372-93(2020) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM D605-82(1996)e1 Стандартные спецификации для силикатного магниевого пигмента (талька)
- ASTM D6059-96(2011) Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте методом сканирующей электронной микроскопии
- ASTM F1372-93(2005) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM E280-98(2004)e1 Стандартные эталонные рентгенограммы толстостенных (от 4 &189; до 12 дюймов [от 114 до 305 мм]) стальных отливок
- ASTM E1588-07e1 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E1588-07 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E280-21 Стандартные эталонные рентгенограммы стальных отливок с толстыми стенками (от 412 до 12 дюймов (от 114 до 305 мм))
- ASTM E2809-22 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (СЭМ/ЭДС) при судебно-медицинской экспертизе полимеров
- ASTM F1372-93(2012) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM E3143-18a Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
- ASTM E3143-18 Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
- ASTM E3143-18b Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
- ASTM D3849-13 Стандартный метод определения технического углерода; Морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
- ASTM D3849-14 Стандартный метод определения технического углерода; Морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
- ASTM D3849-95a(2000) Стандартный метод определения технического углерода: размеры первичного агрегата по данным анализа изображений, полученных с помощью электронного микроскопа
- ASTM D3849-07 Стандартный метод определения технического углерода: морфологическая характеристика технического углерода с использованием электронной микроскопии
- ASTM D3849-22 Стандартный метод определения технического углерода — морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
- ASTM E3143-18b(2023) Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
- ASTM D7201-06(2020) Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с возможностью просвечивающей электронной микроскопии)
- ASTM F1438-93(1999) Стандартный метод испытаний для определения шероховатости поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии компонентов газораспределительной системы
- ASTM F1438-93(2020) Стандартный метод испытаний для определения шероховатости поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии компонентов газораспределительной системы
Professional Standard - Education, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
- JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии
- JY/T 0582-2020 Общие правила проведения аналитических методов сканирующей зондовой микроскопии
- JY/T 0586-2020 Общие правила аналитических методов лазерной сканирующей конфокальной микроскопии
- JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии
- JY/T 0581-2020 Общие правила методов анализа просвечивающей электронной микроскопии
Professional Standard - Commodity Inspection, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.
- SN/T 2649.1-2010 Определение асбеста в косметике для импорта и экспорта. Часть 1: Метод рентгеновской дифракции и сканирующей электронной микроскопии.
Professional Standard - Petroleum, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
- SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
- SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- DB31/T 315-2004 Метод калибровки увеличения просвечивающего электронного микроскопа
国家能源局, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
Association Francaise de Normalisation, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
- XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
- NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- NF T25-111-4:1991 Углеродные волокна. Текстура и структура. Часть 4. Фрактография с помощью сканирующего электронного микроскопа.
- NF ISO 15932:2014 Микролучевой анализ - Аналитическая электронная микроскопия - Словарь
- NF X21-010:2009 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь.
- NF EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии - Определение распределения частиц по размерам и форме методом сканирующей электронной микроскопии
- NF X21-069-2:2010 Химический анализ поверхности - Словарь - Часть 2: термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
- NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение волокнистой пыли, осажденной на поверхностях, методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- FD T16-203:2011 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
- NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- NF G07-142-2*NF EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2: метод сканирующей электронной микроскопии.
- FD T16-209:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
- NF T16-404:2020 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- NF ISO 13794:2020 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- DB32/T 3459-2018 Сканирующая электронная микроскопия для измерения микроплощади покрытия графеновых пленок
Professional Standard - Judicatory, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
Group Standards of the People's Republic of China, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа
- GB/T 29190-2012 Методы измерения скорости дрейфа сканирующего зондового микроскопа
- GB/T 19267.6-2003 Физическое и химическое исследование следов доказательств в судебной медицине. Часть 6. Сканирующая электронная микроскопия.
- GB/T 23414-2009 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- GB/T 42659-2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Калибровка измерительной системы.
- GB/T 17361-2013 Микролучевой анализ. Идентификация аутигенного глинистого минерала в осадочных породах методом сканирующего электронного микроскопа и энергодисперсионного спектрометра.
- GB 7667-1996 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
- GB 7667-2003 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
- GB/T 19267.6-2008 Физико-химическая экспертиза следов доказательств в судебной медицине. Часть 6: Сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергодисперсионная спектрометрия.
- GB/T 28873-2012 Общее руководство по сканирующей электронной микроскопии окружающей среды для определения биологических эффектов на топографию, вызванных наночастицами
- GB/T 17361-1998 Метод идентификации аутигенного глинистого минерала в осадочных породах с помощью SEM и XEDS.
- GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
- GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- GB/Z 26083-2010 Определение содержания медь(Ⅱ)октаакоксизамещенного фталоцианина на поверхности графита (сканирующий туннельный микроскоп)
- GB/T 21637-2008 Способ морфологической идентификации коронавируса с помощью просвечивающей электронной микроскопии
- GB/T 28044-2011 Общее руководство по методу обнаружения биологического действия наноматериалов с помощью просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ)
SE-SIS, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- SIS SS CECC 00013-1985 Базовая спецификация: проверка полупроводниковых кубиков с помощью сканирующего электронного микроскопа.
