日立X射线荧光测厚仪参数
发布时间：2024-04-27 05:42
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日立高新技术公司
- SFT-110
- X射线荧光镀层厚度测量仪
- 日本
- 2014年12月22日
- 测量元素：原子序数22（Ti）~83（Bi）
- 检测器：比例计数管
- X射线源：空冷式小型X射线管（50kV、1mA）
- 准直器： O型：Φ0.1mm、Φ0.2mm
- 样品台： 250（X）×200（Y）×150（Z）mm
日立高新技术公司
- FT110A
- 日立 FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪
- Fluorescent X-ray (XRF) Coating Thickness Gauge FT110A
- 日本
- 2011年
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