ZH
EN
ES

Дифракция электронов и дифракция электронов

Дифракция электронов и дифракция электронов, Всего: 185 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Дифракция электронов и дифракция электронов, являются: Словари, Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия, Испытание металлов, Защита от огня, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Неразрушающий контроль, Линейные и угловые измерения, Образование, Обработка поверхности и покрытие, Электронные лампы, Пищевые масла и жиры. Масличные культуры, Электростанции в целом, Керамика, Электронные компоненты в целом, Измерения радиации, Фармацевтика, Радиационная защита, Атомная энергетика, Топливо, Нефтепродукты в целом, Радиосвязь, Применение информационных технологий.

International Organization for Standardization (ISO), Дифракция электронов и дифракция электронов

ISO/CD 23699 Микролучевой анализ. Дифракция обратно рассеянных электронов. Словарь
ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 13067:2011 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
ISO 15902:2004 Оптика и фотоника - Дифракционная оптика - Словарь
ISO 23749:2022 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали.
ISO 13067:2020 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
ISO 15902:2019 Оптика и фотоника — Дифракционная оптика — Словарь
ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
ISO/DIS 24173:2023 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов.
ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 15902:2004/cor 1:2005 Оптика и фотоника - Дифракционная оптика - Словарь; Техническое исправление 1
ISO/TTA 3:2001 Поликристаллические материалы. Определение остаточных напряжений методом нейтронографии.
ISO 23703:2022 Микролучевой анализ. Рекомендации по анализу разориентации для оценки механического повреждения аустенитной нержавеющей стали методом дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD).
ISO/TS 21432:2005 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.
ISO/FDIS 10110-16 Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Часть 16. Дифракционные поверхности.
ISO 10110-16:2023 Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Часть 16. Дифракционные поверхности.
ISO 21432:2019 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.
ISO 28057:2014 Дозиметрия с твердотельными термолюминесцентными детекторами фотонного и электронного излучений в лучевой терапии
ISO/TS 21432:2005/cor 1:2008 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом дифракции нейтронов; Техническое исправление 1

United States Navy, Дифракция электронов и дифракция электронов

NAVY UFGS-01 33 29-2010 ДОКУМЕНТАЦИЯ LEED(TM)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Дифракция электронов и дифракция электронов

GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
GB/T 19501-2004 Общее руководство по анализу дифракции обратного рассеяния электронов
GB/T 19501-2013 Микролучевой анализ. Общее руководство по анализу дифракции обратного рассеяния электронов.
GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GB/T 36165-2018 Определение среднего размера зерна металла. Метод дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD).
GB/T 30703-2014 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов.
GB/T 38532-2020 Микролучевой анализ — Дифракция обратного рассеяния электронов — Измерение среднего размера зерна
GB/T 20724-2006 Метод измерения толщины тонкого кристалла методом дифракции сходящегося пучка электронов
GB/T 26140-2023 Нейтронографический метод измерения остаточных напряжений при неразрушающем контроле
GB/T 26140-2010 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.

工业和信息化部, Дифракция электронов и дифракция электронов

YB/T 4677-2018 Определение текстуры в стали методом дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD)

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Дифракция электронов и дифракция электронов

DB31/T 1156-2019 Метод дифракции обратного рассеяния электронов для технической идентификации следов электропожара

Association Francaise de Normalisation, Дифракция электронов и дифракция электронов

NF ISO 24173:2009 Микролучевой анализ — рекомендации по измерению ориентации методом дифракции обратно рассеянных электронов
NF X21-014:2012 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
NF S10-133*NF EN ISO 15902:2020 Оптика и фотоника - Дифракционная оптика - Словарь
NF EN ISO 15902:2020 Оптика и фотоника - Дифракционная оптика - Словарь
NF X21-011*NF ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
NF EN ISO 21432:2020 Неразрушающий контроль. Стандартизированный метод определения остаточных напряжений методом нейтронографии.
NF A09-610*NF EN ISO 21432:2020 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.
NF EN 16294:2013 Нефтепродукты и продукты, полученные из жирных веществ. Определение содержания фосфора в метиловых эфирах жирных кислот (МЭЖК). Метод атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ICP OES).
NF M60-565:2014 Дозиметрия с твердотельными термолюминесцентными детекторами фотонного и электронного излучений в лучевой терапии
NF M07-151*NF EN 16294:2013 Нефтепродукты и производные жиров и масел - Определение содержания фосфора в метиловых эфирах жирных кислот (FAME) - Опто-эмиссионный спектральный анализ с индуктивно-связанной плазмой (ICP OES)
NF EN 14538:2007 Продукты, полученные из жирных веществ - Метиловые эфиры жирных кислот (МЭЖК) - Определение содержания Ca, K, Mg и Na методом оптико-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP OES)

