Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?

Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?, Всего: 21 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?, являются: Физика. Химия, Оптика и оптические измерения, Керамика, Линейные и угловые измерения, Атомная энергетика, Условия и процедуры испытаний в целом, Аналитическая химия, Защита от опасных грузов, Качество воздуха.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?

GB/T 32262-2015 Подготовка образца дезоксирибонуклеиновой кислоты для измерения с помощью атомно-силового микроскопа
GB/T 33839-2017 Методы просвечивающей электронной микроскопии для биологических образцов, содержащих углеродные наноматериалы, обладающие биологическим действием

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?

GB/T 28872-2012 Методика испытаний магнитно-слабоударного атомно-силового микроскопа для нанотопографии живых клеток
GB/T 31227-2014 Метод контроля шероховатости поверхности атомно-силовым микроскопом напыленных тонких пленок
GB/T 27760-2011 Метод испытаний для калибровки z-увеличения атомно-силового микроскопа на субнанометровых уровнях смещения с использованием одноатомных ступеней Si(111)

German Institute for Standardization, Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?

DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?

JIS R 1633:1998 Способ подготовки образцов тонкой керамики и мелкодисперсных керамических порошков для наблюдения на сканирующем электронном микроскопе
JIS R 1683:2007 Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии
JIS R 1683:2014 Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии

Professional Standard - Nuclear Industry, Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?

EJ/T 20176-2018 Метод измерения остроты кромки алмазного инструмента с помощью атомно-силового микроскопа

British Standards Institution (BSI), Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?

BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
19/30351707 DC BS ISO 21222. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
23/30461942 DC BS ISO 19606. Тонкая керамика (высокотехнологичная керамика, современная техническая керамика). Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии

American Society for Testing and Materials (ASTM), Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?

ASTM D6480-05(2010) Стандартный метод испытаний для отбора проб с поверхностей, непрямой подготовки и анализа концентрации структурного числа асбеста с помощью просвечивающей электронной микроскопии
ASTM D6480-99 Стандартный метод испытаний для отбора проб с поверхностей, непрямой подготовки и анализа концентрации структурного числа асбеста с помощью просвечивающей электронной микроскопии
ASTM D6480-05 Стандартный метод испытаний для отбора проб с поверхностей, непрямой подготовки и анализа концентрации структурного числа асбеста с помощью просвечивающей электронной микроскопии
ASTM D6480-19 Стандартный метод испытаний для отбора проб с поверхностей, непрямой подготовки и анализа поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста с помощью просвечивающей электронной микроскопии

Aerospace, Security and Defence Industries Association of Europe (ASD), Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?

ASD-STAN PREN 2004-10-1993 Серия методов испытаний алюминия и алюминиевых сплавов для аэрокосмической отрасли. Часть 10. Подготовка микрографических образцов алюминиевых сплавов (издание P 1)

ASD-STAN - Aerospace and Defence Industries Association of Europe - Standardization, Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?

PREN 2004-10-1993 Серия методов испытаний алюминия и алюминиевых сплавов для аэрокосмической отрасли. Часть 10. Подготовка микрографических образцов алюминиевых сплавов (издание P 1)

NL-NEN, Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?

NVN 5770-1993 Почва и ил. Пробоподготовка почвы и ила для определения элементов методом атомной спектрометрии. Разрушение азотной кислотой и соляной кислотой в микроволновой печи.

Association Francaise de Normalisation, Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?

NF X43-265-2:2012 Воздух на рабочем месте. Определение металлов и металлоидов в твердых частицах воздуха методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой. Часть 2: подготовка проб.