ZH
RU
EN

escaneo de dos fotones

escaneo de dos fotones, Total: 498 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en escaneo de dos fotones son: Vocabularios, Equipo óptico, Medicina de laboratorio, Óptica y medidas ópticas., Dispositivos de visualización electrónica., Química analítica, Geología. Meteorología. Hidrología, Fotografía, Optoelectrónica. Equipo láser, Equipo medico, Vaso, Educación, Ingeniería vial, Cinematografía, Astronomía. Geodesia. Geografía, Medidas lineales y angulares., Calidad del aire, Herramientas de máquina, Industria de construccion, ingenieria electrica en general, Redes de transmisión y distribución de energía., Protección contra el crimen, Termodinámica y mediciones de temperatura., Comunicaciones de fibra óptica., Pruebas no destructivas, Metales no ferrosos, Aplicaciones de la tecnología de la información., Ingeniería ferroviaria en general., Pinturas y barnices, Física. Química, Dispositivos de almacenamiento de datos, Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Equipos para industrias de petróleo y gas natural., Tratamiento superficial y revestimiento., Aplicaciones de imágenes de documentos, Sistemas de microprocesador, Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Fibras textiles, Materiales de construcción, Transporte, Ciencias de la información. Publicación, Juegos de caracteres y codificación de información., Metrología y medición en general., Calidad del suelo. Pedología, Cerámica, Circuitos integrados. Microelectrónica, Productos de hierro y acero., Plástica, Calidad del agua, Dispositivos semiconductores, Componentes de tuberías y tuberías., Lubricantes, aceites industriales y productos afines., tubos electronicos, Combustibles, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Goma, Tecnología gráfica, Plásticos reforzados, Ejes y acoplamientos, Motores aeroespaciales y sistemas de propulsión., Dibujos tecnicos, Material rodante ferroviario, Ingredientes de pintura.

Association Francaise de Normalisation, escaneo de dos fotones

NF X21-010:2009 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario.
NF Z42-010-1:1992 Imágenes electrónicas - Escaneo de documentos de oficina - parte 1:Subcontratación de escaneo - Guía de instrucciones técnicas detalladas para oficinas
NF S12-130*NF ISO 16971:2015 Instrumentos oftálmicos - Tomógrafo de coherencia óptica para el segmento posterior del ojo humano
NF ISO 16971:2015 Instrumentos oftálmicos - Tomógrafo de coherencia óptica del segmento posterior del ojo humano
NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido: métodos para evaluar la nitidez de la imagen
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
NF T25-111-4:1991 Fibras de carbono- Textura y estructura- Parte 4: Fractografía mediante microscopio electrónico de barrido
FD T16-203:2011 Nanotecnologías: Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
NF EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: determinación del tamaño de partículas y distribución de formas mediante microscopía electrónica de barrido.
NF Z42-010-2:1993 Imágenes electrónicas - Escaneo de documentos de oficina - Parte 2: Adquisición de sistemas electrónicos de gestión de imágenes - Directrices para una solicitud de propuestas
NF EN 60843-4:2000 Sistema VCR de casete de escaneo helicoidal que utiliza cinta magnética de 8 mm (vídeo de 8 mm) - Parte 4: Subcódigo de vídeo (VSC)
NF EN IEC 61675-1:2022 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 1: tomógrafos por emisión de positrones.
NF C97-102-4*NF EN 60843-4:2000 Sistema de casete de cinta de vídeo de escaneo helicoidal que utiliza cinta magnética de 8 mm (vídeo de 8 mm) - Parte 4: subcódigo de vídeo (VSC)
NF C74-221*NF EN 61262-1:1994 Equipos eléctricos médicos. Características de los intensificadores de imágenes de rayos X electroópticos. Parte 1: determinación del tamaño del campo de entrada.
NF ISO 16000-27:2014 Aire interior - Parte 27: determinación del polvo fibroso depositado en las superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
NF ISO 10110-19:2015 Óptica y fotónica. Orientación sobre dibujos de elementos y sistemas ópticos. Parte 19: descripción general de superficies y componentes.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), escaneo de dos fotones

KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS A ISO 16067-2-2005(2020) Fotografía－Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas－Medición de resolución espacial－Parte 2: Escáneres de película
KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS A ISO 16067-2:2005 Fotografía-Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas-Medición de resolución espacial-Parte 2: Escáneres de películas
KS A ISO 16067-1:2005 Fotografía-Medidas de resolución espacial de escáneres electrónicos para imágenes fotográficas-Parte 1: Escáneres para medios reflectantes
KS A ISO 16067-1-2005(2020) Fotografía－Medidas de resolución espacial de escáneres electrónicos para imágenes fotográficas－Parte 1: Escáneres para medios reflectantes
KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS D 2713-2016 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
KS P ISO 16971:2020 Instrumentos oftálmicos: tomógrafo de coherencia óptica para el segmento posterior del ojo humano.
KS D 2713-2016(2021) Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
KS X ISO/IEC 15780:2013 Tecnología de la información－Cartucho de cinta magnética de 8 mm de ancho－Grabación de escaneo helicoidal－AIT－1 formato
KS A ISO 21550:2005 Fotografía－Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas－Medidas de rango dinámico
KS A ISO 21550-2005(2020) Fotografía－Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas－Medidas de rango dinámico
KS X ISO/IEC 12246-2003(2008) Tecnología de la información－Cartucho de cinta magnética de 8 mm de anchoAzimut dual para intercambio de información－Grabación de escaneo helicoidal
KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 16700-2013(2018) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS X ISO 12653-1-2007(2017) Imágenes electrónicas－Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina－Parte 1:Características
KS X ISO 12653-1-2007(2022) Imágenes electrónicas－Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina－Parte 1:Características
KS C IEC 61675-2:2018 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 2: Cámaras gamma para imágenes planas, de cuerpo entero y SPECT.
KS X ISO 12653-1:2007 Imágenes electrónicas-Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina-Parte 1:Características
KS C IEC TR 61948-3:2020 Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina. Parte 3: Tomógrafos por emisión de positrones.
KS C IEC TR 61948-3:2017 Instrumentación de medicina nuclear ─ Pruebas de rutina ─ Parte 3: Tomógrafos por emisión de positrones
KS X ISO 12653-2-2007(2022) Imágenes electrónicas－Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina－Parte 2: Método de uso
KS X ISO 12653-2-2007(2017) Imágenes electrónicas－Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina－Parte 2: Método de uso
KS X ISO 12653-2:2007 Imágenes electrónicas-Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina-Parte 2:Método de uso

Professional Standard - Medicine, escaneo de dos fotones

YY/T 1154-2009 Escáner láser confocal
YY/T 1895-2023 Dispositivo de obtención de imágenes por tomografía de coherencia óptica intravascular
YY/T 0815-2010 Método de prueba estándar para medir la entalpía de fusión, el porcentaje de cristalinidad y el punto de fusión del polietileno de peso molecular ultraalto mediante calorimetría diferencial de barrido.

