ZH
EN
ES

электронный микроскоп микроскоп

электронный микроскоп микроскоп, Всего: 9 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к электронный микроскоп микроскоп, являются: Аналитическая химия, Качество воздуха.

International Organization for Standardization (ISO), электронный микроскоп микроскоп

• ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
• ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
• ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.

British Standards Institution (BSI), электронный микроскоп микроскоп

• BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
• 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)

American Society for Testing and Materials (ASTM), электронный микроскоп микроскоп

• ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
• ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), электронный микроскоп микроскоп

• JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
• JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.

Другие:   электронный микроскоп, Электронный микроскоп, Просвечивающая электронная микроскопия против электронной микроскопии, электронный микроскоп микроскоп, Электронный микроскоп Оптический микроскоп, Электронный микроскоп Оптический микроскоп, Электронный микроскоп:, электронный микроскоп, сканирующий электронный микроскопэлектронный микроскоп, электронный микроскоп микроскоп, Электронный микроскоп?, Сканирующий электронный микроскоп и сканирующий электронный микроскоп, Электронный микроскоп против сканирующего электронного микроскопа, электронный микроскоп и электронный микроскоп, Электронный микроскоп и сканирующий электронный микроскоп, Электронный микроскоп и просвечивающий электронный микроскоп, электронный микроскоп, просвечивающий электронный микроскоп, Просвечивающий электронный микроскоп и электронный микроскоп, Электронная микроскопия и просвечивающая электронная микроскопия, микроскоп электронный микроскоп.