ZH
EN
ES

двухфотонное сканирование

двухфотонное сканирование, Всего: 498 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к двухфотонное сканирование, являются: Словари, Оптическое оборудование, Лабораторная медицина, Оптика и оптические измерения, Электронные устройства отображения, Аналитическая химия, Геология. Метеорология. Гидрология, Фотография, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Медицинское оборудование, Стекло, Образование, Дорожное строительство, Кинематография, Астрономия. Геодезия. География, Линейные и угловые измерения, Качество воздуха, Станки, Строительная индустрия, Электротехника в целом, Сети передачи и распределения электроэнергии, Защита от преступности, Термодинамика и измерения температуры, Оптоволоконная связь, Неразрушающий контроль, Цветные металлы, Применение информационных технологий, Железнодорожное машиностроение в целом, Краски и лаки, Физика. Химия, Устройства хранения данных, Медицинские науки и учреждения здравоохранения в целом, Оборудование для нефтяной и газовой промышленности, Обработка поверхности и покрытие, Приложения для обработки изображений документов, Микропроцессорные системы, Аудио, видео и аудиовизуальная техника, Текстильные волокна, Строительные материалы, Транспорт, Информационные науки. Издательский, Наборы символов и кодирование информации, Метрология и измерения в целом, Качество почвы. Почвоведение, Керамика, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Изделия из железа и стали, Пластмассы, Полупроводниковые приборы, Качество воды, Детали трубопроводов и трубопроводы, Смазочные материалы, индустриальные масла и сопутствующие товары, Электронные лампы, Топливо, Электричество. Магнетизм. Электрические и магнитные измерения, Резина, Графические технологии, Армированные пластики, Валы и муфты, Аэрокосмические двигатели и двигательные установки, Технические рисунки, Железнодорожный подвижной состав, Ингредиенты краски.

Association Francaise de Normalisation, двухфотонное сканирование

NF X21-010:2009 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь.
NF Z42-010-1:1992 Электронное отображение изображений. Сканирование офисных документов. Часть 1: Субподряд на сканирование. Руководство по подробным техническим инструкциям для бюро.
NF S12-130*NF ISO 16971:2015 Офтальмологические инструменты - Оптический когерентный томограф для заднего отрезка глаза человека
NF ISO 16971:2015 Офтальмологические инструменты - Оптический когерентный томограф заднего отрезка глаза человека
NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
NF T25-111-4:1991 Углеродные волокна. Текстура и структура. Часть 4. Фрактография с помощью сканирующего электронного микроскопа.
FD T16-203:2011 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
NF EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии - Определение распределения частиц по размерам и форме методом сканирующей электронной микроскопии
NF Z42-010-2:1993 Электронные изображения. Сканирование офисных документов. Часть 2. Приобретение систем управления электронными изображениями. Руководство по запросу предложений.
NF EN 60843-4:2000 Кассетная видеомагнитофонная система со спиральным сканированием с использованием магнитной ленты 8 мм (видео 8 мм) — Часть 4: Субкод видео (VSC)
NF EN IEC 61675-1:2022 Радионуклидные устройства визуализации. Характеристики и условия испытаний. Часть 1. Позитронно-эмиссионные томографы.
NF C97-102-4*NF EN 60843-4:2000 Кассетная система видеоленты со спиральной разверткой с использованием магнитной ленты толщиной 8 мм (видео 8 мм). Часть 4: субкод видео (VSC)
NF C74-221*NF EN 61262-1:1994 Медицинское электрооборудование. Характеристики электрооптических усилителей рентгеновского изображения. Часть 1: определение размера входного поля.
NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение волокнистой пыли, осажденной на поверхностях, методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
NF ISO 10110-19:2015 Оптика и фотоника. Руководство по чертежам оптических элементов и систем. Часть 19. Общее описание поверхностей и деталей.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), двухфотонное сканирование

KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS A ISO 16067-2-2005(2020) Фотография－Электронные сканеры для фотографических изображений－Измерение пространственного разрешения－Часть 2:Сканеры для пленок
KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS A ISO 16067-2:2005 Фотография-Электронные сканеры для фотографических изображений-Измерение пространственного разрешения-Часть 2: Пленочные сканеры
KS A ISO 16067-1:2005 Фотография. Измерение пространственного разрешения электронных сканеров фотографических изображений. Часть 1. Сканеры для отражающих сред.
KS A ISO 16067-1-2005(2020) Фотография. Измерение пространственного разрешения электронных сканеров фотографических изображений. Часть 1. Сканеры для отражающих сред.
KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS D 2713-2016 Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
KS P ISO 16971:2020 Офтальмологические инструменты — Оптический когерентный томограф для заднего отрезка глаза человека
KS D 2713-2016(2021) Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
KS X ISO/IEC 15780:2013 Информационные технологии－Картридж с магнитной лентой шириной 8 мм－Запись со спиральной разверткой－AIT－формат 1
KS A ISO 21550:2005 Фотография－Электронные сканеры для фотографических изображений－Измерения динамического диапазона
KS A ISO 21550-2005(2020) Фотография－Электронные сканеры для фотографических изображений－Измерения динамического диапазона
KS X ISO/IEC 12246-2003(2008) Информационные технологии－Картридж с магнитной лентой шириной 8 мм, двойной азимут для обмена информацией－Запись со спиральной разверткой
KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS X ISO 12653-1-2007(2017) Электронная обработка изображений. Тестовая цель для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 1: Характеристики.
KS X ISO 12653-1-2007(2022) Электронная обработка изображений. Тестовая цель для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 1: Характеристики.
KS C IEC 61675-2:2018 Устройства радионуклидной визуализации. Характеристики и условия испытаний. Часть 2. Гамма-камеры для плоской визуализации, визуализации всего тела и ОФЭКТ.
KS X ISO 12653-1:2007 Электронная обработка изображений. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 1: Характеристики.
KS C IEC TR 61948-3:2020 Приборы для ядерной медицины. Рутинные испытания. Часть 3. Позитронно-эмиссионные томографы.
KS C IEC TR 61948-3:2017 Приборы ядерной медицины ─ Рутинные исследования ─ Часть 3: Позитронно-эмиссионные томографы
KS X ISO 12653-2-2007(2022) Электронное изображение. Тестовая цель для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 2. Метод использования.
KS X ISO 12653-2-2007(2017) Электронное изображение. Тестовая цель для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 2. Метод использования.
KS X ISO 12653-2:2007 Электронная обработка изображений. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 2. Метод использования.

Professional Standard - Medicine, двухфотонное сканирование

YY/T 1154-2009 Лазерный конфокальный сканер
YY/T 1895-2023 Устройство для внутрисосудистой оптической когерентной томографии
YY/T 0815-2010 Стандартный метод испытаний для измерения энтальпии плавления, процента кристалличности и температуры плавления полиэтилена сверхвысокой молекулярной массы с помощью дифференциальной сканирующей калориметрии.

