ZH

EN

ES

Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы, Всего: 312 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы, являются: Оптическое оборудование, Цветные металлы, Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия, Словари, Линейные и угловые измерения, Образование, Качество воздуха, Защита от преступности, Термодинамика и измерения температуры, Электронные устройства отображения, Обработка поверхности и покрытие, Строительные материалы, Метрология и измерения в целом, Сварка, пайка и пайка, Изделия из железа и стали, Керамика, Неразрушающий контроль, Механические испытания, Электронные компоненты в сборе, Краски и лаки, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Электронные компоненты в целом, Медицинские науки и учреждения здравоохранения в целом, Полупроводниковые приборы, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Испытание металлов, Технические рисунки, Ингредиенты краски, Физика. Химия, Текстильные волокна, Материалы для армирования композитов, Сырье для резины и пластмасс.


International Organization for Standardization (ISO), Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
  • ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
  • ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
  • ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
  • ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения ближнепольного оптического микроскопа.
  • ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
  • ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
  • ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
  • ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM.
  • ISO/WD TR 23683:2023 Химический анализ поверхности. сканирующая зондовая микроскопия. Руководство по экспериментальному количественному определению концентрации носителей заряда в полупроводниковых устройствах с использованием электрической сканирующей зондовой микроскопии.
  • ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
  • ISO 22493:2014 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
  • ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
  • ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR.
  • ISO 15932:2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
  • ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
  • ISO 14966:2019 Воздух окружающий. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
  • ISO 11039:2012 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Измерение скорости дрейфа.
  • ISO 18115-2:2021 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
  • ISO 28600:2011 Химический анализ поверхности - формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии
  • ISO 14966:2002 Воздух атмосферный. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
  • ISO 19214:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
  • ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
  • ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
  • ISO 14966:2002/cor 1:2007 Воздух атмосферный - Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц - Метод сканирующей электронной микроскопии; Техническое исправление 1
  • ISO 11775:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.
  • ISO/TR 14880-5:2010 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 5. Руководство по испытаниям.
  • ISO 18115-2:2010 Анализ химического состава поверхностей — Словарь — Часть 2: Термины, используемые в микроскопии с помощью зонда и выметания (премьерное издание)
  • ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ. Калибровка измерительных систем.
  • ISO 11952:2014 Химический анализ поверхности - Сканирующая зондовая микроскопия - Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
  • ISO 18115-2:2013 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
  • ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
  • ISO 13794:1999 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
  • ISO 10312:1995 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
  • ISO 17751-2:2014 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
  • ISO 17751-2:2023 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
  • ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
  • ISO 21363:2020 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
  • ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра потерь энергии электронов.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
  • JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
  • JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
  • JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
  • JIS R 1633:1998 Способ подготовки образцов тонкой керамики и мелкодисперсных керамических порошков для наблюдения на сканирующем электронном микроскопе
  • JIS K 0147-2:2017 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • KS D 2714-2016(2021) Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
  • KS D 2714-2016 Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
  • KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Словарь
  • KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
  • KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Словарь
  • KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
  • KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
  • KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
  • KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Руководство по калибровке увеличения изображения
  • KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Руководство по калибровке увеличения изображения
  • KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
  • KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
  • KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
  • KS D 2714-2006 Сканирующий зондовый микроскоп. Метод микроскопа боковой силы.
  • KS D 2713-2016 Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
  • KS D 2713-2016(2021) Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
  • KS D 2716-2008(2018) Измерение диаметра наночастиц-Просвечивающий электронный микроскоп
  • KS D 2716-2008 Измерение диаметра наночастиц-Просвечивающий электронный микроскоп
  • KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
  • KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие-Измерение толщины покрытия-Метод просвечивающей электронной микроскопии
  • KS I ISO 10312:2008 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
  • KS I ISO 13794:2008 Окружающий воздух-Определение асбестовых волокон-Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом
  • KS I ISO 10312-2008(2018) Окружающий воздух-Определение асбестовых волокон-Метод прямой просвечивающей электронной микроскопии
  • KS K ISO 17751-2:2019 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.

