子发射光谱（ICP/AES）理论知识（9）——摄谱法
用摄谱法进行光谱分析时，必须有一些观测设备。常用的设备有：将摄得的谱片进行放大投影在屏上以便观察的光谱投影仪（或称映谱仪），测量谱线黑度时用的测微光度计（黑度计），以及测量谱线间距的比长仪等。
一、 光谱投影仪
在进行光谱定性分析及观察谱片时需用此设备。一般放大倍数为20倍左右。下图是WTY型光谱投影仪的光路图。
光源1（12V50W钨丝灯）的光线，经球面反射镜2反射，通过聚光镜3及隔热玻璃11，再经反射镜10将光线转折550，由聚光镜组3’射向被分析的光谱底板4，使光谱底板上直径为 15 ｍｍ的面积得到均匀的照明。投影物镜组6使被均匀照明的光谱线，经过棱镜7，再由平面反射镜9反射，最后投影于白色投影屏12上。投影物镜组6中的透镜5能上下移动，使此仪器的放大倍数可在19.75～20.25的范围内进行调整。8为调节透镜，可转至光路中，以作调节照明强度之用。
二、 测微光度计
又称黑度计。用来测量感光板上所记录的谱线黑度，主要用于光谱定量分析。
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