JEM-2100F 场发射透射电子显微镜

高分辨率观察及纳米尺度分析所不可或缺的集成化透射电镜

JEM-2100F配备的场发射电子枪(FEG)能获得亮度高、相干性高、稳定性高的电子束，能简便地进行纳米级超高分辨率图像的观察和分析。此外，利用PC的网络功能，可实现与各种分析仪器及图像仪器的联用。

高分辨率观察及纳米尺度分析所不可或缺的集成化透射电镜

• 配备了高亮度、高稳定性的场发射电子枪，使高倍率下的结构分析及纳米领域分析更加简便。

• 束班直径范围可从微米级到zei小的0.5nm，在分析点上能容易地进行纳米级的终极分析。

新式侧插式测角台

能很容易地改变样品的物理条件如倾斜、旋转、加热、制冷等，可以进行纳米级的分析。

智能化

图像观察和PC控制的一体化设计。

　　1.高亮度场发射电子枪。

　　2.束斑尺寸小于0.5nm。

　　3.新式侧插测角台，更容易倾转、旋转、加热和冷冻，无机械飘移。

　　4.稳定性好、操作简便。

　　5.微处理器和PC两套系统控制，防止死机。