ZH
EN
ES
Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа, Всего: 301 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа, являются: Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия, Словари, Образование, Качество воздуха, Линейные и угловые измерения, Защита от преступности, Термодинамика и измерения температуры, Электронные устройства отображения, Обработка поверхности и покрытие, Строительные материалы, Метрология и измерения в целом, Сварка, пайка и пайка, Изделия из железа и стали, Электронные компоненты в сборе, Керамика, Полупроводниковые приборы, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Электронные компоненты в целом, Краски и лаки, Испытание металлов, Медицинские науки и учреждения здравоохранения в целом, Технические рисунки, Материалы для армирования композитов, Ингредиенты краски, Сырье для резины и пластмасс, Физика. Химия, Текстильные волокна.
International Organization for Standardization (ISO), Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
- ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
- ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
- ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
- ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM.
- ISO 22493:2014 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
- ISO/WD TR 23683:2023 Химический анализ поверхности. сканирующая зондовая микроскопия. Руководство по экспериментальному количественному определению концентрации носителей заряда в полупроводниковых устройствах с использованием электрической сканирующей зондовой микроскопии.
- ISO 15932:2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
- ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения ближнепольного оптического микроскопа.
- ISO 14966:2019 Воздух окружающий. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR.
- ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- ISO 19214:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- ISO 14966:2002 Воздух атмосферный. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 14966:2002/cor 1:2007 Воздух атмосферный - Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц - Метод сканирующей электронной микроскопии; Техническое исправление 1
- ISO/TR 14880-5:2010 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 5. Руководство по испытаниям.
- ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра потерь энергии электронов.
- ISO 13794:1999 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
- ISO 10312:1995 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
- ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- ISO 21363:2020 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- ISO 17751-2:2014 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 17751-2:2023 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 13794:2019 Атмосферный воздух. Определение содержания асбестовых волокон. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом.
- ISO 10312:2019 Окружающий воздух. Определение содержания асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
- ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
- JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
- JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- JIS R 1633:1998 Способ подготовки образцов тонкой керамики и мелкодисперсных керамических порошков для наблюдения на сканирующем электронном микроскопе
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)
Professional Standard - Machinery, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
- JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация
- JB/T 5480-1991 Диафрагма электронного микроскопа
- JB/T 5481-1991 Нить лампы электронного микроскопа
- JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
- JB/T 5383-1991 Технические характеристики просвечивающего электронного микроскопа
- JB/T 5584-1991 Метод испытаний усиления просвечивающего электронного микроскопа
- JB/T 5585-1991 Метод испытания разрешения просвечивающего электронного микроскопа
- JB/T 5586-1991 Классификация и основные параметры просвечивающего электронного микроскопа
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Словарь
- KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Словарь
- KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
- KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Руководство по калибровке увеличения изображения
- KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Руководство по калибровке увеличения изображения
- KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D 2716-2008 Измерение диаметра наночастиц-Просвечивающий электронный микроскоп
- KS D 2716-2008(2018) Измерение диаметра наночастиц-Просвечивающий электронный микроскоп
- KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
- KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие-Измерение толщины покрытия-Метод просвечивающей электронной микроскопии
- KS I ISO 10312:2008 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
- KS I ISO 13794:2008 Окружающий воздух-Определение асбестовых волокон-Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом
- KS I ISO 10312-2008(2018) Окружающий воздух-Определение асбестовых волокон-Метод прямой просвечивающей электронной микроскопии
- KS K ISO 17751-2:2019 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- KS I ISO 13794-2008(2018) Окружающий воздух-Определение асбестовых волокон-Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом
KR-KS, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- KS C ISO 19749-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- KS D 2716-2023 Измерение диаметра наночастиц — Просвечивающий электронный микроскоп
- KS K ISO 17751-2-2019 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- KS C ISO 21363-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.
- GB/T 33838-2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
- GB/T 34331-2017 Метод исследования вируса зеленой крапчатой мозаики огурца методом просвечивающей электронной микроскопии
- GB/T 34168-2017 Метод исследования биологического действия материалов наночастиц золота и серебра с помощью просвечивающего электронного микроскопа
British Standards Institution (BSI), Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
- BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- BS ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CDSEM
- BS ISO 22493:2014 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
- BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
- BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
- 18/30344520 DC BS ISO 21466. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM
- 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
- BS ISO 19749:2021 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
- BS EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- BS ISO 14966:2019 Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
- BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- BS CECC 00013:1985 Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: базовая спецификация: проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.