German Institute for Standardization, Дифракция электронов и дифракция электронов

DIN ISO 13067:2021-08 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2020).
DIN EN ISO 15902:2005 Оптика и фотоника. Оптика дифракционная. Словарь (ISO 15902:2004); Немецкая версия EN ISO 15902:2005.
DIN EN ISO 15902:2020-05 Оптика и фотоника. Дифракционная оптика. Словарь (ISO 15902:2019); Немецкая версия EN ISO 15902:2020
DIN ISO 13067:2015 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2011)
DIN ISO 24173:2013-04 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (ISO 24713:2009)
DIN ISO 13067:2021 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2020).
DIN EN ISO 15902:2020 Оптика и фотоника. Дифракционная оптика. Словарь (ISO 15902:2019)
DIN ISO 24173:2013 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (ISO 24713:2009)
DIN EN 14107:2003-10 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP); Немецкая версия EN 14107:2003.
DIN IEC 60562:1980 Измерения побочного ионизирующего излучения электронных ламп
DIN IEC 60562:1980-05 Измерения побочного ионизирующего излучения электронных ламп
DIN EN ISO 21432:2021-05 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии (ISO 21432:2019)
DIN 6800-2:2020-08 Методика дозиметрии с детекторами зондового типа для фотонного и электронного излучения. Часть 2. Дозиметрия в ионизационной камере фотонного и электронного излучения высоких энергий.
DIN 6809-1:2010 Клиническая дозиметрия. Часть 1. Качество фотонного и электронного излучения.
DIN 6800-2 Berichtigung 1:2010 Методы дозиметрии с детекторами зондового типа для фотонного и электронного излучения. Часть 2. Дозиметрия фотонов и электронов в ионизационной камере, исправление к DIN 6800-2:2008-03.
DIN 6800-2:2008 Методы дозиметрии с детекторами зондового типа для фотонного и электронного излучения. Часть 2. Дозиметрия в ионизационной камере фотонного и электронного излучения высоких энергий.
DIN 6809-1:2010-03 Клиническая дозиметрия. Часть 1. Качество фотонного и электронного излучения.
DIN EN 14538:2006-09 Производные жиров и масел - Метиловый эфир жирных кислот (FAME) - Определение содержания Ca, K, Mg и Na методом оптического эмиссионного спектрального анализа с индуктивно-связанной плазмой (ICP OES); Немецкая версия EN 14538:2006.
DIN EN 16294:2013-02 Нефтепродукты и производные жиров и масел - Определение содержания фосфора в метиловых эфирах жирных кислот (МЭЖК) - Опто-эмиссионный спектральный анализ с индуктивно-связанной плазмой (ICP OES); Немецкая версия EN 16294:2012.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Дифракция электронов и дифракция электронов

KS B ISO 15902:2013 Оптика и оптические приборы ― Дифференциальная оптика ― Словарь
KS B ISO 15902:2008 Оптика и фотоника-Дифракционная оптика-Словарь
KS B ISO 15902:2018 Оптика и фотоника — Дифракционная оптика — Словарь
KS B ISO TS 21432:2017 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.
KS B ISO 21432:2007 Неразрушающий контроль - Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом дифракции нейтронов.
KS B ISO TS 21432-2017(2022) Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.

