Thick 800A镀层测厚仪

　　技术指标

　　型号：Thick 800A

　　元素分析范围从硫(S)到铀（U）。

　　一次可同时分析zei多24个元素，五层镀层。

　　分析检出限可达2ppm，zei薄可测试0.005μm。

　　分析含量一般为2ppm到99.9% 。

　　镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

　　任意多个可选择的分析和识别模型。

　　相互独立的基体效应校正模型。

　　多变量非线性回收程序

　　多次测量重复性可达0.1%

　　长期工作稳定性可达0.1%

　　度适应范围为15℃至30℃。

　　电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

　　外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

　　样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

　　重量：90kg

　　标准配置

　　开放式样品腔。

　　精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

　　双激光定位装置。

　　铅玻璃屏蔽罩。

　　Si-Pin探测器。

　　信号检测电子电路。

　　高低压电源。

　　X光管。

　　高度传感器

　　保护传感器

　　计算机及喷墨打印机