20151104 飞行时间质谱技术在纳米材料分析中的应用

【内容简介】

当前，纳米材料在不同的领域中引起了持续而广泛的研究热潮，纳米材料在纳米尺度上展示出来的一些特殊物理性质和化学性质，以及他们在电子学、光学、催化和生物医药等领域表现出的巨大应用潜质。越来越多的研究者对纳米材料生产技术、金属纳米材料的合成制备及其在生物医药领域应用等技术关注度高涨，随之而来的相关检测也成为新的热点。

Perkin Elmer公司在飞行时间质谱技术的基础上突破性地引入了可代替前端液相分离系统的直接进样分析技术(Direct Sample Analysis, DSA)，可直接快速分析固、液、气态样品，而无需色谱分离，无需复杂的样品前处理，极大地提高分析工作效率。在特别注重时效性的研发过程中，运用直接进样分析技术和飞行时间质谱技术相结合的DSA-TOF，辅以专门的筛查和鉴定软件及相应数据库，可以对各类纳米材料样品进行快速筛查及鉴定分析并得到准确结果。

【主讲人简介】

蔡成元，质谱产品专员，毕业于中国农业科学院，2014年加入Perkin Elmer，负责食品安全，环境监测，生物医药等领域质谱产品技术支持工作，具有多年质谱使用和支持经验。

小金小田小白