71.040.50 物理化学分析方法 标准查询与下载
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本标准规定了分析电镜(AEM/EDS)即透射电子显微镜或装有扫描附件的透射电镜配备X射线能谱仪(EDS),测量比例因子K所用纳米薄标样的技术要求、检测条件和检测方法。本标准适用于采用分析电镜(AEM/EDS)进行无机薄样品的微区元素定量分析。本标准不包括有机物和生物标样。
Microbeam analysis.General guide for the specification of nanometer thin reference materials for analytical transmission electron microscope (AEM/EDS)
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- G04
- 发布
- 2014-07-24
- 实施
- 2015-03-01
本标准规定了进行电子探针分析时的人射电子束、波谱仪和试样的实验参数测定的]般原则〉并规定了束流、束流密度、死时间、波长分辨率、背底、分析面积、分析深度和分析体积的测定过程。 本标准适用于垂直人射电子束对抛光试样的分析〉对于其他实验条件,这些实验参数只能作为参考。 本标准不适用于能谱法。
Microbeam analysis.Electron probe microanalysis.Guidelines for the determination of experimental parameters for wavelength dispersive spectroscopy
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- G04
- 发布
- 2014-06-09
- 实施
- 2014-12-01
本标准给出了使用电子背散射衍射(EBSD)技术进行晶体取向测量的指南,使测量数据具有较高的可靠性和重复性,本标准确立了试样制备、仪器配置、校正以及数据采集的一般原则。本标准适用于EBSD对块状晶体样品的晶粒取向分析。
Microbeam analysis.Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- G04
- 发布
- 2014-06-09
- 实施
- 2014-12-01
本标准规定了电子背散射衍射分析方法”本标准适用于安装了电子背散射衍射附件的扫描电镜和电子探针进行物相识别、晶体取向、显微织构以及晶界特性等方面的分析。
Microbeam analysis.General guide for electron backscatter diffraction analysis
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- G04
- 发布
- 2013-07-19
- 实施
- 2014-03-01
本标准规定了用透射电子显微镜(TEM)对薄晶体试样的微米和亚微米尺寸区域进行选区电子衍射分析的方法。被测试样可以从各种金属或非金属材料的薄切片获得,也可以采用细微的粉末或萃取复型试样。应用本方法可分析的最小试样选区直径取决于显微镜物镜的球差系数,对于现代TEM,试样的最小选区直径一般可达到0.5 μm。当被分析试样区的直径小于0.5 μm时仍然可以参照本标准的分析方法,但是由于球差的影响,衍射谱上的部分信息有可能来源于由选区光阑限定的区域之外,在这种情况下,如条件允许,最好采用微(纳)衍射或者会聚束电子衍射方法。选区电子衍射方法的成功应用取决于对所获得的衍射谱指数标定正确与否,而不论试样的哪个晶带轴平行于入射电子束,因而,这样的分析往往需要借助试样的倾转和旋转装置。本标准适用于从晶体试样上获取SAED谱、标定衍射谱的指数以及校准电镜的衍射常数。
Microbeam analysis.Analytical electron microscopy.Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- N32
- 发布
- 2013-07-19
- 实施
- 2014-03-01
本标准规定了用原子吸收光谱法测定氨基酸中铁和铅的方法。 本标准适用于氨基酸中铁和铅的测定。石墨炉原子吸收光谱法测铅的检出限为0.005mg/kg;火焰原子吸收光谱法测铅的检出限为0.1mg/kg、测铁的检出限为2mg/kg。
Determination of iron and lead in amino acids.Atomic absorption spectrometry
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- G85
- 发布
- 2012-09-03
- 实施
- 2013-02-01
本标准规定了涂料中全氟辛酸(PFOA)及其盐的高效液相色谱-串联质谱测定方法。 本标准适用于涂料中全氟辛酸(PFOA)及其盐的测定。 本标准的方法检出限以全氟辛酸(PFOA)计为质量分数0.0002%。
Determination of perfluorooctanoic acid and salt in the coating. High performance liquid chromatography-tandem mass spectrometry
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- G04
- 发布
- 2012-06-29
- 实施
- 2012-12-01
本标准规定了化工产品密度和相对密度测定的术语和定义、固体、液体和气体化工产品的密度和相对密度测定的方法。 本标准适用于一般化工产品密度和相对密度的测定。 本标准不适用于炭黑、开孔式泡沫橡胶或塑料等特殊状态的化工产品密度、相对密度的测定。
Detemination of density and relative density for chemical products
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- G04
- 发布
- 2011-12-30
- 实施
- 2012-10-01
GB/T 24369的本部分规定了金纳米棒紫外/可见/近红外吸收光谱的表征方法及用吸收峰位来计算平均轴比。 本部分适用于轴比为2~5、直径小于30nm的圆柱状金纳米棒的表征。 其他贵金属纳米结构的紫外/可见/近红外吸收光谱表征亦可参照本部分执行。
Characterization of gold nanorods.Part 1:UV-Vis-NIR absorption spectroscopy
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- G30
- 发布
- 2009-09-30
- 实施
- 2009-12-01
本标准规定了硒化镉量子点纳米晶体的紫外-可见吸收光谱表征方法。 本标准适用于由表面活性剂分子-正三辛基氧膦包覆的硒化镉量子点纳米晶体在正己烷中形成的分散液。其他表面活性剂分子包覆的硒化镉量子点纳米晶体在各种非极性试剂中形成的分散液、在水相体系中合成的硒化镉量子点纳米晶体及其他组成的半导体量子点纳米晶体的紫外-可见吸收光谱表征也可参照本标准执行。
Characterization of CdSe quantum dot nanocrystals.UV-Vis absorption spectroscopy
