ZH
EN
ES

Система сканирования оптического микроскопа

Система сканирования оптического микроскопа, Всего: 141 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Система сканирования оптического микроскопа, являются: Оптическое оборудование, Словари, Линейные и угловые измерения, Аналитическая химия, Цветные металлы, Качество воздуха, Образование, Термодинамика и измерения температуры, Электронные устройства отображения, Механические испытания, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Защита от преступности, Оптика и оптические измерения, Краски и лаки, Медицинские науки и учреждения здравоохранения в целом, Физика. Химия, Полупроводниковые приборы, Интегральные схемы. Микроэлектроника.

Professional Standard - Commodity Inspection, Система сканирования оптического микроскопа

SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.

British Standards Institution (BSI), Система сканирования оптического микроскопа

BS 7012-12:1997 Световые микроскопы. Эталонная система микроскопии поляризованного света
BS ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
BS ISO 18115-2:2013 Химический анализ поверхности. Словарный запас. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
BS ISO 28600:2011 Химический анализ поверхности. Формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии
BS EN ISO 14880-1:2005 Оптика и фотоника - Микролинзовая решетка - Словарь
BS ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
BS ISO 18115-2:2021 Химический анализ поверхности. Словарь - Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
BS ISO 18115-2:2010 Химический анализ поверхности - Словарь - Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
BS ISO 11775:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера
BS EN ISO 14880-1:2016 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Словарный запас и общие свойства
BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
BS EN ISO 14880-4:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Методы испытаний геометрических свойств.
BS EN ISO 14880-2:2007 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
19/30351707 DC BS ISO 21222. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
BS ISO 9345-2:2003 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Оптические системы с коррекцией на бесконечность.
12/30265696 DC БС ИСО 18115-2 АМД1. Химический анализ поверхности. Словарный запас. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
BS EN ISO 14880-3:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Методы испытаний оптических свойств, кроме аберраций волнового фронта.
BS ISO 9345-2:2014 Микроскопы. Расстояния визуализации, связанные с механическими базовыми плоскостями. Оптические системы с коррекцией на бесконечность
DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
BS CECC 00013:1985 Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: базовая спецификация: проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.
BS DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Система сканирования оптического микроскопа

KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS B ISO 8576:2006 Оптика и оптические приборы－Микроскопы－Справочная система микроскопии в поляризованном свете
KS D 2713-2016 Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
KS D 2713-2016(2021) Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
KS B ISO 8576-2006(2021) Оптика и оптические приборы. Микроскопы. Эталонная система микроскопии в поляризованном свете.
KS B ISO 8576-2006(2016) Оптика и оптические приборы. Микроскопы. Эталонная система микроскопии в поляризованном свете.
KS B ISO 9345-2:2006 Оптика и оптические инструменты-Микроскопы:Расстояния изображения относительно механических плоскостей отсчета.Часть 2:Оптические системы с коррекцией на бесконечность
KS B ISO 9345-2:2016 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы с коррекцией на бесконечность.
KS B ISO 14880-2:2013 Оптика и фотоника ― Массивы микролинз ― Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта
KS B ISO 14880-2:2008 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
KS B ISO 9345-2-2016(2021) Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы с коррекцией на бесконечность.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Система сканирования оптического микроскопа

ASTM E2382-04 Руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E2382-04(2012) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E986-97 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E986-04(2017) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98(2008)e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2809-13 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/рентгеновской спектрометрии при судебно-медицинской экспертизе красок
ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM F1438-93(1999) Стандартный метод испытаний для определения шероховатости поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии компонентов газораспределительной системы
ASTM F1438-93(2020) Стандартный метод испытаний для определения шероховатости поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии компонентов газораспределительной системы
ASTM E1588-95(2001) Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
ASTM E1588-08 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1588-10 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1588-95 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
ASTM F1372-93(1999) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM F1372-93(2020) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM F1438-93(2012) Стандартный метод испытаний для определения шероховатости поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии компонентов газораспределительной системы
ASTM F1372-93(2005) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM F1372-93(2012) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM E1588-20 Стандартная практика анализа остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E2090-06 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM E2090-12(2020) Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM E280-98(2004)e1 Стандартные эталонные рентгенограммы толстостенных (от 4 &189; до 12 дюймов [от 114 до 305 мм]) стальных отливок
ASTM E1588-07e1 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1588-07 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E280-21 Стандартные эталонные рентгенограммы стальных отливок с толстыми стенками (от 412 до 12 дюймов (от 114 до 305 мм))
ASTM E2809-22 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (СЭМ/ЭДС) при судебно-медицинской экспертизе полимеров

