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JEM-2100F 场发射透射电子显微镜

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日本电子株式会社透射电镜TEM, 高分辨率观察及纳米尺度分析所不可或缺的集成化透射电镜

JEM-2100F 场发射透射电子显微镜

  • 日本电子株式会社 JEM-2100F
  • 日本电子株式会社 JEM-2100F

产品型号:JEM-2100F

品牌:日本电子株式会社

产品产地:日本

产品类型: 进口

原制造商:日本电子

状态: 在售

厂商指导价格: 未提供

英文名称:TEM

上市时间: 2011-10-29

优点: 高分辨率观察及纳米尺度分析所不可或缺的集成化透射电镜

参考成交价格: 82万元[美元]

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日期 采购单位 数量 合同金额 币种
2013-12-13 化学***点击查看 1 点击查看 人民币

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  • 点分辨率:0.19nm
  • 线分辨率:0.14nm
  • 加速电压:80, 100, 120, 160, 200kV
  • 倾斜角:25
  • STEM分辨率:0.20nm

厂家资料

地址:北京市西城区阜外大街2号万通新世界广场B-1110

电话:010-85170888 转 1000

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