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- G30
- 发布
- 2009-09-30
- 实施
- 2009-12-01
本标准规定了氟化工产品和消费品中全氟辛烷磺酰基化合物(PFOS)的高效液相色谱-串联质谱测定方法。 本标准适用于氟化工产品和消费品中全氟辛烷磺酰基化合物(PFOS)的测定。氟化工产品包括含氟水性涂料、泡沫灭火材料、洗涤剂、织物整理剂；消费品特指不粘炊具。 本标准的方法检出限以全氟辛烷磺酸计，氟化工产品为质量分数0.0002％，消费品为0.4μg/㎡。
Determination of perfluorooctane sulfonates(PFOS)in the fluorine-containing products and consumer products.High performance liquid chromatography-tandem mass spectrometry
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- G04
- 发布
- 2009-06-25
- 实施
- 2010-04-01
本标准规定了食品包装材料中全氟辛烷磺酰基化合物（PFOS）的高效液相色谱－串联质谱测定方法。 本标准适用于食品包装材料中全氟辛烷磺酰基化合物（PFOS）的测定。 本标准的方法检出限以全氟辛烷磺酸计，含量为0.4 μg/m
Determination of perfluorooctane sulfonates (PFOS) in the food packaging material.High performance liquid chromatography-tandem mass spectrometry
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- C53;G04
- 发布
- 2009-02-17
- 实施
- 2009-07-01
本标准规定了使用阿贝型折射仪测定液体化工产品折光率的方法。 本标准适用于透明或半透明、折光率范围在1.3000～1.7000的液体化工产品的测定。
Liquid chemicals. Determination of refrative index at 20℃
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- G04
- 发布
- 2008-06-04
- 实施
- 2008-12-01
本标准规定了电子背散射衍射分析方法。 本标准适用于安装了电子背散射衍射附件的电子束显微分析仪进行物相的鉴定、晶体取向、显微织构以及晶界特性等方面的分析。
General guide for electron backscatter diffraction analysis
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- G04
- 发布
- 2004-04-30
- 实施
- 2004-12-01
本标准为采用辉光放电发射光谱法进行体材分析和深度剖析提供了方法通则。这里所讨论的方法通则仅限于刚性的固体样品的分析，不包括粉末、气体或溶液的分析。结合将来其他特定的标准方法，本方法通则应能够实现仪器的规范管理和测量条件的控制。 尽管在近年来有不同类型的辉光放电发射光源问世，但本通则中仍以Grimm型光源为例。这是因为考虑到目前在用的辉光放电光谱仪绝大多数采用Grimm型光源。应该明确的是，本通则包含的条款同样适用于其他类型(如Marcus型)的光源，Grimm型光源仅作为一个实例。
Surface chemical analysis-Glow discharge optical emission spectrometry(GD-OSE)-Introduction to use
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- G04
- 发布
- 2004-04-30
- 实施
- 2004-12-01
本标准规定了增塑剂结晶点的测定方法。 本标准适用于磷酸三苯酯等结晶点在0℃～70℃范围的增塑剂结晶点的测定。
Plasticizers-Determination of crytallizing point
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- G71
- 发布
- 2001-08-28
- 实施
- 2002-05-01
Glass—Resistance of attack by hydrochloric acid at 100℃—Flame emission or atomic absorption spectrometric method
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- Q30/39
- 发布
- 1986-07-22
- 实施
- 1987-05-01
Flame ionization detector test method for gas chromatography/supercritical fluid chromatography
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- N52
- 发布
- 实施
1 Scope This document gives general guidelines for the determination of experimental parameters relating to the electron probe, the wavelength spectrometer, and the specimen that need to be taken into account when carrying out electron probe microanalysis. It also defines procedures for the determination of probe current , probe diameter , dead time , wavelength resolution , background , analysis area , analysis depth , and analysis volume . This document is applicable for the analysis of a well-polished specimen using normal beam incidence. This document does not apply to energy dispersive X-ray spectroscopy.
Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Guidelines for the determination of experimental parameters for wavelength dispersive spectroscopy
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- 发布
- 2024-06-30
- 实施
- 2024-06-30
BS ISO 25498 Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- 发布
- 2024-06-07
- 实施
- 2024-06-07