International Organization for Standardization (ISO), escaneo de dos fotones

ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
ISO/CD 16971-1 Instrumentos oftálmicos. Tomógrafos de coherencia óptica. Parte 1: Tomógrafos de coherencia óptica para el segmento posterior del ojo humano.
ISO/DIS 16971-1:2011 Instrumentos oftálmicos. Tomógrafos de coherencia óptica. Parte 1: Tomógrafos de coherencia óptica para el segmento posterior del ojo humano.
ISO 22493:2014 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
ISO 16067-2:2004 Fotografía - Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas - Mediciones de resolución espacial - Parte 2: Escáneres de películas
ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
ISO 11312:1993 Fotografía; dimensiones de la película; película para uso en escáner electrónico
ISO 16067-1:2003 Fotografía - Mediciones de resolución espacial de escáneres electrónicos para imágenes fotográficas - Parte 1: Escáneres para medios reflectantes
ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 21550:2004 Fotografía - Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas - Mediciones de rango dinámico
ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
ISO 14535:2001 Fotografía - Paquetes de carga con luz ambiental para escáneres electrónicos y rollos de película y papel para configuración de imágenes - Dimensiones y requisitos relacionados
ISO/IEC 12246:1993 Tecnologías de la información; Cartucho de cinta magnética de 8 mm de ancho con formato de doble azimut para intercambio de información; grabación de escaneo helicoidal
ISO 17123-9:2018 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 9: Escáneres láser terrestres.
ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.
ISO 12653-1:2000 Imágenes electrónicas - Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina - Parte 1: Características
ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método para evaluar dimensiones críticas mediante CD-SEM.
ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
ISO 12653-2:2000 Imágenes electrónicas - Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina - Parte 2: Método de uso
ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
ISO 22581:2021 Análisis químico de superficies: información casi en tiempo real procedente del escaneo de espectroscopía fotoelectrónica de rayos X. Reglas para la identificación y corrección de la contaminación de superficies por contenedores de carbono.
ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
ISO 13083:2015
ISO 12653-2:2000/cor 1:2002 Imágenes electrónicas - Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina - Parte 2: Método de uso; Corrigendum técnico 1
ISO 14966:2002/cor 1:2007 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido; Corrigendum técnico 1
ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano
ISO 12653-3:2014 Imágenes electrónicas. Objetivo de prueba para escanear documentos de oficina. Parte 3: Objetivo de prueba para uso en aplicaciones de menor resolución.
ISO/TS 18621-21:2020 Tecnología gráfica. Métodos de evaluación de la calidad de la imagen para material impreso. Parte 21: Medición de distorsiones 1D de la uniformidad macroscópica utilizando espectrofotómetros de barrido.
ISO/TS 18621-21:2023 Tecnología gráfica. Métodos de evaluación de la calidad de la imagen para material impreso. Parte 21: Medición de distorsiones 1D de la uniformidad macroscópica utilizando espectrofotómetros de barrido.
ISO 21915-1:2020 Textiles. Análisis cualitativo y cuantitativo de algunas fibras de celulosa (lyocell, cupro) y sus mezclas. Parte 1: Identificación de fibras mediante microscopía electrónica de barrido y métodos de análisis espectral.

Professional Standard - Machinery, escaneo de dos fotones

JB/T 5478-1991 Espectrómetro fotoeléctrico de lectura directa de barrido manual
JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas

Professional Standard - Energy, escaneo de dos fotones

NB/T 11139-2023 Escáner láser 3D de mina
DL/T 2333-2021 Reglamento técnico para la medición terrestre por escaneo láser tridimensional de proyectos de transmisión y transformación de energía.
NB/SH/T 0902-2015 Método de prueba estándar para medir la separación de fases inducida por n-heptano de fueloil pesado que contiene asfaltenos como número de separabilidad mediante un dispositivo de escaneo óptico

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), escaneo de dos fotones

JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
JIS K 7542:1993 Dimensiones de la película fotográfica para uso en escáner electrónico.
JIS K 0149-1:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
JIS T 1507:1989 Equipo de diagnóstico ultrasónico de escaneo lineal electrónico.
JIS B 7208:1972 Películas de prueba de uniformidad de iluminación del haz de escaneo de imágenes en movimiento de 16 mm
JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS B 7207:1972 Películas de prueba de uniformidad de iluminación del haz de escaneo de películas de 35 mm, tipo servicio
JIS B 7206:1972 Películas de prueba de uniformidad de iluminación del haz de exploración de películas cinematográficas de 35 mm, tipo laboratorio
JIS X 6142:1995 Cartucho de cinta magnética de 8 mm de ancho, formato de doble azimut para intercambio de información - Grabación de escaneo helicoidal
JIS R 1672:2006 Determinación del calor específico de compuestos cerámicos reforzados con fibras mediante métodos de calorimetría diferencial de barrido.
JIS R 1633:1998 Método de preparación de muestras de cerámicas finas y polvos cerámicos finos para observación con microscopio electrónico de barrido.
JIS T 61675-1:2016 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 1: Tomógrafos por emisión de positrones.

