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俄歇 电子 定量分析
本专题涉及俄歇 电子 定量分析的标准有94条。
国际标准分类中，俄歇 电子 定量分析涉及到光学设备、光学和光学测量、分析化学、无损检测、消防、长度和角度测量。
在中国标准分类中，俄歇 电子 定量分析涉及到电子光学与其他物理光学仪器、基础标准与通用方法、化学、消防、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、化学助剂基础标准与通用方法、电化学、热化学、光学式分析仪器。
国家质检总局，关于俄歇 电子 定量分析的标准
- GB/T 26533-2011 俄歇电子能谱分析方法通则
- GB/Z 32494-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的解析
- GB/T 29732-2013 表面化学分析 中等分辨率俄歇电子谱仪 元素分析用能量标校准
- GB/T 28632-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定
- GB/T 29731-2013 表面化学分析 高分辨俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析用能量标校准
- GB/T 29558-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱 强度标的重复性和一致性
- GB/T 25187-2010 表面化学分析.俄歇电子能谱.选择仪器性能参数的表述
- GB/T 30702-2014 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南
- GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
- GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
- GB/T 28893-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
- GB/T 15074-2008 电子探针定量分析方法通则
- GB/T 15074-1994 电子探针定量分析方法通则
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于俄歇 电子 定量分析的标准
- GB/T 36504-2018 印刷线路板表面污染物分析 俄歇电子能谱
- GB/T 29732-2021 表面化学分析 中等分辨俄歇电子能谱仪 元素分析用能量标校准
- GB/T 16840.3-2021 电气火灾痕迹物证技术鉴定方法 第3部分：俄歇分析法
- GB/T 41064-2021 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
法国标准化协会，关于俄歇 电子 定量分析的标准
- NF ISO 24236:2006 表面化学分析 俄歇电子能谱 能级的重复性和恒定性
- NF ISO 17973:2006 表面化学分析 中分辨率俄歇电子能谱仪 元素分析能量标度的校准
- NF ISO 16242:2012 表面化学分析 俄歇电子能谱(AES)数据记录和报告
- NF X21-072*NF ISO 16242:2012 表面化学分析.俄歇电子能谱术(AES)的记录和报告数据
- NF ISO 17974:2009 表面化学分析 高分辨率俄歇电子能谱仪 用于元素和化学状态分析的能量标度校准
- NF X21-068*NF ISO 29081:2010 表面化学分析 俄歇电子光谱法 电荷控制和校正用方法的报告
- NF X21-059*NF ISO 24236:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法.强度等级的重复性和持久性
- NF X21-067*NF ISO 17974:2009 表面化学分析.高分辨率俄歇(Auger)电子分光计.元素及化学物质状态分析用能量标度的校准
- NF ISO 29081:2010 表面化学分析 俄歇电子能谱 电荷控制和校正所采用的方法的指示
- NF X21-058:2006 表面化学分析.俄歇电子能谱学和X射线光电子光谱法.测定峰强度使用的方法和报告结果时需要的信息
国际标准化组织，关于俄歇 电子 定量分析的标准
- ISO/TR 18394:2016 表面化学分析. 俄歇电子能谱学. 提取化学信息
- ISO/CD 17973 表面化学分析 中分辨率俄歇电子能谱仪 元素分析能量标度的校准
- ISO/TR 18394:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法.化学信息的推导
- ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
- ISO/DIS 17973:2023 表面化学分析 中分辨率俄歇电子能谱仪 元素分析能级的校准
- ISO 15471:2004 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- ISO 15471:2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- ISO 16242:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱术(AES)的记录和报告数据
- ISO 29081:2010 表面化学分析.俄歇电子能谱法.电荷控制和电荷调整用报告法
- ISO 18118:2004 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
- ISO 18118:2015 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
- ISO/DIS 18118:2023 表面化学分析 俄歇电子能谱和 X 射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- ISO/FDIS 18118:2023 表面化学分析 - 俄歇电子能谱和 X 射线光电子能谱 - 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- ISO 21270:2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
- ISO/TR 19319:2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
- ISO 20903:2011 表面化学分析.俄歇电子能普和X射线光电子光谱.通报结果所需峰值强度和信息的测定方法
- ISO 20903:2019 表面化学分析 - 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱 - 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
- ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
- ISO 17109:2022 表面化学分析.深度剖面.用单层和多层薄膜在X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中测定溅射速率的方法
- ISO 23420:2021 微束分析.分析电子显微镜.电子能量损失谱分析用能量分辨率的测定方法
英国标准学会，关于俄歇 电子 定量分析的标准
- PD ISO/TR 18394:2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的推导
- BS ISO 17973:2016 表面化学分析 中分辨率俄歇电子能谱仪 元素分析能量标度的校准
- BS PD ISO/TR 18394:2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.化学信息的推导
- BS ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
- BS ISO 15471:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- BS ISO 16242:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱术的记录和报告数据(AEC)
- BS ISO 21270:2005 表面化学分析.X射线光电子和俄歇电子光谱仪.强度标的线性度
- BS ISO 15471:2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 所选仪器性能参数的描述
- BS ISO 29081:2010 表面化学分析.俄歇电子能谱法.电荷控制和电荷调整用报告法
- BS ISO 18118:2015 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- BS ISO 24236:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.强度标的可重复性和一致性
- 23/30461294 DC BS ISO 18118 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度尺度的线性
- BS ISO 18118:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性系数的使用指南
- BS ISO 17109:2022 表面化学分析 深度剖析 使用单层和多层薄膜的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率的测定方法...
