ZH
EN
ES
Система сканирующего оптического микроскопа ближнего поля
Система сканирующего оптического микроскопа ближнего поля, Всего: 9 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Система сканирующего оптического микроскопа ближнего поля, являются: Цветные металлы, Аналитическая химия.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Система сканирующего оптического микроскопа ближнего поля
- KS D 2713-2016 Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
- KS D 2713-2016(2021) Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
International Organization for Standardization (ISO), Система сканирующего оптического микроскопа ближнего поля
- ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения ближнепольного оптического микроскопа.
- ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ. Калибровка измерительных систем.
- ISO 11952:2014 Химический анализ поверхности - Сканирующая зондовая микроскопия - Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
British Standards Institution (BSI), Система сканирующего оптического микроскопа ближнего поля
- BS ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
- BS ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
RU-GOST R, Система сканирующего оптического микроскопа ближнего поля
- GOST R ISO 27911-2015 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Система сканирующего оптического микроскопа ближнего поля
- GB/T 42659-2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Калибровка измерительной системы.