American Society for Testing and Materials (ASTM), escaneo de dos fotones

ASTM E986-97 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04(2017) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E1683-02(2014)e1 Práctica estándar para probar el rendimiento de espectrómetros Raman de barrido
ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E986-04 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04(2010) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E1683-02(2007) Práctica estándar para probar el rendimiento de espectrómetros Raman de barrido
ASTM E1683-02 Práctica estándar para probar el rendimiento de espectrómetros Raman de barrido
ASTM E1683-95A Práctica estándar para probar el rendimiento de espectrómetros Raman de barrido
ASTM E1683-02(2022) Práctica estándar para probar el rendimiento de espectrómetros Raman de barrido
ASTM E2809-13 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X en exámenes de pintura forense
ASTM E766-14 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E1588-95(2001) Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
ASTM E1588-08 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E1588-10 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E1588-10e1 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E1588-95 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
ASTM E766-98(2008)e1 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM C1723-16(2022) Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM C1723-10 Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM C1723-16
ASTM E766-14(2019) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E1588-20 Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM E1728-99 Práctica estándar para la recolección de campo de muestras de polvo sedimentado utilizando métodos de muestreo por toallita para la determinación de plomo mediante técnicas de espectrometría atómica
ASTM E1588-16 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM E280-98(2004)e1 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 4 &189; a 12 pulgadas [114 a 305 mm])
ASTM E1588-07e1 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM E1588-07 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E280-21 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 412 a 12 pulg. (114 a 305 mm))
ASTM E2809-22 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (SEM/EDS) en exámenes forenses de polímeros
ASTM D6966-13 Práctica estándar para la recolección de muestras de polvo sedimentado utilizando métodos de muestreo por toallita para la determinación posterior de metales
ASTM E766-14e1
ASTM E2090-00 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas por limpiadores de salas limpias mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM E2090-12 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM E1588-16a Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM E1588-17 Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM B748-90(2006) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM B748-90(1997) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E928-01 Método de prueba estándar para la determinación de la pureza mediante calorimetría diferencial de barrido
ASTM E928-96 Método de prueba estándar para la determinación de la pureza mediante calorimetría diferencial de barrido
ASTM E928-08 Método de prueba estándar para la determinación de la pureza mediante calorimetría diferencial de barrido
ASTM E2142-08(2015) Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM E2142-08 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM D8231-19 Práctica estándar para el uso de un sistema de escaneo electrónico de bajo voltaje para detectar y localizar grietas en membranas impermeabilizantes y para techos
ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
ASTM E3309-21 Guía estándar para informes de análisis forense de residuos de disparos de cebador (pGSR) mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía (SEM/EDS)
ASTM D8315-20 Método de prueba estándar para la determinación de metales de desgaste y elementos contaminantes en aceites industriales usados mediante espectrometría de emisión atómica con electrodo plano de barrido
ASTM B748-90(2010) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2090-06 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM E2090-12(2020) Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM B748-90(2021) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E1016-96 Guía estándar de literatura que describe las propiedades de los espectrómetros de electrones electrostáticos
ASTM E1016-96(2002) Guía estándar de literatura que describe las propiedades de los espectrómetros de electrones electrostáticos
ASTM E2142-01 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM B748-90(2016) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E3284-23 Standard Practice for Training in the Forensic Examination of Primer Gunshot Residue (pGSR) Using Scanning Electron Microscopy/Energy Dispersive X-Ray Spectrometry (SEM/EDS)
ASTM E1832-08 Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de emisión atómica de plasma de corriente directa
ASTM E1832-08(2017) Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de emisión atómica de plasma de corriente directa
ASTM B748-90(2001) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E1016-07 Guía estándar de literatura que describe las propiedades de los espectrómetros de electrones electrostáticos
ASTM E1016-07(2020) Guía estándar de literatura que describe las propiedades de los espectrómetros de electrones electrostáticos
ASTM E1016-07(2012)e1 Guía estándar de literatura que describe las propiedades de los espectrómetros de electrones electrostáticos
ASTM E863-98 Práctica estándar para describir equipos de espectroscopia de absorción atómica de llama
ASTM F1372-93(1999) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM F1372-93(2020) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM E1479-16 Práctica estándar para describir y especificar espectrómetros de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
ASTM D6466-99(2005) Método de prueba estándar para el diámetro de la lana y otras fibras animales mediante el analizador de diámetro de fibra Sirolan-Laserscan
ASTM D6466-99 Método de prueba estándar para el diámetro de la lana y otras fibras animales mediante el analizador de diámetro de fibra Sirolan-Laserscan
ASTM E1479-99(2005) Práctica estándar para describir y especificar espectrómetros de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
ASTM E1479-99 Práctica estándar para describir y especificar espectrómetros de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
ASTM D605-82(1996)e1 Especificación estándar para pigmento de silicato de magnesio (talco)
ASTM D6059-96(2011) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM E1832-03 Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de emisión atómica de plasma de corriente directa
ASTM E863-98(2004)e1 Práctica estándar para describir equipos de espectroscopia de absorción atómica de llama (retirada en 2004)
ASTM F1372-93(2005) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM F1372-93(2012)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, escaneo de dos fotones

GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas
GB/T 33805-2017 Requisito técnico del escáner de biochip confocal láser.
GB/T 33806-2017 Requisito técnico del escáner de microarrays de imágenes fluorescentes de área
GB/T 33838-2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Métodos para evaluar la nitidez de la imagen.
GB/T 35935-2018 Medición de la media y distribución del diámetro de las fibras animales: método de análisis del diámetro de las fibras mediante escaneo láser
GB/T 33095.1-2016 Caucho no vulcanizado. Medición de propiedades reológicas utilizando un reómetro de corte sin rotor. Parte 1: barrido de frecuencia.

Group Standards of the People's Republic of China, escaneo de dos fotones

T/CASME 410-1023 Indicador de nivel lidar de escaneo
T/QGCML 2017-2023
T/CECS G:H11-01-2020 Especificaciones para topografía LiDAR en ingeniería de carreteras
T/CI 036-2023 Equipo de impresión 3D dental de cerámica con escaneo láser UV
T/CECS 790-2020 Reglamento técnico de aplicaciones de ingeniería de escaneo láser 3D terrestre
T/CEC 616-2022 Especificaciones técnicas para robots voladores de escaneo láser para líneas de transmisión de energía
T/QGCML 1940-2023
T/CSTM 00619-2022 Medición de dimensiones de la preforma de fibra——Método de escaneo láser tridimensional
T/CAGHP 018-2018 Reglamento técnico para el seguimiento terrestre mediante escaneo láser 3D de desastres geológicos
T/SAS 0003-2018 Cristales de centelleo de germanato de bismuto para tomografía por emisión de positrones
T/CEC 448-2021 Reglamento técnico para la operación de escaneo láser de vehículos aéreos no tripulados de líneas aéreas de transmisión
T/ZKJXX 00036-2023 Requisitos técnicos generales para el sistema de escaneo láser 3D móvil terrestre
T/ZSA 29-2021 Especificaciones técnicas generales para cámara tridimensional LiDAR de realidad virtual
T/CIRA 42-2022 Método de detección de uniformidad de escaneo de haz de acelerador de electrones para varillas de aluminio utilizadas en el procesamiento de radiación
T/CES 183-2022 Especificación de la recopilación de datos mediante escaneo láser de vehículos aéreos no tripulados de ala fija para líneas aéreas de transmisión
T/SAME 004-2021 Especificación del servicio de gestión de mantenimiento y mantenimiento de tomografía computarizada (TC) de rayos X
T/LNWTA 002-2019 Identificación rápida de polímeros en tuberías para suministro de agua Espectrometría de absorción infrarroja (IR) y calorimetría diferencial de barrido (DSC)

Professional Standard - Chemical Industry, escaneo de dos fotones

HG/T 3640-1999 Fotografía. Dimensión de la película. Película para uso en escáner electrónico.

German Institute for Standardization, escaneo de dos fotones

DIN 44030-1:1992 Tecnología de control; barreras luminosas y escáneres de luz; definiciones
DIN 44030 Bb.1:1991 Tecnología de control; barreras luminosas y escáneres de luz; símbolos usados
DIN 44030-2:1992 Tecnología de control; barreras luminosas y escáneres de luz; método de medición
DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022
DIN 66223-5:1985 Fuentes para reconocimiento óptico de caracteres; formato para escáner de mano
DIN EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021); Versión alemana e inglesa prEN ISO 9220:2021
DIN 6855-2:2013-01 Pruebas de constancia de sistemas de medición de medicina nuclear. Parte 2: Cámaras gamma de cristal único utilizadas en gammagrafía plana y cámaras gamma de tipo ira con cabezales detectores giratorios utilizadas en tomografía por emisión de fotón único.
DIN 6855-4:2016-11 Pruebas de constancia de instrumentos de medicina nuclear - Parte 4: Tomógrafos por emisión de positrones (PET)
DIN EN 60843-4:2000 Sistema de casete de cinta de vídeo de barrido helicoidal que utiliza cinta magnética de 8 mm (vídeo de 8 mm) - Parte 4: Subcódigo de vídeo (VSC) (IEC 60843-4:2000); Versión alemana EN 60843-4:2000
DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021); Versión alemana EN ISO 19749:2023
DIN 6871-1:2003-02 Sistemas de ciclotrón para tomografía por emisión de positrones. Parte 1: Requisitos para la protección radiológica de la construcción.
DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
DIN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988); Versión alemana EN ISO 9220:1994
DIN ISO 16000-27:2014-11 Aire interior. Parte 27: Determinación del polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo) (ISO 16000-27:2014)
DIN EN IEC 61675-1:2022-12 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 1: Tomógrafos por emisión de positrones (IEC 61675-1:2022); Versión alemana EN IEC 61675-1:2022
DIN 6871-2:2005-02 Sistemas de ciclotrón para tomografía por emisión de positrones - Parte 2: Laberintos de protección radiológica y entradas a las paredes
DIN EN 14437:2005-02 Sistemas de ciclotrón para tomografía por emisión de positrones - Parte 2: Laberintos de protección radiológica y entradas a las paredes
DIN EN 14664:2005-02 Sistemas de ciclotrón para tomografía por emisión de positrones - Parte 2: Laberintos de protección radiológica y entradas a las paredes