- 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化学分析 深度剖析 使用单一和……的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率测定方法
- BS ISO 20903:2019 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
- BS ISO 20903:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱和X-射线光电光谱学.测定峰强度的方法和报告结果要求的信息
- BS ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
- BS ISO 23420:2021 微束分析 分析电子显微镜 电子能量损失谱分析能量分辨率的测定方法
- 20/30380369 DC BS ISO 23420 微束分析 分析电子显微镜 电子能量损失谱分析能量分辨率的测定方法
美国材料与试验协会，关于俄歇 电子 定量分析的标准
- ASTM E996-94(1999) 俄歇电子能谱分析和X射线光电子光谱分析数据报告的标准规程
未注明发布机构，关于俄歇 电子 定量分析的标准
- BS ISO 18516:2006(2010) 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率的测定
- BS ISO 17974:2002(2010) 表面化学分析 高分辨率俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析能级的校准
- BS ISO 21270:2004(2010) 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标度线性度
韩国科技标准局，关于俄歇 电子 定量分析的标准
- KS D ISO 15471-2005(2020) 表面化学分析－俄歇电子能谱学－选定仪器性能参数的描述
- KS D ISO 15471:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- KS D ISO 17973-2011(2021) 表面化学分析——中分辨率俄歇电子光谱仪——元素分析用能标的校准
- KS D ISO 17973-2011(2016) 表面化学分析中分辨率俄歇电子能谱仪元素分析用能标的校准
- KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析－俄歇电子能谱和X射线光电子能谱－分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定
- KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均匀材料定量分析用实验测定的相对灵敏度因子的使用指南
- KS D ISO 18118:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
- KS D ISO 21270:2005 表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
- KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标度的线性
- KS D ISO 17974-2011(2021) 表面化学分析——高分辨率俄歇电子光谱仪——元素和化学状态分析用能标的校准
- KS D ISO 17974-2011(2016) 表面化学分析高分辨率俄歇电子能谱仪元素和化学状态分析用能标的校准
- KS D ISO 19319:2005 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
- KS D ISO 14595:2012 微电子束分析.电子探测微量分析.检定标样(CRMs)的规范指南
日本工业标准调查会，关于俄歇 电子 定量分析的标准
- JIS K 0161:2010 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- JIS K 0167:2011 表面化学分析.俄歇电子光谱和X射线光电子能谱学.匀质材料定量分析用实验室测定相对敏感因子的使用指南
德国标准化学会，关于俄歇 电子 定量分析的标准
- DIN ISO 16242:2020-05 表面化学分析 在俄歇电子能谱(AES)中记录和报告数据
- DIN ISO 16242:2020 表面化学分析 俄歇电子能谱（AES）中的数据记录和报告（ISO 16242:2011）；英文文本
澳大利亚标准协会，关于俄歇 电子 定量分析的标准
- AS ISO 18118:2006 表面化学分析．俄歇电子能谱法和X射线光电子光谱法．均质材料定量分析中实验测定的相对灵敏系数使用指南
- AS ISO 17974:2006 表面化学分析．高分辨率俄歇电子分光计法．元素及化学物质状态分析用能量标度校准
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于俄歇 电子 定量分析的标准
- GB/T 32565-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱（AES）数据记录与报告的规范要求
- GB/T 32998-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 荷电控制与校正方法报告的规范要求
RU-GOST R，关于俄歇 电子 定量分析的标准
- GOST R ISO 16242-2016 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. 俄歇电子能谱学 (AES) 的记录和报告数据
