ZH
EN
ES

плоскость дифракции электронов

плоскость дифракции электронов, Всего: 122 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к плоскость дифракции электронов, являются: Аналитическая химия, Испытание металлов, Словари, Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Линейные и угловые измерения, Защита от огня, Аэрозольные контейнеры, Атомная энергетика, Печатные схемы и платы, Двигатели внутреннего сгорания для дорожных транспортных средств.

Association Francaise de Normalisation, плоскость дифракции электронов

NF X21-014:2012 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
NF S10-049*NF ISO 15368:2021 Оптика и фотоника. Измерение коэффициента отражения плоских поверхностей и коэффициента пропускания плоскопараллельных элементов.
NF ISO 15368:2021 Оптика и фотоника. Измерение коэффициента отражения плоских поверхностей и коэффициента пропускания плоскопараллельных элементов.
NF ISO 24173:2009 Микролучевой анализ — рекомендации по измерению ориентации методом дифракции обратно рассеянных электронов
NF X21-011*NF ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
NF S10-048*NF ISO 19962:2019 Оптика и фотоника - Спектроскопические методы измерения интегрального рассеяния плоскопараллельными оптическими элементами
NF ISO 19962:2019 Оптика и фотоника. Спектроскопические методы измерения интегрального рассеяния плоскопараллельными оптическими элементами.
NF X21-071:2011 Химический анализ поверхности - Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по анализу.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, плоскость дифракции электронов

GB/T 36165-2018 Определение среднего размера зерна металла. Метод дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD).
GB/T 38532-2020 Микролучевой анализ — Дифракция обратного рассеяния электронов — Измерение среднего размера зерна
GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
GB/T 19501-2004 Общее руководство по анализу дифракции обратного рассеяния электронов
GB/T 19501-2013 Микролучевой анализ. Общее руководство по анализу дифракции обратного рассеяния электронов.
GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GB/T 30703-2014 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов.
GB/T 20724-2006 Метод измерения толщины тонкого кристалла методом дифракции сходящегося пучка электронов
GB/T 30704-2014 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Рекомендации по проведению анализа.
GB/T 28632-2012 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
GB/T 21006-2007 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.

International Organization for Standardization (ISO), плоскость дифракции электронов

ISO 13067:2011 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
ISO 13067:2020 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
ISO/CD 23699 Микролучевой анализ. Дифракция обратно рассеянных электронов. Словарь
ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 23749:2022 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали.
ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
ISO/DIS 24173:2023 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов.
ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO/FDIS 10110-16 Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Часть 16. Дифракционные поверхности.
ISO 10110-16:2023 Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Часть 16. Дифракционные поверхности.
ISO 19962:2019 Оптика и фотоника. Спектроскопические методы измерения интегрального рассеяния плоскопараллельными оптическими элементами.
ISO 23018:2022 Среднегрупповые сечения нейтронов и гамма-излучения для расчетов радиационной защиты и защиты ядерных реакторов
ISO 23703:2022 Микролучевой анализ. Рекомендации по анализу разориентации для оценки механического повреждения аустенитной нержавеющей стали методом дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD).
ISO 16129:2018 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
ISO 16129:2012 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
ISO 10810:2019 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу.
ISO 17109:2022 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Глубина распыления p
ISO 10810:2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу
ISO 19830:2015 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
ISO 21270:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.

German Institute for Standardization, плоскость дифракции электронов

DIN ISO 13067:2021-08 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2020).
DIN ISO 13067:2015 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2011)
DIN ISO 13067:2021 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2020).
DIN ISO 24173:2013-04 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (ISO 24713:2009)
DIN ISO 24173:2013 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (ISO 24713:2009)
DIN ISO 16129:2020-11 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методики оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра (ISO 16129:2018); Текст на английском языке
DIN EN 14107:2003-10 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP); Немецкая версия EN 14107:2003.

British Standards Institution (BSI), плоскость дифракции электронов

BS ISO 13067:2011 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
BS ISO 13067:2020 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
19/30365236 DC BS ISO 13067. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
20/30352222 DC BS ISO 15368. Оптика и фотоника. Измерение коэффициента отражения плоских поверхностей и коэффициента пропускания плоскопараллельных элементов
BS ISO 15368:2021 Отслеживаемые изменения. Оптика и фотоника. Измерение коэффициента отражения плоских поверхностей и коэффициента пропускания плоскопараллельных элементов
BS ISO 23749:2022 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали
BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
BS ISO 10110-16:2023 Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Дифракционные поверхности
BS ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
21/30398224 DC BS ISO 23749. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали
23/30435799 DC BS ISO 24173. Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
BS ISO 19962:2019 Оптика и фотоника. Спектроскопические методы измерения интегрального рассеяния плоскопараллельными оптическими элементами
22/30430316 DC БС ИСО 10110-16. Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем - Часть 16. Дифракционные поверхности
BS ISO 23703:2022 Микролучевой анализ. Рекомендации по анализу разориентации для оценки механического повреждения аустенитной нержавеющей стали методом дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)
21/30370212 DC BS ISO 23018. Среднегрупповые сечения нейтронного и гамма-излучения для расчетов радиационной защиты и защиты ядерных реакторов.
BS ISO 16129:2012 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра
21/30395106 DC BS ISO 23703. Микролучевой анализ. Руководство по анализу разориентации для оценки механического повреждения аустенитной нержавеющей стали методом дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)
BS ISO 21270:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
BS ISO 16129:2018 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра
BS ISO 10810:2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Рекомендации по анализу
BS ISO 19830:2015 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
BS EN 123100:1992 Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: Спецификация по секциям: Односторонние и двусторонние печатные платы с простыми отверстиями.
BS CECC 23100-801:1998 Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Подробная спецификация возможностей: односторонние и двусторонние печатные платы с простыми отверстиями.