International Organization for Standardization (ISO), двухфотонное сканирование

ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
ISO/CD 16971-1 Офтальмологические инструменты. Оптические когерентные томографы. Часть 1. Оптические когерентные томографы для заднего отрезка глаза человека.
ISO/DIS 16971-1:2011 Офтальмологические инструменты. Оптические когерентные томографы. Часть 1. Оптические когерентные томографы для заднего отрезка глаза человека.
ISO 22493:2014 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
ISO 16067-2:2004 Фотография. Электронные сканеры фотографических изображений. Измерения пространственного разрешения. Часть 2. Пленочные сканеры.
ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
ISO 11312:1993 Фотография; размеры пленки; пленка для использования в электронном сканере
ISO 16067-1:2003 Фотография. Измерения пространственного разрешения электронных сканеров фотографических изображений. Часть 1. Сканеры для отражающих сред.
ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 21550:2004 Фотография. Электронные сканеры фотографических изображений. Измерения динамического диапазона.
ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
ISO 14535:2001 Фотография. Освещение помещения для загрузки электронных сканеров, пленки для закрепления изображения и рулонов бумаги. Размеры и соответствующие требования.
ISO/IEC 12246:1993 Информационные технологии; Картридж с магнитной лентой шириной 8 мм двухазимутального формата для обмена информацией; запись спирального сканирования
ISO 17123-9:2018 Оптика и оптические инструменты. Полевые процедуры испытаний геодезических и геодезических инструментов. Часть 9. Наземные лазерные сканеры.
ISO/WD TR 23683:2023 Химический анализ поверхности. сканирующая зондовая микроскопия. Руководство по экспериментальному количественному определению концентрации носителей заряда в полупроводниковых устройствах с использованием электрической сканирующей зондовой микроскопии.
ISO 12653-1:2000 Электронная обработка изображений. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 1. Характеристики.
ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM.
ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
ISO 12653-2:2000 Электронное отображение изображений. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 2. Метод использования.
ISO 14966:2019 Воздух окружающий. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
ISO 22581:2021 Химический анализ поверхности. Информация, полученная в режиме, близком к реальному времени, при сканировании рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Правила идентификации и коррекции загрязнения поверхности углеродосодержащими веществами.
ISO 14966:2002 Воздух атмосферный. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
ISO 13083:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Стандарты по определению и калибровке пространственного разрешения электрических сканирующих зондовых микроскопов (ESPM), таких как SSRM и SCM, для 2D-визуализации легирующих примесей и других целей.
ISO 12653-2:2000/cor 1:2002 Электронное отображение изображений. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 2. Способ использования; Техническое исправление 1
ISO 14966:2002/cor 1:2007 Воздух атмосферный - Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц - Метод сканирующей электронной микроскопии; Техническое исправление 1
ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения ближнепольного оптического микроскопа.
ISO 12653-3:2014 Электронное отображение изображений. Тестовая мишень для сканирования офисных документов. Часть 3. Тестовая мишень для использования в приложениях с низким разрешением.
ISO/TS 18621-21:2020 Графические технологии. Методы оценки качества изображения печатной продукции. Часть 21. Измерение одномерных искажений макроскопической однородности с использованием сканирующих спектрофотометров.
ISO/TS 18621-21:2023 Графическая технология. Методы оценки качества изображения печатной продукции. Часть 21. Измерение одномерных искажений макроскопической однородности с использованием сканирующих спектрофотометров.
ISO 21915-1:2020 Текстиль. Качественный и количественный анализ некоторых целлюлозных волокон (лиоцелла, купро) и их смесей. Часть 1. Идентификация волокон с помощью сканирующей электронной микроскопии и метода спектрального анализа.

Professional Standard - Machinery, двухфотонное сканирование

JB/T 5478-1991 Ручной сканирующий фотоэлектрический спектрометр прямого считывания
JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация

Professional Standard - Energy, двухфотонное сканирование

NB/T 11139-2023 Шахтный 3D лазерный сканер
DL/T 2333-2021 Технический регламент наземных трехмерных лазерных сканирующих измерений проектов передачи и преобразования электроэнергии
NB/SH/T 0902-2015 Стандартный метод испытаний для измерения фазового разделения асфальтенсодержащего тяжелого мазута, вызванного н-гептаном, как числа разделяемости с помощью оптического сканирующего устройства

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), двухфотонное сканирование

JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
JIS K 7542:1993 Размеры фотопленки для использования в электронном сканере
JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
JIS T 1507:1989 Электронное линейно-сканирующее ультразвуковое диагностическое оборудование
JIS B 7208:1972 16-миллиметровые пленки для испытаний на однородность освещения со сканирующим лучом кинофильма
JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS B 7207:1972 35-мм кинопленки для проверки однородности освещения со сканирующим лучом, сервисный тип
JIS B 7206:1972 Пленки для проверки однородности освещения со сканирующим лучом кинофильма, 35 мм, лабораторного типа
JIS X 6142:1995 Картридж с магнитной лентой шириной 8 мм, двойной азимутальный формат для обмена информацией. Запись со спиральной разверткой.
JIS R 1672:2006 Определение теплоемкости композита волокнистой керамики методами дифференциальной сканирующей калориметрии
JIS R 1633:1998 Способ подготовки образцов тонкой керамики и мелкодисперсных керамических порошков для наблюдения на сканирующем электронном микроскопе
JIS T 61675-1:2016 Радионуклидные устройства визуализации. Характеристики и условия испытаний. Часть 1. Позитронно-эмиссионные томографы.

American Society for Testing and Materials (ASTM), двухфотонное сканирование

ASTM E986-97 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E986-04(2017) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E1683-02(2014)e1 Стандартная практика тестирования производительности сканирующих рамановских спектрометров
ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2382-04(2020) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E986-04 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E986-04(2010) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2382-04 Руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E2382-04(2012) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E1683-02(2007) Стандартная практика тестирования производительности сканирующих рамановских спектрометров
ASTM E1683-02 Стандартная практика тестирования производительности сканирующих рамановских спектрометров
ASTM E1683-95A Стандартная практика тестирования производительности сканирующих рамановских спектрометров
ASTM E1683-02(2022) Стандартная практика тестирования производительности сканирующих рамановских спектрометров
ASTM E2809-13 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/рентгеновской спектрометрии при судебно-медицинской экспертизе красок
ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E1588-95(2001) Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
ASTM E1588-08 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1588-10 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1588-10e1 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1588-95 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
ASTM E766-98(2008)e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM C1723-16(2022) Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
ASTM C1723-10 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
ASTM C1723-16 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
ASTM E766-14(2019) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E1588-20 Стандартная практика анализа остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1728-99 Стандартная практика полевого сбора проб осевшей пыли с использованием методов отбора проб с помощью протирания для определения свинца методами атомной спектрометрии
ASTM E1588-16 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E280-98(2004)e1 Стандартные эталонные рентгенограммы толстостенных (от 4 &189; до 12 дюймов [от 114 до 305 мм]) стальных отливок
ASTM E1588-07e1 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1588-07 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E280-21 Стандартные эталонные рентгенограммы стальных отливок с толстыми стенками (от 412 до 12 дюймов (от 114 до 305 мм))
ASTM E2809-22 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (СЭМ/ЭДС) при судебно-медицинской экспертизе полимеров
ASTM D6966-13 Стандартная практика сбора проб осевшей пыли с использованием методов отбора проб для последующего определения металлов
ASTM E766-14e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM E1588-16a Стандартная практика анализа остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1588-17 Стандартная практика анализа остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM B748-90(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM E928-01 Стандартный метод определения чистоты методом дифференциальной сканирующей калориметрии
ASTM E928-96 Стандартный метод определения чистоты методом дифференциальной сканирующей калориметрии
ASTM E928-08 Стандартный метод определения чистоты методом дифференциальной сканирующей калориметрии
ASTM E2142-08(2015) Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2142-08 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
ASTM D8231-19 Стандартная практика использования низковольтной электронной системы сканирования для обнаружения и локализации нарушений в кровельных и гидроизоляционных мембранах
ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
ASTM E3309-21 Стандартное руководство по составлению отчетов о судебно-медицинском анализе остатков огнестрельного оружия (pGSR) с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии (SEM/EDS)
ASTM D8315-20 Стандартный метод определения содержания металлов износа и элементов загрязнений в отработанных промышленных маслах методом атомно-эмиссионной спектрометрии с плоским электродом
ASTM B748-90(2010) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2090-06 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM E2090-12(2020) Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM B748-90(2021) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM E1016-96 Стандартное руководство по литературе, описывающей свойства электростатических электронных спектрометров
ASTM E1016-96(2002) Стандартное руководство по литературе, описывающей свойства электростатических электронных спектрометров
ASTM E2142-01 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(2016) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM E3284-23 Стандартная практика обучения судебно-медицинской экспертизе остатков выстрелов капсюля (pGSR) с использованием сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии (SEM/EDS)
ASTM B748-90(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM E1832-08 Стандартная практика описания и спецификации плазменного атомно-эмиссионного спектрометра постоянного тока
ASTM E1832-08(2017) Стандартная практика описания и спецификации плазменного атомно-эмиссионного спектрометра постоянного тока
ASTM E1016-07 Стандартное руководство по литературе, описывающей свойства электростатических электронных спектрометров
ASTM E1016-07(2020) Стандартное руководство по литературе, описывающей свойства электростатических электронных спектрометров
ASTM E1016-07(2012)e1 Стандартное руководство по литературе, описывающей свойства электростатических электронных спектрометров
ASTM E863-98 Стандартная практика описания оборудования пламенной атомно-абсорбционной спектроскопии
ASTM F1372-93(1999) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM F1372-93(2020) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM E1479-16 Стандартная практика описания и спецификации атомно-эмиссионных спектрометров с индуктивно связанной плазмой
ASTM D6466-99(2005) Стандартный метод определения диаметра шерсти и других волокон животных с помощью анализатора диаметра волокон Sirolan-Laserscan
ASTM D6466-99 Стандартный метод определения диаметра шерсти и других волокон животных с помощью анализатора диаметра волокон Sirolan-Laserscan
ASTM E1479-99(2005) Стандартная практика описания и спецификации атомно-эмиссионных спектрометров с индуктивно-связанной плазмой
ASTM E1479-99 Стандартная практика описания и спецификации атомно-эмиссионных спектрометров с индуктивно-связанной плазмой
ASTM D605-82(1996)e1 Стандартные спецификации для силикатного магниевого пигмента (талька)
ASTM D6059-96(2011) Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте методом сканирующей электронной микроскопии
ASTM E1832-03 Стандартная практика описания и спецификации плазменного атомно-эмиссионного спектрометра постоянного тока
ASTM E863-98(2004)e1 Стандартная практика описания оборудования пламенной атомно-абсорбционной спектроскопии (отозвана в 2004 г.)
ASTM F1372-93(2005) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM F1372-93(2012) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, двухфотонное сканирование

GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.
GB/T 33805-2017 Технические требования к лазерному конфокальному сканеру биочипов
GB/T 33806-2017 Технические требования к микрочиповому сканеру флуоресцентной визуализации
GB/T 33838-2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
GB/T 35935-2018 Измерение среднего значения и распределения диаметра волокон животного происхождения — метод анализа диаметра волокон с помощью лазерного сканирования.
GB/T 33095.1-2016 Каучук невулканизированный. Измерение реологических свойств с использованием безроторного сдвигового реометра. Часть 1. Развертка по частоте.

Group Standards of the People's Republic of China, двухфотонное сканирование

T/CASME 410-1023 Сканирующий лидарный уровнемер
T/QGCML 2017-2023
T/CECS G:H11-01-2020 Технические характеристики LiDAR-съемки в дорожном строительстве
T/CI 036-2023 Керамическое стоматологическое оборудование для 3D-печати с УФ-лазерным сканированием
T/CECS 790-2020 Технический регламент применения наземного лазерного 3D-сканирования в инженерных целях
T/CEC 616-2022 Технические характеристики летающих роботов лазерного сканирования для линий электропередачи
T/QGCML 1940-2023
T/CSTM 00619-2022 Измерение размеров оптоволоконной заготовки — метод трехмерного лазерного сканирования.
T/CAGHP 018-2018 Технический регламент наземного 3D лазерного сканирующего мониторинга геологических катастроф
T/SAS 0003-2018 Сцинтилляционные кристаллы германата висмута для позитронно-эмиссионной томографии.
T/CEC 448-2021 Технический регламент эксплуатации беспилотных летательных аппаратов лазерного сканирования воздушных линий электропередачи
T/ZKJXX 00036-2023 Общие технические требования к наземной мобильной системе лазерного 3D сканирования
T/ZSA 29-2021 Общая техническая спецификация трехмерной камеры виртуальной реальности LiDAR
T/CIRA 42-2022 Метод определения однородности сканирования луча электронного ускорителя для алюминиевых стержней, используемых при радиационной обработке
T/CES 183-2022 Спецификация сбора данных с помощью лазерного сканирования беспилотных летательных аппаратов с неподвижным крылом для воздушной линии электропередачи
T/SAME 004-2021 Спецификация услуг по техническому обслуживанию и управлению техническим обслуживанием рентгеновской компьютерной томографии (КТ)
T/LNWTA 002-2019 Быстрая идентификация полимеров в трубах для водоснабжения Инфракрасная абсорбционная спектрометрия (ИК) и дифференциальная сканирующая калориметрия (ДСК)

Professional Standard - Chemical Industry, двухфотонное сканирование

HG/T 3640-1999 Фотография.Размер пленки.Пленка для использования в электронном сканере.

German Institute for Standardization, двухфотонное сканирование

DIN 44030-1:1992 Технология управления; световые барьеры и световые сканеры; определения
DIN 44030 Bb.1:1991 Технология управления; световые барьеры и световые сканеры; использованные символы
DIN 44030-2:1992 Технология управления; световые барьеры и световые сканеры; метод измерения
DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.
DIN 66223-5:1985 Шрифты для оптического распознавания символов; формат для портативного сканера
DIN EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021); Немецкая и английская версия prEN ISO 9220:2021.
DIN 6855-2:2013-01 Проверка стабильности ядерных медицинских измерительных систем. Часть 2. Монокристаллические гамма-камеры, используемые в планарной сцинтиграфии, и в гамма-камерах гневного типа с вращающимися детекторными головками, используемых в однофотонной эмиссионной томографии.
DIN 6855-4:2016-11 Проверка стабильности приборов ядерной медицины. Часть 4. Позитронно-эмиссионные томографы (ПЭТ)
DIN EN 60843-4:2000 Кассетная система видеоленты со спиральной разверткой с использованием магнитной ленты 8 мм (видео 8 мм). Часть 4: Субкод видео (VSC) (IEC 60843-4:2000); Немецкая версия EN 60843-4:2000.
DIN EN ISO 19749:2023-07 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
DIN 6871-1:2003-02 Циклотронные системы для позитронно-эмиссионной томографии. Часть 1. Требования к радиационной защите конструкций.
DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
DIN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988); Немецкая версия EN ISO 9220:1994.
DIN ISO 16000-27:2014-11 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующая электронная микроскопия) (прямой метод) (ISO 16000-27:2014)
DIN EN 14664:2005-02 Циклотронные системы для позитронно-эмиссионной томографии. Часть 2. Лабиринты радиационной защиты и настенные входы
DIN 6871-2:2005-02 Циклотронные системы для позитронно-эмиссионной томографии. Часть 2. Лабиринты радиационной защиты и настенные входы
DIN EN 14437:2005-02 Циклотронные системы для позитронно-эмиссионной томографии. Часть 2. Лабиринты радиационной защиты и настенные входы
DIN EN IEC 61675-1:2022-12 Радионуклидные устройства визуализации. Характеристики и условия испытаний. Часть 1. Позитронно-эмиссионные томографы (IEC 61675-1:2022)

Professional Standard - Military and Civilian Products, двухфотонное сканирование

WJ 2299-1995 Правила поверки спектрометра последовательного сканирования с индуктивно-связанной плазмой

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, двухфотонное сканирование

JJF 1406-2013 Спецификация калибровки для наземных лазерных сканеров
JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)
JJF 1951-2021 Спецификация калибровки оптических 3D-измерительных систем на основе сканирования структурированным светом
JJF 1719-2018 Спецификация калибровки лазерного 3D-сканера для измерения объема железнодорожных цистерн и контейнеров-цистерн