KR-KS, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
  • KS C ISO 19749-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
  • KS D 2716-2023 Измерение диаметра наночастиц — Просвечивающий электронный микроскоп
  • KS K ISO 17751-2-2019 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)
  • JJF 1351-2012 Спецификация калибровки для сканирующих зондовых микроскопов

Professional Standard - Machinery, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
  • JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация
  • JB/T 5480-1991 Диафрагма электронного микроскопа
  • JB/T 5481-1991 Нить лампы электронного микроскопа
  • JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
  • JB/T 5383-1991 Технические характеристики просвечивающего электронного микроскопа
  • JB/T 5584-1991 Метод испытаний усиления просвечивающего электронного микроскопа
  • JB/T 5585-1991 Метод испытания разрешения просвечивающего электронного микроскопа
  • JB/T 5586-1991 Классификация и основные параметры просвечивающего электронного микроскопа

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
  • JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа
  • JJG(地质) 1016-1990 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
  • JJG(教委) 12-1992 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.
  • GB/T 36052-2018 Химический анализ поверхности — формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии.
  • GB/T 33838-2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
  • GB/T 34331-2017 Метод исследования вируса зеленой крапчатой мозаики огурца методом просвечивающей электронной микроскопии

British Standards Institution (BSI), Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
  • BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
  • BS ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CDSEM
  • BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
  • BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
  • 18/30344520 DC BS ISO 21466. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM
  • BS ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
  • 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
  • BS ISO 22493:2014 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
  • BS ISO 19749:2021 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
  • BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
  • BS ISO 18115-2:2013 Химический анализ поверхности. Словарный запас. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
  • BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
  • BS EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
  • BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
  • BS ISO 14966:2019 Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
  • 19/30351707 DC BS ISO 21222. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
  • BS ISO 28600:2011 Химический анализ поверхности. Формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии
  • BS ISO 18115-2:2021 Химический анализ поверхности. Словарь - Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
  • 18/30351679 DC BS ISO 19749. Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
  • BS ISO 14966:2002 Воздух атмосферный. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
  • 18/30375050 DC BS ISO 14966. Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
  • BS CECC 00013:1985 Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: базовая спецификация: проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.
  • BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
  • BS ISO 18115-2:2010 Химический анализ поверхности - Словарь - Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
  • BS ISO 11775:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера
  • BS EN ISO 17751-2:2023 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей - метод сканирующей электронной микроскопии
  • DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
  • BS DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
  • BS EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Метод сканирующей электронной микроскопии
  • BS ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
  • 12/30228339 DC БС ИСО 16000-27. Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
  • BS ISO 13794:1999 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
  • PD ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
  • 12/30265696 DC БС ИСО 18115-2 АМД1. Химический анализ поверхности. Словарный запас. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
  • BS ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
  • BS ISO 24639:2022 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии энергетических потерь электронов

