ZH
EN
ES
нарушение дифракции электронов
нарушение дифракции электронов, Всего: 159 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к нарушение дифракции электронов, являются: Словари, Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия, Испытание металлов, Защита от огня, Медицинские науки и учреждения здравоохранения в целом, Применение информационных технологий, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Неразрушающий контроль, Линейные и угловые измерения, Образование, Обработка поверхности и покрытие, Качество почвы. Почвоведение, Электронные лампы, Керамика, Электростанции в целом, Пищевые масла и жиры. Масличные культуры, Измерения радиации, Фармацевтика, Атомная энергетика, Радиосвязь.
International Organization for Standardization (ISO), нарушение дифракции электронов
- ISO/CD 23699 Микролучевой анализ. Дифракция обратно рассеянных электронов. Словарь
- ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- ISO 13067:2011 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
- ISO 23749:2022 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали.
- ISO 13067:2020 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
- ISO 15902:2004 Оптика и фотоника - Дифракционная оптика - Словарь
- ISO 15902:2019 Оптика и фотоника — Дифракционная оптика — Словарь
- ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
- ISO/DIS 24173:2023 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов.
- ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- ISO/TTA 3:2001 Поликристаллические материалы. Определение остаточных напряжений методом нейтронографии.
- ISO 15902:2004/cor 1:2005 Оптика и фотоника - Дифракционная оптика - Словарь; Техническое исправление 1
- ISO 23703:2022 Микролучевой анализ. Рекомендации по анализу разориентации для оценки механического повреждения аустенитной нержавеющей стали методом дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD).
- ISO/TS 21432:2005 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.
- ISO 21432:2019 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.
- ISO/FDIS 10110-16 Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Часть 16. Дифракционные поверхности.
- ISO 10110-16:2023 Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Часть 16. Дифракционные поверхности.
- ISO/TS 21432:2005/cor 1:2008 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом дифракции нейтронов; Техническое исправление 1
United States Navy, нарушение дифракции электронов
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, нарушение дифракции электронов
- GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
- GB/T 19501-2004 Общее руководство по анализу дифракции обратного рассеяния электронов
- GB/T 19501-2013 Микролучевой анализ. Общее руководство по анализу дифракции обратного рассеяния электронов.
- GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- GB/T 36165-2018 Определение среднего размера зерна металла. Метод дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD).
- GB/T 30703-2014 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов.
- GB/T 38532-2020 Микролучевой анализ — Дифракция обратного рассеяния электронов — Измерение среднего размера зерна
- GB/T 20724-2006 Метод измерения толщины тонкого кристалла методом дифракции сходящегося пучка электронов
- GB/T 26140-2023 Нейтронографический метод измерения остаточных напряжений при неразрушающем контроле
- GB/T 26140-2010 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.
工业和信息化部, нарушение дифракции электронов
- YB/T 4677-2018 Определение текстуры в стали методом дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD)
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, нарушение дифракции электронов
- DB31/T 1156-2019 Метод дифракции обратного рассеяния электронов для технической идентификации следов электропожара
Association Francaise de Normalisation, нарушение дифракции электронов
- NF ISO 24173:2009 Микролучевой анализ — рекомендации по измерению ориентации методом дифракции обратно рассеянных электронов
- NF X21-014:2012 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
- NF X21-011*NF ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
- NF S10-133*NF EN ISO 15902:2020 Оптика и фотоника - Дифракционная оптика - Словарь
- NF EN ISO 15902:2020 Оптика и фотоника - Дифракционная оптика - Словарь
- NF EN ISO 21432:2020 Неразрушающий контроль. Стандартизированный метод определения остаточных напряжений методом нейтронографии.
- NF A09-610*NF EN ISO 21432:2020 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.
- NF EN 16294:2013 Нефтепродукты и продукты, полученные из жирных веществ. Определение содержания фосфора в метиловых эфирах жирных кислот (МЭЖК). Метод атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ICP OES).
Danish Standards Foundation, нарушение дифракции электронов
- DS-hæfte 10:1998 Электронная карта пациента и стандарты. Структура или хаос
- DS/EN ISO 15902:2005 Оптика и фотоника - Дифракционная оптика - Словарь
- DS/CEN ISO/TS 21432/AC:2009 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.