- 18/30351679 DC BS ISO 19749. Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
- BS ISO 14966:2002 Воздух атмосферный. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- 18/30375050 DC BS ISO 14966. Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
- 19/30351707 DC BS ISO 21222. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
- BS EN ISO 17751-2:2023 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей - метод сканирующей электронной микроскопии
- DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
- BS ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
- BS DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
- BS EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Метод сканирующей электронной микроскопии
- BS ISO 24639:2022 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии энергетических потерь электронов
- BS ISO 13794:1999 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
- PD ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
- 12/30228339 DC БС ИСО 16000-27. Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- 20/30380369 DC BS ISO 23420. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
- 21/30404763 DC BS ISO 24639. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии энергетических потерь электронов
- 15/30292710 DC BS ISO 19214. Руководство по определению направления роста проволочных кристаллов методом просвечивающей электронной микроскопии.
- BS ISO 13794:2019 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом
- BS ISO 10312:2019 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии
- BS EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
- BS ISO 21363:2020 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
Professional Standard - Education, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
- JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии
- JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии
- JY/T 0581-2020 Общие правила методов анализа просвечивающей электронной микроскопии
American Society for Testing and Materials (ASTM), Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2382-04 Руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
- ASTM E2382-04(2012) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
- ASTM E2382-04(2020) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
- ASTM E986-97 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-04(2017) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-98(2008)e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-04 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-04(2010) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM C1723-16(2022) Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
- ASTM C1723-10 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
- ASTM C1723-16 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
- ASTM E766-14(2019) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
- ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
- ASTM E766-14e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2142-08(2015) Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2142-08 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
- ASTM B748-90(2010) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2809-13 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/рентгеновской спектрометрии при судебно-медицинской экспертизе красок
- ASTM B748-90(2021) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E1588-95(2001) Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
- ASTM E1588-08 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E1588-10 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E2142-01 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E1588-95 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
- ASTM B748-90(2016) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM F1372-93(1999) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM E1588-20 Стандартная практика анализа остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM F1372-93(2020) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM E3143-18a Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
- ASTM E3143-18 Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
- ASTM E3143-18b Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
- ASTM D605-82(1996)e1 Стандартные спецификации для силикатного магниевого пигмента (талька)
- ASTM D6059-96(2011) Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте методом сканирующей электронной микроскопии
- ASTM D3849-13 Стандартный метод определения технического углерода; Морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
- ASTM D3849-14 Стандартный метод определения технического углерода; Морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
- ASTM F1372-93(2005) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM E280-98(2004)e1 Стандартные эталонные рентгенограммы толстостенных (от 4 &189; до 12 дюймов [от 114 до 305 мм]) стальных отливок
- ASTM E1588-07e1 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E1588-07 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E280-21 Стандартные эталонные рентгенограммы стальных отливок с толстыми стенками (от 412 до 12 дюймов (от 114 до 305 мм))
- ASTM E2809-22 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (СЭМ/ЭДС) при судебно-медицинской экспертизе полимеров
- ASTM F1372-93(2012) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM D3849-95a(2000) Стандартный метод определения технического углерода: размеры первичного агрегата по данным анализа изображений, полученных с помощью электронного микроскопа
- ASTM D3849-07 Стандартный метод определения технического углерода: морфологическая характеристика технического углерода с использованием электронной микроскопии
- ASTM D3849-22 Стандартный метод определения технического углерода — морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
- ASTM E3143-18b(2023) Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
- ASTM D7201-06(2020) Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с возможностью просвечивающей электронной микроскопии)
- ASTM D3849-02 Стандартный метод определения технического углерода: морфологическая характеристика технического углерода с использованием электронной микроскопии
- ASTM D3849-04 Стандартный метод определения технического углерода: морфологическая характеристика технического углерода с использованием электронной микроскопии
Professional Standard - Petroleum, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
- SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
- SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- DB31/T 315-2004 Метод калибровки увеличения просвечивающего электронного микроскопа
国家能源局, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
Association Francaise de Normalisation, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
- XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
- NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF ISO 15932:2014 Микролучевой анализ - Аналитическая электронная микроскопия - Словарь
- NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- NF T25-111-4:1991 Углеродные волокна. Текстура и структура. Часть 4. Фрактография с помощью сканирующего электронного микроскопа.