American Society for Testing and Materials (ASTM), Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • ASTM E2382-04 Руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
  • ASTM E2382-04(2012) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
  • ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
  • ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
  • ASTM E2382-04(2020) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
  • ASTM E986-97 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
  • ASTM E986-04(2017) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
  • ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
  • ASTM E986-04 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
  • ASTM E986-04(2010) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
  • ASTM E766-98(2008)e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
  • ASTM C1723-16(2022) Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
  • ASTM C1723-10 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
  • ASTM C1723-16 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
  • ASTM E766-14(2019) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
  • ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
  • ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
  • ASTM E766-14e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
  • ASTM B748-90(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
  • ASTM B748-90(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
  • ASTM E2142-08(2015) Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
  • ASTM E2142-08 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
  • ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
  • ASTM E1813-96e1 Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
  • ASTM E1813-96(2002) Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
  • ASTM E1813-96(2007) Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
  • ASTM B748-90(2010) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
  • ASTM E2809-13 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/рентгеновской спектрометрии при судебно-медицинской экспертизе красок
  • ASTM B748-90(2021) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
  • ASTM E1588-95(2001) Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
  • ASTM E1588-08 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
  • ASTM E1588-10 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
  • ASTM E2142-01 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
  • ASTM E1588-95 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
  • ASTM B748-90(2016) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
  • ASTM B748-90(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
  • ASTM F1372-93(1999) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
  • ASTM E1588-20 Стандартная практика анализа остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
  • ASTM F1372-93(2020) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
  • ASTM D605-82(1996)e1 Стандартные спецификации для силикатного магниевого пигмента (талька)
  • ASTM D6059-96(2011) Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте методом сканирующей электронной микроскопии
  • ASTM F1372-93(2005) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
  • ASTM E280-98(2004)e1 Стандартные эталонные рентгенограммы толстостенных (от 4 &189; до 12 дюймов [от 114 до 305 мм]) стальных отливок
  • ASTM E1588-07e1 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
  • ASTM E1588-07 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
  • ASTM E280-21 Стандартные эталонные рентгенограммы стальных отливок с толстыми стенками (от 412 до 12 дюймов (от 114 до 305 мм))
  • ASTM E2809-22 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (СЭМ/ЭДС) при судебно-медицинской экспертизе полимеров
  • ASTM F1372-93(2012) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
  • ASTM E3143-18a Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
  • ASTM E3143-18 Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
  • ASTM E3143-18b Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
  • ASTM D3849-13 Стандартный метод определения технического углерода; Морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
  • ASTM D3849-14 Стандартный метод определения технического углерода; Морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
  • ASTM D3849-95a(2000) Стандартный метод определения технического углерода: размеры первичного агрегата по данным анализа изображений, полученных с помощью электронного микроскопа
  • ASTM D3849-07 Стандартный метод определения технического углерода: морфологическая характеристика технического углерода с использованием электронной микроскопии
  • ASTM D3849-22 Стандартный метод определения технического углерода — морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
  • ASTM E3143-18b(2023) Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
  • ASTM D7201-06(2020) Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с возможностью просвечивающей электронной микроскопии)
  • ASTM F1438-93(1999) Стандартный метод испытаний для определения шероховатости поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии компонентов газораспределительной системы
  • ASTM F1438-93(2020) Стандартный метод испытаний для определения шероховатости поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии компонентов газораспределительной системы

Professional Standard - Education, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
  • JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии
  • JY/T 0582-2020 Общие правила проведения аналитических методов сканирующей зондовой микроскопии
  • JY/T 0586-2020 Общие правила аналитических методов лазерной сканирующей конфокальной микроскопии
  • JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии
  • JY/T 0581-2020 Общие правила методов анализа просвечивающей электронной микроскопии

Professional Standard - Commodity Inspection, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.
  • SN/T 2649.1-2010 Определение асбеста в косметике для импорта и экспорта. Часть 1: Метод рентгеновской дифракции и сканирующей электронной микроскопии.

Professional Standard - Petroleum, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
  • SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
  • SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
  • DB31/T 315-2004 Метод калибровки увеличения просвечивающего электронного микроскопа

国家能源局, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

Association Francaise de Normalisation, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
  • XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
  • XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
  • NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
  • NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
  • NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
  • NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
  • NF T25-111-4:1991 Углеродные волокна. Текстура и структура. Часть 4. Фрактография с помощью сканирующего электронного микроскопа.
  • NF ISO 15932:2014 Микролучевой анализ - Аналитическая электронная микроскопия - Словарь
  • NF X21-010:2009 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь.
  • NF EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии - Определение распределения частиц по размерам и форме методом сканирующей электронной микроскопии
  • NF X21-069-2:2010 Химический анализ поверхности - Словарь - Часть 2: термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
  • NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение волокнистой пыли, осажденной на поверхностях, методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
  • FD T16-203:2011 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
  • NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
  • NF G07-142-2*NF EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2: метод сканирующей электронной микроскопии.
  • FD T16-209:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
  • NF T16-404:2020 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
  • NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
  • NF ISO 13794:2020 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • DB32/T 3459-2018 Сканирующая электронная микроскопия для измерения микроплощади покрытия графеновых пленок

Professional Standard - Judicatory, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

Group Standards of the People's Republic of China, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • T/QGCML 1940-2023
  • T/CSTM 00162-2020 Методы калибровки просвечивающего электронного микроскопа
  • T/CSTM 00166.3-2020 Характеристика графеновых материалов. Часть 3. Просвечивающий электронный микроскоп