CEN - European Committee for Standardization, Дифракция электронов и дифракция электронов

EN ISO 15902:2005 Оптика и фотоника - Дифракционная оптика - Словарь
EN ISO 28057:2018 Дозиметрия с твердотельными термолюминесцентными детекторами фотонного и электронного излучений в лучевой терапии

European Committee for Standardization (CEN), Дифракция электронов и дифракция электронов

EN ISO 15902:2020 Оптика и фотоника. Дифракционная оптика. Словарь (ISO 15902:2019)
EN ISO/TS 21432:2005 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.
EN ISO 21432:2020 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии (ISO 21432:2019)
CEN ISO/TS 21432:2005 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии ISO 21432:2005.
EN 14107:2003 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP).
EN ISO 28057:2021 Клиническая дозиметрия. Дозиметрия с твердотельными термолюминесцентными детекторами фотонного и электронного излучения в лучевой терапии (ISO 28057:2019)
CEN ISO/TS 21432/AC:2009 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии (ISO 21432:2005/Cor 1:2008).

Danish Standards Foundation, Дифракция электронов и дифракция электронов

DS/EN ISO 15902:2005 Оптика и фотоника - Дифракционная оптика - Словарь
DS/EN 14107:2003 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP).
DS/CEN ISO/TS 21432/AC:2009 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.
DS/CEN ISO/TS 21432:2005 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии (ISO 21432:2005).
DS/EN 16294:2013 Нефтепродукты и производные жиров и масел - Определение содержания фосфора в метиловых эфирах жирных кислот (FAME) - Опто-эмиссионный спектральный анализ с индуктивно-связанной плазмой (ICP OES)

British Standards Institution (BSI), Дифракция электронов и дифракция электронов

BS EN ISO 15902:2005 Оптика и фотоника - Дифракционная оптика - Словарь
BS EN ISO 15902:2020 Оптика и фотоника. Дифракционная оптика. Словарный запас
BS ISO 13067:2011 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
BS ISO 13067:2020 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
BS ISO 23749:2022 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали
BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
BS ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
19/30365236 DC BS ISO 13067. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
21/30398224 DC BS ISO 23749. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали
23/30435799 DC BS ISO 24173. Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
BS ISO 10110-16:2023 Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Дифракционные поверхности
BS ISO 23703:2022 Микролучевой анализ. Рекомендации по анализу разориентации для оценки механического повреждения аустенитной нержавеющей стали методом дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)
BS DD CEN ISO/TS 21432:2006 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.
21/30395106 DC BS ISO 23703. Микролучевой анализ. Руководство по анализу разориентации для оценки механического повреждения аустенитной нержавеющей стали методом дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)
BS EN ISO 21432:2020 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии
BS EN 14107:2003 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP).
18/30372101 DC BS ISO 21432. Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии
22/30430316 DC БС ИСО 10110-16. Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем - Часть 16. Дифракционные поверхности
BS ISO 17901-1:2015 Оптика и фотоника. Голография. Методы измерения дифракционной эффективности и связанных с ней оптических характеристик голограмм
BS ISO 28057:2014 Дозиметрия с твердотельными термолюминесцентными детекторами фотонного и электронного излучений в лучевой терапии
BS EN ISO 28057:2021 Клиническая дозиметрия. Дозиметрия с твердотельными термолюминесцентными детекторами фотонного и электронного излучений в лучевой терапии
BS EN 14538:2006 Производные жиров и масел. Метиловый эфир жирных кислот (FAME). Определение содержания Ca, K, Mg и Na методом оптико-эмиссионного спектрального анализа с индуктивно-связанной плазмой (ICP OES)
BS EN 16294:2012 Нефтепродукты и производные жиров и масел. Определение содержания фосфора в метиловых эфирах жирных кислот (МЭЖК). Оптико-эмиссионный спектральный анализ с индуктивно связанной плазмой (ICP OES)
PD IEC TR 62396-8:2020 Управление процессами для авионики. Воздействие атмосферной радиации. Потоки протонов, электронов, пионов, мюонов, альфа-лучей и одиночные эффекты в электронной аппаратуре авионики. Рекомендации по повышению осведомленности

ES-UNE, Дифракция электронов и дифракция электронов

UNE-EN ISO 15902:2020 Оптика и фотоника. Дифракционная оптика. Словарь (ISO 15902:2019) (Одобрен Испанской ассоциацией по стандартизации в феврале 2020 г.)
UNE-EN ISO 21432:2022 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии (ISO 21432:2019)
UNE-EN 14538:2006 Производные жиров и масел. Метиловый эфир жирных кислот (FAME). Определение содержания Ca, K, Mg и Na методом оптического эмиссионного спектрального анализа с индуктивно-связанной плазмой (ICP OES).