- NF X21-010:2009 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь.
- NF EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии - Определение распределения частиц по размерам и форме методом сканирующей электронной микроскопии
- NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение волокнистой пыли, осажденной на поверхностях, методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- FD T16-203:2011 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
- FD T16-209:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
- NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- NF G07-142-2*NF EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2: метод сканирующей электронной микроскопии.
- NF T16-404:2020 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- NF ISO 13794:2020 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
- NF ISO 10312:2020 Окружающий воздух. Количественное определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
- NF X43-050:2021 Качество воздуха. Определение концентрации асбестового волокна методом просвечивающей электронной микроскопии. Косвенный метод.
- NF EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Определение распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
Professional Standard - Judicatory, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
Group Standards of the People's Republic of China, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- DB32/T 3459-2018 Сканирующая электронная микроскопия для измерения микроплощади покрытия графеновых пленок
Professional Standard - Commodity Inspection, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.
- SN/T 2649.1-2010 Определение асбеста в косметике для импорта и экспорта. Часть 1: Метод рентгеновской дифракции и сканирующей электронной микроскопии.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа
- GB/T 23414-2009 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- GB/T 19267.6-2003 Физическое и химическое исследование следов доказательств в судебной медицине. Часть 6. Сканирующая электронная микроскопия.
- GB 7667-1996 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
- GB 7667-2003 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
- GB/T 17361-2013 Микролучевой анализ. Идентификация аутигенного глинистого минерала в осадочных породах методом сканирующего электронного микроскопа и энергодисперсионного спектрометра.
- GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
- GB/T 19267.6-2008 Физико-химическая экспертиза следов доказательств в судебной медицине. Часть 6: Сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергодисперсионная спектрометрия.
- GB/T 28873-2012 Общее руководство по сканирующей электронной микроскопии окружающей среды для определения биологических эффектов на топографию, вызванных наночастицами
- GB/T 17361-1998 Метод идентификации аутигенного глинистого минерала в осадочных породах с помощью SEM и XEDS.
- GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- GB/T 21637-2008 Способ морфологической идентификации коронавируса с помощью просвечивающей электронной микроскопии
- GB/Z 26083-2010 Определение содержания медь(Ⅱ)октаакоксизамещенного фталоцианина на поверхности графита (сканирующий туннельный микроскоп)
- GB/T 28044-2011 Общее руководство по методу обнаружения биологического действия наноматериалов с помощью просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ)
- GB/T 17507-1998 Общая спецификация тонких биологических стандартов для рентгено-ЭДС-микроанализа в электронном микроскопе
- GB/T 43196-2023 Нанотехнология сканирующей электронной микроскопии для измерения размера и распределения наночастиц по форме
- GB/T 18873-2002 Общие характеристики просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ) — количественный микроанализ рентгеновского энергодисперсионного спектра (ЭДС) для тонких биологических образцов.
- GB/T 18873-2008 Общее руководство по трансмиссионному электронному микроскопу (ТЕМ) – рентгеновской энергодисперсионной спектрометрии (ЭДС) для количественного микроанализа тонких биологических образцов
SE-SIS, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- SIS SS CECC 00013-1985 Базовая спецификация: проверка полупроводниковых кубиков с помощью сканирующего электронного микроскопа.
European Committee for Standardization (CEN), Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
- EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220: 1988).
- EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
- prEN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)
- EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)
RU-GOST R, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы
- GOST R 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы калибровки
- GOST 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Метод проверки
- GOST R 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы проверки
- GOST 21006-1975 Электронные микроскопы. Термины, определения и буквенные обозначения
- GOST 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
- GOST R 8.630-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Методы проверки
- GOST R 8.635-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод калибровки
- GOST R 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
- GOST ISO 16000-27-2017 Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
Danish Standards Foundation, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- DS/ISO 19749:2021 Нанотехнологии – Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- DS/ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
- DS/ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
German Institute for Standardization, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.
- DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
- DIN EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021); Немецкая и английская версия prEN ISO 9220:2021.
- DIN EN ISO 19749:2023-07 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
- DIN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988); Немецкая версия EN ISO 9220:1994.