United States Navy, плоскость дифракции электронов

NAVY UFGS-01 33 29-2010 ДОКУМЕНТАЦИЯ LEED(TM)

RU-GOST R, плоскость дифракции электронов

GOST R 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивности на дифракционных картинах. Метод измерения с помощью электронного дифрактометра
GOST R ISO 13067-2016 Государственная система обеспечения единства измерений. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
GOST R 8.697-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межпенарные расстояния в кристаллах. Метод измерения с помощью просвечивающего электронного микроскопа

Group Standards of the People's Republic of China, плоскость дифракции электронов

T/CASAS 014-2021 Метод измерения изгиба базовой плоскости подложки SiC. Рентгеновская дифрактометрия высокого разрешения.

Professional Standard - Energy, плоскость дифракции электронов

NB/SH/T 0339-2021 Определение параметров элементарной ячейки фожазита молекулярного сита рентгеноструктурным методом

工业和信息化部, плоскость дифракции электронов

YB/T 4677-2018 Определение текстуры в стали методом дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD)

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, плоскость дифракции электронов

DB31/T 1156-2019 Метод дифракции обратного рассеяния электронов для технической идентификации следов электропожара

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, плоскость дифракции электронов

GB/T 41076-2021 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали.
GB/T 20724-2021 Микролучевой анализ - метод измерения толщины тонких кристаллов методом дифракции электронов сходящимся пучком.
GB/T 41073-2021 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.

American Society for Testing and Materials (ASTM), плоскость дифракции электронов

ASTM E2627-13 Стандартная практика определения среднего размера зерна с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD) в полностью рекристаллизованных поликристаллических материалах
ASTM E2627-13(2019) Стандартная практика определения среднего размера зерна с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD) в полностью рекристаллизованных поликристаллических материалах
ASTM E2627-10 Стандартная практика определения среднего размера зерна с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD) в полностью рекристаллизованных поликристаллических материалах
ASTM E2872-14 Стандартное руководство по определению усредненных характеристик струи по поперечному сечению с использованием приборов лазерной дифракции в аппарате аэродинамической трубы
ASTM E2872-14(2019) Стандартное руководство по определению усредненных характеристик струи по поперечному сечению с использованием приборов лазерной дифракции в аппарате аэродинамической трубы

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, плоскость дифракции электронов

GB/T 34172-2017 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Метод фазового анализа металла и сплава.

American Nuclear Society (ANS), плоскость дифракции электронов

ANS 6.1.2-2013 Среднегрупповые сечения нейтронов и гамма-излучения для расчетов радиационной защиты и защиты атомных электростанций
ANS 6.1.2-1999 Сечения нейтронов и гамма-излучения для расчетов радиационной защиты атомных электростанций

ANS - American Nuclear Society, плоскость дифракции электронов

6.1.2-2013 Среднегрупповые сечения нейтронов и гамма-излучения для расчетов радиационной защиты и защиты атомных электростанций
6.1.2-1999 Сечения нейтронов и гамма-излучения для расчетов радиационной защиты атомных электростанций
6.1.2-1989 Сечения нейтронов и гамма-излучения для расчетов радиационной защиты атомных электростанций
6.1.2-1983 НЕЙТРОННЫЕ И ГАММА-СЕЧЕНИЯ ДЛЯ РАСЧЕТОВ ЗАЩИТЫ АТОМНЫХ ЭЛЕКТРОСТАНЦИЙ ОТ ЯДЕРНОГО РАДИАЦИОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ

Professional Standard - Commodity Inspection, плоскость дифракции электронов

SN/T 2649.1-2010 Определение асбеста в косметике для импорта и экспорта. Часть 1: Метод рентгеновской дифракции и сканирующей электронной микроскопии.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, плоскость дифракции электронов

GJB 1446.3-1992 Требования к интерфейсу судовых систем электронная информация радиочастота
GJB 1446.3A-2021 Требования к интерфейсу судовых систем Часть 3. Радиочастота электронной информации

IX-IX-IEC, плоскость дифракции электронов

IEC TS 62607-6-17:2023 Нанопроизводство. Ключевые контрольные характеристики. Часть 6-17. Материал на основе графена. Параметр порядка: рентгеновская дифракция и просвечивающая электронная микроскопия.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), плоскость дифракции электронов