Professional Standard - Military and Civilian Products, escaneo de dos fotones

WJ 2299-1995 Reglamento de verificación del espectrómetro de barrido secuencial de plasma acoplado inductivamente

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, escaneo de dos fotones

JJF 1406-2013 Especificación de calibración para escáneres láser terrestres
JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)
JJF 1951-2021 Especificación de calibración para sistemas de medición ópticos 3D basados en escaneo de luz estructurada
JJF 1719-2018 Especificación de calibración para escáner láser 3D para mediciones de volumen de camiones cisterna y contenedores cisterna

Professional Standard - Electron, escaneo de dos fotones

SJ/T 11886-2023 Escáner 3D portátil de luz estructurada
SJ/T 11008-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos - Circuitos integrados de TV semiconductores - Circuitos de barrido de línea y campo CD11235CP
SJ/T 10987-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos - Circuitos integrados de TV semiconductores - Circuitos de barrido de campo magnético CD5435CP
SJ/T 11087-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos - Circuitos integrados semiconductores - Circuitos de procesamiento de crominancia y barrido horizontal y vertical CD7698CP
SJ/T 10784-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos - Circuitos integrados semiconductores - Circuitos de barrido horizontal y vertical CD7609CP (Aplicable para certificación)
SJ 50033/99-1995 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada para diodo emisor de luz de doble color o/G para tipo GF511

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, escaneo de dos fotones

JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.

British Standards Institution (BSI), escaneo de dos fotones

BS ISO 16067-2:2004 Fotografía. Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas. Medidas de resolución espacial. Escáneres de película
BS ISO 22493:2014 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
BS ISO 16067-1:2003 Fotografía. Mediciones de resolución espacial para escáneres electrónicos de imágenes fotográficas. Escáneres para medios reflectantes
18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
BS ISO 21550:2004 Fotografía - Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas - Mediciones de rango dinámico
BS IEC 62906-5-5:2022 Pantallas láser: métodos de medición óptica de pantallas láser de proyección directa de retina con escaneo de trama
BS ISO 12653-1:2000 Imagen electrónica - Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina - Características
BS ISO 12653-1:2001 Imágenes electrónicas. Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina. Características
BS IEC 62906-5-7:2022 Pantallas láser: métodos de medición de la calidad de imagen afectada por el moteado para escanear pantallas láser
BS ISO 14535:2001 Fotografía - Paquetes de carga con luz ambiental para escáneres electrónicos y rollos de película y papel para configuración de imágenes - Dimensiones y requisitos relacionados
BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
PD IEC TR 61948-2:2019 Cambios rastreados. Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina. Cámaras de centelleo y tomografía computarizada por emisión de fotón único.
BS ISO 17123-9:2018 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos - Escáneres láser terrestres
BS ISO 12653-2:2000 Imágenes electrónicas - Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina - Método de uso
BS ISO 12653-2:2001 Imágenes electrónicas. Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de Office. Metodo de uso
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
PD IEC/TR 61948-3:2018 Cambios rastreados. Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina. Tomógrafos por emisión de positrones
DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
BS ISO 19749:2021 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
BS ISO/IEC 12246:1993 Tecnologías de la información. Cartucho de cinta magnética de 8 mm de ancho formato dual azimutal para intercambio de información. Grabación de escaneo helicoidal
BS EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
21/30432306 DC BS EN IEC 62906-5-5. Pantallas láser. Parte 5-5. Métodos de medición óptica de pantallas láser de proyección directa de retina con escaneo de trama
20/30423331 DC BS EN IEC 62906-5-5. Pantallas láser. Parte 5-5. Métodos de medición óptica de pantallas láser de proyección directa de retina con escaneo de trama
BS ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
18/30344520 DC BS ISO 21466. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas mediante CD-SEM
BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
20/30404087 DC BSIEC 62906-5-7. Pantallas láser. Parte 5-7. Métodos de medición de la calidad visual para escanear pantallas láser.
20/30425645 DC BS EN IEC 62906-5-7. Pantallas láser. Parte 5-7. Métodos de medición de la calidad visual para escanear pantallas láser.
20/30415914 DC BS IEC IEC 62906-5-7. Pantallas láser. Parte 5-7. Métodos de medición de la calidad visual para escanear pantallas láser.
19/30402600 DC BSIEC 62906-5-5. Dispositivos de visualización láser. Parte 5-5. Métodos de medición óptica de dispositivos de proyección directa de retina con escaneo de trama
18/30363457 DC BS EN 62906-5-5. Dispositivos de visualización láser. Parte 5-5. Métodos de medición óptica de dispositivos de proyección directa de retina con escaneo de trama
BS CECC 00013:1985 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos: especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores
BS DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
BS ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
BS ISO 12653-3:2014 Imágenes electrónicas. Objetivo de prueba para escanear documentos de oficina. Objetivo de prueba para uso en aplicaciones de menor resolución
18/30375050 DC BS ISO 14966. Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
BS ISO 11698-2:2000 Micrografía. Métodos de medición de la calidad de la imagen producida por escáneres de tarjetas de apertura. Criterios y control de calidad.
BS EN 60843-4:2001 Sistema de casete de cinta de vídeo de barrido helicoidal mediante cinta magnética de 8 mm. Vídeo de 8 mm. Subcódigo de vídeo (VSC)
BS EN IEC 61675-1:2022 Cambios rastreados. Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Tomógrafos por emisión de positrones
BS ISO 13083:2015 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Estándares sobre la definición y calibración de la resolución espacial de microscopios de sonda de barrido eléctrico (ESPM), como SSRM y SCM para imágenes dopantes en 2D y otros fines
BS ISO 22581:2021 Análisis químico de superficies. Información casi en tiempo real procedente del escaneo de espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Reglas para la identificación y corrección de la contaminación de superficies por compuestos que contienen carbono
BS PD ISO/TS 18621-21:2020 Tecnología gráfica. Métodos de evaluación de la calidad de imagen de material impreso. Medición de distorsiones 1D de uniformidad macroscópica utilizando espectrofotómetros de barrido.
PD ISO/TS 18621-21:2023 Tecnología gráfica. Métodos de evaluación de la calidad de imagen de material impreso. Medición de distorsiones 1D de uniformidad macroscópica utilizando espectrofotómetros de barrido.
BS ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
BS EN ISO 17751-2:2023 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas: método de microscopía electrónica de barrido
BS ISO 10110-19:2015 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Descripción general de superficies y componentes.
BS EN ISO 17751-2:2016 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana, otras fibras animales especiales y sus mezclas. Método de microscopía electrónica de barrido.
20/30423980 DC BS EN IEC 61675-1. Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 1. Tomógrafos por emisión de positrones

