icpms的干扰——双电荷离子干扰
双电荷离子干扰双电荷离子产生的质谱干扰是单电荷离子m/z的一半,例如138ba2+对69ga+,或208pb2+对104ru+。这类干扰是比较少的,而且可以在进行分析前将系统最佳化而有效地消除。......
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一种新型二次离子质谱的一次离子源及其离子光学系统
1 引 言 二次离子质谱(secondary ion mass spectrometry, sims) 是目前灵敏度最高的表面化学分析的手段之一。它具有10-9量级的灵敏度, 能分析几乎所有的导体、半导体和绝缘体材料, 甚至还可以检测不易挥发的有机分子等[1~3]。通常,
2018-11-21 13:44
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