JIS B 7081:2017 Оптика и фотоника. Спектроскопические методы измерения интегрального рассеяния плоскими оптическими элементами.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, плоскость дифракции электронов

JJG(核工) 16-1991 Метод испытаний для измерения коэффициента излучения поверхности источника α-плоскости с помощью стандартного устройства сеточной ионизационной камеры

American National Standards Institute （ANSI), плоскость дифракции электронов

ANSI/ANS 6.1.2-2013 Сечения нейтронного и гамма-излучения для расчета защиты от ядерного излучения и защиты атомных электростанций

Defense Logistics Agency, плоскость дифракции электронов

DLA MIL-W-3970/22 A-2009 ВОЛНОВОДНЫЕ УЗЛЫ, ЖЕСТКИЕ, ЛИТЫЕ, ИЗГИБ В ПЛОСКОСТИ 90 ГРАДУСОВ, ПОЛНЫЙ ЗАГОН
DLA MIL-DTL-83528/12 D-2013 ПРОКЛАДОЧНЫЙ МАТЕРИАЛ, ПРОВОДЯЩИЙ, ЭКРАНИРУЮЩАЯ ПРОКЛАДКА, ЭЛЕКТРОННАЯ, ЭЛАСТОМЕР, ЭЛАСТОМЕРНАЯ, ЭЛЕКТРИЧЕСКАЯ, ЭМП/РЧП, ПЛОСКАЯ КРУГЛАЯ ШАЙБА

IT-UNI, плоскость дифракции электронов

UNI 4026-1958 Клеммные колодки для медных проводов и кабелей для судов. Колпачковые клеммы для проводов сечением от 50 мм² до 630 мм².
UNI 4025-1958 Клеммные колодки для медных проводов и кабелей для судов. Цилиндрические тяжелые клеммы для проводов сечением от 0,5 мм2 до 40 мм2
UNI 4016-1958 Клеммные колодки для медных проводов и кабелей для судов. Корпусные клеммы для проводов сечением от 0,5 мм2 до 16 мм2
UNI 4027-1958 Клеммные колодки для медных проводов и кабелей для судов. Тяжелые наконечники для проводов сечением от 50 мм² до 630 мм².
UNI 4024-1958 Клеммные колодки для медных проводов и кабелей для судов. Цилиндрические клеммы для проводов сечением от 0,5 мм2 до 40 мм2
UNI 4021-1958 Клеммные колодки для медных проводов и кабелей, используемых на судах. Клеммная колодка на напряжение s48 В для жил кабелей сечением = s 4 мм2 и жил кабелей сечением s 6,3 мм2
UNI 4028-1958 Клеммные колодки для медных проводов и кабелей, используемых на судах. Прочные обжимные наконечники для проводов сечением от 4 мм² до 630 мм².
UNI 4022-1958 Клеммные колодки для медных проводов и кабелей для судов. Винтовые клеммы с двойным обжатием для проводов сечением от 2,5 мм² до 25 мм².
UNI 4023-1958 Клеммные колодки для медных проводов и кабелей для судов. Тяжелые винтовые клеммы с двойным сжатием для проводов сечением от 4 мм² до 63 мм².
UNI 4018-1958 Клеммные колодки для медных проводов и кабелей для судов. Корпусные клеммы с изолирующими колпачками для проводов сечением от 4 мм2 до 6,3 мм2
UNI 4035-1958 Клеммные колодки для медных проводов и кабелей для судов. Комплектные клеммы для клемм из композитных элементов с использованием проводов сечением от 0,5 мм² до 6,3 мм²

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), плоскость дифракции электронов

KS D ISO 19319-2005(2020) Химический анализ поверхности – электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
KS D ISO 21270:2005 Химический анализ поверхности－Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры－Линейность шкалы интенсивности
KS R 3045-2-1999(2004) Дизельные двигатели－Установочные размеры ТНВД－Часть 2:Рядные насосы, монтируемые на основании

Society of Automotive Engineers (SAE), плоскость дифракции электронов

SAE ARINC840A-2019 ЭЛЕКТРОННАЯ ЛЕТНАЯ СУМКА (EFB) ИНТЕРФЕЙС УПРАВЛЕНИЯ ПРИЛОЖЕНИЯМИ (ACI) ДЛЯ ПЛАНШЕТНЫХ УСТРОЙСТВ

GOSTR, плоскость дифракции электронов

GOST R EN 14107-2009 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ИСП).

AENOR, плоскость дифракции электронов

UNE-EN 14107:2003 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ИСП).

未注明发布机构, плоскость дифракции электронов

BS ISO 18516:2006(2010) Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.

AT-ON, плоскость дифракции электронов

ONORM S 5271-1997 Планарная сцинтиграфия и однофотонная эмиссионная компьютерная томография. Тесты на постоянство функциональных характеристик.