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа
  • GB/T 29190-2012 Методы измерения скорости дрейфа сканирующего зондового микроскопа
  • GB/T 19267.6-2003 Физическое и химическое исследование следов доказательств в судебной медицине. Часть 6. Сканирующая электронная микроскопия.
  • GB/T 23414-2009 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
  • GB/T 42659-2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Калибровка измерительной системы.
  • GB/T 17361-2013 Микролучевой анализ. Идентификация аутигенного глинистого минерала в осадочных породах методом сканирующего электронного микроскопа и энергодисперсионного спектрометра.
  • GB 7667-1996 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
  • GB 7667-2003 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
  • GB/T 19267.6-2008 Физико-химическая экспертиза следов доказательств в судебной медицине. Часть 6: Сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергодисперсионная спектрометрия.
  • GB/T 28873-2012 Общее руководство по сканирующей электронной микроскопии окружающей среды для определения биологических эффектов на топографию, вызванных наночастицами
  • GB/T 17361-1998 Метод идентификации аутигенного глинистого минерала в осадочных породах с помощью SEM и XEDS.
  • GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
  • GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
  • GB/Z 26083-2010 Определение содержания медь(Ⅱ)октаакоксизамещенного фталоцианина на поверхности графита (сканирующий туннельный микроскоп)
  • GB/T 21637-2008 Способ морфологической идентификации коронавируса с помощью просвечивающей электронной микроскопии
  • GB/T 28044-2011 Общее руководство по методу обнаружения биологического действия наноматериалов с помощью просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ)

SE-SIS, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
  • SIS SS CECC 00013-1985 Базовая спецификация: проверка полупроводниковых кубиков с помощью сканирующего электронного микроскопа.

European Committee for Standardization (CEN), Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
  • EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220: 1988).
  • EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
  • prEN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)
  • EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)

RU-GOST R, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы
  • GOST R 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы калибровки
  • GOST 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Метод проверки
  • GOST R 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы проверки
  • GOST 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
  • GOST R 8.630-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Методы проверки
  • GOST R 8.635-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод калибровки
  • GOST 21006-1975 Электронные микроскопы. Термины, определения и буквенные обозначения
  • GOST R 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
  • GOST R ISO 27911-2015 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
  • GOST ISO 16000-27-2017 Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)

Danish Standards Foundation, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
  • DS/ISO 19749:2021 Нанотехнологии – Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
  • DS/ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
  • DS/ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии

German Institute for Standardization, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.
  • DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
  • DIN EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021); Немецкая и английская версия prEN ISO 9220:2021.
  • DIN EN ISO 19749:2023-07 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
  • DIN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988); Немецкая версия EN ISO 9220:1994.
  • DIN ISO 16000-27:2014-11 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующая электронная микроскопия) (прямой метод) (ISO 16000-27:2014)
  • DIN EN ISO 17751-2:2016-11 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO 17751-2:2016); Немецкая версия EN ISO 17751-2:2016 / Примечание. Заменяется стандартом DIN EN ISO 17751-2 (2022-09).
  • DIN EN ISO 17751-2:2022-09 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO/DIS 17751-2:2022); Немецкая и английская версия prEN ISO 17751-2:2022 / Примечание: Дата выпуска 19.08.2022*I...

ES-UNE, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • UNE-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
  • UNE-EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в мае 2023 г.)
  • UNE-EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO 17751-2:2016)

Professional Standard - Public Safety Standards, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • GA/T 1938-2021 Судмедэкспертиза Проверка металлов Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
  • GA/T 1937-2021 Судебная медицина Проверка резины Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
  • GA/T 1939-2021 Судмедэкспертиза Текущая точечная экспертиза Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
  • GA/T 909-2010 Метод сбора и упаковки следов огнестрельных улик (исследование SEM/EDS)
  • GA/T 1522-2018 Судмедэкспертиза Осмотр остатков стрельбы Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
  • GA/T 1521-2018 Судебная медицина Исследование элементного состава пластмасс Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
  • GA/T 1519-2018 Судмедэкспертиза Проверка элементного состава тонера Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
  • GA/T 1520-2018 Судебно-медицинская экспертиза черного пороха, проверка элементного состава пиротехнического порошка, сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергетическая спектрометрия
  • GA/T 823.3-2018 Методы исследования красочных доказательств в судебной медицине. Часть 3: Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия

AENOR, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • UNE-EN ISO 9220:1996 МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ. ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ. МЕТОД РАССИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ. (ИСО 9220:1988).