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, escaneo de dos fotones

GB/T 30020-2013 Método de prueba para detectar defectos del vidrio. Método de escaneo fotoelástico.
GB/T 30020-2023 Método de detección de defectos de vidrio Método de escaneo fotoelástico
GB/T 23414-2009 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
GB/T 18295-2001 Método de análisis de muestras de arenisca de yacimientos de petróleo y gas mediante microscopio electrónico de barrido.
GB/T 17359-1998
GB/T 25885-2010 Medición de la media y distribución del diámetro de la fibra para lana. Analizador de diámetro de fibra con escaneo láser.
GB/T 20493.1-2006 Prueba de imagen electrónica Traget para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina Parte 1: Características
GB/T 43196-2023 Microscopía electrónica de barrido con nanotecnología para medir el tamaño y la distribución de la forma de las nanopartículas
GB/T 19267.6-2003 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopía electrónica de barrido.
GB/T 20493.2-2006
GB/T 28873-2012 Guía general de microscopía electrónica de barrido ambiental para efectos biológicos sobre topografía inducidos por nanopartículas.
GB/T 17361-1998
GB/T 17361-2013 Análisis de microhaces. Identificación de minerales arcillosos autigénicos en rocas sedimentarias mediante microscopio electrónico de barrido y espectrómetro de energía dispersiva.
GB/T 19267.6-2008 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopio electrónico de barrido/espectrometría de dispersión de energía de rayos X
GB/Z 26083-2010 Determinación de ftalocianina sustituida con octaacoxilo de cobre (Ⅱ) en una superficie de grafito (microscopio de efecto túnel)
GB/T 32869-2016 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.

KR-KS, escaneo de dos fotones

KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS P ISO 16971-2020 Instrumentos oftálmicos: tomógrafo de coherencia óptica para el segmento posterior del ojo humano.
KS C IEC 61675-2-2018 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 2: Cámaras gamma para imágenes planas, de cuerpo entero y SPECT.
KS C IEC TR 61948-3-2020 Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina. Parte 3: Tomógrafos por emisión de positrones.
KS C ISO 19749-2023 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.

Professional Standard - Education, escaneo de dos fotones

JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.
JY/T 0586-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía confocal de barrido láser.

TIA - Telecommunications Industry Association, escaneo de dos fotones

455-164-1986 Escaneo de fibra de campo lejano@ Modo único@ Medición del diámetro del campo modal
EIA/TIA-455-164A-1991 FOTP-164 Fibra monomodo@ Medición del diámetro del campo modal mediante escaneo de campo lejano

Hubei Provincial Standard of the People's Republic of China, escaneo de dos fotones

DB42/T 1346-2018 Condiciones técnicas del escáner láser 3D de forma de onda completa.

Professional Standard - Surveying and Mapping, escaneo de dos fotones

CH/Z 3017-2015 Normativa técnica para operaciones de escaneo láser 3D terrestre

国家能源局, escaneo de dos fotones

NB/T 35109-2018 Procedimientos de medición por escaneo láser tridimensional para proyectos hidroeléctricos
SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.
SY/T 7346-2016 Especificaciones para la medición terrestre con escaneo láser tridimensional de ingeniería de petróleo y gas

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, escaneo de dos fotones

CNS 14197-1998 Equipo de diagnóstico ultrasónico de escaneo lineal eléctrico.

Association of German Mechanical Engineers, escaneo de dos fotones

VDI/VDE 2634 Blatt 2-2002 Sistemas ópticos de medición 3D - Sistemas ópticos basados en escaneo de áreas
VDI/VDE 2634 Blatt 2-2012 Sistemas ópticos de medición 3D - Sistemas ópticos basados en escaneo de áreas
VDI/VDE 2634 Blatt 3-2008 Sistemas ópticos de medición 3D: sistemas de visualización múltiple basados en escaneo de áreas
VDI 3861 Blatt 2-2008 Emisiones de fuentes estacionarias - Medición de partículas fibrosas inorgánicas en los gases de escape - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI 3492-2004 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI 3492-2013 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido

Professional Standard - Commodity Inspection, escaneo de dos fotones

SN/T 4388-2015 Identificación del cuero. Microscopía electrónica de barrido y microscopía óptica.
SN/T 2649.1-2010 Determinación de amianto en cosméticos para importación y exportación. Parte 1: Método de difracción de rayos X y microscopía electrónica de barrido.

Professional Standard - Petroleum, escaneo de dos fotones

SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, escaneo de dos fotones

DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.

NEMA - National Electrical Manufacturers Association, escaneo de dos fotones

NEMA NU 2-2012 Medidas de rendimiento de los tomógrafos por emisión de positrones
NEMA NU 2-2018 Medidas de rendimiento de los tomógrafos por emisión de positrones (PET)

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, escaneo de dos fotones

DB37/T 2911-2017 Reglamento Técnico del Levantamiento Topográfico de Playas con Escaneo Láser 3D

RU-GOST R, escaneo de dos fotones

GOST R 56123-2014 Equipos eléctricos médicos. Tomografías computarizadas por emisión de fotón único. Requisitos técnicos para compras gubernamentales.
GOST R IEC/TO 61948-2-2008 Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina. Parte 2. Cámaras de centelleo y tomografía computarizada por emisión de fotón único
GOST R 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido
GOST R 8.889-2015 Sistema estatal para garantizar la trazabilidad de las mediciones. Espectrofluorímetros de barrido. Procedimiento de verificación
GOST R 56109-2014 Equipos eléctricos médicos. Tomógrafos por emisión de positrones junto con equipos de rayos X para tomografía computarizada. Requisitos técnicos para compras gubernamentales.
GOST R 8.794-2012 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Escáneres láser terrestres. Procedimiento de verificación
GOST R 8.636-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de calibración
GOST 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Método de verificación
GOST R 56108-2014 Equipos eléctricos médicos. Tomógrafo por emisión de positrones. Requisitos técnicos para compras gubernamentales.
GOST R 8.631-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de verificación
GOST 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
GOST R 8.630-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Métodos de verificación
GOST R 8.635-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de calibración
GOST R 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
GOST 19438.21-1979 Válvulas y válvulas electrónicas de baja potencia para cascadas de salida de escaneo de líneas de TV. Métodos de medición de parámetros eléctricos y prueba de tiempo de servicio.
GOST R 57996-2017 Compuestos poliméricos. Calorimetría diferencial de barrido. Determinación de la energía de activación, factor preexponencial y orden de reacción.
GOST R IEC 60601-2-44-2005 Equipos eléctricos médicos. Parte 2-44. Requisitos particulares para la seguridad de los equipos de rayos X para tomografía computarizada
GOST ISO 16000-27-2017 Aire interior. Parte 27. Determinación de polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)

Professional Standard - Electricity, escaneo de dos fotones

DL/T 1346-2014 Código de funcionamiento del escaneo láser de helicóptero para línea de transmisión.
DL/T 1346-2021 Reglamento técnico para la operación de escaneo láser con helicópteros de líneas aéreas de transmisión.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, escaneo de dos fotones

GJB 8381-2015 Método combinado de fotografía de rayas e interferometría láser para pruebas de cilindros de explosivos.
GJB 1200.1-1991 Método de prueba para el coeficiente de expansión lineal a alta temperatura de materiales conductores Método de escaneo láser

