ZH
EN
ES

При использовании сканирующего электронного микроскопа

При использовании сканирующего электронного микроскопа, Всего: 89 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к При использовании сканирующего электронного микроскопа, являются: Аналитическая химия, Физика. Химия, Линейные и угловые измерения, Механические испытания, Оптика и оптические измерения, Краски и лаки, Строительные материалы, Наружные системы канализации, Оптическое оборудование, Словари, Изделия из железа и стали, Керамика, Приложения для обработки изображений документов, Микропроцессорные системы, Телевидение и радиовещание, Качество воздуха, Медицинские науки и учреждения здравоохранения в целом, Ингредиенты краски, Элементы зданий, Медицинское оборудование, Текстильные волокна.

International Organization for Standardization (ISO), При использовании сканирующего электронного микроскопа

ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
ISO/WD TR 23683:2023 Химический анализ поверхности. сканирующая зондовая микроскопия. Руководство по экспериментальному количественному определению концентрации носителей заряда в полупроводниковых устройствах с использованием электрической сканирующей зондовой микроскопии.
ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM.
ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
ISO 18115-2:2010 Анализ химического состава поверхностей — Словарь — Часть 2: Термины, используемые в микроскопии с помощью зонда и выметания (премьерное издание)
ISO 11952:2014 Химический анализ поверхности - Сканирующая зондовая микроскопия - Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
ISO 12653-2:2000 Электронное отображение изображений. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 2. Метод использования.
ISO 12653-2:2000/cor 1:2002 Электронное отображение изображений. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 2. Способ использования; Техническое исправление 1
ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
ISO 12653-3:2014 Электронное отображение изображений. Тестовая мишень для сканирования офисных документов. Часть 3. Тестовая мишень для использования в приложениях с низким разрешением.

British Standards Institution (BSI), При использовании сканирующего электронного микроскопа

18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
BS ISO 18115-2:2021 Химический анализ поверхности. Словарь - Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
BS ISO 19749:2021 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
BS ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
12/30265696 DC БС ИСО 18115-2 АМД1. Химический анализ поверхности. Словарный запас. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
BS ISO 12653-2:2000 Электронное отображение изображений. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Метод использования.
BS ISO 12653-2:2001 Электронная визуализация. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Способ применения
BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
19/30351707 DC BS ISO 21222. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
BS ISO 12653-3:2014 Электронная визуализация. Тестовая мишень для сканирования офисных документов. Тестовая мишень для использования в приложениях с низким разрешением
12/30228339 DC БС ИСО 16000-27. Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
BS DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
15/30322265 DC БС ЕН 3475-414. Аэрокосмическая серия. Кабели электрические, для использования в самолетах. Методы испытаний. Часть 414. Дифференциальный сканирующий калориметр (ДСК-тест)
BS ISO 21915-1:2020 Текстиль. Качественный и количественный анализ некоторых целлюлозных волокон (лиоцелла, купро) и их смесей. Идентификация волокон методами сканирующей электронной микроскопии и спектрального анализа.

BE-NBN, При использовании сканирующего электронного микроскопа

NBN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988).

Association of German Mechanical Engineers, При использовании сканирующего электронного микроскопа

VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Определение геометрических величин с помощью сканирующих зондовых микроскопов - Калибровка измерительных систем

American Society for Testing and Materials (ASTM), При использовании сканирующего электронного микроскопа

ASTM E2809-13 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/рентгеновской спектрометрии при судебно-медицинской экспертизе красок
ASTM C1723-16(2022) Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
ASTM C1723-10 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
ASTM C1723-16 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
ASTM F2550-06 Стандартная практика обнаружения утечек в канализационных трубах с использованием электросканирования - изменение потока электрического тока через стенку трубы
ASTM E766-14e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM E280-98(2004)e1 Стандартные эталонные рентгенограммы толстостенных (от 4 &189; до 12 дюймов [от 114 до 305 мм]) стальных отливок
ASTM E280-21 Стандартные эталонные рентгенограммы стальных отливок с толстыми стенками (от 412 до 12 дюймов (от 114 до 305 мм))
ASTM E2809-22 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (СЭМ/ЭДС) при судебно-медицинской экспертизе полимеров
ASTM E2142-08(2015) Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2142-08 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
ASTM F1438-93(2012) Стандартный метод испытаний для определения шероховатости поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии компонентов газораспределительной системы
ASTM B748-90(2021) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM E1588-95(2001) Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
ASTM E1588-08 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1588-10 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E2142-01 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
ASTM E1588-95 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
ASTM B748-90(2016) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2090-06 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM E2090-12(2020) Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM D8231-19 Стандартная практика использования низковольтной электронной системы сканирования для обнаружения и локализации нарушений в кровельных и гидроизоляционных мембранах
ASTM E3284-23 Стандартная практика обучения судебно-медицинской экспертизе остатков выстрелов капсюля (pGSR) с использованием сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии (SEM/EDS)
ASTM E1588-07e1 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1588-07 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM F1372-93(1999) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM F1372-93(2020) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM D605-82(1996)e1 Стандартные спецификации для силикатного магниевого пигмента (талька)
ASTM D6059-96(2011) Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте методом сканирующей электронной микроскопии
ASTM F1372-93(2005) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM F1372-93(2012) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM D7954/D7954M-14 Стандартная практика измерения влажности кровельных и гидроизоляционных систем с использованием неразрушающих сканеров электрического импеданса
ASTM D7954/D7954M-15 Стандартная практика измерения влажности кровельных и гидроизоляционных систем с использованием неразрушающих сканеров электрического импеданса
ASTM E3309-21 Стандартное руководство по составлению отчетов о судебно-медицинском анализе остатков огнестрельного оружия (pGSR) с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии (SEM/EDS)