German Institute for Standardization, Система сканирования оптического микроскопа

DIN ISO 8576:2002-06 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Эталонная система микроскопии в поляризованном свете (ISO 8576:1996)
DIN ISO 8576:2002 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Эталонная система микроскопии в поляризованном свете (ISO 8576:1996)
DIN ISO 9345-2:2005 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы с коррекцией на бесконечность (ISO 9345-2:2003)
DIN EN ISO 14880-4:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 4. Методы испытаний геометрических свойств (ISO 14880-4:2006). Английская версия DIN EN ISO 14880-4:2006-08.
DIN EN ISO 14880-3:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 3. Методы испытаний оптических свойств, кроме аберраций волнового фронта (ISO 14880-3:2006). Английская версия DIN EN ISO 14880-3:2006-08.

International Organization for Standardization (ISO), Система сканирования оптического микроскопа

ISO 8576:1996 Оптика и оптические приборы - Микроскопы - Эталонная система микроскопии в поляризованном свете
ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения ближнепольного оптического микроскопа.
ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ. Калибровка измерительных систем.
ISO 11952:2014 Химический анализ поверхности - Сканирующая зондовая микроскопия - Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
ISO/WD TR 23683:2023 Химический анализ поверхности. сканирующая зондовая микроскопия. Руководство по экспериментальному количественному определению концентрации носителей заряда в полупроводниковых устройствах с использованием электрической сканирующей зондовой микроскопии.
ISO 11039:2012 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Измерение скорости дрейфа.
ISO 18115-2:2021 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
ISO 28600:2011 Химический анализ поверхности - формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии
ISO 11775:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.
ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR.
ISO 18115-2:2010 Анализ химического состава поверхностей — Словарь — Часть 2: Термины, используемые в микроскопии с помощью зонда и выметания (премьерное издание)
ISO 18115-2:2013 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
ISO 14880-1:2001/Cor 2:2005 Оптика и фотоника - Микролинзовые матрицы - Часть 1: Словарь; Техническое исправление 2
ISO 14880-1:2016 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 1. Словарь и общие свойства.
ISO 9345-2:2003 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.
ISO 14880-2:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
ISO 14880-4:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 4. Методы испытаний геометрических свойств.
ISO 14880-3:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 3. Методы испытаний оптических свойств, кроме аберраций волнового фронта.
ISO 9345-2:2014 Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы с коррекцией на бесконечность.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Система сканирования оптического микроскопа

GB/T 42659-2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Калибровка измерительной системы.
GB/T 22061-2008 Микроскопы-Эталонная система микроскопии поляризованного света
GB/T 31226-2014 Стандартный метод испытаний для определения шероховатости поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии компонентов газораспределительной системы
GB/T 22057.2-2008 Микроскопы. Расстояния отображения в зависимости от механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы с коррекцией на бесконечность.

KR-KS, Система сканирования оптического микроскопа

KS B ISO 8576-2023 Оптика и оптические приборы. Микроскопы. Эталонная система микроскопии в поляризованном свете.
KS B ISO 9345-2-2016 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы с коррекцией на бесконечность.
KS B ISO 9345-2-2023 Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Система сканирования оптического микроскопа

JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
JIS K 0147-2:2017 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
JIS B 7251:2000 Эталонная система микроскопии поляризованного света
JIS B 7132-2:2009 Микроскопы. Расстояния отображения, связанные с механическими плоскостями отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.
JIS B 7132-2:2022 Микроскопы. Расстояния отображения, связанные с механическими плоскостями отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.