European Committee for Standardization (CEN), Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
- EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220: 1988).
- EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
- prEN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)
- EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)
RU-GOST R, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы
- GOST R 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы калибровки
- GOST 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Метод проверки
- GOST R 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы проверки
- GOST 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
- GOST R 8.630-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Методы проверки
- GOST R 8.635-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод калибровки
- GOST 21006-1975 Электронные микроскопы. Термины, определения и буквенные обозначения
- GOST R 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
- GOST R ISO 27911-2015 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
- GOST ISO 16000-27-2017 Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
Danish Standards Foundation, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- DS/ISO 19749:2021 Нанотехнологии – Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- DS/ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
- DS/ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
German Institute for Standardization, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.
- DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
- DIN EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021); Немецкая и английская версия prEN ISO 9220:2021.
- DIN EN ISO 19749:2023-07 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
- DIN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988); Немецкая версия EN ISO 9220:1994.
- DIN ISO 16000-27:2014-11 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующая электронная микроскопия) (прямой метод) (ISO 16000-27:2014)
- DIN EN ISO 17751-2:2016-11 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO 17751-2:2016); Немецкая версия EN ISO 17751-2:2016 / Примечание. Заменяется стандартом DIN EN ISO 17751-2 (2022-09).
- DIN EN ISO 17751-2:2022-09 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO/DIS 17751-2:2022); Немецкая и английская версия prEN ISO 17751-2:2022 / Примечание: Дата выпуска 19.08.2022*I...
ES-UNE, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- UNE-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
- UNE-EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в мае 2023 г.)
- UNE-EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO 17751-2:2016)
Professional Standard - Public Safety Standards, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- GA/T 1938-2021 Судмедэкспертиза Проверка металлов Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1937-2021 Судебная медицина Проверка резины Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1939-2021 Судмедэкспертиза Текущая точечная экспертиза Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 909-2010 Метод сбора и упаковки следов огнестрельных улик (исследование SEM/EDS)
- GA/T 1522-2018 Судмедэкспертиза Осмотр остатков стрельбы Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1521-2018 Судебная медицина Исследование элементного состава пластмасс Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1519-2018 Судмедэкспертиза Проверка элементного состава тонера Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1520-2018 Судебно-медицинская экспертиза черного пороха, проверка элементного состава пиротехнического порошка, сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергетическая спектрометрия
- GA/T 823.3-2018 Методы исследования красочных доказательств в судебной медицине. Часть 3: Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
AENOR, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- UNE-EN ISO 9220:1996 МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ. ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ. МЕТОД РАССИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ. (ИСО 9220:1988).
Lithuanian Standards Office , Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- LST EN ISO 9220:2001 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)
AT-ON, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- OENORM EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)
Association of German Mechanical Engineers, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- DVS 2803-1974 Электронно-лучевая сварка в микроскопии (обзор)
- VDI 3861 Blatt 2-2008 Выбросы из стационарных источников. Измерение неорганических волокнистых частиц в выхлопных газах. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Определение геометрических величин с помощью сканирующих зондовых микроскопов - Калибровка измерительных систем
- VDI 3492-2004 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- VDI 3492-2013 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
BE-NBN, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- NBN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988).
Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
工业和信息化部, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- SJ/T 11759-2020 Измерение соотношения сторон линии электродной сетки фотоэлектрического элемента Лазерная сканирующая конфокальная микроскопия
- YB/T 4676-2018 Анализ выделенных фаз в стали методом просвечивающей электронной микроскопии
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- GB/T 35098-2018 Микролучевой анализ. Просвечивающая электронная микроскопия. Метод морфологической идентификации вирусов растений с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- GB/T 35099-2018 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия с энергодисперсионной рентгеновской спектрометрией. Морфология и элементный анализ одиночных мелких частиц в окружающем воздухе.
American National Standards Institute (ANSI), Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- ANSI/ASTM D6059:2001 Метод испытаний для определения концентрации аэрозольных монокристаллических керамических усов в рабочей среде методом сканирующей электронной микроскопии
未注明发布机构, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- BS CECC 13:1985(1999) Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: Базовая спецификация: Проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.
- JIS K 0182:2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
International Electrotechnical Commission (IEC), Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
未注明发布机构, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- BS CECC 13:1985(1999) Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: Базовая спецификация: Проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.
- JIS K 0182:2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.
GOSTR, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- PNST 508-2020 Нанотехнологии. Одностенные углеродные нанотрубки. Характеристика методами сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии.
IT-UNI, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- UNI 7604-1976 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для микрофрактографического исследования.
- UNI 7329-1974 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для исследования микроструктуры.
PH-BPS, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- PNS ISO 21363:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
BELST, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы
- STB 2210-2011 Наноразмерные углеродные и неуглеродные материалы и композиты на их основе. Метод определения параметров с использованием измерений сканирующей электронной микроскопии