吉天参展日本“JAIMA EXPO 2010/SIS 2010”展会

2010-9-10 16:39 来源: 北京吉天仪器有限公司
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        2010年9月1---3日,我公司在刘明钟董事长和王安邦常务副总的带领下,参加了与美国Pittcon、德国Analytica及中国BCEIA齐名的日本最大的分析仪器展览会“JAIMA EXPO 2010 / SIS 2010”展会。展会于日本千叶县幕张会展隆重召开,来自世界各国的450多家科学仪器公司和近三万余行业人士参加。此次是中国仪器商第一次参加日本的分析仪器展览会,我公司隆重展出了具有自主知识产权的原子荧光形态分析仪,得到了来自日本,马来西亚,迪拜,伊朗,台湾等国家和地区的热烈关注,纷纷来到展台参观咨询。此次展出给参观者留下了深刻的印象,其中不少留日学者看到中国自己的仪器能够走出国门,走向世界而倍感骄傲。