- DIN ISO 16000-27:2014-11 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующая электронная микроскопия) (прямой метод) (ISO 16000-27:2014)
- DIN EN ISO 17751-2:2016-11 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO 17751-2:2016); Немецкая версия EN ISO 17751-2:2016 / Примечание. Заменяется стандартом DIN EN ISO 17751-2 (2022-09).
- DIN EN ISO 17751-2:2022-09 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO/DIS 17751-2:2022); Немецкая и английская версия prEN ISO 17751-2:2022 / Примечание: Дата выпуска 19.08.2022*I...
ES-UNE, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- UNE-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
- UNE-EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в мае 2023 г.)
- UNE-EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO 17751-2:2016)
- UNE-EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в феврале 2022 г.)
Professional Standard - Public Safety Standards, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- GA/T 1939-2021 Судмедэкспертиза Текущая точечная экспертиза Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1938-2021 Судмедэкспертиза Проверка металлов Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1937-2021 Судебная медицина Проверка резины Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1522-2018 Судмедэкспертиза Осмотр остатков стрельбы Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 909-2010 Метод сбора и упаковки следов огнестрельных улик (исследование SEM/EDS)
- GA/T 1521-2018 Судебная медицина Исследование элементного состава пластмасс Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1519-2018 Судмедэкспертиза Проверка элементного состава тонера Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1520-2018 Судебно-медицинская экспертиза черного пороха, проверка элементного состава пиротехнического порошка, сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергетическая спектрометрия
- GA/T 823.3-2018 Методы исследования красочных доказательств в судебной медицине. Часть 3: Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
AENOR, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- UNE-EN ISO 9220:1996 МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ. ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ. МЕТОД РАССИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ. (ИСО 9220:1988).
- UNE 77236:1999 ОКРУЖАЮЩИЙ ВОЗДУХ. ОПРЕДЕЛЕНИЕ СОДЕРЖАНИЯ АСБЕСТОВЫХ ВОЛОКОН. МЕТОД ПРЯМОТРАНСФЕРНОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ.
Lithuanian Standards Office , Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- LST EN ISO 9220:2001 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)
AT-ON, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- OENORM EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)
Association of German Mechanical Engineers, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- DVS 2803-1974 Электронно-лучевая сварка в микроскопии (обзор)
- VDI 3861 Blatt 2-2008 Выбросы из стационарных источников. Измерение неорганических волокнистых частиц в выхлопных газах. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- VDI 3492-2004 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- VDI 3492-2013 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
BE-NBN, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- NBN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988).
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- GB/T 35098-2018 Микролучевой анализ. Просвечивающая электронная микроскопия. Метод морфологической идентификации вирусов растений с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- GB/T 35099-2018 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия с энергодисперсионной рентгеновской спектрометрией. Морфология и элементный анализ одиночных мелких частиц в окружающем воздухе.
Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
未注明发布机构, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- BS CECC 13:1985(1999) Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: Базовая спецификация: Проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
International Electrotechnical Commission (IEC), Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
American National Standards Institute (ANSI), Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- ANSI/ASTM D6059:2001 Метод испытаний для определения концентрации аэрозольных монокристаллических керамических усов в рабочей среде методом сканирующей электронной микроскопии
工业和信息化部, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- YB/T 4676-2018 Анализ выделенных фаз в стали методом просвечивающей электронной микроскопии
- SJ/T 11759-2020 Измерение соотношения сторон линии электродной сетки фотоэлектрического элемента Лазерная сканирующая конфокальная микроскопия
GOSTR, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- PNST 508-2020 Нанотехнологии. Одностенные углеродные нанотрубки. Характеристика методами сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии.
IT-UNI, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- UNI 7604-1976 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для микрофрактографического исследования.
- UNI 7329-1974 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для исследования микроструктуры.
PH-BPS, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- PNS ISO 21363:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- GJB 5384.22-2005 Методы испытаний работоспособности пиротехнических составов Часть 21. Определение концентрации количества твердых частиц дыма Метод электронной микроскопии
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- GJB 8684.22-2015 Методы испытаний пиротехнических свойств. Часть 22. Определение числовой концентрации твердых частиц дыма методом электронной микроскопии.
BELST, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- STB 2210-2011 Наноразмерные углеродные и неуглеродные материалы и композиты на их основе. Метод определения параметров с использованием измерений сканирующей электронной микроскопии
Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа
- DB44/T 1216-2013 Характеристика графена с помощью сканирующей электронной микроскопии и рентгеновской спектроскопии.