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Дифракция электронов и дифракция электронов

GB/T 41076-2021 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали.
GB/T 20724-2021 Микролучевой анализ - метод измерения толщины тонких кристаллов методом дифракции электронов сходящимся пучком.

KR-KS, Дифракция электронов и дифракция электронов

KS B ISO 15902-2018 Оптика и фотоника — Дифракционная оптика — Словарь
KS B ISO 21432-2023 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.
KS B ISO TS 21432-2017 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Дифракция электронов и дифракция электронов

GB/T 34172-2017 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Метод фазового анализа металла и сплава.

IET - Institution of Engineering and Technology, Дифракция электронов и дифракция электронов

THEO EDGE DIFF ELECTRO-2009 Теория краевой дифракции в электромагнетике: зарождение и подтверждение физической теории дифракции
GEOMET THEO DIFF ELECTRO WAV-1979 Геометрическая теория дифракции электромагнитных волн

GOSTR, Дифракция электронов и дифракция электронов

GOST R 58565-2019 Оптика и фотоника. Дифракционная оптика. Понятия и определения
GOST R EN 14107-2009 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ИСП).
GOST R EN 14538-2009 Производные жиров и масел. Метиловый эфир жирных кислот (FAME). Определение содержания Ca, K, Mg и Na оптико-эмиссионным спектральным методом с индуктивно-связанной плазмой (ICP OES)

AENOR, Дифракция электронов и дифракция электронов

UNE-EN ISO 15902:2007 Оптика и фотоника. Дифракционная оптика. Словарь (ISO 15902:2004)
UNE-EN 14107:2003 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ИСП).
UNE 20627:1979 ИЗМЕРЕНИЯ ПОПАДНОГО ИОНИЗИРУЮЩЕГО ИЗЛУЧЕНИЯ ЭЛЕКТРОННЫХ ЛАМП
UNE-EN 16294:2013 Нефтепродукты и производные жиров и масел - Определение содержания фосфора в метиловых эфирах жирных кислот (FAME) - Опто-эмиссионный спектральный анализ с индуктивно-связанной плазмой (ICP OES)

Professional Standard - Energy, Дифракция электронов и дифракция электронов

NB/SH/T 6015-2020 Определение параметров элементарной ячейки молекулярного сита ZSM-23 методом рентгеновской дифракции
NB/SH/T 6033-2021 Определение параметров элементарной ячейки молекулярного сита ZSM-22 рентгеноструктурным методом.
NB/SH/T 6024-2021 Определение относительной кристалличности молекулярного сита ZSM-5 рентгеноструктурным методом
NB/SH/T 0339-2021 Определение параметров элементарной ячейки фожазита молекулярного сита рентгеноструктурным методом

American Gear Manufacturers Association, Дифракция электронов и дифракция электронов

AGMA 08FTM12-2008 Измерение напряжений в науглероженных шестернях методом нейтронной дифракции на месте

RU-GOST R, Дифракция электронов и дифракция электронов

GOST R 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивности на дифракционных картинах. Метод измерения с помощью электронного дифрактометра
GOST R 59738-2021 Оптика и фотоника. Дифракционные решетки. Типы, основные размеры и параметры
GOST R ISO 13067-2016 Государственная система обеспечения единства измерений. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
GOST R 8.698-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Метод измерения с помощью дифрактометра малоуглового рентгеновского рассеяния.
GOST 22091.2-1984 Рентгеновские аппараты. Методы измерения тока и напряжения инжекции рентгеновских бетатронов

Professional Standard - Commodity Inspection, Дифракция электронов и дифракция электронов

