还原氧化石墨烯结构式

表面形态。　　2）用原子力显微镜（AFM）来表征表面形态、厚度、层的均匀性、畴生长。　　2.光谱法　　1）拉曼光谱——鉴定石墨烯片并获得层数信息　　2）红外光谱——评估官能团的存在　　3）紫外-可见光谱——帮助评估氧化石墨烯和还原石墨烯的

氧化石墨烯和石墨烯性能的区别采用改进的Hummers法制备了氧化石墨烯,将其采用水合肼还原获得石墨烯,以氧化石墨烯和石墨烯为吸附剂,分别采用透射电镜(TEM),傅里叶变换红外光谱(FT-IR),拉曼光谱(RS)和X射线衍射光谱(XPS)对

衬底上、云母衬底、石墨烯片层在SiO2衬底上以及SiO2衬底的高度统计分布图[4]。对于 GO （氧化石墨烯或石墨氧化物）和 rGO（还原的氧化石墨烯），由于其表面含有大量的含氧官能团，AFM 下单层的厚度和表面粗糙度都要大于原始石墨烯

　　测紫外可见吸收光谱通过检测出特殊的吸收峰可以了解还原方法对氧化石墨烯的影响。　　氧化石墨烯一般在 230nm 处有一个明显的特征吸收峰，这是芳环的 C=C 的兀一兀过渡吸 收。相比之下，氧化石 墨烯经过还原后，其最大吸收峰都发生明显的

　　真空抽滤法是制备石墨烯基膜最为常用的方法，其主要过程如下: 先将石墨烯或氧化石墨烯分散液倒入垫好滤膜的抽滤瓶中，再进行真空抽滤，从而使薄膜附着在底膜上。　　Dikin等首次利用抽滤的方法制备了厚度为1～30μm的氧化石墨烯薄膜，力学

种数毫伏到1伏。工作电极可用悬汞电极，或铂、玻碳、石墨等固体电极。[Fe(CN)6]3-~[Fe(CN)6]4-是典型可逆的氧化还原体系，其氧化还原电对的标准电极电位为：[Fe(CN)6]3- + e- = [Fe(CN)6]4-

　　 氧化石墨烯表征途径主要为图像类检测法和图谱类检测法，图像类检测法主要以光学显微镜、扫描电子显微镜（SEM）、透射电镜（TEM）和原子力显微分析（AFM）为主，而图谱类检测法主要以红外光谱（IR）、拉曼光谱（Raman）和X射线衍射

石墨烯和石墨的区别如下：一、性质不同1、石墨烯：一种由碳原子以sp²杂化轨道组成六角型呈蜂巢晶格的二维碳纳米材料。2、石墨：是碳的一种同素异形体。二、用处不同1、石墨烯：具有优异的光学、电学、力学特性，在材料学、微纳加工、能源、生物医学和

　　石墨烯是sp2碳原子紧密堆积形成的六边形蜂窝状结构的二维原子晶体，是构建其它sp2杂化碳的同素异形体的基本组成部分，可以堆垛形成三维的石墨，卷曲形成一维的碳纳米管，也可以包裹形成零维的富勒烯。　　直到 2004 年，英国曼彻斯特大学的