Professional Standard - Electron, двухфотонное сканирование

SJ/T 11886-2023 Структурированный легкий портативный 3D-сканер
SJ/T 11008-1996 Подробные спецификации электронных компонентов. Интегральные схемы полупроводниковых телевизоров. Схемы развертки линии и поля CD11235CP.
SJ/T 10987-1996 Подробные спецификации электронных компонентов. Интегральные схемы полупроводниковых телевизоров. Схемы развертки магнитного поля CD5435CP.
SJ/T 11087-1996 Подробные спецификации электронных компонентов. Полупроводниковые интегральные схемы. CD7698CP схемы горизонтальной и вертикальной развертки и обработки сигнала цветности.
SJ/T 10784-1996 Подробные спецификации электронных компонентов. Полупроводниковые интегральные схемы. Схемы горизонтальной и вертикальной развертки CD7609CP (применимо для сертификации).
SJ 50033/99-1995 Полупроводниковые оптоэлектронные приборы. Подробная спецификация двухцветного светодиода o/G для типа GF511.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, двухфотонное сканирование

JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа

British Standards Institution (BSI), двухфотонное сканирование

BS ISO 16067-2:2004 Фотография. Электронные сканеры фотографических изображений. Измерения пространственного разрешения. Пленочные сканеры
BS ISO 22493:2014 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
BS ISO 16067-1:2003 Фотография. Измерения пространственного разрешения электронных сканеров фотографических изображений. Сканеры для светоотражающих носителей
18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
BS ISO 21550:2004 Фотография. Электронные сканеры фотографических изображений. Измерения динамического диапазона.
BS IEC 62906-5-5:2022 Лазерные дисплеи - Оптические методы измерения лазерных дисплеев прямой проекции сетчатки с растровым сканированием
BS ISO 12653-1:2000 Электронная обработка изображений. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Характеристики.
BS ISO 12653-1:2001 Электронная визуализация. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Характеристики
BS IEC 62906-5-7:2022 Лазерные дисплеи. Методы измерения качества изображения, на которое влияют спеклы, для сканирования лазерных дисплеев.
BS ISO 14535:2001 Фотография. Освещение помещения для загрузки электронных сканеров, пленки для закрепления изображения и рулонов бумаги. Размеры и соответствующие требования.
BS ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CDSEM
PD IEC TR 61948-2:2019 Отслеживаемые изменения. Приборы ядерной медицины. Рутинные тесты. Сцинтилляционные камеры и однофотонная эмиссионная компьютерная томография
BS ISO 17123-9:2018 Оптика и оптические приборы. Полевые процедуры испытаний геодезических и геодезических приборов. Наземные лазерные сканеры.
BS ISO 12653-2:2000 Электронное отображение изображений. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Метод использования.
BS ISO 12653-2:2001 Электронная визуализация. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Способ применения
PD IEC/TR 61948-3:2018 Отслеживаемые изменения. Приборы ядерной медицины. Рутинные тесты. Позитронно-эмиссионные томографы
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
BS ISO 19749:2021 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
BS ISO/IEC 12246:1993 Информационные технологии. Картридж с магнитной лентой шириной 8 мм, двухазимутального формата для обмена информацией. Запись спирального сканирования
BS EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
BS ISO 14966:2019 Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
18/30344520 DC BS ISO 21466. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM
21/30432306 DC БС ЕН МЭК 62906-5-5. Лазерные дисплеи. Часть 5-5. Оптические методы измерения растровых лазерных дисплеев прямой проекции сетчатки
20/30423331 DC БС ЕН МЭК 62906-5-5. Лазерные дисплеи. Часть 5-5. Оптические методы измерения растровых лазерных дисплеев прямой проекции сетчатки
20/30404087 DC БС МЭК 62906-5-7. Лазерные дисплеи. Часть 5-7. Методы измерения качества изображения при сканировании лазерных дисплеев
20/30425645 DC БС ЕН МЭК 62906-5-7. Лазерные дисплеи. Часть 5-7. Методы измерения качества изображения при сканировании лазерных дисплеев
20/30415914 DC БС МЭК МЭК 62906-5-7. Лазерные дисплеи. Часть 5-7. Методы измерения качества изображения при сканировании лазерных дисплеев
18/30363457 DC БС ЕН 62906-5-5. Лазерные отображающие устройства. Часть 5-5. Оптические методы измерения растровых сканирующих устройств прямой проекции сетчатки
19/30402600 DC БС МЭК 62906-5-5. Лазерные отображающие устройства. Часть 5-5. Оптические методы измерения растровых сканирующих устройств прямой проекции сетчатки
BS CECC 00013:1985 Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: базовая спецификация: проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.
BS DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
18/30351679 DC BS ISO 19749. Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
BS ISO 14966:2002 Воздух атмосферный. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
BS ISO 12653-3:2014 Электронная визуализация. Тестовая мишень для сканирования офисных документов. Тестовая мишень для использования в приложениях с низким разрешением
18/30375050 DC BS ISO 14966. Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
BS ISO 11698-2:2000 Микрографика. Методы измерения качества изображения, получаемого сканерами апертурных карт. Критерии качества и контроль
BS EN IEC 61675-1:2022 Отслеживаемые изменения. Радионуклидные устройства визуализации. Характеристики и условия испытаний. Позитронно-эмиссионные томографы
BS EN 60843-4:2001 Кассетная система для видеолент со спиральной разверткой и магнитной лентой диаметром 8 мм. Видео 8 мм. Видео субкод (VSC)
BS ISO 13083:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Стандарты по определению и калибровке пространственного разрешения электрических сканирующих зондовых микроскопов (ESPM), таких как SSRM и SCM, для 2D-визуализации легирующих примесей и других целей.
BS ISO 22581:2021 Химический анализ поверхности. Информация практически в реальном времени, получаемая при сканировании рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Правила выявления и устранения загрязнения поверхности углеродсодержащими соединениями
BS PD ISO/TS 18621-21:2020 Графическая технология. Методы оценки качества изображения печатной продукции. Измерение одномерных искажений макроскопической однородности с использованием сканирующих спектрофотометров
PD ISO/TS 18621-21:2023 Графическая технология. Методы оценки качества изображения печатной продукции. Измерение одномерных искажений макроскопической однородности с использованием сканирующих спектрофотометров
BS ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
BS EN ISO 17751-2:2023 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей - метод сканирующей электронной микроскопии
BS ISO 10110-19:2015 Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Общее описание поверхностей и компонентов
BS EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Метод сканирующей электронной микроскопии
20/30423980 DC БС ЕН МЭК 61675-1. Радионуклидные устройства визуализации. Характеристики и условия испытаний. Часть 1. Позитронно-эмиссионные томографы.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, двухфотонное сканирование

GB/T 30020-2013 Метод испытания стекла на дефекты. Метод фотоупругого сканирования.
GB/T 30020-2023 Метод обнаружения дефектов стекла, метод фотоэластичного сканирования
GB/T 23414-2009 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа
GB/T 17359-1998 Общие характеристики количественного анализа рентгеновской ЭДС для EPMA и SEM
GB/T 25885-2010 Измерение среднего и распределения диаметра волокон шерсти. Анализатор диаметра волокон с лазерным сканированием
GB/T 20493.1-2006 Электронная обработка изображений Тестовый образец для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 1: Характеристики
GB/T 43196-2023 Нанотехнология сканирующей электронной микроскопии для измерения размера и распределения наночастиц по форме
GB/T 19267.6-2003 Физическое и химическое исследование следов доказательств в судебной медицине. Часть 6. Сканирующая электронная микроскопия.
GB/T 20493.2-2006 Электронная визуализация. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 2: Способ применения
GB/T 28873-2012 Общее руководство по сканирующей электронной микроскопии окружающей среды для определения биологических эффектов на топографию, вызванных наночастицами
GB/T 17361-1998 Метод идентификации аутигенного глинистого минерала в осадочных породах с помощью SEM и XEDS.
GB/T 17361-2013 Микролучевой анализ. Идентификация аутигенного глинистого минерала в осадочных породах методом сканирующего электронного микроскопа и энергодисперсионного спектрометра.
GB/T 19267.6-2008 Физико-химическая экспертиза следов доказательств в судебной медицине. Часть 6: Сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергодисперсионная спектрометрия.
GB/Z 26083-2010 Определение содержания медь(Ⅱ)октаакоксизамещенного фталоцианина на поверхности графита (сканирующий туннельный микроскоп)
GB/T 32869-2016 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок методами сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.