SN/T 2649.1-2010 Определение асбеста в косметике для импорта и экспорта. Часть 1: Метод рентгеновской дифракции и сканирующей электронной микроскопии.
SN/T 3514-2013 Метод идентификации текстурного анализа зерноориентированных и неориентированных электротехнических сталей. Рентгеновская дифракция (XRD).
SN/T 3974-2014 Определение следов хрома (Ⅵ) в гальванических продуктах методом ионной хроматографии с постколоночным выводом

AGMA - American Gear Manufacturers Association, Дифракция электронов и дифракция электронов

08FTM12-2008 Измерение напряжений в науглероженных шестернях методом нейтронной дифракции на месте

IX-IX-IEC, Дифракция электронов и дифракция электронов

IEC TS 62607-6-17:2023 Нанопроизводство. Ключевые контрольные характеристики. Часть 6-17. Материал на основе графена. Параметр порядка: рентгеновская дифракция и просвечивающая электронная микроскопия.

Professional Standard - Education, Дифракция электронов и дифракция электронов

JY/T 0588-2020 Общие правила определения кристаллической и молекулярной структуры низкомолекулярных соединений методом рентгеновской дифракции монокристаллов
JY/T 008-1996 Общие правила определения кристаллической и молекулярной структуры низкомолекулярных соединений с помощью четырехкружного монокристаллического рентгеновского дифрактометра

CO-ICONTEC, Дифракция электронов и дифракция электронов

ICONTEC 2979-1991 Электроника. Визуальный контроль электронных изоляционных масел в нефтепродуктах
ICONTEC 3219-1991 Электроника. Метод измерения коэффициента теплового расширения электроизоляционных жидкостей (нефтепродуктов)

Professional Standard - Electricity, Дифракция электронов и дифракция электронов

DL/T 2056-2019 Метод определения размера частиц ионообменной смолы и порошка известняка, метод лазерной дифракции.
DL/T 1151.22-2012 Аналитические методы накипи и продуктов коррозии на электростанциях. Часть 22. Стандартные методы испытаний рентгенофлуоресцентной спектрометрии и рентгеновской дифракции.
DL/T 1317-2014 Код метода ультразвуковой времяпролетной дифракции для стыковых сварных швов на электростанциях, работающих на ископаемом топливе

American Society for Testing and Materials (ASTM), Дифракция электронов и дифракция электронов

ASTM E2627-13 Стандартная практика определения среднего размера зерна с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD) в полностью рекристаллизованных поликристаллических материалах
ASTM E2627-13(2019) Стандартная практика определения среднего размера зерна с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD) в полностью рекристаллизованных поликристаллических материалах
ASTM F2024-10(2016) Стандартная практика рентгеноструктурного определения фазового состава гидроксиапатитовых покрытий, напыленных плазмой
ASTM F2024-10(2021) Стандартная практика рентгеноструктурного определения фазового состава гидроксиапатитовых покрытий, напыленных плазмой
ASTM F2024-00 Стандартная практика рентгеноструктурного определения фазового состава гидроксиапатитовых покрытий, напыленных плазмой
ASTM E2627-10 Стандартная практика определения среднего размера зерна с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD) в полностью рекристаллизованных поликристаллических материалах
ASTM E521-96 Стандартная практика моделирования повреждений от нейтронного излучения путем облучения заряженными частицами
ASTM E521-96(2003) Стандартная практика моделирования повреждений от нейтронного излучения путем облучения заряженными частицами

IT-UNI, Дифракция электронов и дифракция электронов

UNI EN ISO 21432:2021 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.

未注明发布机构, Дифракция электронов и дифракция электронов

BS ISO 21432:2019 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии.

Lithuanian Standards Office , Дифракция электронов и дифракция электронов

LST EN 14107-2004 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP).
LST EN ISO 21432:2020 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии (ISO 21432:2019)
LST EN 16294-2013 Нефтепродукты и производные жиров и масел - Определение содержания фосфора в метиловых эфирах жирных кислот (FAME) - Опто-эмиссионный спектральный анализ с индуктивно-связанной плазмой (ICP OES)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Дифракция электронов и дифракция электронов

JIS R 1629:1997 Определение гранулометрического состава мелкозернистых керамических порошков методом лазерной дифракции

ZA-SANS, Дифракция электронов и дифракция электронов

SANS 54107:2007 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP).

