JB/T 9687.1-1999
电力半导体器件用钼圆片

Molybdenum disk for power semiconductor devices


JB/T 9687.1-1999 中,可能用到以下仪器

 

OLS4500纳米检测显微镜

OLS4500纳米检测显微镜

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

JB/T 9687.1-1999



标准号
JB/T 9687.1-1999
发布日期
1999年08月06日
实施日期
2000年01月01日
废止日期
中国标准分类号
K46
国际标准分类号
29.200
发布单位
CN-JB
被代替标准
ZB K46012-1989
适用范围
  本标准规定了电力半导体器件用钼圆片的外形尺寸、技术要求、试验方法、检验规则及包装、运输、贮存和标志。   本标准适用于钼板冲制及钼坯锻造法生产的电力半导体器件用钼片。

JB/T 9687.1-1999 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号