Lithuanian Standards Office , Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • LST EN ISO 9220:2001 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)

AT-ON, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • OENORM EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)

Association of German Mechanical Engineers, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • DVS 2803-1974 Электронно-лучевая сварка в микроскопии (обзор)
  • VDI 3861 Blatt 2-2008 Выбросы из стационарных источников. Измерение неорганических волокнистых частиц в выхлопных газах. Метод сканирующей электронной микроскопии.
  • VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Определение геометрических величин с помощью сканирующих зондовых микроскопов - Калибровка измерительных систем
  • VDI 3492-2004 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
  • VDI 3492-2013 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.

BE-NBN, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • NBN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988).

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • IPC J-STD-035-1999 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов
  • IPC TM-650 2.6.22-1995 Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах
  • IPC/JEDEC J-STD-035-1999 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов [Заменено: IPC TM-650 2.6.22]

工业和信息化部, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • SJ/T 11759-2020 Измерение соотношения сторон линии электродной сетки фотоэлектрического элемента Лазерная сканирующая конфокальная микроскопия
  • YB/T 4676-2018 Анализ выделенных фаз в стали методом просвечивающей электронной микроскопии

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • GB/T 35098-2018 Микролучевой анализ. Просвечивающая электронная микроскопия. Метод морфологической идентификации вирусов растений с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
  • GB/T 35099-2018 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия с энергодисперсионной рентгеновской спектрометрией. Морфология и элементный анализ одиночных мелких частиц в окружающем воздухе.

American National Standards Institute (ANSI), Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • ANSI/ASTM D6059:2001 Метод испытаний для определения концентрации аэрозольных монокристаллических керамических усов в рабочей среде методом сканирующей электронной микроскопии

未注明发布机构, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • BS CECC 13:1985(1999) Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: Базовая спецификация: Проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.
  • JIS K 0182:2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • JEDEC J-STD-035-1999 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов в капсулах

International Electrotechnical Commission (IEC), Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • IEC PAS 62191:2000 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов

未注明发布机构, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • BS CECC 13:1985(1999) Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: Базовая спецификация: Проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.
  • JIS K 0182:2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.

GOSTR, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • PNST 508-2020 Нанотехнологии. Одностенные углеродные нанотрубки. Характеристика методами сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии.

IT-UNI, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • UNI 7604-1976 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для микрофрактографического исследования.
  • UNI 7329-1974 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для исследования микроструктуры.

PH-BPS, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • PNS ISO 21363:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

BELST, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы

  • STB 2210-2011 Наноразмерные углеродные и неуглеродные материалы и композиты на их основе. Метод определения параметров с использованием измерений сканирующей электронной микроскопии

  сканирующий электронный микроскоп, Сканирующий электронный микроскоп, сканирующий электронный микроскоп, сканирующий электронный микроскоп, сканирующий электронный микроскоп, сканирующий электронный микроскоп, Оптическая микроскопия и сканирующая электронная микроскопия, Микроскопы и сканирующие электронные микроскопы, Оптический микроскоп против сканирующего микроскопа Электронный микроскоп, сканирующий электронный микроскоп , сканирующий электронный микроскоп:, Сканирующий оптический микроскоп Сканирующий электронный микроскоп, Сканирующий электронный микроскоп и сканирующий электронный микроскоп, Сканирующий электронный микроскоп против оптического микроскопа, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа, сканирующий электронный микроскоп, Сканирующий электронный микроскоп против оптического микроскопа, сканирующий электронный микроскоп, увеличение сканирования сканирующего электронного микроскопа, Сканирующий электронный микроскоп и сканирующий микроскоп.

 




©2007-2023 ANTPEDIA, Все права защищены.