KR-KS, двухфотонное сканирование

KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS P ISO 16971-2020 Офтальмологические инструменты — Оптический когерентный томограф для заднего отрезка глаза человека
KS C IEC 61675-2-2018 Устройства радионуклидной визуализации. Характеристики и условия испытаний. Часть 2. Гамма-камеры для плоской визуализации, визуализации всего тела и ОФЭКТ.
KS C IEC TR 61948-3-2020 Приборы для ядерной медицины. Рутинные испытания. Часть 3. Позитронно-эмиссионные томографы.
KS C ISO 19749-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.

Professional Standard - Education, двухфотонное сканирование

JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии
JY/T 0586-2020 Общие правила аналитических методов лазерной сканирующей конфокальной микроскопии

TIA - Telecommunications Industry Association, двухфотонное сканирование

455-164-1986 Сканирование одномодового @ волокна в дальней зоне. Измерение диаметра модового поля.
EIA/TIA-455-164A-1991 Одномодовое волокно FOTP-164@ Измерение диаметра модового поля методом сканирования в дальней зоне

Hubei Provincial Standard of the People's Republic of China, двухфотонное сканирование

DB42/T 1346-2018 Технические условия полноволнового лазерного 3D сканера

Professional Standard - Surveying and Mapping, двухфотонное сканирование

CH/Z 3017-2015 Технический регламент проведения наземных операций лазерного 3D сканирования

国家能源局, двухфотонное сканирование

NB/T 35109-2018 Процедуры измерения трехмерного лазерного сканирования для гидроэнергетических проектов
SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
SY/T 7346-2016 Технические характеристики наземных 3D-лазерных сканирующих измерений в нефтегазовой отрасли

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, двухфотонное сканирование

CNS 14197-1998 Электрическое линейное сканирующее ультразвуковое диагностическое оборудование

Association of German Mechanical Engineers, двухфотонное сканирование

VDI/VDE 2634 Blatt 2-2002 Оптические 3D-измерительные системы - Оптические системы на основе сканирования площади
VDI/VDE 2634 Blatt 2-2012 Оптические 3-D измерительные системы - Оптические системы, основанные на сканировании площади
VDI/VDE 2634 Blatt 3-2008 Оптические 3D-измерительные системы — системы множественного просмотра, основанные на сканировании площади.
VDI 3861 Blatt 2-2008 Выбросы из стационарных источников. Измерение неорганических волокнистых частиц в выхлопных газах. Метод сканирующей электронной микроскопии.
VDI 3492-2004 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
VDI 3492-2013 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.

Professional Standard - Commodity Inspection, двухфотонное сканирование

SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.
SN/T 2649.1-2010 Определение асбеста в косметике для импорта и экспорта. Часть 1: Метод рентгеновской дифракции и сканирующей электронной микроскопии.

Professional Standard - Petroleum, двухфотонное сканирование

SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, двухфотонное сканирование

DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа

NEMA - National Electrical Manufacturers Association, двухфотонное сканирование

NEMA NU 2-2012 Измерения производительности позитронно-эмиссионных томографов
NEMA NU 2-2018 Измерения производительности позитронно-эмиссионных томографов (ПЭТ)

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, двухфотонное сканирование

DB37/T 2911-2017 Технический регламент по топографической съемке пляжа с помощью лазерного 3D сканирования

RU-GOST R, двухфотонное сканирование

GOST R 56123-2014 Медицинское электрооборудование. Однофотонные эмиссионные компьютерные томографы. Технические требования для государственных закупок
GOST R IEC/TO 61948-2-2008 Приборы ядерной медицины. Рутинные тесты. Часть 2. Сцинтилляционные камеры и однофотонная эмиссионная компьютерная томография.
GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы
GOST R 8.889-2015 Государственная система обеспечения прослеживаемости измерений. Сканирующие спектрофлуориметры. Процедура проверки
GOST R 56109-2014 Медицинское электрооборудование. Позитронно-эмиссионные томографы в сочетании с рентгеновским оборудованием для компьютерной томографии. Технические требования для государственных закупок
GOST R 8.794-2012 Государственная система обеспечения единства измерений. Наземные лазерные сканеры. Процедура проверки
GOST R 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы калибровки
GOST 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Метод проверки
GOST R 56108-2014 Медицинское электрооборудование. Позитронно-эмиссионный томограф. Технические требования для государственных закупок
GOST R 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы проверки
GOST 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
GOST R 8.630-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Методы проверки
GOST R 8.635-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод калибровки
GOST R 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
GOST 19438.21-1979 Маломощные электронные лампы и лампы для выходных каскадов телевизионной линии развертки. Методы измерения электрических параметров и испытания на срок службы
GOST R 57996-2017 Полимерные композиты. Дифференциальная сканирующая калориметрия. Определение энергии активации, предэкспоненциального множителя и порядка реакции.
GOST R IEC 60601-2-44-2005 Медицинское электрооборудование. Часть 2-44. Частные требования к безопасности рентгеновского оборудования для компьютерной томографии.
GOST ISO 16000-27-2017 Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)

Professional Standard - Electricity, двухфотонное сканирование

DL/T 1346-2014 Рабочий код вертолетного лазерного сканирования ЛЭП
DL/T 1346-2021 Технический регламент эксплуатации вертолетного лазерного сканирования воздушных линий электропередачи

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, двухфотонное сканирование

GJB 8381-2015 Комбинированный метод стрик-фотографии и лазерной интерферометрии для цилиндрических испытаний взрывчатых веществ
GJB 1200.1-1991 Метод испытания коэффициента линейного расширения проводниковых материалов при высоких температурах. Метод лазерного сканирования.

Professional Standard - Judicatory, двухфотонное сканирование

SF/T 0139-2023

American National Standards Institute （ANSI), двухфотонное сканирование

ANSI/EIA 455-174:1988 Диаметр модового поля одномодового оптического волокна при остроконечном сканировании в дальнем поле
ANSI/EIA 455-174A:1994 Диаметр модового поля одномодового оптического волокна при остроконечном сканировании в дальнем поле
ANSI/INCITS/ISO/IEC 12246:1993 Информационные технологии - Картридж с магнитной лентой шириной 8 мм, двойной азимутальный формат для обмена информацией - Запись со спиральным сканированием
ANSI/TIA-455-243-2010 FOTP-243 Измерение дисперсии поляризационной моды для установленных одномодовых оптических волокон с помощью рефлектометра со сканированием по длине волны и анализа состояния поляризации
ANSI/ASTM D4591:2001 Метод испытаний для определения температур и теплот переходов фторполимеров методом дифференциальной сканирующей калориметрии
ANSI/EIA 501-A:1990 Измерение рентгеновского излучения от электронно-лучевых трубок с растровым сканированием и отображением данных прямого просмотра, рекомендуемая практика для
ANSI/ASTM D6059:2001 Метод испытаний для определения концентрации аэрозольных монокристаллических керамических усов в рабочей среде методом сканирующей электронной микроскопии
ANSI/ISO/IEC 12246:1993 Информационные технологии - Картридж с магнитной лентой шириной 8 мм, двойной азимутальный формат для обмена информацией - Запись со спиральной разверткой. Принято INCITS.

Association for Information and Image Management (AIIM), двухфотонное сканирование

AIIM MS52-1991 Рекомендуемая практика требований и характеристик документов, предназначенных для оптического сканирования

Shanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, двухфотонное сканирование

DB14/T 1926-2019 Процедуры цифрового сбора данных с помощью 3D-лазерного сканирования культурных реликвий храмов-гротов
DB14/T 2720-2023 Процедуры цифрового получения движимых культурных реликвий с помощью 3D-лазерного сканирования

Zhejiang Provincial Standard of the People's Republic of China, двухфотонное сканирование

DB33/T 1308-2023 Технические характеристики трехмерного лазерного сканирования для проектирования городского железнодорожного транспорта

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, двухфотонное сканирование

GB/T 39867-2021 Сцинтилляционный кристалл германата висмута для позитронно-эмиссионной томографии.
GB/T 40826-2021 Метод испытания ручного определения длины штапель безворсового кашемира — метод планшетного сканера
GB/T 35099-2018 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия с энергодисперсионной рентгеновской спектрометрией. Морфология и элементный анализ одиночных мелких частиц в окружающем воздухе.
GB/T 36965-2018 Метод определения степени сшивки сополимера этилена и винилацетата, применяемого в фотоэлектрических модулях. Дифференциальная сканирующая калориметрия (ДСК).
GB/T 20493.3-2018 Электронное отображение изображений. Тестовая мишень для сканирования офисных документов. Часть 3. Тестовая мишень для использования в приложениях с низким разрешением.

(U.S.) Telecommunications Industries Association , двухфотонное сканирование

EIA-455-174-1988 Диаметр модового поля FOTP-174 одномодового оптического волокна при остроконечном сканировании в дальнем поле
TIA-455-243-2010 FOTP-243 Измерение дисперсии поляризационной моды для установленных одномодовых оптических волокон с помощью рефлектометра со сканированием по длине волны и анализа состояния поляризации
TIA-455-243-2010(2015) FOTP-243 Измерение дисперсии поляризационной моды для установленных одномодовых оптических волокон с помощью рефлектометра со сканированием по длине волны и анализа состояния поляризации

Professional Standard - Building Materials, двухфотонное сканирование

JC/T 2658-2022 Метод лазерного сканирования для измерения трехмерных отклонений формы изогнутого стекла

SE-SIS, двухфотонное сканирование

SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
SIS SS CECC 00013-1985 Базовая спецификация: проверка полупроводниковых кубиков с помощью сканирующего электронного микроскопа.

European Committee for Standardization (CEN), двухфотонное сканирование

EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220: 1988).
EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
prEN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)

Danish Standards Foundation, двухфотонное сканирование

DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
DS/ISO 19749:2021 Нанотехнологии – Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
DS/IEC/TR 61948-2:2003 Приборы для ядерной медицины. Рутинные испытания. Часть 2. Сцинтилляционные камеры и однофотонная эмиссионная компьютерная томография.
DS/EN 61675-2/A1:2005 Радионуклидные устройства визуализации. Характеристики и условия испытаний. Часть 2. Однофотонные эмиссионные компьютерные томографы.
DS/EN 61675-2:1998 Радионуклидные устройства визуализации. Характеристики и условия испытаний. Часть 2. Однофотонные эмиссионные компьютерные томографы.
DS/ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
DS/IEC/TR 61948-3:2006 Приборы ядерной медицины. Рутинные испытания. Часть 3. Позитронно-эмиссионные томографы.
DS/EN 61675-1/A1:2008 Радионуклидные устройства визуализации. Характеристики и условия испытаний. Часть 1. Позитронно-эмиссионные томографы.
DS/EN 61675-1:1998 Радионуклидные устройства визуализации. Характеристики и условия испытаний. Часть 1. Позитронно-эмиссионные томографы.
DS/EN 60843-4:2001 Кассетная система со спиральной разверткой и использованием магнитной ленты 8 мм (видео 8 мм). Часть 4: Субкод видео (VSC)

IX-ECMA, двухфотонное сканирование

ECMA 145-1990 КАРТРИДЖ С МАГНИТНОЙ ЛЕНТОЙ ШИРИНОЙ 8 ММ ДЛЯ ОБМЕНА ИНФОРМАЦИЕЙ - ЗАПИСЬ ПО СПИРАЛЬНОМУ СКАНИРОВАНИЮ
ECMA 169-1992 КАРТРИДЖ С МАГНИТНОЙ ЛЕНТОЙ ШИРИНОЙ 8 мм, ДВУХАЗИМУТНЫЙ ФОРМАТ ДЛЯ ОБМЕНА ИНФОРМАЦИЕЙ - ЗАПИСЬ ПО СПИРАЛЬНОМУ СКАНИРОВАНИЮ
ECMA 146-1990 КАРТРИДЖ С МАГНИТНОЙ ЛЕНТОЙ ШИРИНОЙ 3,81 мм ДЛЯ ОБМЕНА ИНФОРМАЦИЕЙ - ЗАПИСЬ ПО СПИРАЛЬНОМУ СКАНИРОВАНИЮ - ФОРМАТ ДАННЫХ/ДАННЫХ
ECMA 139-1990 КАРТРИДЖ С МАГНИТНОЙ ЛЕНТОЙ ШИРИНОЙ 3,81 мм ДЛЯ ОБМЕНА ИНФОРМАЦИЕЙ - ЗАПИСЬ ПО СПИРАЛЬНОМУ СКАНИРОВАНИЮ - ФОРМАТ DDS

International Electrotechnical Commission (IEC), двухфотонное сканирование

IEC 60766:1983 Картридж видеозаписи со спиральной разверткой и катушечная система (EIAJ-тип 1) с использованием магнитной ленты шириной 12,70 мм (0,5 дюйма)
IEC 61675-2:2015 Устройства радионуклидной визуализации. Характеристики и условия испытаний. Часть 2. Гамма-камеры для планарной визуализации, визуализации всего тела и ОФЭКТ.
IEC 62906-5-5:2022 Лазерные дисплеи. Часть 5-5. Оптические методы измерения лазерных дисплеев прямой проекции сетчатки с растровым сканированием.
IEC 62906-5-7:2022 Лазерные дисплеи. Часть 5–7. Методы измерения качества изображения, на которое влияют спеклы, при сканировании лазерных дисплеев.
IEC 60843-4:2000 Кассетная система со спиральной разверткой и использованием магнитной ленты 8 мм (видео 8 мм). Часть 4: Субкод видео (VSC)

PT-IPQ, двухфотонное сканирование

NP 3081-1985 Электронный компонент. Проверка полупроводниковых чипов при сканировании микроэлектроники, основные характеристики

工业和信息化部, двухфотонное сканирование

JB/T 13467-2018 Метод визуального контроля ультразвукового поля с возбуждением лазером для неразрушающего контроля
SJ/T 11759-2020 Измерение соотношения сторон линии электродной сетки фотоэлектрического элемента Лазерная сканирующая конфокальная микроскопия

US-FCR, двухфотонное сканирование

FCR 21 CFR PART 212-2015 СОВРЕМЕННАЯ НАДЛЕЖАЩАЯ ПРАКТИКА ПРОИЗВОДСТВА ПРЕПАРАТОВ ДЛЯ ПОЗИТРОННОЙ ЭМИССИОННОЙ ТОМОГРАФИИ
FCR 21 CFR PART 212-2013 СОВРЕМЕННАЯ НАДЛЕЖАЩАЯ ПРАКТИКА ПРОИЗВОДСТВА ПРЕПАРАТОВ ДЛЯ ПОЗИТРОННОЙ ЭМИССИОННОЙ ТОМОГРАФИИ
FCR 21 CFR PART 212-2014 СОВРЕМЕННАЯ НАДЛЕЖАЩАЯ ПРАКТИКА ПРОИЗВОДСТВА ПРЕПАРАТОВ ДЛЯ ПОЗИТРОННОЙ ЭМИССИОННОЙ ТОМОГРАФИИ

Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, двухфотонное сканирование

DB15/T 1341-2018 Спецификация для калибровки электронного сканера для диаграммы длины ручного ряда кардного кашемира
DB15/T 981-2016 Кардочесальный кашемир, метод измерения длины ряда вручную, метод рисования, метод электронного сканера
DB15/T 883-2015 Метод определения среднего диаметра волокна и распределения диаметров волокон Сиролан (sirolan) - метод лазерного сканирующего анализатора диаметра волокна

