Оже-электронный количественный анализ

Оже-электронный количественный анализ, Всего: 133 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Оже-электронный количественный анализ, являются: Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия, Неразрушающий контроль, Защита от огня, Линейные и угловые измерения.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Оже-электронный количественный анализ

GB/T 26533-2011 Общие правила электронного оже-спектроскопического анализа
GB/Z 32494-2016 Анализ поверхности. Химический анализ. Оже-электронная спектроскопия. Интерпретация химической информации.
GB/T 29732-2013 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
GB/T 28632-2012 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
GB/T 29731-2013 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры высокого разрешения. Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния.
GB/T 29558-2013 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
GB/T 25187-2010 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание некоторых параметров работы прибора.
GB/T 30702-2014 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
GB/T 21006-2007 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
GB/T 29556-2013 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
GB/T 28893-2012 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая при сообщении о результатах.
GB/T 28893-2024 Химический анализ поверхности Оже-электронная спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы определения интенсивностей пиков и информация, необходимая для представления результатов.
GB/T 15074-2008 Общее руководство по количественному анализу от EPMA
GB/T 15074-1994 Общее руководство по количественному анализу EPMA

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Оже-электронный количественный анализ

GB/T 36504-2018 Руководство по анализу загрязнения поверхности печатной платы — электронная оже-спектроскопия.
GB/T 29732-2021 Химический анализ поверхности. Оже-электронные спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
GB/T 16840.3-2021 Методы технического определения электрических свидетельств пожара. Часть 3. Метод компонентного анализа электронной оже-спектроскопии.
GB/T 41064-2021 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок.

Association Francaise de Normalisation, Оже-электронный количественный анализ

NF ISO 24236:2006 Химический анализ поверхностей. Электронная оже-спектроскопия. Повторяемость и постоянство энергетической шкалы.
NF ISO 17973:2006 Химический анализ поверхности — электронные оже-спектрометры среднего разрешения — калибровка энергетических шкал для элементного анализа
NF ISO 16242:2012 Химический анализ поверхностей – регистрация и отчетность данных оже-электронной спектроскопии (AES)
NF X21-072*NF ISO 16242:2012 Химический анализ поверхности - запись и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES).
NF X21-068*NF ISO 29081:2010 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
NF ISO 17974:2009 Химический анализ поверхности - Оже-электронные спектрометры высокого разрешения - Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния
NF X21-059*NF ISO 24236:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
NF X21-067*NF ISO 17974:2009 Химический анализ поверхности - Электронные оже-спектрометры высокого разрешения - Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния.
NF ISO 29081:2010 Химический анализ поверхностей - Электронная оже-спектроскопия - Указание реализуемых методов контроля и коррекции заряда.
NF X21-058:2006 Химический анализ поверхности — электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия — методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.

International Organization for Standardization (ISO), Оже-электронный количественный анализ

ISO/TR 18394:2016 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Получение химической информации.
ISO/CD 17973 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
ISO/TR 18394:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Получение химической информации.
ISO 18516:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
ISO/DIS 17973:2023 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
ISO 15471:2004 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
ISO 15471:2016 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
ISO 16242:2011 Химический анализ поверхности - запись и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES)
ISO 18118:2024 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа.
ISO 29081:2010 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
ISO 18118:2004 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
ISO 18118:2015 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
ISO/DIS 18118:2023 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
ISO/FDIS 18118:2023 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
ISO 21270:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
ISO/TR 19319:2003 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
ISO 20903:2011 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
ISO 20903:2019 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
ISO 17109:2015 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок.
ISO 17109:2022 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Глубина распыления p
ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра потерь энергии электронов.

British Standards Institution (BSI), Оже-электронный количественный анализ

PD ISO/TR 18394:2016 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Получение химической информации
BS ISO 17973:2016 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа
BS PD ISO/TR 18394:2016 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Получение химической информации
BS ISO 18516:2006(2010) Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
BS ISO 18516:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
23/30469291 DC BS ISO 17973. Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа
BS ISO 15471:2005 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
BS ISO 16242:2011 Химический анализ поверхности. Запись и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES)
BS ISO 21270:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
BS ISO 15471:2016 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора
BS ISO 29081:2010 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
BS ISO 18118:2015 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов
BS ISO 18118:2024 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов
BS ISO 17974:2002(2010) Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры высокого разрешения. Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния.
BS ISO 24236:2005 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
23/30461294 DC BS ISO 18118. Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов
BS ISO 21270:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности
BS ISO 21270:2004(2010) Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
BS ISO 18118:2005 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
BS ISO 17109:2022 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и вторично-ионной масс-спектрометрии, определение профиля глубины распыления с использованием одно- и многослойных тонких…
21/30433862 DC БС ИСО 17109 АМД1. Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием одиночных и…
BS ISO 20903:2019 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
BS ISO 20903:2011 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
BS ISO 17109:2015 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и вторично-ионной масс-спектрометрии. Профилирование глубины распыления с использованием одно- и многослойных тонких пленок.
BS ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
20/30380369 DC BS ISO 23420. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов

GSO, Оже-электронный количественный анализ

GSO ISO/TR 18394:2021 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Получение химической информации.
BH GSO ISO 18516:2016 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
OS GSO ISO 18516:2013 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
GSO ISO 18516:2013 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
GSO ISO 16242:2015 Химический анализ поверхности. Запись и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES).
BH GSO ISO 16242:2017 Химический анализ поверхности. Запись и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES).
GSO ISO 17973:2013 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
BH GSO ISO 17973:2016 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
OS GSO ISO 17973:2013 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
BH GSO ISO 29081:2016 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
OS GSO ISO 29081:2013 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
BH GSO ISO 18118:2016 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
GSO ISO 18118:2013 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
OS GSO ISO 18118:2013 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
BH GSO ISO 17974:2016 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры высокого разрешения. Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния.
OS GSO ISO 17974:2014 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры высокого разрешения. Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния.
BH GSO ISO 21270:2016 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
OS GSO ISO 21270:2014 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
GSO ISO 21270:2014 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
BH GSO ISO 20903:2016 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.

SCC, Оже-электронный количественный анализ

BS PD ISO/TR 18394:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Получение химической информации
BS ISO 17973:2002 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа
BS PD ISO/TR 19319:2003 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
BS ISO 15471:2004 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора
BS ISO 18118:2004 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов
ISO 17109:2015/DAmd 1 Химический анализ поверхности. Профилирование глубины. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок.
DIN ISO 16242 E:2019 Проект документа – Химический анализ поверхности – Регистрация и отчетность данных в оже-электронной спектроскопии (AES) (ISO 16242:2011); Текст на английском языке
BS ISO 20903:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для представления результатов.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Оже-электронный количественный анализ

ASTM E996-94(1999) Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Оже-электронный количественный анализ

KS D ISO 15471-2005(2020) Химический анализ поверхности－Электронная оже-спектроскопия－Описание выбранных параметров работы прибора
KS D ISO 17973-2021 Химический анализ поверхности－Электронные оже-спектрометры среднего разрешения－Калибровка энергетических шкал для элементного анализа
KS D ISO 15471:2005 Химический анализ поверхности－Электронная оже-спектроскопия－Описание выбранных параметров работы прибора
KS D ISO 15471-2020 Химический анализ поверхности－Электронная оже-спектроскопия－Описание выбранных параметров работы прибора
KS D ISO 17973-2011(2021) Химический анализ поверхности－Электронные оже-спектрометры среднего разрешения－Калибровка энергетических шкал для элементного анализа
KS D ISO 17973-2011(2016) Химический анализ поверхности－Электронные оже-спектрометры среднего разрешения－Калибровка энергетических шкал для элементного анализа
KS D ISO 19319-2005(2020) Химический анализ поверхности – электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
KS D ISO 18118-2005(2020) Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа h.
KS D ISO 18118-2020 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
KS D ISO 18118:2005 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
KS D ISO 21270:2005 Химический анализ поверхности－Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры－Линейность шкалы интенсивности
KS D ISO 21270-2020 Химический анализ поверхности－Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры－Линейность шкалы интенсивности
KS D ISO 17974-2021 Химический анализ поверхности－Электронные оже-спектрометры высокого разрешения－Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния
KS D ISO 19319-2020 Химический анализ поверхности – электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
KS D ISO 21270-2005(2020) Химический анализ поверхности－Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры－Линейность шкалы интенсивности
KS D ISO 17974-2011(2021) Химический анализ поверхности－Электронные оже-спектрометры высокого разрешения－Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния
KS D ISO 17974-2011(2016) Химический анализ поверхности－Электронные оже-спектрометры высокого разрешения－Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния
KS D ISO 19319:2005 Химический анализ поверхности – электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Оже-электронный количественный анализ

JIS K 0161:2010 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
JIS K 0167:2011 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.

未注明发布机构, Оже-электронный количественный анализ

DIN ISO 16242 E:2019-10 Химический анализ поверхности - запись и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES)
AS ISO 17974:2006(R2016) Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры высокого разрешения. Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния.

German Institute for Standardization, Оже-электронный количественный анализ

DIN ISO 16242:2020-05 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES) (ISO 16242:2011); Текст на английском языке
DIN ISO 16242:2020 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES) (ISO 16242:2011); Текст на английском языке

Standard Association of Australia （SAA）, Оже-электронный количественный анализ

AS ISO 18118:2006 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
AS ISO 17974:2006 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры высокого разрешения. Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Оже-электронный количественный анализ

GB/T 32565-2016 Химический анализ поверхности — запись и отчетность данных с помощью электронной оже-спектроскопии (AES).
GB/T 32998-2016 Химический анализ поверхности — электронная оже-спектроскопия — отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.

RU-GOST R, Оже-электронный количественный анализ

GOST R ISO 16242-2016 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Запись и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES)