【内容简介】
上世纪九十年代以后,基于SPM的表征材料表面电学性质的技术得到了极大的发展。其主要手段有静电力显微镜,开尔文探针显微镜、导电原子力显微镜、隧穿原子力显微镜以及扫描电容显微镜等等。其应用领域包括纳米材料,纳米器件,生命科学,半导体器件,数据存储等领域。近年来,随着基于峰值力技术研发出一系列新的成像模式,使得纳米材料电学性能表征更定量、更准确。此报告将逐一介绍以上电学测量技术,还将展示电学性质测量与定量力学测量的结合,以及新的频率调制的开尔文探针显微镜。
本次报告的主要内容有:
1. Interleave扫描及抬起模式简介 2. 静电力显微镜,静电力与PFQNM联用
3. 表面电势测量,PFKPFM 4. 导电原子力,PFTUNA及扫描电容显微镜
【主讲人简介】
孙昊,博士,现负责布鲁克公司客户服务中心以及北方中国售后服务,研究兴趣为扫描探针显微镜成像原理、仪器改造以及无机纳米材料表征技术。加入布鲁克之前,北京大学获取理学博士学位,研究方向为基于扫描探针显微镜的无机纳米材料制备和表征。
教育背景
2001-2004 山东大学 理学学士(应用化学)
2005-2010 北京大学 理学博士(无机化学)
工作经历
2012-至今 布鲁克纳米表面仪器部 客户服务中心及售后服务主管
2010-2012 布鲁克纳米表面仪器部 技术支持工程师
【合作伙伴】
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