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, двухфотонное сканирование

DB32/T 3459-2018 Сканирующая электронная микроскопия для измерения микроплощади покрытия графеновых пленок
DB32/T 4451.7-2023 Правила управления клиническим использованием и контроля качества медицинского оборудования для визуализации. Часть 7: Система однофотонной эмиссионной компьютерной томографии (ОФЭКТ)

ES-UNE, двухфотонное сканирование

UNE-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
UNE-EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в мае 2023 г.)
UNE-EN 61675-1:2014 Устройства радионуклидной визуализации. Характеристики и условия испытаний. Часть 1. Позитронно-эмиссионные томографы (одобрено AENOR в августе 2014 г.).
UNE-EN IEC 61675-1:2022 Устройства радионуклидной визуализации. Характеристики и условия испытаний. Часть 1. Позитронно-эмиссионные томографы (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в июне 2022 г.)
UNE-EN 60843-4:2000 Кассетная система видеоленты со спиральным сканированием с использованием магнитной ленты толщиной 8 мм (видео 8 мм). Часть 4: Субкод видео (VSC) (Одобрено AENOR в августе 2000 г.)

Professional Standard - Civil Aviation, двухфотонное сканирование

MH/T 1064.3-2017 Правила техники безопасности при работе с вертолетом. Часть 3. Операция лазерного сканирования.

GB-REG, двухфотонное сканирование

REG NASA-LLIS-0480-1996 Извлеченные уроки: программа Landsat, мультиспектральный сканер (MSS), развитие технологий

Professional Standard - Public Safety Standards, двухфотонное сканирование

GA/T 1938-2021 Судмедэкспертиза Проверка металлов Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1937-2021 Судебная медицина Проверка резины Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1939-2021 Судмедэкспертиза Текущая точечная экспертиза Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1522-2018 Судмедэкспертиза Осмотр остатков стрельбы Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1521-2018 Судебная медицина Исследование элементного состава пластмасс Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1519-2018 Судмедэкспертиза Проверка элементного состава тонера Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 909-2010 Метод сбора и упаковки следов огнестрельных улик (исследование SEM/EDS)
GA/T 1520-2018 Судебно-медицинская экспертиза черного пороха, проверка элементного состава пиротехнического порошка, сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергетическая спектрометрия
GA/T 823.3-2018 Методы исследования красочных доказательств в судебной медицине. Часть 3: Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия

GOSTR, двухфотонное сканирование

PNST 508-2020 Нанотехнологии. Одностенные углеродные нанотрубки. Характеристика методами сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии.

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), двухфотонное сканирование

SMPTE RP 81-2004 Технические характеристики пленки для проверки однородности сканирующего луча для 16-мм кинофотографических аудиовоспроизведений
SMPTE RP 69-2002 Технические характеристики пленки для проверки однородности сканирующего луча для 35-мм аудиовоспроизведений кинофильмов
SMPTE RP 81-1994 Технические характеристики пленки для проверки однородности сканирующего луча для 16-мм кинофотографических аудиовоспроизведений

ECIA - Electronic Components Industry Association, двухфотонное сканирование

502-A-1989 Рекомендуемая практика измерения рентгеновского излучения от электронно-лучевых трубок прямого обзора без растрового сканирования
501-A-1990 Рекомендуемая практика измерения рентгеновского излучения от электронно-лучевых трубок с растровым сканированием и отображением данных прямого просмотра
EIA-501-A-1990 Рекомендуемая практика измерения рентгеновского излучения от электронно-лучевых трубок с растровым сканированием и отображением данных прямого просмотра

AENOR, двухфотонное сканирование

UNE-EN ISO 9220:1996 МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ. ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ. МЕТОД РАССИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ. (ИСО 9220:1988).
UNE-EN 61675-2:1999/A1:2005 Радионуклидные устройства визуализации. Характеристики и условия испытаний. Часть 2. Однофотонные эмиссионные компьютерные томографы.

Lithuanian Standards Office , двухфотонное сканирование

LST EN ISO 9220:2001 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)
LST EN 61675-2-2001 Радионуклидные устройства визуализации. Характеристики и условия испытаний. Часть 2. Компьютерные томографы с однофотонной эмиссией (IEC 61675-2:1998).
LST EN 61675-2-2001/A1-2005 Радионуклидные устройства визуализации. Характеристики и условия испытаний. Часть 2. Компьютерные томографы с однофотонной эмиссией (IEC 61675-2:1998/A1:2004)
LST EN 61675-1-2001 Радионуклидные устройства визуализации. Характеристики и условия испытаний. Часть 1. Позитронно-эмиссионные томографы (IEC 61675-1:1998).

Indonesia Standards, двухфотонное сканирование

SNI IEC/TR 61948-2:2012 Приборы для ядерной медицины. Плановые испытания. Часть 2. Сцинтилляционные камеры и однофотонная эмиссионная компьютерная томография.
SNI IEC/TR 61948-3:2012 Приборы для ядерной медицины. Рутинные испытания. Часть 3. Позитронно-эмиссионные томографы.

Defense Logistics Agency, двухфотонное сканирование

DLA SMD-5962-91725 REV A-2008 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ КМОП, ТЕСТОВОЕ УСТРОЙСТВО С ВОСЬМЕРИЧНОЙ ЗАЩЕЛКОЙ ТИПА D, ТРЕХСОСТОЯННЫЕ ВЫХОДЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-91746 REV A-2008 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ КМОП, ТЕСТОВОЕ УСТРОЙСТВО С ВОСЬМЕРНИЧНЫМ БУФЕРОМ, ИНВЕРТИРУЮЩИЕ ТРЕХСОСТОЯННЫЕ ВЫХОДЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-91726 REV A-2008 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ КМОП, ТЕСТОВОЕ УСТРОЙСТВО С ВОСЬМЕРИЧНЫМ БУФЕРОМ, ТРЕХСОСТОЯННЫЕ ВЫХОДЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA DSCC-VID-V62/04729 REV A-2011 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ БИПОЛЯРНАЯ КМОП, ТЕСТОВОЕ УСТРОЙСТВО СКАНИРОВАНИЯ ABT, 3,3 В С 18-БИТНЫМ УНИВЕРСАЛЬНЫМ ШИННЫМ ТРАНСИВЕРОМ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA DSCC-VID-V62/04730 REV A-2011 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ БИПОЛЯРНАЯ КМОП, ТЕСТОВОЕ УСТРОЙСТВО СКАНИРОВАНИЯ ABT, 3,3 В С 18-БИТНЫМ УНИВЕРСАЛЬНЫМ ШИННЫМ ТРАНСИВЕРОМ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA DSCC-VID-V62/04731 REV A-2011 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ БИПОЛЯРНАЯ КМОП, ТЕСТОВОЕ УСТРОЙСТВО СКАНИРОВАНИЯ ABT, 3,3 В С 18-БИТНЫМ ТРАНСИВЕРОМ И РЕГИСТРАМИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-96812 REV B-2010 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ БИПОЛЯРНАЯ КМОП, 10-БИТНЫЕ АДРЕСНЫЕ ПОРТЫ СКАНИРОВАНИЯ, МНОГОКАПОЧНЫЙ АДРЕСНЫЙ IEEE STD 1149.1 (JTAG) ТАП-ТРАНСИВЕР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-96747-1997 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, РАСШИРЕННАЯ КМОП, ВЫБОР ПУТИ СКАНИРОВАНИЯ С 8-БИТНОЙ ДВУНАПРАВЛЕННОЙ ШИНОЙ ДАННЫХ, TTL-СОВМЕСТИМЫЕ ВХОДЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-96812 REV A-2003 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ БИПОЛЯРНАЯ КМОП, 10-БИТНЫЕ АДРЕСНЫЕ ПОРТЫ СКАНИРОВАНИЯ, МНОГОКАПОЧНЫЙ АДРЕСНЫЙ IEEE STD 1149.1 (JTAG) ТАП-ТРАНСИВЕР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-96698 REV A-2008 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ БИПОЛЯРНАЯ КМОП, ТЕСТОВОЕ УСТРОЙСТВО С 18-БИТНЫМ ПРИЕМОПРИВОДОМ/РЕГИСТРОМ, ТРЕХСОСТОЯННЫЕ ВЫХОДЫ, TTL-СОВМЕСТИМЫЕ ВХОДЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-91726-1994 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ КМОП, ТЕСТОВОЕ УСТРОЙСТВО С ВОСЬМЕРИЧНЫМ БУФЕРОМ, ТРЕХСОСТОЯННЫЕ ВЫХОДЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-94672 REV B-2013 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ БИПОЛЯРНАЯ КМОП, ТЕСТОВОЕ УСТРОЙСТВО С 18-БИТНЫМ УНИВЕРСАЛЬНЫМ ШИННЫМ ТРАНСИВЕРОМ, ТРЕХСОСТОЯННЫЕ ВЫХОДЫ, TTL-СОВМЕСТИМЫЕ ВХОДЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-94601 REV C-2008 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ БИПОЛЯРНАЯ КМОП, ТЕСТОВОЕ УСТРОЙСТВО С 18-БИТНЫМ ШИННЫМ ТРАНСИВЕРОМ, ТРЕХСОСТОЯННЫЕ ВЫХОДЫ, TTL-СОВМЕСТИМЫЕ ВХОДЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-91746-1994 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ КМОП, ТЕСТОВОЕ УСТРОЙСТВО С ВОСЬМЕРНИЧНЫМ БУФЕРОМ, ИНВЕРТИРУЮЩИЕ ТРЕХСОСТОЯННЫЕ ВЫХОДЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-94615 REV B-2013 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ БИПОЛЯРНАЯ КМОП, ТЕСТОВОЕ УСТРОЙСТВО СКАНИРОВАНИЯ С ВОСЬМЕРИЧНЫМ ЗАРЕГИСТРИРОВАННЫМ ШИННЫМ ТРАНСИВЕРОМ, ТРЕХСОСТОЯННЫЕ ВЫХОДЫ, TTL-СОВМЕСТИМЫЕ ВХОДЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ

AT-ON, двухфотонное сканирование

OENORM EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)

ZA-SANS, двухфотонное сканирование

SANS 12653-1:2006 Электронная обработка изображений. Тестовая цель для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 1. Характеристики
SANS 12653-2:2006 Электронное отображение изображений. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 2. Метод использования.

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, двухфотонное сканирование

DB44/T 1833-2016 Тестовая цель для сканирования офисных документов с использованием электронных изображений Тестовая цель с низким разрешением
DB44/T 1216-2013 Характеристика графена с помощью сканирующей электронной микроскопии и рентгеновской спектроскопии.
DB44/T 1215-2013 Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергетической спектроскопии

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, двухфотонное сканирование

DB35/T 110-2000 Электронный зонд и сканирующий электронный микроскоп. Метод рентгеновского энергетического спектрального анализа для обнаружения красочных вещественных доказательств.

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, двухфотонное сканирование

ECA EIA-501-A-1990 Рекомендуемая практика измерения рентгеновского излучения от электронно-лучевых трубок с растровым сканированием и отображением данных прямого просмотра

ANSI - American National Standards Institute, двухфотонное сканирование

INCITS/ISO/IEC 12246:1993 Информационные технологии - Картридж с магнитной лентой шириной 8 мм, двойной азимутальный формат для обмена информацией - Запись со спиральной разверткой (принято INCITS)

BE-NBN, двухфотонное сканирование

NBN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988).

Professional Standard - Geology, двухфотонное сканирование

DZ 0030-1992 Технические условия двухканального атомно-флуоресцентного фотометра XDY-1

未注明发布机构, двухфотонное сканирование

BS CECC 13:1985(1999) Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: Базовая спецификация: Проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.
DIN EN IEC 61675-1:2022 Системы визуализации в ядерной медицине – характеристики и условия испытаний – Часть 1: Позитронно-эмиссионные томографы
SAE ARP4050A-2017 Балансировочные станки - описание и оценка Вертикальные, двухплоскостные, твердонесущего типа для роторов газовых турбин

Professional Standard - Environmental Protection, двухфотонное сканирование

HJ 977-2018 Качество воды. Определение содержания алкилртути. Продувка и улавливание/газовая хроматография. Атомно-флуоресцентная спектрометрия с холодным паром.
HJ 1269-2022 Почва и осадки. Определение метилртути и этилртути. Продувка и ловушка/газовая хроматография — атомная флуоресцентная спектрометрия с холодным паром.

IEC - International Electrotechnical Commission, двухфотонное сканирование

IEC 61675-2:2005 Радионуклидные устройства визуализации. Характеристики и условия испытаний. Часть 2. Однофотонные эмиссионные компьютерные томографы (Издание 1.1; Сводное переиздание)

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, двухфотонное сканирование

EN IEC 61675-1:2022 Радионуклидные устройства визуализации. Характеристики и условия испытаний. Часть 1. Позитронно-эмиссионные томографы.
EN 60843-4:2000 Кассетная система со спиральной разверткой и использованием магнитной ленты 8 мм (видео 8 мм). Часть 4: Субкод видео (VSC)

Standard Association of Australia （SAA）, двухфотонное сканирование

AS/NZS IEC 61675.1:2022 Радионуклидные устройства визуализации. Характеристики и условия испытаний. Часть 1. Позитронно-эмиссионные томографы.
AS ISO 15470:2006 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.

IN-BIS, двухфотонное сканирование

IS 233 Pt.6-1978 Методы определения параметров длины хлопковых волокон Часть VI Оценка длины и однородности длины методом оптического сканирования

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), двухфотонное сканирование

SMPTE RP 69:2002 RP 69:2002 - Рекомендуемая практика SMPTE. Технические характеристики пленки для испытаний на однородность сканирующего луча для 35-мм аудиовоспроизведений кинофильмов
RP 69:2002 RP 69:2002 - Рекомендуемая практика SMPTE. Технические характеристики пленки для испытаний на однородность сканирующего луча для 35-мм аудиовоспроизведений кинофильмов
RP 81:2004 RP 81:2004 - Рекомендуемая практика SMPTE. Спецификации для пленки для испытаний на однородность сканирующего луча для 16-мм кинофотографических аудиовоспроизведений

中国气象局, двухфотонное сканирование

QX/T 545-2020 Метод калибровки инфракрасного излучения полярно-орбитального метеорологического спутника серии «Фэнъюнь» инфракрасного сканирующего радиометра видимого света на орбитальном спутнике

Society of Automotive Engineers (SAE), двухфотонное сканирование

SAE ARP4050-1994 БАЛАНСИРОВОЧНЫЕ МАШИНЫ – ОПИСАНИЕ И ОЦЕНКА ВЕРТИКАЛЬНЫЕ, ДВУХПЛАСТИННЫЕ, ЖЕСТКООПИСНОГО ТИПА ДЛЯ РОТОРОВ ГАЗОВЫХ ТУРБИН
SAE ARP4050-2011 Балансировочные станки.Описание и оценка Вертикальные, двухплоскостные, жесткоподшипникового типа для роторов газовых турбин.
SAE ARP587B-1990 Балансировочные станки - описание и оценка Горизонтальные, двухплоскостные, с мягкими подшипниками для роторов газовых турбин
SAE ARP4050A-2022 Балансировочные станки - описание и оценка Вертикальные, двухплоскостные, твердонесущего типа для роторов газовых турбин

Professional Standard - Railway, двухфотонное сканирование

TB/T 2219-2005 Электронные балласты постоянного тока для пассажирского железнодорожного вагона