JB/T 5585-1991
透射电子显微镜分辨力测试方法

Test method of transmission electron microscope resolution


JB/T 5585-1991 中,可能用到以下仪器设备

 

日本电子JSM-6510系列扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

FEI Quanta x50 FEG场发射环境扫描电镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

日本电子6700F高分辨扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

JEM-2100F 场发射透射电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

HF-3300场发射透射电子显微镜

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天美仪拓实验室设备(上海)有限公司

 

蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

日本电子JSM-7200F扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

大气压扫描电镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

聚焦离子束系统

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

Quanta SEM

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

冷场发射球差校正透射电镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司

 

蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率场发射扫描电镜

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蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司

 

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

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蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司

 

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

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蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司

 

聚焦离子束系统

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蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司

 

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

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蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司

 

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

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蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司

 

蔡司 EVO MA 25/LS 25钨灯丝系列扫描电镜

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蔡司SUPRA™ 55场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司SUPRA™40超高分辨率场发射扫描电子显微镜

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Prisma E SEM扫描电子显微镜

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FEI Inspect S50 扫描电子显微镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

FEI Quanta 3D 200i SEM/FIB

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

蔡司(ZEISS) EVO 18钨灯丝系列扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

FEI Inspect F50 场发射扫描电子显微镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

蔡司 EVO MA 15/LS 15钨灯丝系列扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

FEI Magellan 400L XHR 场发射扫描电镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

日本电子JIB-4500聚焦离子束扫描电镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

Apollo 300 扫描电镜

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TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

JEM-1400Plus 透射电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

JEM-2200FS 透射电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

JEM-2100 透射电子显微镜

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H-9500透射电子显微镜

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天美仪拓实验室设备(上海)有限公司

 

ZEISS蔡司LIBRA能量过滤式透射电子显微镜

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Tecnai G2 Spirit 120kV透射电子显微镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

Tecnai G2 20 200kV透射电子显微镜

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蔡司EVO MA 10/LS 10钨灯丝系列扫描电镜

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HD-2700球差校正扫描透射电子显微镜

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天美仪拓实验室设备(上海)有限公司

 

JB/T 5585-1991



标准号
JB/T 5585-1991
发布日期
1991年07月16日
实施日期
1992年07月01日
废止日期
中国标准分类号
N33
国际标准分类号
17.180.30
发布单位
CN-JB
适用范围
  本标准规定了透射电子显微镜的分辨力测试的技术要求、测试用样品、设备和测试方法。   本标准适用于电镜分辨力的测试。

JB/T 5585-1991 中可能用到的仪器设备





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