Professional Standard - Education, Система сканирования оптического микроскопа

JY/T 0586-2020 Общие правила аналитических методов лазерной сканирующей конфокальной микроскопии

RU-GOST R, Система сканирования оптического микроскопа

GOST R ISO 27911-2015 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
GOST R 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы калибровки
GOST 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Метод проверки
GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы
GOST R 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы проверки
GOST 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
GOST R 8.630-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Методы проверки
GOST R 8.635-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод калибровки
GOST 15114-1978 Телескопическая система для оптических приборов. Визуальный метод определения пределов разрешения
GOST R 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки

Group Standards of the People's Republic of China, Система сканирования оптического микроскопа

T/QGCML 1940-2023

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Система сканирования оптического микроскопа

GB/T 36052-2018 Химический анализ поверхности — формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии.

Association of German Mechanical Engineers, Система сканирования оптического микроскопа

VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Определение геометрических величин с помощью сканирующих зондовых микроскопов - Калибровка измерительных систем
VDI/VDE 2634 Blatt 2-2002 Оптические 3D-измерительные системы - Оптические системы на основе сканирования площади
VDI/VDE 2634 Blatt 2-2012 Оптические 3-D измерительные системы - Оптические системы, основанные на сканировании площади
VDI/VDE 2634 Blatt 3-2008 Оптические 3D-измерительные системы — системы множественного просмотра, основанные на сканировании площади.

Professional Standard - Machinery, Система сканирования оптического микроскопа

JB/T 8380-1996 Эталонная система поляризационного микроскопа

Professional Standard - Public Safety Standards, Система сканирования оптического микроскопа

GA/T 1938-2021 Судмедэкспертиза Проверка металлов Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1937-2021 Судебная медицина Проверка резины Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1939-2021 Судмедэкспертиза Текущая точечная экспертиза Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1522-2018 Судмедэкспертиза Осмотр остатков стрельбы Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1521-2018 Судебная медицина Исследование элементного состава пластмасс Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1519-2018 Судмедэкспертиза Проверка элементного состава тонера Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1520-2018 Судебно-медицинская экспертиза черного пороха, проверка элементного состава пиротехнического порошка, сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергетическая спектрометрия
GA/T 823.3-2018 Методы исследования красочных доказательств в судебной медицине. Часть 3: Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия

Association Francaise de Normalisation, Система сканирования оптического микроскопа

NF X21-069-2:2010 Химический анализ поверхности - Словарь - Часть 2: термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
NF S10-132-1:2016 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 1: словарь и общие свойства.
NF S10-132-4*NF EN ISO 14880-4:2006 Оптика и фонотика - Массивы микролинз - Часть 4: методы испытаний геометрических свойств.
NF S10-132-2*NF EN ISO 14880-2:2007 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
FD T16-203:2011 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.

工业和信息化部, Система сканирования оптического микроскопа

SJ/T 11759-2020 Измерение соотношения сторон линии электродной сетки фотоэлектрического элемента Лазерная сканирующая конфокальная микроскопия

未注明发布机构, Система сканирования оптического микроскопа

JIS K 0182:2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.

European Committee for Standardization (CEN), Система сканирования оптического микроскопа

EN ISO 14880-1:2019 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 1. Словарь (ISO 14880-1:2019)
EN ISO 14880-1:2005 Оптика и фотоника. Микролинзовая решетка. Часть 1. Словарь.
EN ISO 14880-2:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
EN ISO 14880-4:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 4. Методы испытаний геометрических свойств.
EN ISO 14880-3:2006 Оптика и фонотика. Массивы микролинз. Часть 3. Методы испытаний оптических свойств, кроме аберраций волнового фронта.

GOSTR, Система сканирования оптического микроскопа

PNST 508-2020 Нанотехнологии. Одностенные углеродные нанотрубки. Характеристика методами сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Система сканирования оптического микроскопа

JJF 1951-2021 Спецификация калибровки оптических 3D-измерительных систем на основе сканирования структурированным светом

Danish Standards Foundation, Система сканирования оптического микроскопа

DS/ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.