- DS/CEN ISO/TS 21432:2005 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии (ISO 21432:2005).
- DS/EN 14107:2003 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP).
German Institute for Standardization, нарушение дифракции электронов
- DIN ISO 13067:2021-08 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2020).
- DIN EN ISO 15902:2005 Оптика и фотоника. Оптика дифракционная. Словарь (ISO 15902:2004); Немецкая версия EN ISO 15902:2005.
- DIN EN ISO 15902:2020-05 Оптика и фотоника. Дифракционная оптика. Словарь (ISO 15902:2019); Немецкая версия EN ISO 15902:2020
- DIN ISO 13067:2015 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2011)
- DIN ISO 24173:2013-04 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (ISO 24713:2009)
- DIN ISO 13067:2021 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2020).
- DIN ISO 24173:2013 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (ISO 24713:2009)
- DIN EN ISO 15902:2020 Оптика и фотоника. Дифракционная оптика. Словарь (ISO 15902:2019)
- DIN 44402-16:1972 Измерения электрических свойств электронных ламп и ламп; методы измерения паразитных и нежелательных электродных токов
- DIN IEC 60562:1980 Измерения побочного ионизирующего излучения электронных ламп
- DIN IEC 60562:1980-05 Измерения побочного ионизирующего излучения электронных ламп
- DIN EN 14107:2003-10 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP); Немецкая версия EN 14107:2003.
- DIN EN ISO 21432:2021-05 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии (ISO 21432:2019)
- DIN 6809-1:2010 Клиническая дозиметрия. Часть 1. Качество фотонного и электронного излучения.
British Standards Institution (BSI), нарушение дифракции электронов
- BS ISO 13067:2011 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
- BS ISO 13067:2020 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
- BS ISO 23749:2022 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали
- BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
- BS EN ISO 15902:2005 Оптика и фотоника - Дифракционная оптика - Словарь
- BS EN ISO 15902:2020 Оптика и фотоника. Дифракционная оптика. Словарный запас
- BS ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
- BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- 19/30365236 DC BS ISO 13067. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
- 21/30398224 DC BS ISO 23749. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали
- 23/30435799 DC BS ISO 24173. Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
- BS ISO 23703:2022 Микролучевой анализ. Рекомендации по анализу разориентации для оценки механического повреждения аустенитной нержавеющей стали методом дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)
- BS DD CEN ISO/TS 21432:2006 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.
- BS ISO 10110-16:2023 Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Дифракционные поверхности
- 21/30395106 DC BS ISO 23703. Микролучевой анализ. Руководство по анализу разориентации для оценки механического повреждения аустенитной нержавеющей стали методом дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)
- BS EN ISO 21432:2020 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии
- 18/30372101 DC BS ISO 21432. Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии
- BS EN 14107:2003 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP).
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, нарушение дифракции электронов
- GB/T 41076-2021 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали.
- GB/T 20724-2021 Микролучевой анализ - метод измерения толщины тонких кристаллов методом дифракции электронов сходящимся пучком.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), нарушение дифракции электронов
- KS B ISO 15902:2013 Оптика и оптические приборы ― Дифференциальная оптика ― Словарь
- KS B ISO 15902:2008 Оптика и фотоника-Дифракционная оптика-Словарь
- KS B ISO 15902:2018 Оптика и фотоника — Дифракционная оптика — Словарь
- KS B ISO TS 21432:2017 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.
- KS B ISO 21432:2007 Неразрушающий контроль - Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом дифракции нейтронов.
- KS B ISO TS 21432-2017(2022) Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.
CEN - European Committee for Standardization, нарушение дифракции электронов
European Committee for Standardization (CEN), нарушение дифракции электронов
- EN ISO 15902:2020 Оптика и фотоника. Дифракционная оптика. Словарь (ISO 15902:2019)
- EN ISO/TS 21432:2005 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.
- EN ISO 21432:2020 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии (ISO 21432:2019)
- CEN ISO/TS 21432:2005 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии ISO 21432:2005.