German Institute for Standardization, При использовании сканирующего электронного микроскопа

DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
DIN ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующая электронная микроскопия) (прямой метод) (ISO 16000-27:2014)

European Committee for Standardization (CEN), При использовании сканирующего электронного микроскопа

EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)

KR-KS, При использовании сканирующего электронного микроскопа

KS C ISO 19749-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.

Danish Standards Foundation, При использовании сканирующего электронного микроскопа

DS/ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.

Association Francaise de Normalisation, При использовании сканирующего электронного микроскопа

FD T16-203:2011 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), При использовании сканирующего электронного микроскопа

JIS R 1633:1998 Способ подготовки образцов тонкой керамики и мелкодисперсных керамических порошков для наблюдения на сканирующем электронном микроскопе

International Telecommunication Union (ITU), При использовании сканирующего электронного микроскопа

ITU-R BR.1374-2001 Размеры области сканирования кинопленки толщиной 16 мм и 35 мм, используемой на телевидении.

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, При использовании сканирующего электронного микроскопа

ITU-R BR.1374-1998 Размеры области сканирования кинопленки толщиной 16 мм и 35 мм, используемой на телевидении

American National Standards Institute （ANSI), При использовании сканирующего электронного микроскопа

ANSI/ASTM D6059:2001 Метод испытаний для определения концентрации аэрозольных монокристаллических керамических усов в рабочей среде методом сканирующей электронной микроскопии

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), При использовании сканирующего электронного микроскопа

KS X ISO 12653-2-2007(2022) Электронное изображение. Тестовая цель для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 2. Метод использования.
KS X ISO 12653-2-2007(2017) Электронное изображение. Тестовая цель для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 2. Метод использования.
KS X ISO 12653-2:2007 Электронная обработка изображений. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 2. Метод использования.

BELST, При использовании сканирующего электронного микроскопа

STB 2210-2011 Наноразмерные углеродные и неуглеродные материалы и композиты на их основе. Метод определения параметров с использованием измерений сканирующей электронной микроскопии
STB 2209-2011 Наноразмерные углеродные и неуглеродные материалы и композиты на их основе. Методика определения элементного состава с помощью измерений сканирующей электронной микроскопии.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, При использовании сканирующего электронного микроскопа

GB/T 20493.2-2006 Электронная визуализация. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 2: Способ применения

ZA-SANS, При использовании сканирующего электронного микроскопа

SANS 12653-2:2006 Электронное отображение изображений. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 2. Метод использования.

NEMA - National Electrical Manufacturers Association, При использовании сканирующего электронного микроскопа

NEMA MITA WP 1-2017 Качество изображения компьютерной томографии (CTIQ): оценка низкоконтрастной обнаруживаемости (ЖКД) при использовании технологии снижения дозы

ES-UNE, При использовании сканирующего электронного микроскопа

UNE-EN 3475-414:2005 Аэрокосмическая серия. Кабели электрические, для использования в самолетах. Методы испытаний. Часть 414. Дифференциальный сканирующий калориметр (испытание ДСК) (Одобрено AENOR в декабре 2005 г.)

ASD-STAN - Aerospace and Defence Industries Association of Europe - Standardization, При использовании сканирующего электронного микроскопа

PREN 3475-414-1999 Кабели аэрокосмической серии @ Электрические @ Методы испытаний для использования в самолетах, Часть 414: Дифференциальный сканирующий калориметр (испытание ДСК) (Издание P 1)

International Electrotechnical Commission (IEC), При использовании сканирующего электронного микроскопа

IEC 87/402/CD:2008 IEC/TS 62558: Ультразвуковые сканеры импульсного эха в реальном времени. Фантом и метод автоматической оценки и периодического тестирования трехмерных распределений отношения сигнал/шум с использованием пустот