Professional Standard - Judicatory, escaneo de dos fotones

SF/T 0139-2023

American National Standards Institute （ANSI), escaneo de dos fotones

ANSI/EIA 455-174:1988 Diámetro del campo modal de fibra óptica monomodo mediante escaneo con filo de cuchillo en el campo lejano
ANSI/EIA 455-174A:1994 Diámetro del campo modal de fibra óptica monomodo mediante escaneo con filo de cuchillo en el campo lejano
ANSI/INCITS/ISO/IEC 12246:1993 Tecnología de la información - Cartucho de cinta magnética de 8 mm de ancho Formato de azimut dual para intercambio de información - Grabación de escaneo helicoidal
ANSI/TIA-455-243-2010 FOTP-243 Medición de dispersión en modo de polarización para fibras ópticas monomodo instaladas mediante OTDR de escaneo de longitud de onda y análisis de estados de polarización
ANSI/ASTM D4591:2001 Método de prueba para determinar temperaturas y calores de transiciones de fluoropolímeros mediante calorimetría diferencial de barrido
ANSI/EIA 501-A:1990 Medición de radiación X a partir de tubos de rayos catódicos con visualización directa de datos escaneados en trama, práctica recomendada para
ANSI/ASTM D6059:2001 Método de prueba para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido
ANSI/ISO/IEC 12246:1993 Tecnología de la información - Cartucho de cinta magnética de 8 mm de ancho con formato de azimut dual para intercambio de información - Grabación de escaneo helicoidal Adoptado por INCITS

Association for Information and Image Management (AIIM), escaneo de dos fotones

AIIM MS52-1991 Práctica recomendada para los requisitos y características de los documentos destinados al escaneo óptico

Shanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, escaneo de dos fotones

DB14/T 1926-2019 Procedimientos de adquisición digital con escaneo láser 3D de reliquias culturales de templos grutas
DB14/T 2720-2023 Procedimientos de adquisición digital con escaneo láser 3D de reliquias culturales muebles

Zhejiang Provincial Standard of the People's Republic of China, escaneo de dos fotones

DB33/T 1308-2023 Especificaciones técnicas de escaneo láser tridimensional para ingeniería de tránsito ferroviario urbano.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, escaneo de dos fotones

GB/T 39867-2021 Cristal de centelleo de germanato de bismuto para tomografía por emisión de positrones
GB/T 40826-2021 Método de prueba para disponer manualmente la longitud de las grapas de cachemira depilada: método de escáner de superficie plana
GB/T 35099-2018 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido con espectrometría de rayos X de energía dispersiva: análisis de morfología y elementos de partículas finas individuales en el aire ambiente.
GB/T 36965-2018 Método de prueba para determinar el grado de reticulación del copolímero de etileno-acetato de vinilo aplicado en módulos fotovoltaicos: calorimetría diferencial de barrido (DSC)
GB/T 20493.3-2018 Imágenes electrónicas: objetivo de prueba para escanear documentos de oficina. Parte 3: objetivo de prueba para uso en aplicaciones de menor resolución.

(U.S.) Telecommunications Industries Association , escaneo de dos fotones

EIA-455-174-1988 Diámetro de campo del modo FOTP-174 de fibra óptica monomodo mediante escaneo con filo de cuchillo en el campo lejano
TIA-455-243-2010 Medición de dispersión en modo de polarización FOTP-243 para fibras ópticas monomodo instaladas mediante OTDR de escaneo de longitud de onda y análisis de estados de polarización
TIA-455-243-2010(2015) Medición de dispersión en modo de polarización FOTP-243 para fibras ópticas monomodo instaladas mediante OTDR de escaneo de longitud de onda y análisis de estados de polarización

Professional Standard - Building Materials, escaneo de dos fotones

JC/T 2658-2022 Método de escaneo láser para medir la desviación de forma tridimensional de vidrio curvado

SE-SIS, escaneo de dos fotones

SIS SS-ISO 9220:1989
SIS SS CECC 00013-1985 Especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores

European Committee for Standardization (CEN), escaneo de dos fotones

EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
EN ISO 9220:1994 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método de microscopio electrónico de barrido (ISO 9220: 1988)
EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021)
prEN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).

Danish Standards Foundation, escaneo de dos fotones

DS/EN ISO 9220:1995
DS/ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.
DS/IEC/TR 61948-2:2003
DS/EN 61675-2/A1:2005
DS/EN 61675-2:1998
DS/ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
DS/IEC/TR 61948-3:2006
DS/EN 61675-1/A1:2008
DS/EN 61675-1:1998
DS/EN 60843-4:2001

IX-ECMA, escaneo de dos fotones

ECMA 145-1990 CARTUCHO DE CINTA MAGNÉTICA DE 8 mm DE ANCHO PARA INTERCAMBIO DE INFORMACIÓN - GRABACIÓN DE ESCANEO HELICOIDARIO
ECMA 169-1992 CARTUCHO DE CINTA MAGNÉTICA DE 8 mm DE ANCHO FORMATO DE AZIMUT DOBLE PARA INTERCAMBIO DE INFORMACIÓN - GRABACIÓN DE ESCANEO HELICOIDARIO
ECMA 146-1990 CARTUCHO DE CINTA MAGNÉTICA DE 3,81 mm DE ANCHO PARA INTERCAMBIO DE INFORMACIÓN - GRABACIÓN POR ESCANEO HELICOIDARIO - FORMATO DATOS/DAT
ECMA 139-1990 CARTUCHO DE CINTA MAGNÉTICA DE 3,81 mm DE ANCHO PARA INTERCAMBIO DE INFORMACIÓN - GRABACIÓN POR ESCANEO HELICOIDARIO - FORMATO DDS

International Electrotechnical Commission (IEC), escaneo de dos fotones

IEC 60766:1983 Cartucho de grabación de vídeo de barrido helicoidal y sistema de carrete a carrete (EIAJ tipo 1) que utiliza cinta magnética de 12,70 mm (0,5 pulgadas)
IEC 61675-2:2015 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 2: Cámaras gamma para imágenes planas, de cuerpo entero y SPECT.
IEC 62906-5-5:2022 Pantallas láser – Parte 5-5: Métodos de medición óptica de pantallas láser de proyección directa de retina con escaneo de trama
IEC 62906-5-7:2022 Pantallas láser - Parte 5-7: Métodos de medición de la calidad de imagen afectada por el moteado para escanear pantallas láser
IEC 60843-4:2000 Sistema de casete de cinta de vídeo de escaneo helicoidal que utiliza cinta magnética de 8 mm (vídeo de 8 mm) - Parte 4: Subcódigo de vídeo (VSC)

PT-IPQ, escaneo de dos fotones

NP 3081-1985 COMPONENTES ELECTR?NICOS Inspec??o de pastilhas^de semicondutores em microscópio electrónico de varrimento Especifica??o de base

工业和信息化部, escaneo de dos fotones

JB/T 13467-2018 Método de inspección visual de campo ultrasónico de excitación láser de escaneo de pruebas no destructivas
SJ/T 11759-2020 Medición de la relación de aspecto de la línea de rejilla del electrodo de células fotovoltaicas Microscopía confocal de barrido láser