AT-ON, Дифракция электронов и дифракция электронов

OENORM EN ISO 21432:2021 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии (ISO 21432:2019)

CH-SNV, Дифракция электронов и дифракция электронов

SN EN ISO 21432:2021 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии (ISO 21432:2019)

PL-PKN, Дифракция электронов и дифракция электронов

PN-EN ISO 21432-2021-03 E Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии (ISO 21432:2019).

Defense Logistics Agency, Дифракция электронов и дифракция электронов

DLA MIL-PRF-1/852 E-2008 ЭЛЕКТРОННАЯ ТРУБКА ПЕРЕДАЮЩАЯ ТИПА 5933WA
DLA MIL-PRF-1/338 J-2009 ЭЛЕКТРОННАЯ ТРУБКА ПЕРЕДАЮЩАЯ ТИПА 2Э26
DLA MIL-PRF-1/1006 E NOTICE 2-2008 ЭЛЕКТРОННАЯ ТРУБКА, ЭЛЕКТРОЛУЧ ТИПА 4DP7
DLA MIL-PRF-1/1006E-1998 ЭЛЕКТРОННАЯ ТРУБКА, ЭЛЕКТРОЛУЧ ТИПА 4DP7
DLA MIL-PRF-1/1296 F NOTICE 2-2008 ЭЛЕКТРОННАЯ ТРУБКА ЭЛЕКТРОЛУЧ ТИПА 4МП1
DLA MIL-PRF-1/1296F-1998 ЭЛЕКТРОННАЯ ТРУБКА ЭЛЕКТРОЛУЧ ТИПА 4МП1
DLA MIL-PRF-1/1162 E-2009 ЭЛЕКТРОННАЯ ТРУБКА ЭЛЕКТРОЛУЧ ТИПА 10КП7А
DLA MIL-PRF-1/590 C-2009 ЭЛЕКТРОННАЯ ТРУБКА, ЭЛЕКТРОЛУЧ ТИПА 3FP7A
DLA MIL-PRF-1/501C-1999 ЭЛЕКТРОННАЯ ТРУБКА ЭЛЕКТРОЛУЧЕВАЯ ТИПА 3КП1
DLA MIL-PRF-1/1373 D-2008 ЭЛЕКТРОННАЯ ТРУБКА, ЭЛЕКТРОЛУЧ ТИПА 7AQP7 И 7AQP33
DLA MIL-PRF-1/1048 D-2012 ЭЛЕКТРОННАЯ ТРУБКА, ЭЛЕКТРОЛУЧ ТИПА 5AFP1 И 5AFP7

BR-ABNT, Дифракция электронов и дифракция электронов

ABNT TB-19 Pt.4-1979 Электронные и электрические измерения, методы электронных измерений с использованием ионизирующего излучения.

YU-JUS, Дифракция электронов и дифракция электронов

JUS N.R1.199-1988 Измерения побочного ионизирующего излучения электронных ламп

Professional Standard - Electron, Дифракция электронов и дифракция электронов

SJ/Z 9013-1987 Измерения ионизирующего излучения электронных ламп

HU-MSZT, Дифракция электронов и дифракция электронов

MSZ 14350-1978 нейтрон. измерение радиоплотности

工业和信息化部/国家能源局, Дифракция электронов и дифракция электронов

JB/T 20170-2016 Электронный течеискатель впрыска

ES-AENOR, Дифракция электронов и дифракция электронов

UNE 20-666-1990 Электронный глоссарий. Медицинская радиология и радиационная физика

IAEA - International Atomic Energy Agency, Дифракция электронов и дифракция электронов

SSG-8-2010 Радиационная безопасность установок гамма-электронного и рентгеновского облучения

Standard Association of Australia （SAA）, Дифракция электронов и дифракция электронов

AS 5019:2001 Электронная идентификация животных - Радиочастотные методы