ZH
EN
ES

Яркость дифракции электронов

Яркость дифракции электронов, Всего: 55 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Яркость дифракции электронов, являются: Линейные и угловые измерения, Словари, Аналитическая химия, Испытание металлов, Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Бумага и картон, Медицинское оборудование, Защита от огня, Печатные схемы и платы.

RU-GOST R, Яркость дифракции электронов

GOST R 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивности на дифракционных картинах. Метод измерения с помощью электронного дифрактометра
GOST R ISO 13067-2016 Государственная система обеспечения единства измерений. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна

International Organization for Standardization (ISO), Яркость дифракции электронов

ISO/CD 23699 Микролучевой анализ. Дифракция обратно рассеянных электронов. Словарь
ISO 13067:2011 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 23749:2022 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали.
ISO 13067:2020 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
ISO/DIS 24173:2023 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов.
ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.

Association Francaise de Normalisation, Яркость дифракции электронов

NF X21-014:2012 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
NF EN 61262-3:1994 Электромедицинские приборы. Характеристики электрооптических радиологических усилителей изображения. Часть 3. Определение распределения яркости и неравномерности яркости.
NF ISO 24173:2009 Микролучевой анализ — рекомендации по измерению ориентации методом дифракции обратно рассеянных электронов
NF X21-011*NF ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
NF C74-223*NF EN 61262-3:1994 Медицинское электрооборудование. Характеристики электрооптических усилителей рентгеновского изображения. Часть 3: определение распределения яркости и неравномерности яркости.

United States Navy, Яркость дифракции электронов

NAVY UFGS-01 33 29-2010 ДОКУМЕНТАЦИЯ LEED(TM)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Яркость дифракции электронов

GB/T 36165-2018 Определение среднего размера зерна металла. Метод дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD).
GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
GB/T 20724-2006 Метод измерения толщины тонкого кристалла методом дифракции сходящегося пучка электронов
GB/T 19501-2004 Общее руководство по анализу дифракции обратного рассеяния электронов
GB/T 19501-2013 Микролучевой анализ. Общее руководство по анализу дифракции обратного рассеяния электронов.
GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GB/T 30703-2014 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов.
GB/T 38532-2020 Микролучевой анализ — Дифракция обратного рассеяния электронов — Измерение среднего размера зерна

British Standards Institution (BSI), Яркость дифракции электронов

BS ISO 13067:2011 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
BS EN 61262-3:1995 Характеристики электрооптических усилителей рентгеновского изображения для медицинской электроаппаратуры. Определение яркостного распределения и яркостной неравномерности
BS ISO 13067:2020 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
BS ISO 23749:2022 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали
BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
BS ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
19/30365236 DC BS ISO 13067. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна

American National Standards Institute （ANSI), Яркость дифракции электронов

ANSI/TAPPI T1216 sp-2012 Индексы белизны, желтизны, яркости и коэффициента отражения света.

German Institute for Standardization, Яркость дифракции электронов

DIN ISO 13067:2015 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2011)
DIN ISO 13067:2021-08 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2020).
DIN ISO 24173:2013-04 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (ISO 24713:2009)
DIN ISO 13067:2021 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2020).

BE-NBN, Яркость дифракции электронов

NBN C 74-572-1990 Решения по распределению яркости электронно-оптических усилителей радиографических изображений

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Яркость дифракции электронов

KS C IEC 61262-3-2003(2018) Медицинские приборы. Характеристики электронно-оптических рентгеновских изображений. Часть 3. Определение распределения яркости и неоднородности яркости.
KS C IEC 61262-3:2003 Медицинское электрооборудование. Характеристики электрооптических рентгеновских усилителей изображения. Часть 3. Определение распределения яркости и неоднородности яркости.

工业和信息化部, Яркость дифракции электронов

YB/T 4677-2018 Определение текстуры в стали методом дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD)

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Яркость дифракции электронов

DB31/T 1156-2019 Метод дифракции обратного рассеяния электронов для технической идентификации следов электропожара

Professional Standard - Energy, Яркость дифракции электронов

NB/SH/T 6024-2021 Определение относительной кристалличности молекулярного сита ZSM-5 рентгеноструктурным методом

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Яркость дифракции электронов

GB/T 20724-2021 Микролучевой анализ - метод измерения толщины тонких кристаллов методом дифракции электронов сходящимся пучком.
GB/T 41076-2021 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали.

International Electrotechnical Commission (IEC), Яркость дифракции электронов

IEC PAS 62326-20:2011 Печатные платы. Часть 20. Электронная плата для светодиодов высокой яркости.

GOSTR, Яркость дифракции электронов

GOST R IEC 62326-20-2019 Печатные платы. Часть 20. Электронные платы для светодиодов повышенной яркости

SE-SIS, Яркость дифракции электронов

SIS SS IEC 572:1986 Рентгеновское оборудование. Определение распределения яркости электрооптических усилителей рентгеновского изображения.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Яркость дифракции электронов

HD 511 S1-1988 Определение яркостного распределения электрооптических усилителей рентгеновского изображения

IN-BIS, Яркость дифракции электронов

IS 13729-1993 Определение распределения яркости электрооптических усилителей рентгеновского изображения.

IEC - International Electrotechnical Commission, Яркость дифракции электронов

PAS 62326-20-2011 Печатные платы. Часть 20. Электронная плата для светодиодов высокой яркости (Редакция 1.0).

Danish Standards Foundation, Яркость дифракции электронов

DS/EN 61262-3:2013 Медицинское электрооборудование. Характеристики электрооптических усилителей рентгеновского изображения. Часть 3. Определение распределения яркости и неравномерности яркости.

AENOR, Яркость дифракции электронов

UNE-EN 61262-3:1996 МЕДИЦИНСКАЯ ЭЛЕКТРОТЕХНИКА. ХАРАКТЕРИСТИКИ ЭЛЕКТРООПТИЧЕСКИХ Усилителей рентгеновского изображения. ЧАСТЬ 3: ОПРЕДЕЛЕНИЕ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ЯРКОСТИ И НЕОДНОРОДНОСТИ ЯРКОСТИ.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Яркость дифракции электронов

GB/T 34172-2017 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Метод фазового анализа металла и сплава.