US-FCR, escaneo de dos fotones

FCR 21 CFR PART 212-2015 BUENAS PRÁCTICAS ACTUALES DE FABRICACIÓN DE MEDICAMENTOS PARA TOMOGRAFÍA POR EMISIÓN DE POSITRON
FCR 21 CFR PART 212-2013 BUENAS PRÁCTICAS ACTUALES DE FABRICACIÓN DE MEDICAMENTOS PARA TOMOGRAFÍA POR EMISIÓN DE POSITRON
FCR 21 CFR PART 212-2014 BUENAS PRÁCTICAS ACTUALES DE FABRICACIÓN DE MEDICAMENTOS PARA TOMOGRAFÍA POR EMISIÓN DE POSITRON

Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, escaneo de dos fotones

DB15/T 1341-2018 Especificación para la calibración del escáner electrónico para la tabla de longitud de fila de mano de cachemira cardada
DB15/T 981-2016 Método de prueba de longitud de fila de mano de cachemira cardada método de escáner electrónico de tablero de dibujo
DB15/T 883-2015 Método de determinación del diámetro medio de la fibra y de la distribución del diámetro de la fibra Sirolan (sirolan): método del analizador del diámetro de la fibra con escaneo láser

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, escaneo de dos fotones

DB32/T 3459-2018 Microscopía electrónica de barrido para medir la cobertura de microáreas de películas de grafeno
DB32/T 4451.7-2023 Normas de gestión de uso clínico y control de calidad de equipos de imágenes médicas. Parte 7: sistema de tomografía computarizada por emisión de fotón único (SPECT)

ES-UNE, escaneo de dos fotones

UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías - Mediciones de distribuciones de tamaño y forma de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2023.)
UNE-EN 61675-1:2014 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos - Características y condiciones de ensayo - Parte 1: Tomógrafos por emisión de positrones (Ratificada por AENOR en agosto de 2014.)
UNE-EN IEC 61675-1:2022 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos - Características y condiciones de prueba - Parte 1: Tomógrafos por emisión de positrones (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2022.)
UNE-EN 60843-4:2000 Sistema de casete de vídeo con barrido helicoidal mediante cinta magnética de 8 mm (vídeo de 8 mm) -- Parte 4: Subcódigo de vídeo (VSC) (Ratificada por AENOR en agosto de 2000.)

Professional Standard - Civil Aviation, escaneo de dos fotones

MH/T 1064.3-2017 Código de seguridad de potencia al trabajar con el helicóptero.Parte 3: Operación de escaneo láser.

GB-REG, escaneo de dos fotones

REG NASA-LLIS-0480-1996 Lecciones aprendidas: programa Landsat, escáner multiespectral (MSS), desarrollo tecnológico

Professional Standard - Public Safety Standards, escaneo de dos fotones

GA/T 1938-2021 Ciencia forense Inspección de metales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1937-2021 Ciencia forense Inspección de caucho Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1939-2021 Ciencias forenses Examen de puntos actuales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1522-2018 Ciencia forense Disparo Inspección de residuos Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1521-2018 Ciencia forense Plásticos Examen de composición elemental Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1519-2018 Ciencia forense Tóner Composición elemental Inspección Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 909-2010 Método de recolección y empaquetado de rastros de evidencia: residuos de disparos (examen SEM/EDS)
GA/T 1520-2018 Ciencia forense polvo negro, polvo pirotécnico inspección de composición de elementos microscopio electrónico de barrido/espectrometría de energía de rayos X
GA/T 823.3-2018 Métodos de examen de evidencia de pintura en ciencia forense Parte 3: Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X

GOSTR, escaneo de dos fotones

PNST 508-2020 Nanotecnologías. Nanotubos de carbono de pared simple. Caracterización mediante microscopía electrónica de barrido y espectrometría de rayos X de energía dispersiva.

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), escaneo de dos fotones

SMPTE RP 81-2004 Especificaciones para la película de prueba de uniformidad del haz de escaneo para reproductores de audio fotográfico de imágenes en movimiento de 16 mm
SMPTE RP 69-2002 Especificaciones para la película de prueba de uniformidad del haz de escaneo para reproductores de audio cinematográfico de 35 mm
SMPTE RP 81-1994 Especificaciones para la película de prueba de uniformidad del haz de escaneo para reproductores de audio fotográfico de imágenes en movimiento de 16 mm

ECIA - Electronic Components Industry Association, escaneo de dos fotones

502-A-1989 Práctica recomendada para la medición de radiación X procedente de tubos de rayos catódicos de visión directa sin escaneo rasterizado
501-A-1990 Práctica recomendada para la medición de radiación X a partir de tubos de rayos catódicos con visualización directa de datos escaneados en trama
EIA-501-A-1990 Práctica recomendada para la medición de radiación X a partir de tubos de rayos catódicos con visualización directa de datos escaneados en trama

AENOR, escaneo de dos fotones

UNE-EN ISO 9220:1996 RECUBRIMIENTOS METÁLICOS. MEDICIÓN DEL ESPESOR DEL RECUBRIMIENTO. MÉTODO DEL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO. (ISO 9220:1988).
UNE-EN 61675-2:1999/A1:2005 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 2: Tomógrafos computarizados por emisión de fotón único.

Lithuanian Standards Office , escaneo de dos fotones

LST EN ISO 9220:2001 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).
LST EN 61675-2-2001 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 2: Tomógrafos informáticos por emisión de fotón único (IEC 61675-2:1998)
LST EN 61675-2-2001/A1-2005 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 2: Tomógrafos informáticos por emisión de fotón único (IEC 61675-2:1998/A1:2004)
LST EN 61675-1-2001 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 1: Tomógrafos de emisión de positrones (IEC 61675-1:1998)

Indonesia Standards, escaneo de dos fotones

SNI IEC/TR 61948-2:2012 Instrumentación de medicina nuclear - Pruebas de rutina - Parte 2: Cámaras de centelleo y tomografía computarizada por emisión de fotón único
SNI IEC/TR 61948-3:2012 Instrumentación de medicina nuclear - Pruebas de rutina - Parte 3: Tomógrafos por emisión de positrones

