《微纳米加工中的结构形貌电镜表征》
主讲人 朱学林 博士后 中国科技大学微纳研究与制造中心 ,20180726 半导体制造工业和表面特征研究 未经授权，禁止转载
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《半导体领域的纳米分析解决方案》
主讲人： 马岚 博士 牛津仪器纳米分析部应用科学家 , 20180726 半导体制造工业和表面特征研究
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【内容简介】
半导体（ semiconductor），指常温下导电性能介于导体（conductor）与绝缘体（insulator）之间的材料。半导体具有热敏性、光敏性、负电阻率温度、可整流等几个特性，因此半导体材料除了用于制造大规模集成电路之外，还可以用于功率器件、光电器件、压力传感器、热电制冷等用途；利用微电子的超微细加工技术，还可以制成MEMS（微机械电子系统），应用在电子、医疗领域。
本次研讨会，分析测试百科网将邀请行业专家，同大家分享半导体制造工业和表面特征研究的最新分析技术及应用，希望能对行业内工作者带来帮助和启发。
【报告日程】
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报告人 | 单位名称 | 报告题目 |
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9：30-10：00 |
朱学林 博士后 |
中国科技大学微纳研究与制造中心 |
《微纳米加工中的结构形貌电镜表征》 |
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10：00-10：30 |
马岚 博士 | 牛津仪器纳米分析部应用科学家 | 《半导体领域的纳米分析解决方案》 |
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