ZH
EN
ES

Надежность полупроводников

Надежность полупроводников, Всего: 20 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Надежность полупроводников, являются: Полупроводниковые приборы, Линейные и угловые измерения, Интегральные схемы. Микроэлектроника.

Group Standards of the People's Republic of China, Надежность полупроводников

T/CIE 144-2022 Метод испытаний повышения надежности полупроводниковых приборов
T/ZSA 47-2020 Методы испытаний на надежность силовых полупроводниковых приборов в электромобилях
T/IAWBS 004-2021 Общие требования и методы испытаний на надежность силовых полупроводниковых модулей, используемых в электромобилях

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Надежность полупроводников

GB/T 24468-2009 Спецификация для определения и измерения надежности, доступности и ремонтопригодности полупроводникового оборудования (ОЗУ)

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Надежность полупроводников

JEDEC JEP148A-2008 Квалификация надежности полупроводниковых приборов на основе физики отказов, оценки рисков и возможностей
JEDEC JEP148B-2014 Квалификация надежности полупроводниковых приборов на основе физики отказов, оценки рисков и возможностей

American National Standards Institute （ANSI), Надежность полупроводников

BS EN IEC 63287-2:2023 Полупроводниковые приборы. Рекомендации по планам квалификации надежности Концепция профиля миссии (Британский стандарт)

ES-UNE, Надежность полупроводников

UNE-EN IEC 63287-2:2023 Полупроводниковые приборы. Рекомендации по планам квалификации надежности. Часть 2. Концепция профиля миссии (одобрена Испанской ассоциацией нормализации в июне 2023 г.)

International Electrotechnical Commission (IEC), Надежность полупроводников

IEC 63287-2:2023 Полупроводниковые приборы. Рекомендации по планам квалификации надежности. Часть 2. Концепция профиля миссии

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Надежность полупроводников

KS C 5210-1980 Общие правила обеспечения надежности цифровых полупроводниковых интегральных схем
KS C 5218-1983 Гарантированная надежность дополнительных цифровых полупроводниковых интегральных схем МОП (ворот)
KS C 5212-1981(2002) ОБЩИЕ ПРАВИЛА ОБЕСПЕЧЕНИЯ НАДЕЖНОСТИ ДИСКРЕТНЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ
KS C 5212-1981 ОБЩИЕ ПРАВИЛА ОБЕСПЕЧЕНИЯ НАДЕЖНОСТИ ДИСКРЕТНЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ
KS C 7202-1990 Общие правила обеспечения надежности аналоговых полупроводниковых интегральных схем
KS C 5210-1980(2020) Общие правила обеспечения надежности цифровых полупроводниковых интегральных схем

British Standards Institution (BSI), Надежность полупроводников

21/30427709 DC БС МЭК 63287-2. Полупроводниковые приборы. Руководство по планам квалификации надежности. Часть 2. Концепция профиля миссии
BS EN IEC 63287-1:2021 Полупроводниковые приборы. Общие рекомендации по квалификации полупроводников — Рекомендации по квалификации надежности ИС

German Institute for Standardization, Надежность полупроводников

DIN EN IEC 63287-2:2022-06 Полупроводниковые приборы. Руководство по планам квалификации надежности. Часть 2. Концепция профиля миссии (IEC 47/2718/CDV:2021)
DIN V VDE V 0884-10:2006 Полупроводниковые приборы. Магнитные и емкостные соединители для безопасной изоляции.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Надежность полупроводников

JIS C 7210:1977 Общие правила обеспечения надежности дискретных полупроводниковых приборов