Defense Logistics Agency, escaneo de dos fotones

DLA SMD-5962-91725 REV A-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO CON LATCH OCTAL TIPO D, SALIDAS DE TRES ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-91746 REV A-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO CON BUFFER OCTAL, INVERTENCIA DE SALIDAS DE TRES ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-91726 REV A-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO CON BUFFER OCTAL, SALIDAS DE TRES ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA DSCC-VID-V62/04729 REV A-2011 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR AVANZADO, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO ABT DE 3,3 V CON TRANSCEPTOR DE BUS UNIVERSAL DE 18 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA DSCC-VID-V62/04730 REV A-2011 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR AVANZADO, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO ABT DE 3,3 V CON TRANSCEPTOR DE BUS UNIVERSAL DE 18 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA DSCC-VID-V62/04731 REV A-2011 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR AVANZADO, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO ABT DE 3,3 V CON TRANSCEPTOR Y REGISTROS DE 18 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-96812 REV B-2010 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR AVANZADO, PUERTOS DE ESCANEO DIRECCIONABLES DE 10 BITS, TRANSCEPTOR TAP IEEE STD 1149.1 (JTAG) DIRECCIONABLE MULTIDROP, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-96747-1997 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS AVANZADO, SELECTOR DE RUTA DE ESCANEO CON BUS DE DATOS BIDIRECCIONAL DE 8 BITS, ENTRADAS COMPATIBLES TTL, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-96812 REV A-2003 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR AVANZADO, PUERTOS DE ESCANEO DIRECCIONABLES DE 10 BITS, TRANSCEPTOR TAP IEEE STD 1149.1 (JTAG) DIRECCIONABLE MULTIDROP, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-96698 REV A-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR AVANZADO, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO CON TRANSCEPTOR/REGISTRO DE 18 BITS, SALIDAS DE TRES ESTADOS, ENTRADAS COMPATIBLES CON TTL, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-91726-1994 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO CON BUFFER OCTAL, SALIDAS DE TRES ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-94672 REV B-2013 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR AVANZADO, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO CON TRANSCEPTOR DE BUS UNIVERSAL DE 18 BITS, SALIDAS DE TRES ESTADOS, ENTRADAS COMPATIBLES CON TTL, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-94601 REV C-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR AVANZADO, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO CON TRANSCEPTOR DE BUS DE 18 BITS, SALIDAS DE TRES ESTADOS, ENTRADAS COMPATIBLES CON TTL, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-91746-1994 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO CON BUFFER OCTAL, INVERTENCIA DE SALIDAS DE TRES ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-94615 REV B-2013 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR AVANZADO, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO CON TRANSCEPTOR DE BUS REGISTRADO OCTAL, SALIDAS DE TRES ESTADOS, ENTRADAS COMPATIBLES CON TTL, SILICIO MONOLÍTICO

AT-ON, escaneo de dos fotones

OENORM EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).

ZA-SANS, escaneo de dos fotones

SANS 12653-1:2006 Imágenes electrónicas: objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina Parte 1: Características
SANS 12653-2:2006 Imágenes electrónicas: objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina Parte 2: Método de uso

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, escaneo de dos fotones

DB44/T 1833-2016 Objetivo de prueba de escaneo de documentos de oficina de imágenes electrónicas objetivo de prueba de baja resolución
DB44/T 1216-2013 Caracterización del grafeno mediante microscopía electrónica de barrido y espectroscopia de rayos X.
DB44/T 1215-2013 Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y espectroscopia de energía

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, escaneo de dos fotones

DB35/T 110-2000 Sonda electrónica y microscopio electrónico de barrido Método de análisis del espectro de energía de rayos X para la detección de evidencia física de pintura

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, escaneo de dos fotones

ECA EIA-501-A-1990 Práctica recomendada para la medición de radiación X a partir de tubos de rayos catódicos con visualización directa de datos escaneados en trama

ANSI - American National Standards Institute, escaneo de dos fotones

INCITS/ISO/IEC 12246:1993 Tecnología de la información - Cartucho de cinta magnética de 8 mm de ancho con formato de doble azimut para intercambio de información - Grabación mediante exploración helicoidal (Adoptado por INCITS)

BE-NBN, escaneo de dos fotones

NBN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

Professional Standard - Geology, escaneo de dos fotones

DZ 0030-1992 Condiciones técnicas del fotómetro de fluorescencia atómica de doble canal XDY-1

未注明发布机构, escaneo de dos fotones

BS CECC 13:1985(1999) Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos: Especificaciones básicas: Inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores.
DIN EN IEC 61675-1:2022 Sistemas de imágenes en medicina nuclear – características y condiciones de prueba – Parte 1: Tomógrafos por emisión de positrones
SAE ARP4050A-2017 Máquinas equilibradoras: descripción y evaluación, tipo vertical, de dos planos y de soporte duro para rotores de turbinas de gas

Professional Standard - Environmental Protection, escaneo de dos fotones

HJ 977-2018 Calidad del agua-Determinación de alquilmercurio-Purga y trampa/cromatografía de gases espectrometría de fluorescencia atómica de vapor frío
HJ 1269-2022 Suelo y sedimento. Determinación de metilmercurio y etilmercurio. Purga y trampa/cromatografía de gases: espectrometría de fluorescencia atómica de vapor frío.

IEC - International Electrotechnical Commission, escaneo de dos fotones

IEC 61675-2:2005 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos – Características y condiciones de prueba – Parte 2: Tomografías computarizadas por emisión de fotón único (Edición 1.1; Reimpresión consolidada)

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, escaneo de dos fotones

EN IEC 61675-1:2022 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 1: Tomógrafos por emisión de positrones.
EN 60843-4:2000 Sistema de casete de cinta de vídeo de escaneo helicoidal que utiliza cinta magnética de 8 mm (vídeo de 8 mm) - Parte 4: Subcódigo de vídeo (VSC)

Standard Association of Australia （SAA）, escaneo de dos fotones

AS/NZS IEC 61675.1:2022 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 1: Tomógrafos por emisión de positrones.
AS ISO 15470:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

IN-BIS, escaneo de dos fotones

IS 233 Pt.6-1978 MÉTODOS PARA LA DETERMINACIÓN DE LOS PARÁMETROS DE LONGITUD DE LAS FIBRAS DE ALGODÓN PARTE VI ESTIMACIÓN DE LA LONGITUD Y LA UNIFORMIDAD DE LA LONGITUD MEDIANTE EL MÉTODO DE ESCANEADO ÓPTICO

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), escaneo de dos fotones

SMPTE RP 69:2002 RP 69:2002 - Práctica recomendada SMPTE - Especificaciones para películas de prueba de uniformidad del haz de escaneo para reproductores de audio de imágenes en movimiento de 35 mm
RP 69:2002 RP 69:2002 - Práctica recomendada SMPTE - Especificaciones para películas de prueba de uniformidad del haz de escaneo para reproductores de audio de imágenes en movimiento de 35 mm
RP 81:2004 RP 81:2004 - Práctica recomendada SMPTE - Especificaciones para películas de prueba de uniformidad del haz de escaneo para reproductores de audio fotográfico de imágenes en movimiento de 16 mm

中国气象局, escaneo de dos fotones

QX/T 545-2020 Método de calibración de la radiación infrarroja del satélite meteorológico en órbita polar de la serie Fengyun, radiómetro de escaneo infrarrojo de luz visible, satélite en órbita

Society of Automotive Engineers (SAE), escaneo de dos fotones

SAE ARP4050-1994 MÁQUINAS EQUILIBRADORAS - DESCRIPCIÓN Y EVALUACIÓN TIPO VERTICALES DE DOS PLANOS Y RODAMIENTOS PARA ROTORES DE TURBINA DE GAS
SAE ARP4050-2011 Máquinas equilibradoras. Descripción y evaluación Tipo vertical, de dos planos y de soporte duro para rotores de turbinas de gas
SAE ARP587B-1990 Máquinas equilibradoras: descripción y evaluación, tipo horizontal, de dos planos y con cojinetes blandos, para rotores de turbinas de gas
SAE ARP4050A-2022 Máquinas equilibradoras: descripción y evaluación, tipo vertical, de dos planos y de soporte duro para rotores de turbinas de gas

Professional Standard - Railway, escaneo de dos fotones

TB/T 2219-2005 Balastos electrónicos suministrados por CC para vagones de pasajeros de ferrocarril