- EN 14107:2003 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP).
- CEN ISO/TS 21432/AC:2009 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии (ISO 21432:2005/Cor 1:2008).
KR-KS, нарушение дифракции электронов
- KS B ISO 15902-2018 Оптика и фотоника — Дифракционная оптика — Словарь
- KS B ISO 21432-2023 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.
- KS B ISO TS 21432-2017 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.
ES-UNE, нарушение дифракции электронов
- UNE-EN ISO 15902:2020 Оптика и фотоника. Дифракционная оптика. Словарь (ISO 15902:2019) (Одобрен Испанской ассоциацией по стандартизации в феврале 2020 г.)
- UNE-EN ISO 21432:2022 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии (ISO 21432:2019)
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, нарушение дифракции электронов
- GB/T 34172-2017 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Метод фазового анализа металла и сплава.
Professional Standard - Energy, нарушение дифракции электронов
- NB/SH/T 6015-2020 Определение параметров элементарной ячейки молекулярного сита ZSM-23 методом рентгеновской дифракции
- NB/SH/T 6033-2021 Определение параметров элементарной ячейки молекулярного сита ZSM-22 рентгеноструктурным методом.
- NB/SH/T 6024-2021 Определение относительной кристалличности молекулярного сита ZSM-5 рентгеноструктурным методом
- NB/SH/T 0339-2021 Определение параметров элементарной ячейки фожазита молекулярного сита рентгеноструктурным методом
IET - Institution of Engineering and Technology, нарушение дифракции электронов
GOSTR, нарушение дифракции электронов
- GOST R 58565-2019 Оптика и фотоника. Дифракционная оптика. Понятия и определения
- GOST R EN 14107-2009 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ИСП).
AENOR, нарушение дифракции электронов
- UNE-EN ISO 15902:2007 Оптика и фотоника. Дифракционная оптика. Словарь (ISO 15902:2004)
- UNE-EN 14107:2003 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ИСП).
- UNE 20627:1979 ИЗМЕРЕНИЯ ПОПАДНОГО ИОНИЗИРУЮЩЕГО ИЗЛУЧЕНИЯ ЭЛЕКТРОННЫХ ЛАМП
American Gear Manufacturers Association, нарушение дифракции электронов
- AGMA 08FTM12-2008 Измерение напряжений в науглероженных шестернях методом нейтронной дифракции на месте
Professional Standard - Commodity Inspection, нарушение дифракции электронов
- SN/T 2649.1-2010 Определение асбеста в косметике для импорта и экспорта. Часть 1: Метод рентгеновской дифракции и сканирующей электронной микроскопии.
- SN/T 3514-2013 Метод идентификации текстурного анализа зерноориентированных и неориентированных электротехнических сталей. Рентгеновская дифракция (XRD).
- SN/T 3974-2014 Определение следов хрома (Ⅵ) в гальванических продуктах методом ионной хроматографии с постколоночным выводом
RU-GOST R, нарушение дифракции электронов
- GOST R 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивности на дифракционных картинах. Метод измерения с помощью электронного дифрактометра
- GOST R ISO 13067-2016 Государственная система обеспечения единства измерений. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
- GOST R 59738-2021 Оптика и фотоника. Дифракционные решетки. Типы, основные размеры и параметры
- GOST R 8.698-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Метод измерения с помощью дифрактометра малоуглового рентгеновского рассеяния.
AGMA - American Gear Manufacturers Association, нарушение дифракции электронов
- 08FTM12-2008 Измерение напряжений в науглероженных шестернях методом нейтронной дифракции на месте
Professional Standard - Education, нарушение дифракции электронов
- JY/T 0588-2020 Общие правила определения кристаллической и молекулярной структуры низкомолекулярных соединений методом рентгеновской дифракции монокристаллов
- JY/T 008-1996 Общие правила определения кристаллической и молекулярной структуры низкомолекулярных соединений с помощью четырехкружного монокристаллического рентгеновского дифрактометра
CO-ICONTEC, нарушение дифракции электронов
- ICONTEC 2979-1991 Электроника. Визуальный контроль электронных изоляционных масел в нефтепродуктах
- ICONTEC 3219-1991 Электроника. Метод измерения коэффициента теплового расширения электроизоляционных жидкостей (нефтепродуктов)
IX-IX-IEC, нарушение дифракции электронов
- IEC TS 62607-6-17:2023 Нанопроизводство. Ключевые контрольные характеристики. Часть 6-17. Материал на основе графена. Параметр порядка: рентгеновская дифракция и просвечивающая электронная микроскопия.
American Society for Testing and Materials (ASTM), нарушение дифракции электронов
- ASTM E2627-13 Стандартная практика определения среднего размера зерна с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD) в полностью рекристаллизованных поликристаллических материалах
- ASTM E2627-13(2019) Стандартная практика определения среднего размера зерна с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD) в полностью рекристаллизованных поликристаллических материалах
- ASTM F2024-10(2016) Стандартная практика рентгеноструктурного определения фазового состава гидроксиапатитовых покрытий, напыленных плазмой
- ASTM F2024-10(2021) Стандартная практика рентгеноструктурного определения фазового состава гидроксиапатитовых покрытий, напыленных плазмой
- ASTM F2024-00 Стандартная практика рентгеноструктурного определения фазового состава гидроксиапатитовых покрытий, напыленных плазмой
- ASTM E2627-10 Стандартная практика определения среднего размера зерна с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD) в полностью рекристаллизованных поликристаллических материалах
- ASTM E521-96 Стандартная практика моделирования повреждений от нейтронного излучения путем облучения заряженными частицами
- ASTM E521-96(2003) Стандартная практика моделирования повреждений от нейтронного излучения путем облучения заряженными частицами
Group Standards of the People's Republic of China, нарушение дифракции электронов
- T/GDAEPI 15-2023 Технические условия на восстановление ex-situ сложного загрязненного грунта на месте демонтажа рассеянных и загрязненных электронных отходов
IT-UNI, нарушение дифракции электронов
- UNI EN ISO 21432:2021 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.
Professional Standard - Electricity, нарушение дифракции электронов
- DL/T 2056-2019 Метод определения размера частиц ионообменной смолы и порошка известняка, метод лазерной дифракции.
- DL/T 1317-2014 Код метода ультразвуковой времяпролетной дифракции для стыковых сварных швов на электростанциях, работающих на ископаемом топливе
- DL/T 1151.22-2012 Аналитические методы накипи и продуктов коррозии на электростанциях. Часть 22. Стандартные методы испытаний рентгенофлуоресцентной спектрометрии и рентгеновской дифракции.
未注明发布机构, нарушение дифракции электронов
- BS ISO 21432:2019 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), нарушение дифракции электронов
- JIS R 1629:1997 Определение гранулометрического состава мелкозернистых керамических порошков методом лазерной дифракции
AT-ON, нарушение дифракции электронов
- OENORM EN ISO 21432:2021 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии (ISO 21432:2019)
CH-SNV, нарушение дифракции электронов
- SN EN ISO 21432:2021 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии (ISO 21432:2019)
Lithuanian Standards Office , нарушение дифракции электронов
- LST EN ISO 21432:2020 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии (ISO 21432:2019)
- LST EN 14107-2004 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP).
PL-PKN, нарушение дифракции электронов
- PN-EN ISO 21432-2021-03 E Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии (ISO 21432:2019).
Defense Logistics Agency, нарушение дифракции электронов
BR-ABNT, нарушение дифракции электронов
- ABNT TB-19 Pt.4-1979 Электронные и электрические измерения, методы электронных измерений с использованием ионизирующего излучения.
ZA-SANS, нарушение дифракции электронов
- SANS 54107:2007 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP).
YU-JUS, нарушение дифракции электронов
Professional Standard - Electron, нарушение дифракции электронов
HU-MSZT, нарушение дифракции электронов
工业和信息化部/国家能源局, нарушение дифракции электронов
Standard Association of Australia (SAA), нарушение дифракции электронов
- AS 5019:2001 Электронная идентификация животных - Радиочастотные методы